Апертура относительная

Расположение апертур относительно исследуемой площади определяется также структурой ее строения. Необходимо учитывать, что при относительно больших углах наклона отражающих границ (7-20°) точки отражения смещаются от центра между пунктами приема и излучения вверх по восстанию (в сторону свода). Поэтому нецелесообразно при изучении крутых флексур и склоновых участков структуры располагать апертуры на ее крутых склонах и флексурах. Оптимальными в этой ситуации следует считать расположение АП и АИ в пределах сводовой части структуры. В этом случае из каждого локатора осуществляется круговой обзор за исключением центральной части, соответствующей нормальному обзору и имеющей форму овала с длинной осью, соединяющей центры АИ и АП, и короткой осью 1 км. [c.114]

Рис. 7.12. Конструкция черного тела из нержавеющей стали, предназначенного для градуировки промышленных радиационных пирометров, когда требуется относительно большая апертура. 1 — нержавеющая сталь 2 — керамические чехлы для термопар.

Полученное значение разности хода А является функцией /г и г. Относительно угла i, а следовательно и г, уже было сказано при описании постановки опыта, что они малы и изменяются в малых пределах. Здесь следует добавить, что если это не так, то, уменьшая апертуру линзы, проектирующей интерференционную картину на экран, можно уменьшить диапазон вариаций угла г. Если же интерференционная картина наблюдается непосредственно глазом, то такое уменьшение апертуры наблюдения осуществляется, естественно, за счет малых размеров отверстия — зрачка глаза. [c.123]

Во втором случае с использованием протяженного источника пространственная когерентность освещенности на апертурном экране отсутствует (мы можем предполагать, что временная когерентность имеет место в обоих случаях). Как мы видели, полосы, обусловленные волновыми фронтами из одной точки источника, смещены относительно полос от фронтов из других точек источника. Если источник достаточно большой, то окончательным результатом является пятно на экране со сравнительно равномерной освещенностью. Тем не менее здесь полосы образуются так же, как и в первом случае, но они являются мгновенными, и их положение непрерывно изменяется, давая однородную освещенность даже за минимально возможное короткое время. Из наличия информации об индивидуальных фазовых соотношениях в свете, который будет поступать на внесенные линзы, следует, что по-прежнему существует возможность сформировать изображение апертуры с помощью линз. (При когерентном освещении стабильность фазовых соотношений при некоторых условиях позволяет записать полную информацию, включая фазы, о волновых фронтах от апертурного экрана в этом состоит основа голографии (разд. 5.4.) [c.19]

С ПОМОЩЬЮ рис. 7.7, на котором представлены расчетные значения относительной доли полной мощности для каждой поперечной моды, заключенной в пределах круглой апертуры радиусом г. Радиус г нормирован на w — размер пятна моды ТЕМоо в плоскости апертуры. Теперь мы можем определить эффективный размер пятна wi,m как радиус пятна, в пределах которого заключено, например, 90 % мощности пучка. Этот размер пятна можно записать в виде [c.462]

Следует отметить, что чем больше относительное отверстие, тем меньше относительное виньетирование, вызванное тем обстоятельством, что приемник изображения закрывает среднюю часть апертуры пучков, попадающих иа систему. [c.382]

Рассмотрим теперь аберрации зеркал скользящего падения, поверхность которых симметрична относительно оптической оси. Такие зеркала имеют необычную для оптики нормального падения вытянутую форму и кольцевое входное отверстие. По сравнению с рассмотренными в п. 5.1.2 внеосевыми зеркалами они имеют существенно большую апертуру и полностью свободны от астигматизма. В то же время весьма существенны аберрации децентрировки, связанные с большим расстоянием точек отражения от оптической оси. В разложении функции оптического пути аберрации различных порядков (до пятого) оказываются близкими по величине, поэтому выявить аналитически тип аберрации, определяющий разрешение в том или ином случае, достаточно сложно. В расчетах разрешения осесимметричных систем скользящего падения чаще используют метод хода лучей, результаты которого представляют в виде графиков или полуэмпирических формул. [c.164]

