Лауэ метод

Лавеса фазы 18 Латунь 49. 278. 284, 285 Лауэ метод 156 Легирующие элементы алюминий 47 бор 44 ванадий 46 вольфрам 45 кобальт 44 кремний 40 марганец 40 медь 44 молибден 45 никель 44 ниобий 47 сера 42 тантал 47 титан 46 фосфор 41 хром 42 Ледебурит 34. 35 Лента 219, 457 Ликвация 431 [c.476]

Ларморовская прецессия 172, 180 Лауэ метод 113 [c.349]

К-состояние 2 87 Кюри температура 2 91 Ларморовская прецессия 2 178 Лауэ метод 1 211 [c.456]

Идея постановки эксперимента для получения рентгенограмм по методу Лауэ относительно проста и состоит в следующем (рис. 6.77). При освещении кристалла излучением с непрерывным спектром решетка сама выберет ту длину волны, которая способна дифрагировать на данной пространственной структуре. [c.351]

Благодаря методу Лауэ решаются две задачи огромной важности. Во-первых, открывается возможность определения длины волны рентгеновских лучей, если известна структура той кристаллической решетки, которая служит в качестве дифракционной. Таким образом создалась спектроскопия рентгеновских лучей, послужившая для установления важнейших особенностей строения атома (ср. 118). Во-вторых, наблюдая дифракцию рентгеновских лучей известной длины волны на кристаллической структуре неизвестного строения, мы получаем возможность найти эту структуру, т. е. взаимное расстояние и положение ионов, атомов и молекул, составляющих кристалл. Таким путем был создан структурный анализ кристаллических образований, легший в основу важнейших заключений молекулярной физики. [c.231]

Важнейшее применение рентгеновской спектрографии — исследования с помощью рентгеновских лучей структуры кристаллов (а в последнее время и молекул) и определение параметров кристаЛ лической решетки. В тех случаях, когда мы располагаем монокристаллами достаточных размеров, можно применить для таких рентгеноструктурных исследований метод Лауэ (см. 117), используя рентгеновское излучение со сплошным спектром. [c.411]

Рис. 1.43. Схема метода Лауэ

Метод вращения кристалла. Используют монохроматическое излучение определенной длины волны Я. Кристалл вращают вокруг оси, направление которой найдено методом Лауэ. С помощью сферы Эвальда и обратной решетки легко объяснить получающуюся дифракционную картину (рис. 1.46). Пусть обратная решетка вращается, а сфера Эвальда неподвижна. В момент, когда какой-либо узел обратной решетки касается поверхности сферы Эвальда, для него выполняется интерференционное уравнение (S—So)/X=H, и в направлении, например, ОР, происходит отражение. [c.50]

Рис. 1.45. Схема метода Лауэ в пространстве обратной решетки. Точки — узлы обратной решетки

Поскольку межплоскостное расстояние d, длина волны X и угол Вульфа—Брэгга взаимосвязаны, причем d фиксировано, то для наблюдения дифракции необходимо либо фиксировать но варьировать А, либо фиксировать 1, но варьировать Это приводит к следующим основным методам дифракционного эксперимента [29, 40] метод неподвижного кристалла (Лауэ), вращающегося монокристалла, поликристалла (Дебая). Эти методы достаточно подробно описаны, например, в [40]. [c.186]

Учениками Кирхгофа были многие выдающиеся физики и математики Макс Планк, Ф. Клейн, Карл Пирсон, Артур Шустер и др. Крупный немецкий физик Макс Лауэ писал, что своим решением посвятить себя физике он был обязан опубликованным лекциям Кирхгофа. Решающим фактором было сознание того, как много можно высказать о природе при помощи математических методов . Макс Планк отмечает в автобиографии, что под руководством Кирхгофа он значительно расширил свой научный кругозор. [c.390]

Отраженные лучи, пересекаясь с фотопленкой, дают на ней при полихроматическом излучении пятка, имеющие радиальное удлинение, так называемые хвосты (по методу Лауэ), а при монохроматическом излучении — кольца различной ширины (по методу Дебая-Шерера). [c.216]

Много это или мало Следует сравнить число с экспериментальными данными. Их получают, производя испытания металлов на растяжение. Схема опыта указана на рис. 80. Надо лишь приложить минимальную силу, достаточную для начала пластической деформации, и рассчитать по простой формуле критическое напряжение. Сдвиг в различных решетках происходит по определенным плоскостям (например, в ГПУ решетке —это плоскость шестиугольного основания), и для точного расчета угла а необходимо проводить опыт с монокристаллом металла, определив методом Лауэ его ориентировку. Однако это уже нюансы экспериментальной техники, а в результате значения критического напряжения оказываются около 100 г /мм т. е. на три с лишним порядка меньше, чем предсказывает теория [c.152]

