Интерференционный порядок

Из формулы (4.24) следует, что с увеличением порядка интерференции (т) уменьшается ширина спектрального интервала, при котором еш,е возможно наблюдение интерференционной картины. Верно и обратное более низкий порядок интерференции позволяет наблюдать различимую интерференционную картину в менее монохрома-тичном свете. [c.77]

Ho известно, что порядок интерференционного максимума прямо связан с разностью хода выражением Д = тк. Следовательно, чем больше разность хода (выше порядок интерференции), тем меньше должен быть разрешенный интервал длин волн АД, т.е. больше необходимая степень монохроматизации. [c.213]

Вся предварительная юстировка интерферометра проводится при холодной кювете, т.е. без введения дополнительной разности хода, обусловленной наличием паров исследуемого металла. В процессе юстировки добиваются, чтобы интерференционные полосы, отображаемые объективом L2 на вертикальную щель спектрографа Sp, были строго горизонтальны. Особо проверяется наличие в поле зрения нулевой полосы , для которой порядок интерференции m = О (рис. 5.41,а). [c.226]

Следовательно, чем больше расстояние между отражающими слоями, тем выше порядок интерференции а центре интерференционной картины. Так, например, т - 20 ООО при I == 0,5 см (для видимого света 5 10" см) и т - 200 ООО при / = 5 см. [c.246]

В хороших приборах поверхность пластинок делают плоской с точностью до 1/200 длины волны. Внутренние поверхности пластинок (между которыми заключается слой воздуха) серебрят или покрывают каким-либо другим металлом с целью обеспечить достаточно высокий коэффициент отражения лучей. Интерференционная картина получается в виде колец равного наклона (рис. 7.5), ибо на эталон направляют расходящийся пучок света от широкого источника (на рис. 7.4 представлен ход одного из лучей этого пучка). Порядок интерференции определяется расстоянием между пластинками (от 1 до 100 мм, в специальных эталонах — значительно больше, до 1 м). В соответствии с этим наблюдаемые порядки интерференции очень высоки. При = 5 мм /и 20 000. [c.139]

Как известно, информация об объекте фиксируется на голограмме в виде совокупности интерференционных полос, причем расстояние между соседними полосами имеет порядок длины волны света, используемого в процессе получения голограммы. Следовательно, максимально возможная плотность записи информации обратно пропорциональна квадрату длины волны света с коэффициентом пропорциональности порядка единицы. Например, если для записи информации используется излучение гелий-неонового лазера (с длиной волны равной 0,6.3 мкм =, = 0,63- 1() см), то на I см голограммы можно записать до 3- К)" бит (бит — это двоичная единица информации, принимающая значения 0 или I). При этом, естественно, предполагается, что регистрирующая среда, на которой записывается голографическое поле, обладает разрешающей способностью, превышающей 2000 линий/мм. Такие вещества, как указывалось ранее, существуют и широко используются в голографии. [c.96]

Порядок интерференционной полосы можно вычислить из (21.1). Например, для полосы, проходящей через начало координат (г/ г = 0). [c.85]

При этом компоненты обыкновенной ( оа) и необыкновенной Еел) волн, пропускаемые анализатором, колеблются в противофазе и, следовательно, гасят друг друга. Это значит, что при освещении модели монохроматическим светом точки модели, для которых выполняется равенство (IV, 26), дают на экране темные полосы интерференционного происхождения. Значение т, соответствующее данной темной полосе, называется ее порядком. Порядок полосы равен целому числу длин волн, укладывающихся в разности хода 6 обыкновенной и необыкновенной волн, прошедших через точки модели, образующие эту полосу.. [c.239]

На рис. 2.11 графически показано формирование члена решетки. Интерференционные полосы, образующие основные пики, являются главными максимумами. Они возникают при полном усилении между светом, дифрагировавшим от последовательных щелей, и, так же как в случае двух щелей, это происходит при D sin 6 = пХ, т. е. и == n/D, где п-порядок дифракции [ср. с уравнением (2.10)]. [c.40]

Разность хода уменьшается с увеличением угла падения, и, следовательно, порядок интерференции уменьшается при переходе от центра интерференционной картины к ее периферии. Первое светлое кольцо появится, когда порядок интерференции сделается равным целому числу k — е, где е — дробная часть порядка интер- [c.27]

