Световой луч нулевой

Если на пути пучка светового излучения с длиной волны и интенсивностью / поставить дифракционную решетку. то. этот пучок света разложится на три пучка 1 и [" (рис. 2, а). Строго говоря, дифракционных пучков света может быть гораздо больше, но их интенсивность будет значительно меньше. При этом пучок пройдет через дифракционную решетку без изменения направления, а пучки 1 и /" отклонятся на угол ф, значение которого зависит от длины волны и шага решетки D. Пучок /о называется пучком (или лучом) нулевого дифракционного порядка, пучки 1 и 1 называются пучками первого дифракционного порядка и содержат всю информацию о дифракционной решетке. В частности, по углу q, зная длину волны, можно определить шаг решетки, так как 0=к/(2 sin ср), а по отношению ///(I можно определить прозрачность решетки. 14 [c.14]

Член нулевого порядка в выражении (3.15) уже был представлен в явной форме в выражении (3.12), определяющем фазу светового луча из точки Р, который проходит через точку [c.52]

Схема устройства прибора ФЭК-М показана на рис. 12-2. Свет от лампы Л отражается двумя зеркалами (3 и Зл) и направляется к фотоэлементам — правому Ф и левому Фд. На пути световых лучей находятся светофильтры С и Сд, кюветы /Сп и /Сл, а также щелевая диафрагма Д и так называемые фотометрические нейтральные клинья К1 и /Сг, служащие для грубой и точной настройки прибора. Фотоэлементы селеновые, вентильного типа включены по схеме, обеспечивающей отсутствие отклонения гальванометра Г, при одинаковой электродвижущей силе, возбуждаемой в них освещением. В оптическую схему прибора входят конденсоры Л1 и Мд и линзы О. Теплозащитные стекла Т и Гд служат для поглощения инфракрасного излучения лампы Л они предохраняют растворы в кюветах /С и /Сл, а также фотоэлементы Ф и Фл от излишнего нагревания. Стрелочный гальванометр Г применяется как нулевой прибор. Рукоятка Р имеет три положения, обозначенные нулем, единицей и двойкой. При положении нуль гальванометр Г отключен. В этом положении рукоятка должна находиться в перерывах между измерениями, а также в том случае, когда в качестве нуль-инструмента применяют выносной гальванометр (чувствительностью от 5-10 до 10 ампер на деление), присоединяемый к клеммам В. При положении один производится предварительное подведение стрелки гальванометра к нулю, а при положении два окончательное подведение этой стрелки к нулю и фиксация положения измерительного барабана. Таким образом, рукояткой Р гальванометр Г может переключаться на [c.214]

Расстояния от оси направляющей до отверстий экранов и до точки пересечения прорезей в пластинах визирки, когда нулевые отметки (риски) на шкалах пластин совпадают, — постоянны и равны между собой. При искривлении направляющей или при отклонении ее от вертикали, в случаях, когда экраны и визирка располагаются строго горизонтально, отверстия не будут находиться на одной прямой и наблюдатель, стоящий за верхним экраном, не увидит светового луча до тех пор, пока не произойдет совмещения отверстий соответствующей подвижкой визирных пластин. Тогда по шкале визирки определяется (с погрешностью до [c.105]

Учтем теперь дифракцию света на краях диафрагмы А А и определим за призмой направления на нулевой дифракционный максимум и дифракционные минимумы. Проведем крайние лучи АСОВ и А С О В, которые могут быть либо действительными, либо бесконечно близкими к ним виртуальными, и пересечем их произвольной плоскостью ВВ. (Мы не предполагаем теперь, что плоскость ВВ перпендикулярна к световым лучам.) Если разность оптических длин АСОВ) и А С О В ) равна нулю, то плоскость ВВ будет одним из волновых фронтов. Нормаль к ней укажет направление на главный максимум, т. е. максимум нулевого порядка. Если же эти оптические длины отличаются на целое число длин волн, то, как и при дифракции на щели, нормаль к плоскости ВВ укажет направление на дифракционный минимум соответствующего порядка. В частности, если оптические длины отличаются на %, то получится дифракционный минимум первого порядка. [c.322]