Съемка неподвижного кристалла в полихроматическом излучении (сплошной спектр или спектр торможения рентгеновских лучей) — метод Лауэ. Регистрация обычно производится на плоскую пленку, которую располагают после образца и на которой регистрируются рефлексы, соответствующие небольшим вульф-брэгговским углам (9 <45°). Вариантом данного метода является обратная съемка (метод эпиграмм), когда пленку располагают между рентгеновской трубкой и образцом и на ней регистрируются рефлексы, соответствующие вульф-брэгговским углам 0>45°. Метод не- [c.113]

Рис. 5.15. Метод неподвижного кристалла (метод Лауэ) в представлении обратной решетки

Анализ ориентировки монокристалла с использованием рентгеносъемки в белом излучении (метод Лауэ) показал, что наряду с размытием лауэ-рефлексов происходит их смещение, свидетельствующее [c.70]

Раснределенпе интенсивности Ii(Q) Д. р- р- л. кристаллом в широкой области значений Q, соответствующих всей элементарной ячейке обратной решётки или нескольким ячейкам, содержит детальную информацию о характеристиках кристалла и его несовершенствах. Экспериментально I iQ) может быть получено с помощью метода, использующего моиохроматич, рентгеновское излучение и позволяющего поворачивать кристалл вокруг разных осей и изменять направления волновых векторов ki, к , варьируя, т. о., Q в широком интервале значений. Менее детальная информация может быть получена Дебая — Шеррера методом или Лауэ методом, [c.691]

Так, для решения задачи определения симметрии и поиска осей у плохо образованного кристалла используют метод Лауэ, для решения второй задачи — метод вращения или качания кристалла. Третью и четвертую задачи решают методами качания или рентгеногониометра. [c.49]

Метод Лауэ. Пусть на неподвижный кристалл (рис. 1.43) падает пучок рентгеновского излучения, содержащего все длины волн — от Xmin до некоторого к. [c.49]

Метод порошка (метод Дебая — Шеррера). Для исследования структуры поликристаллов используют монохроматическое излучение длины волны X. Съемку рентгенограмм производят ли-<6q на плоскую фотопленку, как в методе Лауэ (рис. 1.43), либо на пленку, расположенную на внутренней поверхности цилиндрической камеры, в центре которой установлен образец. В каче-.52 [c.52]

Такие цени были подробно разобраны Лауэ [108 , На примере цени, нзо-браженной на фиг. 9, проиллюстрируем метод анализа. Рассматриваемая цепь состоит из двух параллельно соединенных катушек с самоиндукциями [c.620]

Прямые методы определения структуры кристаллов ведут свое начало от открытия Лауэ, Фридрихсом и Книппингом в 1912 г. интерференции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Рассмотрим основные моменты теории дифракции рентгеновских лучей на пространственной решетке кристалла. Некоторые из них уже были приведены в 3 гл. 1. Вкратце они состоят в следующем. Пусть плоская поляризованная электромагнитная волна в момент времени t падает на свободный заряд в точке О. Тогда напряженность поля вторичной волны, создавае- [c.182]

Экспериментальным подтверждением разориентировки служит, в частности, астеризл — явление, наблюдаемое при снятии рентгенограмм по методу Лауэ. Недеформированный совершенный кри- [c.148]

За прошедшее после опытов М. Лауэ время определена структура нескольких тысяч кристаллических веществ благодаря усовершенствованиям, которые" внесли английские ученые отец и сын У. и Л. Брэгги в метод дифракции рентгеновских лучей. Еще будучи студентом Кембриджокого университета, Л. Брзгг развил теорию дифракции рентгеновских лучей, выведя так называемое уравнение Брэгга. Его отец У. Брэгг сконструировал рентгеновский спектрометр. [c.25]

Метод Лауэ — простейший метод получения рентгенограмм монокристаллов. Кристалл в эксперименте Лауэ неподвижен, а используемое рентг, излучение имеет непрерывный спектр. Расположение диф1Йк]ц. пятен на лауэграммах зависит от размеров элемеята)р [c.369]

