Метод обратной съемки

Метод обратной съемки точен, но его большим недостатком является невозможность получения линий под малым уг-люм отражения, что может привести к совершенно ошибочным заключениям. Известны случаи, когда при закалке спл ава с [c.254]

Метод обратной съемки [c.151]

Методом обратной съемки исследовать двойной сплав алюминий—магний на содержание магния. Так как в результате внедрения атомов магния размеры кристаллической решетки алюминия увеличиваются, т. е. примерно до содержания магния 15% происходит пропорциональное ему изменение параметров кристаллической решетки алюминия, то рентгенографически по снимку следует определить параметр кристаллической решетки алюминий-магниевого сплава и отсюда с помощью правила Вегарда — процентное содержание магния [22, с. 143—150 23, с. 431—460 24, с. 171 — 178 5, с. 278]. [c.151]

Рис. 76. Схема метода обратной съемки с помощью плоской пленки

Теоретической основой метода обратной съемки (отраженного излучения) является уравнение [c.152]

Каждый рентгенографический метод начинается с определения по снимку углов отражения я ) или отклонения 2 . Метод обратной съемки особенно пригоден для определения незначительных изменений размеров кристаллической решетки, которые проявляются в измеримых изменениях угла отражения . Чтобы определить угол отражения, следует продифференцировать уравнение (1), при этом длину волны следует рассматривать как величину постоянную [c.152]

Рис. 77. Схематическое изображение снимка, полученного методом обратной съемки с помощью плоской пленки

Очень важно уметь распознавать такие напряжения, которые проявляют себя как внутренние напряжения или напряжения от нагрузки. Их воздействие в детали выражается в изменениях размеров, порядок величины которых сказывается на размерах параметров кристаллической решетки кристалла. Для охвата и распознавания таких малых изменений предоставляет свои возможности рентгенографическое определение, в особенности по методу обратной съемки, благодаря чему могут быть определены напряжения сжатия (—) или напряжения растяжения (+). Особым преимуществом при этом является то, что измерение может быть предпринято без отбора проб непосредственно на детали конструкции. [c.267]

Из уравнения (7) видно, что может быть представлено как линейная функция з1п ф. Уравнение (7) называется основным уравнением рентгенографического способа измерения напряжений посредством уравнения (1) получается непосредственная взаимосвязь между е и АО/О. Такая линейная зависимость деформации кристаллической решетки от 0 11) привела к разработке так называемого способа гр. АО/О можно измерить рентгенографически методом обратной съемки и тем самым будем иметь возможность определения упругих напряжений по уравнению (7). Если будут измерены деформации кристаллической решетки под 268 [c.268]

Определение напряженности кристаллической решетки электролитического хрома после различных видов обработки проводилось методом обратной съемки с экспозицией в течение 3 час. При этом методе образец и кассета вращались. [c.129]

Характеристика рентгенограмм, полученных по методу обратной съемки [c.302]

Из различных методов рентгеноструктурного анализа наибольшее применение для исследования металлов и их сплавов нашли метод порошков и метод обратной съемки, поскольку металлы и сплавы представляют собой поликристаллы. [c.59]

Для определения напряжений первого и второго рода применяют метод обратной съемки образца в напряженном и ненапряженном состоянии [2] [5]. [c.61]

При рентгеновском исследовании методом обратной съемки величины а — расстояние от первой щели до пленки и Л — расстояние от образца до пленки [c.72]

Рентгеновское исследование крупных монокристаллов и отдельных моно-кристальных зерен в крупнокристаллических материалах проводится методом обратной съемки Лауэ. [c.103]

При применении этого метода обратной съемки [131] расстояние между образцом и пленкой увеличивают до 400—500 мм и более, в результате чего расстояние между линиями Ка, и Kkj значительно увеличивается. [c.646]

Метод обратной съемки с эталоном, несмотря на ряд достоинств, имеет и ряд недостатков, ограничиваюш,их его применение, например необходимость очень точного измерения расстояния от образца до пленки, неодинаковое поглощение рентгеновских лучей в исследуемом и эталонном материалах, различное нх тепловое расширение и т. д. [c.655]

При попытке рентгенографического измерения остаточных напряжений закаливающейся стали исследователи встречаются со следующими трудностями. Наличие закалочных структур вызывает при обратной съемке сильное размытие линий рентгенограмм, что делает невозможным изменение расстояний между ними. Для того, чтобы сделать рентгенографический метод измерения остаточных напряже- [c.217]

