Зона фокусировки

Блок управления интроскопом позволяет изменять положение зон фокусировки при излучении и приеме, величину коэффициента усиления и его зависимость от величины сигнала (вплоть до нормального логарифмирования) общего усилителя. Через блок управления ОЗУ обеспечивает режим стоп-кадра, вывод бистабильного или полутонового изображения, выполнение отсечки сигналов изображения. Блок управления выводит информацию об объекте, операторе, режиме работы и дате на экран ЭЛТ через знакогенератор (ЗнГ) управляет [c.270]

Изображения, восстанавливаемые голограммами сфокусированных изображений, в отличие от этого как бы привязаны к ее поверхности и при произвольном вращении голограммы поворачиваются вместе с ней [90]. Это отличие объясняется тем, чго в случае сфокусированной голограммы наблюдатель всегда находится за плоскостью (областью) фокусировки изображения, в то время как в случае френелевской голограммы он обычно оказывается между плоскостью голограммы и зоной фокусировки действительного изображения (рис. 8), чем и обусловлено наблюдение последнего в перевернутом виде. [c.24]

Рис. 3.48. Конфигурация ультразвуковых лучей в пространстве и распределение энергии ультразвукового излучения (красными стрелками показана зона фокусировки).

Захват частоты 81, 84 Защищаемая конструкция 150 Звуковой удар 92, 94, 95 Зона фокусировки 93 [c.211]

Типовые установки для лазерной сварки, кроме квантового генератора и источника силового питания, содер кат еще замкнутую систему охлаждения, оптическую систему фокусировки лазерного луча на детали, оптическую систему наблюдения за процессом, координатный сварочный стол, при необходимости систему освещения свариваемого изделия и систему нодачи инертного газа в зону сварки для защиты нагреваемого металла от окисления. [c.168]

Считая г / пХ) = f фокусом системы, мы получаем формулу линзы. Возможность фокусировки излучения (например, раскаленной нити электрической лампочки) легко проверяется при использовании зонной пластинки, просто изготовляемой фотографическим методом. В этом опыте, полностью описываемом [c.260]

При некогерентном освещении световые колебания от разных участков щели совершаются с различными, случайно распределенными фазами. Интерференции волн от элементарных зон щели в таком случае не происходит. Освещенности, создаваемые элементарными зонами в фокальной плоскости, просто суммируются, а в распределении освещенности по контуру линии не наблюдается дополнительных интерференционных максимумов. Почти некогерентное освещение можно получить с помощью одной конденсорной линзы при четкой фокусировке на щель прибора, когда [c.21]

Система с электронным секторным сканированием по сравнению с системой с линейным сканированием указанных недостатков почти не имеет. Интроскопы этой системы содержат обычно преобразователи с 8—16 пьезоэлементами. Возбуждаются пьезоэлементы с задержками. Линейно нарастающие от элемента к элементу задержки обеспечивают наклонный ввод ультразвука, а квадратичное распределение задержек относительно среднего элемента обеспечивает фокусировку луча. Система с электронным секторным сканированием обеспечивает большую зону обзора при малой требуемой контактной площадке, но является и самой сложной в практической реализации системой. [c.271]

Л = 20°. Известно [3], что чем больше изменение модуля упругости и соответственно скорости УЗ-волн при их переходе из одной зоны шва в другую, кристаллиты которой не параллельны кристаллитам первой, тем выш С уровень структурных помех. Для снижения этого уровня рекомендуют вводить продольные волны так, чтобы волновой вектор составлял с осью кристаллита угол гр = 45° [39, 94]. Действительно, в этом направлении угол Aj, = О, вследствие чего УЗ-пучок фокусируется фокусировка наблюдается при 20° < ф < 60° [39]. При ф = 30. .. 60 изменение скорости продольных волн не превышает 5 % их максимального значения при ф = 45°. Следовательно, низкий уровень структурных помех характерен не только для ф = 45°, но и для широкого диапазона углов падения продольной волны на кристаллиты. [c.351]

Повышение частоты УЗ-колебаний приводит к тому, что отмеченные стадии процесса разрушения наблюдаются при меньшем числе циклов нагружения. Тот же эффект дают другие изменения условий эксперимента, направленные на концентрацию УЗ-энер-гии в зоне максимальных деформаций, например фокусировка ультразвука, выполнение надреза, который огибает поверхностная волна. На рис. 9.24, б показаны кривые изменения амплитуды прошедшего сигнала поверхностной волны в зависимости от числа циклов нагружения образца с надрезом глубиной 1,025 мм. Вершина надреза имеет полукруглую форму радиусом 0,1 мм. В этом случае осцилляции возникают уже на стадии начального ослабления сигнала. [c.443]