Рис. 5.14. Зависимость углового разрешения а системы параболоид—гиперболоид первого рода от внеосевого угла у при а = о/ о=0,05 (а) и апертуры о для V = . 10 (б) при различных значениях относительной длины параболоида L

В физике плазмы рентгеновская спектроскопия применяется для диагностики источников двух типов с большим размером плазменного объема 0,1—1,0 м (например, токамаков) и источников малого размера 0,1—1,0 мм (лазерной плазмы, плазменного фокуса, вакуумной искры). Температура этих источников одного порядка — от единиц до нескольких десятков миллионов градусов, и основная часть линейчатого и непрерывного излучения приходится на мягкий рентгеновский диапазон от нескольких сотен электронвольт до нескольких килоэлектронвольт. В термоядерных установках проводятся исследования Н, Не, Ы, Ве — подобных ионов легких (О, С, Н) и тяжелых (Т1, N1, Ре) элементов, по которым определяются электронная и ионная температуры, ионный состав и состояние равновесия, а также исследуются макроскопические процессы и кинетика плазмы. Исследуемые линии принадлежат ионам примесей, поступающих в плазменный объем из стенок или остаточного газа, поэтому их интенсивность по сравнению с континуумом относительно невелика. Для разделения линий ионов различных элементов и кратностей необходимо разрешение порядка (1 — 3). 10 в отдельных, относительно узких, участках спектра. По изменению интенсивностей линий ионов различных кратностей можно судить об изменениях температуры, плотности и ионного состава плазмы по объему. Для таких измерений спектральная аппаратура должна иметь пространственное разрешение порядка 1 см для токамаков и 1 мкм для лазерной плазмы. Горячая плазма существует непродолжительное время (характерное время изменения параметров плазмы токамаков порядка 1 мс, лазерной плазмы — 10 нс), поэтому приборы должны обладать достаточно большой апертурой и многоканальной системой детектирования. Поскольку большинство координатно-чувствительных детекторов высокого разрешения имеют плоскую чувствительную поверхность, фокальная поверхность спектрометра тоже должна быть плоской, и угол падения излучения к ней должен по возможности быть небольшим. [c.286]

При исследовании анизотропных препаратов к обычной схеме микроскопа добавляют перед конденсором— поляризатор, а после объектива — анализатор, находящиеся в скрещенном либо параллельном положении друг относительно друга. Объект может поворачиваться вокруг оси микроскопа. При скрещенных поляризаторе и анализаторе в темном поле зрения микроскопа видны темные, светлые или окрашенные двоякопреломляющие элементы объекта. Вид этих элементов зависит от положения объекта относительно плоскости поляризации и от величины двойного лучепреломления. Более точное определение оптических данных объекта делается с помощью различных компенсаторов (неподвижных кристаллических пластинок, подвижных клиньев и пластинок и др.). Все измерения при наблюдении в поле непосредственно объекта производятся при очень малой апертуре конденсора. Такое наблюдение называется ортоскопическим. При исследованиях с помощью микроскопа в поляризованном свете проводят также и коноскопическое наблюдение, т. е. наблюдение специфических интерференционных фигур в выходном зрачке объектива, для чего в схему микроскопа вводят дополнительную линзу, проектирующую изображение выходного зрачка в поле зрения окуляра. Эта линза носит название линзы Бертрана. [c.16]

Исторически одним из первых синтезированных фильтров был фильтр, предназначенный для обработки радиолокационных кодированных импульсов [46, 169]. Передаточная характеристика такого фильтра рассчитывалась с помощью ЦВМ [169], а сам фильтр изготавливался вручную, как описано в 4.2. Совершенствование методики расчета и изготовления фильтров позволило их использовать в системах обработки данных, полученных радиолокационными станциями с синтезированной апертурой. Не останавливаясь на математических деталях этой задачи (см., например, [23. 46]), отметим только, что при записи сигнала, отраженного от цели, возникают искажения, обусловленные изменением расстояния от антенны до объекта в процессе полета самолета. В результате отраженный импульсный сигнал задерживается относительно излученного на различное время для разных частей излучающей апертуры. Для ряда систем с высокой разрешающей способностью эти различия в расстояниях могут превышать величину разрешения по дальности, что, конечно, ограничивает предельную разрешающую способность системы в целом. Один из примеров создания и использования фильтра для коррекции сигналов радиолокационной станции с синтезированной апертурой приведен в [178]. В этом случае в качестве объекта, с которым согласован фильтр, используется чисто фазовая функция [c.155]

