Анализ газов спектральный

Спектральный анализ. Рассмотрим спектральный анализ газов с помощью фотоэлектрической регистрации спектров. [c.158]

Эта система представляет собой стохастический аналог уравнений устойчивости панели в потоке газа, описывающих явления флаттера и дивергенции. Для анализа воспользуемся спектральным методом. Стационарный случайный процесс v (t) допускает представление в виде обобщенного интеграла Фурье [c.163]

Крючков Л. А., К н я ж е в а В. М. Материалы XV коллоквиума центральных заводских лабораторий (по вопросам химического н спектрального анализа, анализа газов и неметаллических включений и фазового анализа сталей и сплавов). М., Черметинформация, 1973, с. 129 [c.83]

Аналитический отдел завода включает четыре группы 1) сменную контрольную, 2) специальных анализов, 3) спектрально-аналитическую и 4) исследовательскую аналитическую. Сменная контрольная группа состоит из химиков и техников, которые работают в заводских сменах и выполняют срочные анализы, необходимые для технологического контроля процесса. Группа, занимающаяся специальными анализами, производит нестандартные анализы и анализы, требующие специальной методики. Сюда относятся анализы конечных продуктов, изотопный анализ продуктов деления, анализ проб активных газов и т. д. Спектрально-ана-литическая группа производит масс-спектро-метрические анализы как твердых, так и газообразных веществ, эмиссионный спектральный анализ, рентгеновский диффракционный и флюоресцентный анализы. Исследовательская аналитическая группа контролирует качество всех массовых анализов, помогает в затруднительных случаях, совершенствует методы и оборудование и подготавливает методические руководства. [c.41]

СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ГАЗОВ. АКТИВАЦИОННЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА ГАЗОВ 719 [c.719]

СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ГАЗОВ [c.719]

К настоящему времени разработано и используется большое количество разнообразных схем ОА-спектрометров. В [12] они классифицированы по следующим признакам 1) по типу исследуемых сред ОА-приборы для анализа газов, жидкостей и твердых тел 2) по спектральному диапазону УФ-, видимого, ИК- и радиоволнового диапазонов 3) по режиму работы лазера моно- [c.136]

Введение. В этом параграфе мы дадим определения основных понятий теории представлений и подробно остановимся на свойствах представлений ГНС, поскольку конструкция ГНС играет важную роль в физических приложениях. Затем мы проиллюстрируем введенные понятия на примере свободного бозе-газа, рассматриваемого в термодинамическом пределе. Разработка подхода, основанного на теории С -алгебр, была в известной мере стимулирована исследованиями понятия физической эквивалентности (отличного от понятия пространственной эквивалентности). Мы рассматриваем это понятие в п. 4. Наконец, мы приводим сводку результатов из теории алгебр Неймана и 2 -алгебр. Это необходимо для того, чтобы включить в рамки С -алгебраического подхода некоторые мощные средства функционального анализа, например спектральную теорему и теорию типов. [c.106]

Разобранные примеры наглядно показывают, насколько чувствителен общий вид функции 7 (т) к особенностям спектральной плотности. Это делает ясным возможность использования кривой видимости для анализа спектрального состава излучения. Впервые такой способ был применен Майкельсоном, и ему удалось установить, что почти все спектральные линии в излучении разреженных газов состоят из нескольких, тесно расположенных компонент, которые не разрешались обычными спектральными приборами. [c.103]

Для дифракционной решетки обычно наблюдают спектры второго или третьего порядков, т. е. т = 2 или 3. В соответствии с этим дисперсионная область ДА, = Х/2 или А./3 очень велика. В этом — огромное преимущество дифракционной решетки, которая позволяет анализировать даже белый свет, т. е. очень обширный спектральный интервал (в тысячи ангстремов), тогда как пластинка Люммера—Герке, например, не дает уже отчетливых максимумов, если падающий на нее свет представляет спектральный интервал, превышающий один ангстрем. Поэтому интерференционные спектроскопы пригодны только для анализа очень однородного света, например для спектральных линий, испускаемых разреженными газами. Они оказывают неоценимые услуги при анализе таких линий, позволяя устанавливать наличие нескольких компонент в этой линии (тонкая структура), оценивать ширину линии, наличие изменений (расщеплений) под действием внешних причин (например, эффект Зеемана) и т. д. [c.218]