Применение лазеров для резки металлов, так же как и неметаллов, обусловлено следующими преимуществами по сравнению с традиционными методами обширным классом разрезаемых материалов возможностью получения тонких разрезов благодаря острой фокусировке лазерного луча малой зоной термического влияния излучения минимальным механическим воздействием, оказываемым на материал возможностью быстрого включения и выключения устройства с высокой точностью химической чистотой процесса резки возможностью автоматизации процесса и получения высокой производительности метода возможностью резки по сложному профилю в двух и даже трех измерениях. [c.110]

При размерной обработке заготовок установка работает в импульсном режиме, что обеспечивает локальный нагрев заготовки. В зоне обработки температура достигает 6000 °С, а на расстоянии 1 мкм от пятна фокусировки не превышает 300 °С. Продолжительность импульсов и интервалы между ними подбирают так, чтобы за один цикл успел нагреться и испариться только металл, находящийся под непосредственным воздействием луча. Длительность импульсов составляет 10" . .. 10 с, а частота 50. .. 6000 Гц. [c.454]

Характерной особенностью электронно-лучевОй сварки при высокой мощности являются большие скорости переноса жидкого металла из зоны плавления в зону кристаллизации. В верхней части сварочной ванны жидкий металл выносится на поверхность свариваемого изделия и образует усиление, площадь поперечного сечения которого достигает 10... 15 % общей площади поперечного сечения проплавления. Электронно-лучевой сварке толстого металла присущи колебания глубины проплавлений, но при правильной фокусировке и стабильных параметрах пучка они не превышают 5 % общей глубины проплавления. [c.428]

Фокусировка коротких световых импульсов. Изменения формы световых импульсов короткой длительности могут возникать при их фокусировке. В [70] рассмотрена фокусировка импульса линзой, а в [37] — зонной пластинкой. Обычно в экспериментах короткие световые импульсы фокусируются линзой, поэтому здесь мы остановимся на этой задаче. [c.59]

При обработке излучением малых зон материала даже довольно большие плотности мощности (до 10 Вт/см ) и энергии (до 10 Дж/см ) легко достигаются фокусировкой излучения лазеров с небольшими энергиями и средними мощностями. Твердотельные лазеры наилучшим образом соответствуют этим направлениям 0 технологии, Их активные элементы изготовляют обыч [c.112]

В соответствии с новой технологией пуансоны и матрицы указанных штампов подвергались лазерному упрочнению на технологической лазерной установке Квант-16 , оснащенной системой числового программного управления. Пуансоны были изготовлены из стали У8А, матрицы — из стали Х12М, прошедщих стандартную термическую обработку. Упрочнение рабочих кромок деталей штампов производилось после предварительного чернения химическим травлением в среде защитного газа при следующих параметрах режима напряжение накачки — 1800 В энергия излучения Е — 30 Дж фокусное расстояние фокусирующей линзы F — 61 мм степень расфокусировки KF — 5 мм диаметр луча в зоне фокусировки D — 4 мм частота следования импульсов — 1 Гц коэффициент перекрытия Кп — 0,7. Обработка производилась в защитной среде — аргоне. [c.111]

Альтернативным техническим решением по отношению к плоским дифракционным элементам киноформного типа является использование гибких управляемых зеркал, поверхность которых может принимать ту или иную форму в зависимости от управляющих напряжений, приложенных к зеркалу. Гибкое зеркало, управляемое ЭВМ, позволяет по заданной программе изменять интенсивность в зоне фокусировки. [c.197]

Использование высокой мощности ультразвука увеличивает риск возникновения биологических эффектов взаимодействия со средой (кавитация, нагревание). Поэтому при прочих равных условиях желательно пользоваться другими методами оптимизации изображений. Тем не менее следует заметить, что максимальному воздействию ультразвука подвергается не все инсонируемое поле, и лишь его небольшая часть, расположенная в зоне фокусировки луча, а еще точнее - ее центральной части (рис. 3.48). Необходимо также иметь в виду, что интенсивность воздействия ультразвука на ткань существенно повышается при избирательном увеличенном сканировании (функции Zoom или RES) [c.65]