Диаграмма направленности, полученная дискретным преобразованием Фурье исходных измерений, может отличаться от действительной диаграммы направленности вследствие искажающего влияния датчика (измерительной антенны) на измеряемое поле. Если это влияние можно считать линейным и не зависящим от положения измерительной антенны относительно измеряемой, то его можно в принципе скорректировать так же, как конечную апертуру датчика голограмм при их восстановлении. [c.171]

Размытие изображения определяется дифракцией или геометрическими аберрациями в зависимости от соотношения диаметра S диафрагмы (3.7 , кривизны фазового фронта накачки и положения ИК-источника относительно кристалла. Ясно, что в ситуациях, когда диаметр S диафрагмы (3.7) больше апертуры кристалла d, размытие изображения определяется именно апертурой кристалла. [c.64]

Чтобы оцепить влияние пятнистости на потери информации в голографической системе, необходимо определить относительную флуктуацию интенсивности в пятнистой структуре по сравнению с изменением интенсивности в изображении, а также спектральный состав пятнистой структуры [26, 30]. Для рассмотренного случая прохождения когерентного света через рассеивающий экран средняя интенсивность равна корню квадратному из среднего квадрата флуктуации интенсивности. Предельный размер пятен, наибольшие частоты структуры определяются дифракцией на апертуре, и поэтому размер пятен обратно пропорционален относительному отверстию оптической системы. [c.71]

Как видно из полученного выражения, частотная погрешность оптического фурье-преобразования, осуществляемого идеальной линзой, определяется относительным размером рабочей апертуры в частотной плоскости. [c.211]

Определим максимально допустимое значение радиуса р рабочей апертуры в частотной плоскости, удовлетворяющее заданным фазовым искажениям. Разрешив (6.3.38) относительно р//, получим [c.221]

АК ИФП, зеркала которого ограничены прямоугольной апертурой и имеют наклон относительно друг друга, при когерентном и некогерентном освещениях зеркал (табл. П1, П4), а также наблюдаемый с ним контур спектральной линии (табл. П6). [c.141]

В отношении более общих случаев сочетания аберраций мы сошлемся на оригинальную литературу. Для малых аберраций Марешаль [4, 5] и Стил [9] опубликовали ценные таблицы, в которых приведены данные для прозрачных и затемненных апертур. Относительно больших аберраций, особенно при условиях, при которых допустимы приблизительные геометрические оценки, можно указать работы Миамото [101 и Гонкинса [111. В частности, Гонкинс расширил понятие аберрационных допусков [c.147]

Габаритный расчет оптической схемы микроскопа. Он o yuie-ствляется одновременно с эскизным проектированием микроскопа с его оптико-механическими узлами и приспособлениями. Полагая, что отдельные оптические узлы системы или компонента являются безаберрационными, с помощью формул гауссовой оптики определяются фокусные расстояния, числовая апертура (относительное отверстие), поле зрения отдельных компонентов системы, а также их взаимное расположение. При наличии в системе пластинок, зеркал и призм, а также апертурных диафрагм и диафрагм поля зрения определяются их размеры и положения. Если в зрительных трубах следят за тем, чтобы изображение было прямое, то в микроскопах, за редким исключением, этому условию не придают никакого значения, т. е. изображение может быть перевернутым. Виньетирование наклонных пучков в оптических системах микроскопов не допускается. С целью изыскания оптимального варианта в отношении габаритов и расположения в микроскопе оптической системы, последняя уточняется и составляется на основании совместной проработки оптиков-конструкторов и конструкторов-механиков при непосредственном участии исследователей данных приборов. [c.369]