Дробную часть порядка интерференции в каждом отдельном случае можно найти экспериментально — либо по диаметрам колец при интерференции равного наклона, либо по смещениям полос при интерференции равной толщины. Сложнее определить целый порядок. Его можно получить, сосчитав число интерференционных полос при изменении разности хода в интерферометре путем передвижения одного из его зеркал. Передвигать зеркало при изменении разности хода следует так, чтобы оно оставалось строго параллельным своему первоначальному положению — в противном случае может нарушиться юстировка прибора. А это приведет к появлению дополнительной разности хода и, следовательно, к ухудшению видимости интерференционной картины. Избежать нарушения параллельности можно, если весьма точно изготовить механические детали прибора. Однако трудности получения направляющих с высокой степенью прямолинейности для больших раздвижений интерферометра заставляют, даже при наличии фотоэлектронных счетчиков интерференционных полос, отказаться от этого метода при большом числе полос. Метод непосредственного определения числа полос применим лишь для малых разностей хода. Вот почему Майкельсон, пользуясь этим методом при сравнениях с длиной волны красной линии кадмия, мог использовать только длину самого маленького — 0,39 мм — из специально изготовленных им эталонов. К большим же разностям хода Майкельсон переходил, сравнивая длину этого эталона с эталоном удвоенной длины и используя при этом явление интерференции в белом свете. Постепенно удваивая длину эталона, экспериментатор доходил до 10-сантиметрового эталона, длину которого уже сравнивал с длиной прототипа метра. [c.50]

Рассмотрим зарегистрированную интерференционную картину как синусоидальную дифракционную решетку с изменяющимися по координатам пространственными частотами. Осветим пластинку плоской волной, нормальной к поверхности пластинки. Часть света пройдет пластинку без отклонения (нулевой порядок дифракции), остальная часть света дифрагирует. Пользуясь формулой дифракционной решетки v= (sin t + sin у) Д, где i — угол падения освещающего пучка на решетку, у — угол дифракции, нетрудно убедиться, что при удалении от оси системы угол дифракции изменяется так, что свет фокусируется решеткой в точку, находящуюся на расстоянии Z от пластинки, равном расстоянию от точечного источника до пластинки при регистрации интерференционной картины. [c.24]

Отметим, что наличие интерференционных полос (колец) переменного периода позволяет, не меняя апертуры восстанавливающего пучка, подбирать оптимальные соотношения между величиной апертуры и шириной интерференционного минимума. Кроме того> введение квадратичного фазового сдвига позволяет заметно снизить требования к точности смещения объекта между экспозициями, поскольку необходимые продольные смещения более чем на порядок больше, чем поперечные. [c.177]

Источник белого света при эффективной широкополосной фильтрации должен давать яркое изображение в полном цвете. Такому условию удовлетворяют голограммы сфокусированного изображения, позволяющие получать интерференционную картину с прямыми полосами 1см. пп. 10.2.4.1(а)1. Выбранная голограмма может быть либо позитивной, т. е. использующей для формирования изображения первый дифракционный порядок, либо негативной, или использующей нулевой дифракционный порядок. [c.464]

При этом отклонение света происходит только в 1-й порядок дифракции, а распространение энергии между пучками проходящего /о и дифрагированного света /i периодически зависит от геометрии интерференционного взаимодействия [c.223]

Схема наблюдения интерференционных полос наложения показана на рис. 15. Коллиматорная система, состоящая из источника ], светофильтра 2, объектива 3, освещает интерферометр 4. Объективы 5 и 6 образуют афокальную систему для освещения интерферометра 7. С помощью объектива 8 интерференционная картина наблюдается на приемнике 9. В зависимости от взаимного положения зеркал можно наблюдать как равномерно освещенное поле, так и полосы конечной ширины. При наблюдении полос наложения порядок интерференционной картины определяется не величиной расстояния между зеркалами каждого из интерферометров, а их разностью. [c.40]

Изопланатическая система 322, 326 Импедансные граничные условия 236 Импульсный отклик 264, 312, 318, 321 Инвариант наклона 113, 580 Интерференционные фильтры 203—207 Интерференционный порядок 437 Ионосфера, отражение волн 73 [c.653]

Сканирование изменением давления пригодно лишь для достаточно толстых интерферометров, так как если / < 1 мм, то даже при большом изменении давления интерференционная картина смещается меньпш чем на один порядок. [c.251]

Для интерферометра Фабри—Перо легко определить порядок интерференционного максимума в центре интерференциогшоР картины гп = 21/ .. Несколько сложнее в этом случае установить число интерферирующих пучков N. Из соотношения (5.74) при постоянной толщине интерферометра (/ onst) получаем тбХ + .6т. О, или [c.323]

Выразив разность хода в длинах волн (А = 2dn os г = тк) или разность фаз в долях 2я (ф = 2ят, где целая часть от m — порядок интерференционной полосы), найдем, что максимумы интенсивности соответствуют целым значениям т, а минимумы — полу-целым значениям т (sin /аф = sin nm обращается в 0 при т йелом и в I при т полуцелом) промежуточные значения т соответствуют направлениям на участки между максимумами и минимумами. Таким образом, минимум лежит посредине между двумя максимумами. [c.137]