Интенсивность звукового удара вдоль трассы полета и поперек нее различна (рис. 5.3). В крейсерском режиме полета она постоянна вдоль трассы, а поперек полосы уменьшается от оси к краям примерно вдвое. Однако при изменении режимов полета интенсивность звукового удара вдоль трассы резко возрастает в результате фокусировки. Так, при разгоне самолета и переходе через скорость звука интенсивность звукового удара в результате фокусировки может в несколько раз превысить интенсивность ударных волн, соответствующую крейсерскому полету. Зона фокусировки при разгоне, имеющая форму полумесяца, обычно невелика—около 10 км вдоль трассы, и при регулярных полетах будет занимать фиксированцое положение на расстоянии до 200 км от аэродрома. Определить положение этой зоны можно лишь с точностью до нескольких километров, так что полосы, где будет наблюдаться фокусировка, протянутся на 20—22 км вдоль трасс эти участки будут наиболее опасны. [c.93]

Предлагается качественнш модель формирования ППС ближ-ней зоны . Лазерное излучение испаряет материал покрытия, формируя факел паров, распространяющийся в ближайшей окрестности пятна фокусировки со сверхзвуковой скоростью. 1 1а фронте ударной волны реализуются условия для плазмообразования в поле лозерного [c.96]

Преобразователи с электрическим сканированием (фазированные решетки) состоят из мозаики пьезоэлемен-тов, на которые раздельно, падают (снимают) электрические сигналы,Преобразователи выполняют в виде одномерной (линейной) или двумерной решетки с шагом не более длины волны используют для последовательного контроля участков изделия малой толщины, изменения угла ввода (качания) луча в дальней зоне (путем создания регулируемого линейного сдвига фаз сигналов на элементах), фокусировки ультразвукового поля (путем создания параболического закона сдвига фаз), перемещения фокальной области, подавления бокозых лепестков при некотором расширении основного луча диаграммы направленности (путем симметричного изменения амплитуд сигналов от центральных к периферийным элементам). Изготавливают из отдельных идентичных пьезоэлементов или путем выполнения пазов в пьезоэлементе большой площади. [c.219]

Преобразователь содержит многоэлементный (в рассматриваемом варианте 64 элемента) пьезопреобразователь, соединенный с блоком импульсных генераторов и приемных устройств (Г и ПУ) многоканальным (64 канала) кабелем. Запуском генераторов управляет синхронизатор (Синхр.) через формирователь запуска (ФЗ) и коммутатор. Одновременно включаются поочередно семь, затем восемь импульсных генераторов, которые возбуждают соответственно группу из семи, а потом из восьми пьезоэлементов. Затем коммутатор подключает следующую группу из семи (восьми) генераторов (и пьезоэлементов), смещенную на один элемент относительно предыдущей группы. Всего таких групп по семь-восемь элементов из 64 оказывается 114, и соответственно формируется 114 акустических строк в контролируемом пространстве объекта. С целью повышения поперечного пространственного разрешения в формирователе запуска предусмотрена задержка импульсов запуска генераторов, обеспечивающая фокусировку результирующего акустического поля в требуемой зоне. [c.270]

Простые блоки электронной фокусировки обеспечивают одну зону повышенного разрешения, более сложные — ряд таких зон, примыкающих друг к другу. Суммарный сигнал с выхода блока электронной фокусировки поступает в одноканальную часть тракта, аналогичную рассмотренным выше в других типах интро-скопов. На оконечный видеоусилитель сигнал может быть подан либо из оперативного запоминающего устройства (ОЗУ), либо в обход его. В последнем случае реализуется аналоговый вариант интроскопа. [c.270]

Поле фокусирующего преобразователя подробно рассмотрено в [39, 71]. Отметим основные итоги этого анализа. Фокусировка эффективна в ближней зоне преобразователя. В дальней зоне поля фокусирующего и нефокусирующего преобразователей практически совпадают Например, на расстоянии, равном 3xq, фокусировка вызывает увеличение амплитуды поля не более чем на 30 % по сравнению с нефокусирующим преобразователем. [c.89]

Существенного повышения амплитуды сигнала при фазовой фокусировке можно достичь, разделив пластину на кольца, соот-вествующие зонам Френеля (например, глубокими бороздками), и подав на электроды четных и нечетных колец сигналы в противо-фазе (см. рис. 3.26, г). [c.172]