Точки и — изображения излучающего центра 5, получаемые с помощью оптической системы интерферометра, не показанной на чертеже ). Эти точки могут быть как действительными, так и мнимыми изображениями точки 5. В частности, 5 может совпадать с одной из этих точек (схема Ллойда, см. ниже рие. 4.8). Апертура интерференции 2 и связанный с нею угол 2йу определякя допустимый размер источника света, ширина которого обозначена через 2Ь (см. рис, 4.5). Для расчета интерференционной картины в любом интерферометре достаточно знать взаимное расположение 5 и 5а и их положение относительно экрана ЕЕ. Если экран ЕЕ расположен перпендикулярно к линии 515а, то, как явствует из 13, интерференционные полосы будут представлять собой концент- [c.73]

Вследствие резкого повышения требований к качеству изображения, даваемого фотообъективом, использование совокупности только двух линз оказалось недостаточным. Начали строить оптические системы из трех и более линз. Крупным событием в истории инструментальной оптики стало создание в 1840 г. Й. Петцвалем портретного объектива, далеко опередившего оптическую технику своего времени. Объектив Петцваля имел большое относительное отверстие (1 3,2). У этого объектива впервые было достигнуто одновременное исправление многих аберраций [49]. При такой большой апертуре, какой обладал объектив Петцваля, этого было достигнуть очень трудно. Объективы Петцваля получили широкое распространение и находились в эксплуатации более 100 лет. Методика, которой пользовался ученый, не сохранилась, однако известно, что он построил свой портретный объектив на основании аналитических расчетов аберраций. Работа по созданию этого объектива была осуществлена в чрезвычайно короткие сроки (1836—1840 гг.). При этом был решен целый комплекс задач технической оптики оценка качества изображения, выбор типа оптической системы, создание техники расчета оптических систем и др. [c.366]

Микроскоп. Микроскоп снабжен длиннофокусным объективом с 20-кратным увеличением типа М.1487 фирмы Виккерс инстр -ментс ЛТД. . Числовая апертура объектива равна 0,65, фокусное расстояние — 12,2 мм, глубина резкости — 4 мк. Последняя особенность объектива позволила применить метод оптических сечений, с помощью которого можно получать фотографии треков частиц в пленке с разрешающей способностью но глубине около + 8 л/к. Используется окуляр фирмы Хьюдженайн с 6-кратным увеличением. Микроскоп прочно закрепляют на рабочем участке, чтобы свести к минимуму относительную вибрацию. Перемещение рычагов управления фокусировкой микроскопа усиливается стрелочным прибором, с помощью которого перемещение фокуса микроскопа может быть измерено с точностью 0,3 мк. [c.192]

Р адиоиптсрферометр является простейшим инструментом этого типа, он чувствителен лишь к одной из пространственных частот, определяемой длиной базы. Меняя длину базы, можно измерить весь спектр пространственных частот исследуемого объекта и по нему построить изображение. Для повышения зф-фектпвности наблюдений увеличивают число элементов интерферометра и располагают их в определ, порядке друг относительно друга для исключения повторения одинаковых длин баз. Использование вращения Земли (наблюдения источника при разных позиционных углах) позволяет расширить спектр измеряемых частот. Разработаны разл. тины инструментов с незаполненными апертурами. [c.102]

ГЕОМЕТРИЧЕСКИЙ ФАКТОР — величина, определяющая геометрию пучка излучения используется в фотометрии, космофизике при регистрации излучений и потоков частиц. Г. ф. G зависит от размеров и взаимного расположения диафрагм, совместно выделяющих из всех возможных прямых то множество направлений, к-рое определяется пучком излучения и угл. апертурой приёмннка излучения. Г. ф. инвариантен относительно любых поверхностей, пересекаемых прямыми, входящими в данное множество направлений, и принимается за меру этого множества (понятие о iiepe множества лучей впервые введено А. А. Гершуном в 30-х гг. 20 в.). Напр., для сопряжённых диафрагм источника и приёмника А ж А (или сопряжённых начальной и конечной диафрагм оптич, системы) dG—dA os = [c.440]