До сих пор мы старательно обходили вопрос о способах практического получения монохроматической рентгеновской волны. В опытах Лауэ вообще пользовались сплошным спектром излучения, т. е. в рентгеновском пучке были представлены волны всех длин из определенного интервала. Поэтому условие Вульфа—Брэгга выполнялось одновременно для нескольких систем плоскостей, и каждая из них давала рефлексы под соответствующими углами. Такая методика получила название лауэвской, а сама фотопластинка с большим количеством рефлексов — лауэ-граммы. Сегодня метод Лауэ не столь популярен (тем не менее в следующем параграфе нам встретится один из примеров его применения). Чаще предпочитают оперировать с излучением одной определенной длины волны. Существует несколько эффективных приемов получения монохроматических волн. Чтобы о них рассказать, пришлось бы основательно углубиться в физику рентгеновского [c.77]

Вебб методом высокоразрешающей съемки по Лауэ исследовал строение нитевидных кристаллов кобальта, цинка, железа, никеля, марганца, серебра, палладия и сапфира, выращенных четырьмя различными методами. Наличие единичной винтовой дислокации, определенное по углу закручивания, было обнаружено лишь в палладии и в сапфире. Отсутствие упругого закручивания кристалла не исключает действия дислокационного механизма роста. Возможно, что две или четное количество винтовых дислокаций разных зцаков и одинаковой мощности находятся на равном расстоянии от оси кристалла такая конфигурация не дает упругого закручивания. Дислокации могут также выходить из кристалла путем переползания. Эта возможность вполне вероятна при высоких температурах (Т > V2 пл). [c.364]

Изменение модификаций можно установить различными методами. Они основаны на различии физических, химических или других свойств обеих фаз. Метод, который используется наиболее часто, состоит в рентгенографическом определении структуры, которое дает точные параметры обеих структур. Однако часто достаточно определить ориентировки методами Дебая — Шеррера, Лауэ или с помощью ионизационных гониометрических снимков, чтобы установить точку превращения. Другой метод основан на изменении цвета, которое особенно проявляется у соединений ртути. Поэтому некоторые соеди- [c.185]

Интересно отметить, что обсуждая возможность этого явления, Лауэ и ученые его круга до постановки опыта сомневались в положительном результате. Они полагали, что дифракция будет возможна лишь при идеальной упорядоченности рассеивающих центров (атомов) в кристалле и что даже их тепловое движение нарушит эту упорядоченность. Однако опыт с кристаллом удался, а уже в 1915 г. Дебай теоретически показал возможность дифракции на любых скоплениях атомов. Вскоре были проведены опыты по дифракции рентгеновых лучей на газах, жидкостях, высокополимерных веществах, доказавшие, что любая, даже минимальная, степень упорядоченности в агрегате атомов вызывает дифракционные эффекты. Тем самым рентгеноструктурный, а затем электронографический и нейтронографический методы стали методами изучения структуры вещества в любом агрегатном состоянии. [c.353]

Такой ПОДХОД далек от теоретической трактовки дифракции рентгеновских лучей Эвальда [126] или Лауэ [281] или даже от более простого интуитивного подхода Дарвина [108]. И тем не менее именно на эти источники следует опираться, обсуждая допущения теории, простой для использования на практике. Эта же теория дифракции лежит в основе понимания и интерпретации таких важных новых методов, как рентгеновская топография и рентгеновская интерферометрия, и более старых методов, использующих линии Косселя, но упрощения этой теории, созданные для практического использования, развиты в различных направлениях. [c.13]

Для источника излучения, который не является частью кристалла, даюш,его дифракционные эффекты, интенсивности дифрагированных пучков не зависят от положения атома-источника. В этом случае метод Лауэ, использующ,ий принцип взаимности, не применяется для вычисления интенсивностей. Обычно рентгеновские источники находятся достаточно далеко от дифрагирующего кристалла, что позволяет рассматривать падающее излучение от каждого точечного источника как сумму плоских волн, для которых интенсивности вычисляют отдельно и складывают, учитывая также геометрию эксперимента для кинематического (фиг. 14.3, а) или для динамического рассеяния на совершенном кристалле (фиг. 14.3, б) и в некоторых промежуточных случаях. [c.324]

Автор не отметил фундаментальных работ Камбе[см. например, К-Кат-Ье, Journ. Phys. So . Japan, 12, 25 (1957)1, в которых строго показан метод определения фаз структурных амплитуд из картин пересечения кикучи-линий как между собой, так и с лауэ-пятнами. — Прим. ред. [c.326]

Физика твердого тела (1985) -- [ c.49 ]

Металлургия и материаловедение (1982) -- [ c.156 ]

Металловедение и термическая обработка стали Т1 (1983) -- [ c.113 ]

Металловедение и термическая обработка стали Справочник Том1 Изд4 (1991) -- [ c.211 ]

Физико-химическая кристаллография (1972) -- [ c.349 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...