В результате воздействия излучения ОКГ на поверхности материала в месте фокусировки образуется окисная пленка темного цвета (при обработке нечерненной поверхности), имеющая коэффициент поглощения намного выше, чем исходная поверхность. В этих случаях при воздействии серии последовательных единичных импульсов излучения ОКГ, зоны которого смещены относительно друг друга на величину шага обработки, в каждой последующей зоне после первой наблюдается неравномерный нагрев. Та часть излучения, которая попадает на окисленную под действием предыдущего импульса поверхность, нагревает материал до более высокой температуры (вплоть до температуры плавления), чем излучение, которое воздействует на исходную поверхность. Вследствие этого формирование упрочненного слоя по глубине происходит неравномерно. Во избежание этого упрочнение целесообразно производить в среде защитного газа, например, аргона. При этом также улучшается внешний вид обработанной поверхности. [c.108]

Длительность существования пика смещения, согласно оценкам Зейтца и Келлера [32], составляет порядка 100 периодов атомных колебаний (около 10 с). В начальный момент времени пик смещения можно представить в виде вакансионной зоны, окруженной облаком смещенных атомов. По поводу окончательной конфигурации пика смещения в а-уране, образуемом осколком деления или высокоэнергетичным первично выбитым атомом решетки, нет единого мнения. На основе общих представлений о развитии каскада столкновений в твердых телах в условиях облучения атомными частицами (см., например, [4, 251) можно предполагать, что полное число смещенных атомов и их пространственное распределение должны зависеть от фокусировки, каналирования и локальной перестройки атомов. [c.200]

Различный подход к вопросу о причинах, контролирующих процесс укрупнения дислокационных петель в сс-уране при облучении осколками деления, обусловливает принципиальную разницу в микроскопических моделях радиационного роста а-урана, предложенных соответственно Бакли и Летертром. Если модель роста Бакли допускает возможность установления стационарного состояния, характеризующегося постоянством коэффициента радиационного роста, в момент достижения максимальной плотности дислокационных петель, то из модели Летертра следует, что стационарное состояние радиационного роста, по-видимому, никогда не достигается. С увеличением дозы облучения коэффициент радиационного роста а-урана должен стремиться к некоторой асимптотической величине, не зависящей от температуры облучения, которая ниже температурной границы начала заметной самодиффузии (300— 400° С). Последнее обстоятельство прямо связано с предложением о зарождении дислокационных петель в пиках смещения и последующим изменением их размеров при взаимодействии с новыми пиками. Влияние температуры облучения может быть существен ным лишь для начальной стадии радиационного роста за счет ухудшения при увеличении тепловых колебаний решетки условий фокусировки столкновений и каналирования. В результате уменьшения степени пространственного разделения точечных дефектов различного знака, а также увеличения их подвижности возрастает вероятность взаимной аннигиляции дефектов в зоне пика смещения, что может привести к уменьшению начального коэффициента радиационного роста, обусловленного зарождением дислокационных петель [c.207]

Более широкие возможности визуального контроля имеет СТЗ POPYE, обрабатывающая полутоновые изображения рабочих сцен. В состав этой СТЗ входят цифровой преобразователь видеоизображений, буфер кадров и матричный процессор, управляющий панорамированием, направлением и скоростью движения телекамеры, а также фокусировкой объектива. Для обработки видеоинформации, распознавания и анализа обстановки в рабочей зоне используются микропроцессоры Motorola-68000 . [c.270]

ЛУЧЕВАЯ ПРбЧНОСТЬ — способность среды или элемента силовой оптики сопротивляться необратимому изменению оптич. параметров и сохранять свою целостность при воздействии мощного оптич. излучении (папр., излучения лазера). Л. п. при многократном воздействии часто наз. лучевой стойкостью. Л. п. определяет верх, значение предела работоспособности элемента силовой оптики. Понятие Л. п. возникло одновременно с появлением мощных твердотельных лазеров, фокусировка излучения к-рых в объём или на поверхность среды приводила к её оптическому пробою. Л. п. численно характеризуется порогом разрушения (порогом пробоя) q — плотностью потока оптич. излучения, начиная с к-рой в объёме вещества или на его поверхности наступают необратимые изменения в результате выделения энергии за счёт линейного (остаточного) или нелинейного поглощения светового потока, обусловленного много-фотонным поглощением, ударной ионизацией или возникновением тепловой неустойчивости. Первые два механизма реализуются в прозрачных средах, лишённых любого вида поглощающих неоднородностей, а также при микронных размерах фокальных пятен или предельно малых длительностях импульсов излучения. При этом Л. п. достигает очень больших значений 10 Вт/см . При значит, размерах облучаемой области оптич. пробой обусловлен тепловой неустойчивостью среды, содержащей линейно или нелинейно поглощающие неоднородности (ПН) субмикропных размеров. Рост поглощения в окружающей микронеоднородность матрице связан с её нагревом ПН. При этом в материалах с малой шириной запрещённой зоны увеличивается концентрация свободных электронов, а в широкозонных диэлектриках происходит тер-мич. разложение вещества. <7 11, [c.615]