ПОЛЯР0ИД — один из типов оптич. линейных поляризаторов, действие к-рого основано на явлении линейного дихроизма — сильного преимуществ, поглощения одной из линейно поляризованных компонент оптич. излучения. П. представляет собой тонкую поляризующую плёнку, заклеенную для защиты от механич. повреждения и действия влаги, между двумя прозрачными пластинками (плёнками). Дихроизм П. обусловлен дихроизмом мельчайших кристалликов или молекул полимера, введённых в прозрачную матрицу (из стекла или пластмассы) и пространственно однородно ориентированных в ней. Ориентацию осуществляют с помощью растяжения плёнки, сдвиговых деформаций или иной спец, технологии. Достоинствами П. являются его высокая рабочая угл. апертура (до 80 ) и компактность, недостатками — относительно низкая стойкость к воздействиям влаги и темп-ры, невысокое пропуска- [c.80]

Р. используется для исследования удалённых объектов. Небольшая подвижная антенна принимает сигналы от перемещающегося объекта, к-рые записываются в виде радиоголограммы, Радноголограмма преобразуется в оптич. модель, реконструкция изображения даёт детальную информацию об объекте. Метод радиолокатора с синтезируемой апертурой был использован на Аполлоне-17 при облете Луны ( 1, = 60, 20 и 2 м) он применяется при исследовании методом голографирования вращающейся планеты, перемещающейся относительно Земли (изображение Венеры в радиоволнах). Р. используется также для получения изображе-ння объектов, скрытых оптически непрозрачными средами, для определения расположения отражающих участков тропосферы, для обработки сигналов больших антенных решёток и мвогоэлементных облучателей (космич. связь и навигация), радиосигналов (сжатие радяолокац. импульсов) в др. [c.215]

Существует несколько аспектов, в которых опыт Юнга иллюстрирует типы физических явлений, связанных с двумя главными темами этой книги, упомянутыми в начале данного раздела. Рассмотрим вопрос, относящийся к спектральному и пространственному распределению источников излучения. Чтобы полосы в опыте Юнга имели хорошую видность -достаточную четкость,-для освещения апертур важно использовать весьма малые источники. Группы полос, полученных от пространственно разнесенных точек, не очень мальк источников, смещены одна относительно другой, так что результирующая интерференционная картина имеет низкую видность. [c.13]

Рис. 7.7. Относительная доля полной мощности данной моды ТЕМ/, т, которая заключена в пределах круглой апертуры радиусом г. Здесь w — размер пятна моды ТЕМоо и числа возле каждой кривой соответствуют модовым

Еще меньшие кривизны можно получить, если применить пару стекол с большой разностью значений показателей преломления. Такие апланатнческие объективы могут иметь относительное отверстие, доходящее до 1 3, но их поле не превышает 25 -30°. По простоте конструкции симметричные объективы превосходят объективы типа Пецваля, хотя по своим оптическим качествам они приблизительно равноценны, Преимущество симметричных объективов зак<1ючается в отсутствии фона рисунка благодаря, меньшему количеству рефлексов (четыре отражающие поверхности вместо шести в объективе Пецваля). Они могут применяться в тех случаях, когда требуется большая апертура при небольшом поле зрения (портретная фотография, кинопроекция и т. д.). [c.222]

Типичными для микроскопов являются окуляры ортоскопи-ческие и компенсационные. Первые применяются в соединении с объективами ахроматами средних апертур с целью получить большое увеличение при угле поля около 50°. Эгот окуляр хорошо (относительно) исправлен в отношении хроматизма увеличения, астигматизма и дисторсии. На рис. V.25 приведена схема ортоскопического окуляра / =8,9 мм, Г=28Х, конструктивные. элементы даны в табл. V.10. [c.416]