Метод фотоупругости основан на свойстве временного двойного лучепреломления (оптической анизотропии), которое наблюдается у некоторых изотропных прозрачных материалов в напряженном состоянии. Это оптическое свойство приводит к появлению наблюдаемых в поляризованном монохроматическом свете интерференционных полос, или светлых и темных зон. Такие полосы, называемые изохромами, упорядочены согласно числу циклов чередования темноты и света, появляющихся в данной точке по мере увеличения нагрузки от нуля до ее конечного значения. Порядок полосы представляет собой оптическую радность хода, выраженную в длинах волны. Как обнаружил [c.495]

В следующих испытаниях промежутки между стеклянными брусками были увеличены за счет применения пластмассовых брусков вдвое большей ширины. Последовательность фотоупру-гих интерференционных картин (рис. 41) показывает высокую концентрацию напряжений у конца распространяющейся трещины. Одной из важных характеристик, наблюдаемых на этих интерференционных картинах, является угол наклона петель, образованных полосами вблизи конца трещины. Здесь наблюдается угол наклона более 90", что заметно отличается от известных результатов для однородных материалов. Герберих[28] наблюдал углы 45 и 60° для медленно растущих внутренних и краевых трещин соответственно. Уэллс и Пост [67] приводят значения угла, достигающие 80° для бегущих трещин. Как показал Ирвин [38], угол наклона изохроматической петли 0ш, максимальный модуль радиуса-вектора этой петли Гт и порядок полосы (или, что эквивалентно, максимальное касательное напряжение Тщ) связаны с коэффициентом интенсивности напряжений К или силой растяжения трещины Т. Было установлено, что сила ST очень чувствительна к изменениям угла наклона, Наблюдаемое в данном опыте значение этого угла указывает на большое различие в величине силы ST между моделью композита и однородным материалом. [c.546]

Наиболее важные выводы, которые следуют из данных, полученных на основе разделения парциальных интерференционных функций (метод изотопного замещения в нейтронной дифракции и рассеяния импульсных нейтронов, методы, основанные на комбинации различных типов излучения) и на основе высокоразрешающих методов (EXAFS, EDXD, рассеяние импульсных нейтронов в области малых длин волн), сводятся к следующему. Как для аморфных сплавов типа металл—металлоид, так и типа металл—металл характерны ближний композиционный порядок в расположении атомов, хотя для последних, где связь. преимущественно металлического типа, он выражен более слабо. Выяснено, что в сплавах типа металл—металлоид соседние металлоидные атомы не могут находиться в позициях, когда они непосредственно примыкают друг к другу, как это и предполагается моделью Полка. Однако концентрационная зависимость параметров ФРР (как и ряда свойств междуатомного расстояния, плотности упаковки) не может быть понята в рамках этой модели. Эти закономерности могут быть лучше увязаны в рамках модели определенной локальной координации атомов. [c.14]

Компенсатор КПК выполнен по типу компенсатора Берека и его пластинка изготовлена из пластинки исландского шпата, вырезанной перпендикулярно оптической оси. Если пластинка установлена так, что ее оптическая ось параллельна оси микроскопа, то двойное лучепреломление равно нулю, и в поле зрения микроскопа при скрещенных поляризаторе и анализаторе виден черный крест. По мере поворота пластинка будет вносить все большую разность хода и давать больший порядок интерференционной окраски. При максимальном угле поворота на 30° пластинка вносит разность хода до 2100 ммк, т. е. до четвертого порядка интерференции. Точность отсчета угла поворота пластинки равна б. [c.203]

Дифракция рентгеновских лучей в жидкостях отличается от их дифракции в кристаллах. На рентгенограмме жидкости, полученной фотографическим методом, при длительных экспозициях вместо резких интерференционных линий, характеризующих структуру кристаллической решетки, обнаруживаются широкие дифракционные полосы с размытыми краями. При фотомет-рировании рентгенограмм получаются кривые интенсивности с несколькими максимумами. Расчетным путем по кривым интенсивности определяют ближний порядок атомов в жидкости. В качестве примера на рис. 1 приведена кривая интенсивности ртути (В. И. Данилов, [c.12]