Системы, основанные не на ур-нии Лапласа (1), а на условии (2), наз. собственно П. с. . Наряду с ними продолжается поиск новых типов П. с. Среди них следует отметить 2-пинчи, в к-рых приосевая зона используется для фокусировки и транспортировки РЭП и сильноточных ионных пучков. Развиваются п л а з м о д и-намич. системы, в к-рых осуществляется фоку- [c.614]

Применение оптич. линз в рентг. области спектра невозможно вследствие большого поглощения Р. и. в материале линз и незначит. отличия показателя преломления от единицы. Для фокусировки Р. и. могут быть использованы зонные пластинки (см. Рентгеновская оптика). Однако в связи с малыми значениями длины волны Р. и. размеры этих нластинок также очень малы (от 20 мкм до неск. мм) число их колец — неск. сотен, расстояние между соседними внеш. кольцами — десятые доли мкм. Такие пластинки изготавливают с помощью рентгеновской литографии. [c.376]

Сварку с глубоким проплавлением осуществляют при плотностях мощности излучения порядка 10 Вт/см . Если при сварке малых толщин необходима концентрация энергии в одной точке (случай острой фокусировки излучения), то при сварке с глубоким проплавлением требуется высокая плотность мощности на достаточно значительном продольном участке пучка. Для достижения требуемых высоких плотностей мощности в зоне обработки применяют более мощные лазеры с выходной мощностью в несколько киловатт. Сварку с глубоким проплавлением можно осуществлять как в непрерывном, так и в квазинепрерывном режимах. Ее выполняют в основном мощными непрерывными СОг-лазерами или импульснопериодическими твердотельными лазерами. В последнем случае, как и при сварке малых толщин, энергетическая эффективность процесса выше, но скорость обработки меньше. [c.246]

Высокая концентрация ввода теплоты в изделие, которая выделяется не только на поверхности изделия, но и на некоторой глубине в объеме основного металла. Фокусировкой электронного луча можно получить пятно нафева диаметром 0,0002. .. 5 мм, что позволяет за один проход сваривать металлы толщиной от десятых долей миллиметра до 200 мм. В результате можно получить швы, в которых соотношение глубины провара к ширине до 20 1 и более. Появляется возможность сварки туг оплавких металлов (вольфрама, тантала и др.), керамики и т.д. Уменьшение протяженности зоны термического влияния снижает вероятность рекристаллизации основного металла в этой зоне. [c.148]

Голограмма френелевской зонной пластинки при бинарном методе записи представляет собой семейство парабол. Такая голограмма имеет различную оптическую силу в направлении х ж у. Для коррекции фокусировки луча можно использовать дополнительную цилиндрическую линзу, имеющую то же значение фокусного расстояния, что и синтезированная голограмма. Увеличенный фрагмент синтезированных френелевских зонных пластинок, использовавшихся в экспериментах с дефлектором барабанного типа, показан на рис. 7.19 [103, 180]. Голограмма записывалась с помощью графопостроителя, после чего уменьшалась фотографическим способом в 20 раз и регистрировалась на фотопленке Кодак 0343. Число адресуемых точек (элементов разрешения) с помощью такой голограммы составляло 320. На рис. 7.20, а—в приведены экспериментальные результаты работы лазерного дефлектора барабанного типа (см. рис. 7.18, а), которые соответствуют освещению участка а голограммы, показанной на рис. 7.19. Центральная точка — это недифрагированная часть волны. Удлиненные линии по обеим сторонам от центра — результат того, что синтезированная голограмма обладает астигматизмом, и поэтому один [c.158]

Исследование двукратно экспонированных. голограмм сфокусированных изображений, регистрирующих другие виды деформашт объекта, показало, что лишь в тех случаях, когда смещение объекта близко к параллельному переносу, восстановленная картина интерференщ<онных полос наблюдается в белом свете сильно расфокусированной. В этом случае увеличение глубины фокусировки может быть достигнуто за счет увеличения расстояния от точки наблюдения до объекта и уменьшения апертуры наблюдательной системы. Возможно также ввести априорную расфокусировку в систему регистрации. Наконец, можно перейти к восстановлению излучением лазера. Однако в подавляющем большинстве случаев смещения и деформации объекта интерференционные полосы локализуются в зоне качественного наблюдения изображения самого объекта. [c.63]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...