Оптические приборы и оптические методы исследования широко применяются в самых разнообразных областях естествознания и техники. Напомним, например, об изучении структуры молекул с помощью их спектров излучения, поглощения и рассеяния света, а также о применении микроскопа в биологии, об использовании спектрального анализа в металлургии и геологии. Оптические квантовые генераторы неизмеримо расширяют возможности оптических методов исследования. Приведем несколько примеров, иллюстрирующих положение дела. Один из новых методов — голография — подробно описан в главе XI. Изучение атомно-молекулярных процессов, протекающих в излучающей среде лазеров, а также рассеяния света и фотолюминесценции с применением лазеров позволило получить большой объем сведений в атомной и молекулярной физике, равно как и в физике твердого тела. Оптические квантовые генераторы заметно изменили облик фотохимии с помощью мощного лазерного излучения могут производиться разделение изотопов и осуществляться направленные химические реакции. Благодаря монохроматичности излучения оптических квантовых генераторов оказывается сравнительно простыми измерения сдвига частоты, возникающего при рассеянии света вследствие эффекта Допплера этот метод широко используется в аэро- и гидродинамике для излучения поля скоростей в потоках газов и жидкостей. [c.770]

В спектральном анализе помимо этих основных применяются и другие источники света. К их числу относятся разрядные трубки с полым катодом, плазменные горелки (плазмотроны), представляющие собой генераторы потока плазмы, образующегося при нагревании инертного газа электрической дугой, оптические кван- [c.7]

Именно эти особенности нашли свое отражение в результатах численных расчетов, учитывающих излучение атомов в линиях. Хотя спектральный коэффициент излучения и возрастает при этом весьма существенно, радиационный тепловой поток увеличивается относительно мало. Последнее связано с влиянием самопоглощения, а также радиационного охлаждения, которые проявляются тем сильнее, чем больше толщина сжатого слоя. В некоторых работах [Л. 10-1, 10-6] высказывается мнение, что при инженерных расчетах qn для достаточно толстых слоев излучающего газа допустима стопроцентная ошибка в определении величины коэффициента поглощения вакуумного ультрафиолета, поскольку отклонение <7д при этом не превысит 20%. В настоящее время принято увеличивать в 1,5 раза величину радиационного теплового потока, рассчитанного для сплошного излучения (кривая на рис. 10-4), с тем, чтобы учесть излучение атомов в линиях (соответствующая скорректированная зависимость представлена кривой 5 на рис. 10-4). При численном анализе можно ограничиться введением дополнительной ступеньки в спектральном распределении коэффициента поглощения, учитывающей излучение в линиях атомов в видимой и инфракрасной областях спектра [Л. 10-1]. [c.293]

Поскольку температура газа постоянна, то его спектральные коэффициенты поглощения а/ и рассеяния фигурирующие в (4-38) и (4-39), будут постоянными. Заранее неизвестны лишь коэффициенты и Однако проделанный анализ показывает, что для рас- [c.131]

Особое внимание необходимо уделять оборудованию для анализа причин отказов (при испытаниях или эксплуатации) это оборудование должно образовывать определенную систему, в которой на начальных этапах производится повторный контроль диагностических параметров и осмотр внешнего вида (визуально или с помощью микроскопов или других увеличительных средств), затем — испытание на герметичность оболочек (под давлением жидкой средой, например, водой, метиловым спиртом и т. п. или газовой средой, например, фреоном, гелием с последующим масс-спектральным контролем вытекающего газа), после чего следует заключительный металловедческий, химический или другой точный метод анализа, включая использование рентгеноструктурного анализа, электронной микроскопии и др. В работе [38] приведены системы анализа причин отказов отдельных классов электронных приборов. Принципы построения таких систем могут быть использованы и в других областях. [c.223]