Съемка неподвижного кристалла в полихроматическом излучении (сплошной спектр или спектр торможения рентгеновских лучей) — метод Лауэ. Регистрация обычно производится на плоскую пленку, которую располагают после образца и на которой регистрируются рефлексы, соответствующие небольшим вульф-брэгговским углам (9 <45°). Вариантом данного метода является обратная съемка (метод эпиграмм), когда пленку располагают между рентгеновской трубкой и образцом и на ней регистрируются рефлексы, соответствующие вульф-брэгговским углам 0>45°. Метод не- [c.113]

Структурные изменения в образцах контролировали как металлографическим, так и рентгенографическим методами при обратной съемке. [c.155]

В приведенном примере применялись рентгеновские камеры обратной съемки. Аналогичный метод для съемки в цилиндрических камерах и для применения различных излучений описан в [437]. [c.656]

Для оценки искажений 11 и 111 рода применялась методика, описанная в ряде работ (80, 81, 82, 83). Рентгенограммы, снятые на кобальтовом излучении по методу обратной съемки в камере КРОС-1 с алюминиевым эталоном, фотометрировались на микрофотометре МФ-2 с использованием логарифмической шкалы. Величина искажений 11 рода определялась по интегральной ширине линии (ЗЮ)Ре, которая получалась в результате деления площади кривой почернения на ее максимальную высоту. Абсолютная ошибка при этом колебалась в пределах 0,04—0,06 мм. [c.79]

При выполнении рентгеноструктурных исследований рентгенограммы снимали по методу обратной съемки в железном излучении. При этом регистрировали линии (220) а-фазы и (222) аустенита. Изучение перекристаллизации в основном выполнено на стали 15Х1М1Ф (критические точки Асх = 840° С, Ас = 950° С), Для получения более общих закономерностей отдельные эксперименты проводили на углеродистых сталях 20, 30 и У7. [c.104]

Для определения периода кристаллической решетки распространен метод, который состоит в одновременной съемке на одну рентгенограмму исследуемого вещества и эталонного материала с точно известным периодом решетки. При использовании методов графической экстраполяции период решетки определяют не по одной, а но нескольким линиям на рентгенограмме. Чаще всего применяют экстраполяционные функции вида а = f (0), а = = f [(п/2 — 0) tg 0], а = f ( os2 0), а == / [0,5 ( os 0/sin 0 + -4- os 0/0) ]. Надо сказать, что метод обратной съемки с эталоном, помимо ряда преимуществ, имеет существенные недостатки, огра- [c.73]

Смещение интерференционных линий на рентгенограмме связано с рядом особенностей структурного состояния материала. В первую очередь оно обусловлено закономерностями отражения рентгеновских лучей от атомных плоскостей в линейно напряженном поликристаллическом агрегате. Измеряя относительное изменение межплоскостного расстояния MId, можно определить сумму главных напряжений Ti + в направлении нормали к плоскости главных напряжений Adid = (0i + о )1Е, где Е — модуль упругости — коэффициент Пуассона. Стандартный метод определения суммы ofi + 2 — метод обратной съемки с эталоном, период решетки которого известен. Метод определения остаточных упругих напряжений с помощью нескольких снимков, выполненных под углом к поверхности (метод sin ip), позволяет определять, кроме того, упругие постоянные Е и р,. Определение межплоскостного расстояния при четырех различных положениях рентгеновского луча по отношению к поверхности исследуемого образца позволяет раздельно оценить главные напряжения. [c.74]

Метод обратной съемки является разновидностью метода Дебая—Шеррера. Принцип его заключается в том, что источник излучения и пленка представляют собой практически одно целое. Вследствие высокой чувствительности съемки в отраженном излучении этот метод особенно пригоден для определения малейших изменений размеров кристаллической решетки образца. В соответствии с этим отраженное излучение прежде всего применяется для определения фазового состава твердых растворов, а также упругих напряжений. Преимуществом этого метода является то, что рефлексы и 2 наблюдаются раздельно (расщепление ван-Аркеля) и таким же образом можно проводить их измерения. Недостаток метода заключается в том, что из-за незначительной проникающей способности рентгеновских лучей может быть исследована лишь структура поверхности. Чтобы устранить возможные повреждения поверхности в результате механической обработки, ее перед началом съемки следует слегка протравить. На практике нашли применение две разновидности этого метода плоской пленки по Заксу и Вертсу и конусной пленки по Реглеру. Наиболее широко распространенным является метод плоской пленки, поэтому более подробно рассмотрим лишь этот метод. [c.152]