В 1935 г. Чалмерс ( halmers [1935, 1]) снова использовал интерференционную технику Грюнайзена i) с целью получения точных данных для удлинений при малых деформациях в свинце и олове. Грюнайзен на тридцать лет раньше использовал две интерференционные системы, по одной с каждой стороны образца. Чалмерс ограничил свои измерения одной стороной. Полученная Чалмерсом разрешающая способность для деформаций была ограничена значением 7-10 , чтобы исключить влияние упругого и термического последействий, которые, как установил Грюнайзен, были пренебрежимо малы в этой области деформаций в рассматривавшихся им материалах. Оба исследователя могли измерять смещения с точностью до 1/100 полуширины интерференционной полосы зеленой линии ртутной дуги, т. е. с точностью до 2,73-10 мм. Поскольку Грюнайзен использовал образцы длиной 16,5 см, в то время как Чалмерс — образцы длиной 3 см различие в общей точности эксперимента было на один порядок. Поэтому обнаружение нелинейности в области деформаций порядка 10 , которые изучались Чалмерсом, было затруднительно. Упругое последействие, обнаруженное на сто лет раньше Вильгельмом Вебером (Weber [1835, 1], [1841, 1]) для шелка, было названо Чалмерсом обратимой ползучестью . На основании результатов Грюнайзена и Дж. О. Томпсона (Thompson [1891, 1]), разумеется, следовало ожидать также наличия термического последействия в области деформаций порядка 10 . [c.199]

Штраубель намеревался тщательно измерить коэффициент Пуассона тридцати различных (в смысле состава и технологии изготовления) видов стекла, которые были специально сделаны для его экспериментов Йенской Технической Лабораторией Стекла. Заметив, возможно, ретроспективно, после того как его главные исследования были закончены, что оригинальные эксперименты Корню тридцатилетней давности содержали некоторое количество мелких ошибок и что, по существу, сам Корню, утверждая, что значение v=0,237 доказывает предсказываемое значение v—0,250, сознавал следовательно, порядок величины возможных ошибок опыта, Штраубель решил подвергнуть критическому анализу эксперименты Корню, использовав все усовершенствования в оптике и фотографии за последние тридцать лет. Применив интерференционную установку. [c.374]

Полученная интерференционная картина симметрична относительно точек V = О (т- е. целых значений а, где a = 2tfk — порядок интерференции). Величина максимума интерференционной картины для цуга прямоугольной формы может быть вычислена, если подставить выражение (3.33) в обш,ую формулу [c.91]

Основное отличие от случая ветвления интерференционных полос, модулированных спеклами, когда период полос на два-три порядка превышает размер спеклов, состоит в том, что при визуализации дислокаций пертод интерферограммы должен бьпь примерно на порядок меньше характерного размера спеклов. Существенное отличие состоит еще в том, что при неизменной конфигурации схемы наблюдения картина ветвления низкочастотных полос не зависят от конкретной реализации спекл-поля и распределения в нем дислокаций волнового фронта. [c.213]

Голограмма представляет собой закодированную дифракционную решетку. Следовательно, когда голограмма освещается белым светом, волны с большими длинами волн отклоняются сильнее от оси освещающей голограмму волны, чем волны с более короткими длинами волн. В результате этого восстановленное изображение смазывается. Такой эффект можно отчасти скомпенсировать, используя дифракционную решетку с шагом штриха, равным среднему периоду интерференционных полос на голограмме. Решетка взаимодействует с -)-1-м порядком дифракции на голограмме и вводит в свой —1-й порядок дифракции дисперсию обратного знака, компенсируя таким образом дисперсию голограммы (рис. 1). Влияние распространяющегося вдоль оси голограммы света нулевого порядка может быть устранено либо достаточным удалением эешетки от голограммы [3], либо с помощью экрана типа жалюзи [c.214]

Рис. 32t Результаты исследования (Пурдье, 1954) различных участков казенника методом трехмерных фотоупругих покрытий. Цифрами обозначен порядок интерференционных полос. Отношение напряжения к внутреннему давлению равно 2,65 для радиуса перехода первого гребешка конической

Характерная картина ветвления трещины приводится на рис. 5.5. При больших нагрузках наблюдается вторичное ветвление, т. е. образовавшаяся ветвь после прохождения определенного расстояния, ветвится вновь. Наблюдения за картинами интерференционных полос в вершинах ветвей показывают, что порядок изохром в вершине первичной ветви неуклонно увеличивается вплоть до наступления следующего ветвления. Угол наклона новых трещин к магистральной треищне как при первичном, так и при вторичном ветвлении равен примерно 20°. [c.128]

Нелокалиаованные полосы равного монохроматического порядка. Для получения нелокализованных полос равного монохроматического порядка зеркала интерферометра освещаются точечным источником монохроматического света без специальной оптической системы. Полосы равного монохроматического порядка характеризуются постоянным значением длины волны Я и порядком интерференции т, т. е. интерферометр пропускает лучи определенной длины волны, для которых порядок интерференции является целым числом. Для наблюдения многолучевых интерференционных полос равного монохроматического порядка достаточно расположить экран за интерферометром без дополнительной оптической системы. [c.20]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...