Спектральный анализ использовался для изучения поверхностной коррозии труб под шлаком [Л. 158], так как начало коррозии связано с определенной концентрацией СО в топочных газах. Очевидно, спектральный анализ может служить также для исследования химического состава отложений. [c.42]

Анализ химического состава смес . При молекулярном масс-спектральном анализе анализируют газообразную смесь, поступающую в ионный источник масс-спектрометра, так, чтобы найм, доля вещества попадала на раскалённый катод (и там разлагалась). Качественный анализ основан на измерении либо массы не-распавшегося молекулярного иона, либо распределения интенсивности линий в масс-спектре каждого вещества. Осн. способом ионизации является ионизация электронным ударом с энергией электронов в иеск. десятков эВ. Количественный анализ основан на пропорциональности интенсивности всех линий масс-спектра каждого из веществ его парциальному давлению в области ионизации. Суммарный масс-спектр смеси аддитивное наложение масс-спектров каждого из компонентов смеси. Для того чтобы состав смеси в области ионизации не отличался от исходного, стремятся обеспечить молекулярное (кнудсеновское) натекание газа в ионный источник. Для градуировки используют масс-спектры компонентов смеси и определяют относит, или абс. коэф. чувствительности масс-спектрометра к данному веществу. Абс. коэф. чувствительности — отношение интенсивности линии, принятой за эталонную, к кол-ву этого вещества в напускном объёме относит, чувствительность — отношение абс. чувствительности для 2 веществ. Относит, чувствительность прибора меняется со временем не более чем на неск. % (абс, чувствительность колеблется больше). [c.58]

При изложении вопроса о методе расчета суммарного теплообмена в топках анализируются возможности учета влияния на расчетную температуру газов на выходе из топки особенностей объемного температурного поля топочной камеры. При изложении вопроса о зональном тепловом расчете топки главное внимание уделено рассмотрению физических основ метода и возможностей анализа на его основе условий тепловой работы топки с учетом новых данных о спектральных радиационных характеристиках пылеугольного пламени. Эта глава написана автором совместно с Ю. А. Журавлевым. [c.4]

Оригинальный способ получения материала СО для спектрального анализа чугуна разработан в Венгрии. Металл выплавляют в индукционной печи, расплав очищают от газов продувкой аргоном высокой чистоты и проводят комплексную модификацию карбидообразующими материалами. Во время обработки модификатором расплав, в зависимости от химического состава выплавляемого чугуна, легируют бо- [c.123]

Определить послойное содержание водорода в поверхностном слое металла позволяет относительно простой метод анодного растворения, нашедший применение при исследовании электролитического наводороживания, при котором водород сосредоточен в тонком поверхностном слое металла 46,5l]j. Суть метода состоит в электрохимическом анодном растворении поверхностного слоя металла заданной толщины с последующим хроматографическим или спектральным анализом выделившегося газа. [c.24]

Величина с (Г) представляет собой теплоемкость газа, приведенного к идеальному состоянию при постоянном объеме, и может быть определена экспериментально и теоретически по данным спектрального анализа. Последний метод является в настоящее время наиболее точным и надежным. [c.14]

Котлик Л. Л. Спектральный анализ газов с помощью фотоэлектрической регистрации спектров.— Сборник материалов по вакуумной технике , 1960, вып. XXIV, с. 86—90 с ил. [c.477]