Ренгенографическпй метод может быть использован для пс-следования продуктов окисления на металлах — распознавания ОКИСЛОВ, определения величины и ориентации кристаллов, измерения параметров решетки. Этот метод особенно пригоден для исследования толстых слоев окалины. Отделенная от металла и размолотая в порошок окалина может быть использована в качестве образца для рентгенографического исследования. Если образуются слои окислов различного состава, то часто их можно разделить и исследовать каждый в отдельности. Если окалина удерживается силами сцепления иа металле, то ренгеиогра-фическне исследования проводят методом скользящего луча (под малыми углами) и методом обратной съемки. Отделенные от металла пленки можно еще исследовать и методом порошка. [c.225]

Метод обратной съемки. Пучок рентгеновских лучей (фиг. 19) падает пер ц ендикулярно плоскости образца. Отраженные в обратном направлении лучи падают [c.60]

Рис. 29. Сетка для расчета лауэграмм, снятых методом обратной съемки.

Рис. 21. Рентгенограммы, полученные методом обратной съемки (медное излучение). Сняты на разной глубине от повер.х-ности сплава ним0(ник а — поверхность обработана напильником и тонкой наждачной бумагой ОООО (начальные условия). Диффузные кольца показывают интенсивный наклеп б поверхность после удаления 6,3 мк электрополировкой в— поверхность после удаления 19 мк электрополировкой г поверхность после удаления 50 мк элекгрополировкой. Пятна, которые все яснее выявляются и становятся мельче с увеличением расстояния от поверхности, отвечают все меиьшему разрушению зерен

Остаточные напряжения рентгенографическим методом определялись по методике, изложенной в работах Н. Н. Качанова, С. С. Горелика, Ю. А. Багаряцкого и др. Из1МереН Ие напряжений основано на зависимости расстояний между атомными плоскостями кристаллической решетки от величины напряжения. Для определения относительного изменения межплоскостного расстояния производилась съемка с поверхностей напряженного и ненапряженного образцов. В качестве напряженных образцов применялись отожженные образцы, идентичные исследуемым напряженным по материалу и форме. Съемка рентгенограмм проводилась в камере обратной съемки типа КРОС на установке УРС-70. [c.188]

Съемку поликристаллических образцов производят в монохроматическом — характеристическом или специально монохроматизнро-ванном — излучении образец имеет обычно вид тонкого столбика или плоского шлифа, может быть неподвижным или вращаться (вокруг оси цилиндра или вокруг оси, перпендикулярной плоскости шлифа) применяются передняя и обратная съемки на плоскую пленку с очевидными ограничениями для фиксируемых углов 0 (рис. 5.16), а также съемка на цилиндрическую пленку (классический метод порошка или метод Дебая), позволяющая фиксировать любые углы 9 (рис. 5.17). Разнообразие возможностей применения метода для поликристаллических образцов обусловлено, с одной [c.113]

Расчет лауэграмм обратной съемки (эпиграмм) проводится в следующем порядке [861 I) угловые координаты наносятся на круг проекции методом, описанным ранее (2-12), 2) пятна индицируются при помощи стандартных стереографических проекций. Накладывая кальку с гномостереографической проекцией кристалла на одну из указанных стандартных проекций, доби- [c.103]

