Рентгеновские спектрографы

Важнейшее применение рентгеновской спектрографии — исследования с помощью рентгеновских лучей структуры кристаллов (а в последнее время и молекул) и определение параметров кристаЛ лической решетки. В тех случаях, когда мы располагаем монокристаллами достаточных размеров, можно применить для таких рентгеноструктурных исследований метод Лауэ (см. 117), используя рентгеновское излучение со сплошным спектром. [c.411]

Эффект Комптона состоит в изменении длины волны рентгеновских лучей, происходящем при их рассеянии в веществе. Схема опыта Комптона приведена на рис. 27.1. Выделяемый диафрагмами 1 и 1 узкий пучок рентгеновского излучения направляется на рассеивающее вещество 2. Спектральный состав рассеянного излучения исследуется с помощью рентгеновского спектрографа, со- [c.178]

Результаты, полученные Комптоном. Схема опыта Комптона представлена на рис. 3.7. Диафрагмы Д выделяют узко направленный пучок монохроматического (характеристического) рентгеновского излучения. Пучок направляется на рассеивающий образец О. С помощью надлежащим образом размещенных в пространстве кристалла Кр и ионизационной камеры К (представляющих собой рентгеновский спектрограф) можно исследовать спектральный состав рентгеновского излучения, рассеянного под тем или иным углом 0. [c.73]

Физиологическое действие 3—164 Рентгеновские спектрографы 3 — 156 Рентгеновские спектры 3—156 Рентгеновские трубки 3—153, 160 - ионные 3—153 [c.243]

Выпускают рентгеновские спектрографы (многоканальные) с несколькими кристалл-анализаторами и счетчиками, настроенными для количественного определения различных элементов в одном образце (квантометры). Очень полезные данные о составе поверхностного слоя можно получить сканированием электронного пучка на поверхности образца. Изображения, полученные в характеристических рентгеновских лучах, дают качественное представление о химическом составе поверхностного слоя, позволяя при этом установить связь между концентрацией и видимой микроструктурой поверхности. [c.84]

Рентгеновская диффракционная установка с гониометром широкого диапазона, электронным пультом и приспособлением для рентгеновской спектрографии. [c.41]

РЕНТГЕНОВСКИЕ СПЕКТРОГРАФЫ — РЕНТГЕНОВСКИЕ ТРУБКИ [c.426]

РЕНТГЕНОВСКИЕ СПЕКТРОГРАФЫ — см. Спектрографы рентгеновские. [c.426]

Здесь рассматриваются спектры поглощения и излучения молибдена в рентгеновской области. Для этого можно использовать рентгеновский спектрограф. [c.364]

Кратко опишите устройство и действие рентгеновского спектрографа. [c.364]

Спектрография рентгеновских лучей [c.409]

Рис. 19.5. Схема спектрографии рентгеновских лучей методом широкого пучка.

Рис. 19.6. Схема спектрографии рентгеновских лучей по методу качающегося кристалла.

Метод этот был использован в первых весьма важных работах по спектрографии рентгеновских лучей. В настоящее время он имеет лишь исторический интерес. [c.410]

Рис. 19.7. Схема спектрографии рентгеновских лучей по методу различных

Для получения спектра испускания вещество наносят в виде порошка на антикатод рентгеновской трубки и полученное излучение разлагают при помощи спектрографа в спектр. Положение появляющихся спектральных линий на шкале длин волн является характерным для данного элемента. [c.158]

Спектр поглощения получается разложением рентгеновских лучей кристаллом спектрографа, предварительно прошедших через тонкую пластинку изучаемого вещества. Приборы для рентгеновского спектрального анализа называются спектрографами. [c.60]

За последние годы зарубежные фирмы проводят обширные работы по повышению надежности имеющихся приборов автоматизированного химконтроля и созданию новых конструкций анализаторов, основанных на измерении флуоресценции рентгеновских лучей, газовой хроматографии, электронного резонанса, атомной абсорбции, полярографии, нейтронной активации, гамма-спектрографии и др. [c.38]

Рентгеновские спектры получают в приборах, называемых спектрографами. Роль диффракционной решётки в рентгеновских спектрографах выполняет кристаллическая решёткавеществ, образующих хорошие монокристаллы, например каменная соль, кальцит и др. [c.156]

На американской станции Скайлэб среди большого комплекса аппаратуры для исследований Солнца находились два рентгеновских спектрографа. Спектрогелиограф S-082 для области спектра 17—63 нм [52] представлял собой бесщелевой спектрограф по схеме Водсворта с единственным зеркальным элементом — сферической решеткой размером 120х 120 мм с фокусным расстоя- [c.292]

Схема опыта Комптона представлена на рис. 15.5. Монохроматическое рентгеновское излучение с длиной волны I, исходящее из рентгеновской трубки, проходит через диафрагмы D и и в виде узкого пучка направляется па рассеиватель. Рассеянные лучи анализируются с помош,ью спектрографа рентгеновских лучей. С помощью этого опыта Комптоном было установлено, что при рассеянии рентге- ] l f f рааеибатель новских лучей наблюдается увеличение [c.347]