В отношении этих исследований, имеющих, главным образом, чисто научный характер, мы сошлемся на работы Леконта [Л. 1, 226]. Среди непосредственных применений в промышленности мы отметим автоматический анализ газов без спектрального разложения. Достаточно определять, как это делали Меллони и Тиндаль, ослабление, претерпеваемое инфракрасным излучением, заставляя последнее проходить данную толщу газа и измеряя его нагревание. Этот чувствительный и быстрый метод позволяет узнавать содержание окиси углерода или углекислого газа в воздухе или этилена в других углеводородах [Л. 295]. Описываемый аналитический процесс в настоящее время известен под названием анализа по полному излучению. Работы Люфта, проводившиеся сначала в Германии, а затем в Тулузе, и пополненные работами Баршевича, Шмика и других исследователей, привели к превосходному выяснению вопроса. [c.166]

При кристаллизации пробы фиксируется температура жидкой стали. По виду наружной поверхности пробы можно оценить степень газонасыщенностн жидкой стали. Гладкая наружная поверхность образца характеризует малую газонасыщенность расплава в сталеплавильной ванне. По виду внутренней поверхности можно определить склонность стали к образованию пористости и к деформации корки слитка. Половина пробы используется для изучения вида излома и микроструктуры, анализа газов и химического состава вторая половина подвергается спектральному анализу. В принципе можно по ходу плавки исследовать влияние модификаторов на перечисленные характеристики, помещая перед отбором пробы в полость изложницы добавку, которая должна расплавиться при засасывании жидкой стали. Установка для отбора проб спроектирована ОКБ и изготовлена в ЦНИИЧМ, однако некоторые узлы необходимо переконструировать. [c.193]

Вначале рассмотрим наиболее простой случай — лучистый теплообмен между селективно-черным газом (например, имеющим две спектральные полосы поглощения) и окружающей его черной стенкой. Совмещенный качествеиный график спектров этого газа и стенки приведен на рис. 17-3. Селективно-черный газ обменивается лучистыми потоками толыда в пределах спектральных полос, обозначенных на рис. 17-3 через e g и e g" (в общем случае число полос излучения газа может быть различным). Вне этих полос стенка обменивается лучистыми потоками сама с собой с результирующим излучением, равным нулю. Поэтому рассматриваемая задача в данном случае сводится к анализу лучистого теплообмена между газом и стенкой в пределах полос излучения (поглощения) газа, [c.301]

Полученные уравнения открывают возможность проведения более детального анализа зависимости лучистого теплообмена от спектральных характеристик факела (пламени) и стенки как в условиях чистых топочных газов, так и в условиях топочных газов, содержащих тонкодпсперсную взвесь (для которой =var) и грубодисперсную взвесь (когда можно принять = onst). [c.318]

Дуговые л а б. II с т о ч н и к и и сери й-ные лампы высокого и сверхвысокого давлений позволяют вводить значит, уд. мощность (Уи>100 Л/см ) и дают излучение высокой яркости с широко варьируемым спектром. Свободно горящая дуга, используемая в эмиссионном спектральном анализе, имеет неустойчивый канал, в к-рый поступают испускающие линейчатый спектр пары материала электродов или спец. вставки в нём. В лаб. источниках, применяемых в спектроскопии плазмы, дуга стабилизируется устраняющей загрязнения вытяжкой газа через электроды или охлаждаемыми водой медными игайбами (при наблюдении канала длиной неск, см и S3 0,2—1 см вдоль оси). Такая стабилизированная- каскадная дуга используется и как эталонный источник (в континууме Аг при р = 0,1—1 МПа, Гд до 1,2-40 К в вакуумных УФ-ляниях Н Тц до 2,2-10 К). Мощная дуга с вихревой стабилизацией канала 0 0,2—1 см и длиной неск. см, обычно в Аг при до 7 МПа и Р до 150 кВт, даёт сплошное излучение с Тв 6000 К и применяется для имитации солнечного излучения, в фотохимии и установках радпац. нагрева. [c.223]