На данных измерений периода решетки практически не сказывается зонная стадия распада, и образование зон Г.—П. можно заметить лишь по эффектам диффузного рассеяния в ближайших окрестностях узлов обратной решетки матричного твердого раствора. Если неоднородности структуры, обусловленные образованием зон, носят регулярный характер (модуляции рассеивающей способности или модуляции межплоскостных расстояний), то диффузное рассеяние концентрируется, образуя сателлиты возле основных рефлексов, и легко выявляется даже при съемке рентгеновской картины поликристаллов [47, 48]. В остальных случаях выявление зон Г.—П. возможно либо при рентгеновском анализе монокристаллов или крупнокристаллических поликристаллов (из-за малости размера ОКР в поликристаллах н наложений эффектов диффузного рассеяния), либо методом электронной дифракции в просвечивающем электронном микроскопе, где область дифракции всегда ограничена малой частью монокристалла (метод микродифракции, см. раздел 2). В некоторых сплавах зоны Г.—ГГ. имеют координацию атомов, отличную от координации атомов в матричном твердом растворе (например, зоны Гинье—Престона— Багаряцкого в сплавах А1—Mg—Si), или упорядоченную структуру (например, зоны Г.—П.П или фаза в" в сплавах А1—Си). При этом эффекты рассеяния должны наблюдаться в точках ОР, соответствующих этой структуре. По характеру распределения диффузного рассеяния можно судить о форме зон и в простейших случаях (при действии только форм-фактора) оценивать их размеры. К-состояние связывается с процессами упорядочения и выде- [c.129]

В процессе пайки имеет место ярко выраженное явление ориентированного роста кристаллов, или эпитаксия. Металлографическая картина этого явления заключается в том, что в структуре спая на границе раздела прослеживаются общие зерна и общие границы зерен, т. е. границы зерен основного металла находят продолжение в структуре паяного шва (рис. 45, а). Кроме общих границ зерен, в микроструктуре отчетливо видно продолжение линий скольжения из зерен основного металла в зерна припоя, вызванное деформацией полированной поверхности шлифа. Все это свидетельствует о том, что достраивание решеток основного металла кристаллизующимся сплавом обусловлено стремлением системы сохранить минимум свободной энергии. Это показано и прямым методом съемки обратных лауэграмм с использованием прицельной камеры [40]. Плоскости (110) общих зерен никеля и медноникелевого сплава в шве ориентированы параллельно, и угол отклонения не превышает 5°. Это явление имеет место при пайке не только, когда припой и основной металл являются изоморфными или близкими по составу и параметрам решеток, но и в случае значительного различия в составе и параметрах решеток основного металла и припоя. На рис. 10 приведена структура границы раздела шва при пайке армко-железа медью, на котором видно, как границы зерен в меди продолжают границы зерен армко-железа, несмотря на значительное [c.96]

Для определения параметров размытия, полученных в каком-либо конкретном методе, необходимо усреднить интенсивность рассеяния в обратном пространстве с учетом геометрии съемки. В методе качающегося кристалла [35] образец при съемке качается вблизи положения отражения на небольшой угол (превышающий угол разориентировки бо отражающего кристалла) относительно оси, перпендикулярной направлению падающего луча 2зхКо и направлению дифракционного вектора 2лК исследуемого узла решетки. При этом в отражающее положение последовательно вводятся разные участки области повышенной интенсивности вблизи узла обратной решетки, т.е. происходит усреднение в направлении t, перпендикулярном х и оси качания Lfe (t = [х X ]). При последующем фотометрировании усредняется также распределение интенсивности вдоль направления х. В этом случае распределение интенсивности на рентгенограмме можно получить при выполнении усреднения / (q ) в плоскости, перпендикулярной оси качания L . Тогда [c.265]

Все приведенные погрешности сказываются слабее при больших углах О. Для дальнейшего уменьшения ошибки, помимо повышения качества эксперимента, применяют специальные методы съемки, в частности съемку с обратным и ассиметричным распо- [c.195]

Все приведенные погрешности сказываются слабее при больших углах 9. Для дальнейшего уменьшения ошибки, помимо повышения качества эксперимента, применяют специальные методы съемки съемку с обратным и асимметричным расположением пленки, съемку с эталоном, съемку с применением острофокусных трубок [14, 20] и др. [c.135]

Модель среднего масштаба, реализованная в виде тренд-поверхности параметра и его среднего квадратического отклонения, помимо решения обратных задач и задач классификации геологических тел, в методическом отношении позволяет построить региональные схемы главных направлений изменчивости наметить направления опорных профилей, ориентированных по главным сечениям, для проведения на них рекогносцировочных работ в рамках среднемасштабной инженерно-геологической съемки приближенно оценить объемы и параметры системы пунктов получения информации (сппинфов) установить число и положение ключевых участков-эталонов. Ниже рассматриваются основные операции этого процесса, общие для всех методов моделирования. [c.207]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...