Продукты коррозии, образовавшиеся на литейной N1—Мп бронзе в течение 403 сут экспозиции на глубине 1830 м, исследовались при помощи дифракции рентгеновских лучей методами спектрографии, инфракрасной спектрофотометрии и количественного химического анализа. Продукты коррозии состояли из хлористой меди u Is-HaO, оксихлорида меди [Си2(ОН)зС1], металлической меди 35,98%, небольших количеств алюминия, железа, кремния и натрия хлор-ионов в виде I —0,91 % [c.275]

Рентгеноспектральный анализ бокситов также вполне может заменить химический анализ. Методы получения и измерения рентгеновских спектров элементов давно известны, однако только в последние годы был разработан рентгеноспектрометр, который гарантирует безупречную воспроизводимость условий опытов и высокую точность измерений. Для возбуждения рентгеновского характеристичного излучения использованы быстрые электроны или рентгеновское излучение, волны которых короче, чем характеристичное излучение данного элемента. У спектрографов, которые имеются в продаже, предпочтительно возбуждение при помощи коротковолнового рентгеновского излучения, потому что при таком устройстве проба размещается за пределами вакуумного пространства рентгеновской трубки. Исследуемый препарат помещается вблизи окна запаянной трубки, из которой лучи падают на него под определенным углом. Исходящее от пробы вторичное излучение через диафрагму падает на монокристалл, на атомных плоскостях которого оно отклоняется по Брэгговскому уравнению [c.21]

Развитие дифракционной рентгеновской спектроскопии началось в конце 1920-х годов, когда Комптон и Доан [43] впервые предложили использовать для разложения рентгеновских спектров штриховую решетку, работающую при малых скользящих углах, а Осгуд [80] применил для этой цели вогнутую решетку. Вплоть до 1950-х годов центральной задачей спектроскопии в мягкой рентгеновской области оставалась систематизация спектров и измерение длин волн линий, а основным типом прибора классический спектрограф скользящего падения со сферической решеткой на роуландовском круге (схема Пашена— Рунге или ее модификации). Регистрация спектров проводилась на фотопленку. Достоинствами таких спектрографов являются широкая рабочая область спектра (в типичном случае от 0,5 до 50—100 нм), высокое разрешение, превышающее 10 при оптимальных размерах решетки и входной щели, и универсальность для различных типов источников. Основные недостатки — малая светосила, связанная с аберрационными ограничениями ширины решетки, а также отсутствие пространственного разрешения по высоте щели вследствие астигматизма. [c.281]

В 1930 г. гамбургский оптик Бернард Шмидт сконструировал телескоп нового типа, состоящий из сферического зеркала и соответствующим образом рассчитанной асферической линзы, помещенной в центр кривизны зеркала. Оказалось, что такая система (она рассмотрена более подробно в 6.4) обладает замечательными свойствами. С помощью этого телескопа удается сфотографировать на одной пластинке очень большой участок неба, в сотни раз превышающий по размерам участок, который можно сфотографировать при использовании телескопов обычной конструкции. С тех пор камера Шмидта стала очень важным инструментом при астрономических наблюдениях. Асферические системы, в которых используется принцип камеры Шмидта, применяются также в некоторых телевизионных приемниках ироекторного типа (см., например, (52J), в рентгеновской фотографии с флуоресцирующим экраном и в некоторых скоростных спектрографах с низкой дисперсией. Асферические поверхности находят также полезное применение в микроскопии (см. 6.6). [c.191]

Для исследования состава диффузионной прослойки был применен электроннозондовый рентгеноспектральный микроанализ, который основан на локальном возбуждении характеристического рентгеновского излучения. Узкий сфокусированный пучок электронов диаметром 1—5 мк, ускоряемый разностью потенциалов 10—30 кв, при падении на исследуемый образец возбуждает в нем рентгеновское излучение, которое затем разлагается в спектр при помощи специального спектрографа. Наличие спектральных линий того или иного элемента в спектре свидетельствует о присутствии этого элемента в исследуемом образце, интенсивность же является количественной характеристикой концентрации этого элемента в микрообъеме [2]. Микрорентгеноспектральный анализ прослойки производился на установке М5-46 фирмы САМЕСА. [c.161]

Такого же типа схема реализована на синхротроне ФИАН Пахра . В схеме применяется фокусирующее зеркало (радиусом около Зм), выходная щель на каретке движется по кругу Роуланда, в этой же каретке смонтированы образец и приемник излучения. Спектрометр представляет собой спектрограф ДФС-451, модифицированный на область спектра 20—2000 А. Для выделения спектральных порядков в этой схеме применяется наряду о пленочными фильтрами система из двух зеркал с переменным углом падения СИ. Горизонтальные сечения обоих зеркал являются сторонами параллелограмма, и система не меняет угла падения излучения на щель при изменении углов падения на зер.кала. В этом обрезающем фильтре из двух зеркал используется пороговая зависимость коэффициента отражения от угла падения в мягкой рентгеновской области.- Установка на базе спектрографа ДФС-451 предназначена для измерения спектров возбуждения люминесценции в Ш ирокой области спектра (20—2000 А), поэтому приемником излучения является сам [c.237]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...