Изотопный анализ. Из.меряются отношения ионных токов, соответствующих ионам с одинаковым зарядом и хим. составом, но с разл. изотопным составом. Эта задача наиб, проста в случае одноатомных газов. Поэтому при анализе изотопного состава ряда элементов используются их газообразные соединения (Н — в виде Н , О — в виде 0 , С — в виде СО , и — в виде и т. д.). При этом приходится учитывать влияние т. н. изотопных эффектов (различия в скоростях испарения изотопных молекул, если вещество испаряют в ионном источнике различия в вероятностях эмиссии ионов, если применяют методы поверхностной ионизации, искрового разряда, вторичной ионной эмиссии, эвдссии под действием лазерного излучения и т. д.) на вероятности диссоциации молекул при ионизации. В случае молекул, содержащих разнородные атомы, необходимо учитывать вклад в интенсивность соответствующих пиков (масс-спектральных линий), обусловленных изотопами других элементов. Масс-спектрометры с высоким разрешением позволяют идентифицировать, например, компоненты таких мульгиплетов, как — ВН" " — Т+. Повышают точность метода относит, измерения, когда исследование образца с неизвестным изотопным составам чередуется с измерениями в тех же самых условиях стандартного образца близкого изотопного состава. [c.57]

В простейшем микроволновол спектрометре излучение генератора СВЧ пропускают через волноводную ячейку, заполненную исследуемым газом, и направляют на приёмник излучения, сигнал к-рого, пропорциональный принимаемой мощности, подаётся на регистрирующий прибор. Линии поглощения в газе регистрируют по уменьшению приходящей на приёмник мощности излучения определённых частот. Для новыше-ния чувствительности спектрометров используют модуляцию частот спектральных линий, действуя на частицы электрич. [Штарка эффект) или магн. Зеемана эффект) полем и выделяя сигнал на частоте модуляции. В миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах используют модуляцию частоты излучения источника и приём сигналов от линий поглощения по модуляции давления исследуемого газа при поглощении им моду-лиров. излучения (см. Субмиллиметровая спектроскопия). Большой запас чувствительности позволяет исследовать, напр., спектры нестабильных молекул, запрещённые спектры молекул, а также применять М. с. для молекулярного и изотопного спектрального анализов. Повышения чувствительности в разл. микроволновых спектрометрах достигают также накачкой вспомогат. излучения (т. н. двойной резонанс), сортировкой частиц по состояниям (см. Молекулярный генератор) и др. [c.133]

СПЕКТРОСКОПИЯ (от спектр и греч. skopeo — смотрю) — область физики, посвящённая исследованию распределения интенсивности эл.-магн. излучения по длинам волн или частотам (в более широком смысле С.— исследование разл. спектров). Методами С. исследуют уровни энергии и струитуру атомов, молекул и образованных из них макроскопич. систем, изучают квантовые переходы между уровнями энергии, взаимодействия атомов и молекул, а также макроскопич. характеристики объектов — темп-ру, плотность, скорость макроскопич. движения и т. д. Важнейшие области применения С.— спектральный анализ, астрофизика, исследование свойств газов, плазмы, жидкостей и твёрдых тел. [c.625]

Исходя из метрологических функций, СО высшей точности используют только в аналитических лабораториях ИСО ЦНИИЧМ. Каждая подсистема СО состава черных металлов включает помимо СО высшей точности локальные системы образцов для химического и спектрального анализа и СО предприятий, которые создают преимущественно для индивидуальной градуировки средств измерений используемых в инструментальных методах анализа, а также СО аналитических сигналов для контроля стабильности градуировочной характеристики спектроаналитических установок и систем. В подсистему СО состава сталей входят также дополнительные наборы государственных СО для контроля состава углеродистых и низколегированных сталей и содержания газов. [c.84]

Возмонаюсть получения необходимш текущей информации о протекании рабочего процессе в плазмотроне, включая возможность проведения диагностики состояния газового потока в частности, в конструкцию плазмотрона должны быть включены места для установки термопар, окна для спектрального и фотографического анализа, места для установки датчиков давления, места для отбора проб газа с целью проведения физико-химического экспресс-анализа. [c.42]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...