В схеме прибора предусмотрен ряд устройств для юстировки. Так, правильная установка образца, обеспечивающая выход и попадание зеркально отраженного пучка на приемник 10, достигается с помощью системы зеркал 11 и приемника 1, а установка приемника 8 в точку, где собираются отраженные от зеркала 7 лучи, осуществляется визуально с помощью оптического устройства 4, снабженного волоконной оптикой. В ряду приборов отметим установку [42], где реализован относительный метод измерения TIS, и измерение а проводится сравнением с эталонным образцом, среднеквадратичная шероховатость поверхности которого измерена с максимальной точностью. Установка для измерения TIS с фотометрическим шаром фирмы Балзерс схематично изображена на рис. 6.6, где излучение от Не—Ne-лазера 1, проходя прерыватель 2, ослабитель 3 и апертуру 4, падает на поверхность исследуемого образца 5. Зеркально отраженный поток выводится из фотометрического шара через отверстие 9. Интегральное значение рассеянного потока с детектора 8 поступает на синхронный усилитель 6, куда одновременно поступает опорный сигнал падающей интенсивности. Сигнал с синхронного усилителя пропорционален отношению /о//д, входящему в формулу (6.11). Измеренное значение а индицируется на цифровом вольтметре 7. Значения а порядка 0,5 нм были измерены с помощью описанной установки фирмы Балзерс в работе [37]. Как было показано в работе [30 ], метод позволяет проводить измерения а и не дает возможности определения параметров поверхности в плоскости (X, У). Это ограничение метода TIS было преодолено в приборе, в котором была обеспечена возможность измерения углового [c.237]

I - мин в (4.35)) и маскируется функцией h (х, ij) — преобразованием Фурье, апертуры записывающего элемента устройства записи голограмм. Но в отличие от предыдущего случая здесь каждый порядок дифракции содержит два накладывающихся друг на друга изображения объекта прямое и сопряженное, повернутые на 180 относительно друг друга. Каждое из них маскируется дополнительной маскирующей функцией прямое — функцией os ях x(V4 4- Av xIKd), сопряженное — функцией sin я(V4 + Av xlkd). Поэтому в центральной части прямого изображения сопряженное изображение подавлено, но на периферии помеха за счет сопряженного изображения велика. Для наглядности картина расположения дифракционных порядков прямого и сопряженного изображений показана на рис. 4.27. Прямое изображение на этом рисунке показано сплошной стрелкой, сопряженное — пунктирной. В прямоугольниках на хвосте стрелки указаны значения т, п), соот- [c.99]

Решение проблемы снижения пробивного напряжения в лазерах высокого давления было осуществлено посредством перехода от продольного к поперечному (относительно оптической оси резонатора) разряду. Разрядный промежуток в этом случае, как правило, образован двумя длинными L м) электродами, расположенными вдоль оптической оси лазера. Поперечные размеры промежутка определяют апертуру лазерного пучка в зоне генерации и составляют несколько сантиметров, т. е. много меньше L. Лазеры с возбуждением поперечным разрядом и давлением газа порядка атмосферного получили название Transversely Ex ited Atmospheri (Г Л-лазеров). Таким образом, снижение пробивного напряжения t/np при поперечном разряде достигается уменьшением межэлектродного расстояния d и соответственно параметра pd р—давление газа), определяющего зависимость = / pd) по Пашену. [c.49]

Разрещающая способность фототит са относительно невысока (рис. 3.2). Тем пе менее на апертуре 30 мм прибора может быть полностью передано с достаточной эффективностью телевизионное изображение. Модуляционная передаточная характеристика ПВМС имеет плавный характер без каких-либо особенностей. Другие конкретные параметры фототитуса приведены в табл П.2. Заметим только, что контраст 00 1 обеспечивается при угловой апертуре считывающего излучения 10. .. 15°, а при считывании хороню коллимированным лазерным пучком может превышать 10 [120]. [c.127]

А. Пусть объект, изображение которого проецируется на ПВМС, —точечный, и его изображение формируется системой с относительным отверстием F/D (здесь F — фокусное расстояние и D —апертура). Выделим отдельно два слу гая [c.190]

На рис. 6.3.4 приведены крйвУе, пбстроенйые по формулам (6.3.18) и (6.3.21) для некоторых частных случаев. Кривые, построенные по (6.3.21) при выбранных постоянных значениях относительного отверстия линзы и входной апертуры, определяют верхние предельные значения ршах, ограниченные размерами апертуры линзы. Из этих кривых видно, что с увеличением d резко уменьшается максимальная рабочая апертура в частотной области, причем с увеличением относительного ог- [c.215]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...