Изображение восстанавливается голограммой при освещении ее прямым излучением от лазера, т. е. только опорным пучком, как показано на фиг. 6.1,6. Тонкая структура полос на голограмме действует теперь как сложная дифракционная решетка и в то время как часть света проходит прямо сквозь нее (так называемая дифракция нулевого порядка ), другие части пучка дифрагируют по обе стороны от этого направления (дифрагированные волны первого порядка ). Одна из этих волн идентична волне, исходившей от объекта таким образом, если наблюдатель смотрит сквозь голограмму, то ему кажется, что он видит исходный объект на месте, несмотря на то что объект впоследствии убирается. Это изображение объекта является мнимым, поскольку из него не исходит действительных световых лучей. Однако в связи с тем, что формируемая волна идентична волне, ранее рассеивавшейся объектом, наблюдатель [c.181]

Сущность получения лазерного луча заключается в следующем. За счет накачки внешней энергии (электрической, световой, тепловой, химической) атомы активного вещества излучателя переходят в возбужденное состояние. Через некоторый промежуток времени возбужденный атом может излучить полученную энергию в виде фотона и возвратиться в исходное состояние. Фотон представляет собой элементарную частицу, порцию света, обладающую нулевой массой покоя и движущуюся со скоростью, равной скорости света, в вакууме. Фотоны возникают (излучаются) в процессах перехода атомов, молекул, ионов и атомных ядер из возбужденных состояний в более стабильные состояния с меньшей энергией. При определенной степени возбуждения происходит лавинообразный переход возбужденных атомов активного вещества-излучателя в более стабильное состояние. Это создает когерентное, связанное с возбужде- [c.16]

Луч, отраженный от зеркала 4, попадает на шкалу 5, которую перемещают вдоль рельса так, чтобы световое пятно от луча оказалось на ее нулевом индексе. Измеряют расстояния У и У соответственно от зеркала 4 и нулевого индекса шкалы 5 до вертикальных касательных к поверхностям качения передних ходовых колес и вычисляют угол перекоса моста крана [c.111]

Для проверки развала опускают на центры дисков поворотных кругов стенда передние колеса, устанавливая их для движения в прямолинейном направлении. Экраны располагают параллельно передней оси перед автомобилем. Передвигая по направляющим стержням проектор, добиваются, чтобы его ось вращения находилась на высоте центра колеса и как можно ближе к центру. Луч проектора направляют на верхнюю шкалу экрана и, перемещая экран, подводят нулевое деление шкалы к острию затемненного сектора светового зайчика . Направляя луч на нижнюю шкалу развала, по делению, которое оказалось против острия затемненного сектора, определяют угол развала. [c.178]

Для достижения высокой контрастности и хорошей яркости интерференционной картины плотность рассеивающего покрытия должна быть небольшой. Один из способов контроля достижения оптимальной плотности покрытия состоит в следующем. Через приготовленный диффузор напрямик рассматривают светящуюся нить удалённой лампы накаливания или нить расположенной невдалеке светящейся лампочки от карманного фонарика и наблюдают картину от большого числа хаотически распределённых по поверхности диффузора непрозрачных шариков — спор одинакового размера. Картина эта имеет вид центрального ахроматического нулевого круга и прилегающих к нему нескольких окрашенных колец. По своей геометрии она сходна с картиной дифракции в параллельных лучах от круглого одиночного отверстия, диаметр которого совпадает с диаметром спор ликоподия, отличаясь лишь тем, что за счёт перекрывания множества первичных картин она имеет большую яркость, сочетающуюся с зернисто-волокнистой структурой интерференционного поля и с изображением источника света в средней части нулевого круга [21а, с. 162 216, с. 149-150]. В зависимости от плотности рассеивающего покрытия меняется соотношение световых потоков, один из которых распределяется в области дифракционной картины, а второй — в области центрального изображения источника света. Подходящей плотностью покрытия можно считать такую, при которой изображение источника резко выделяется по яркости на слабом фоне нулевого круга и первого кольца картины. При этом второе кольцо едва видно, а третье кольцо картины практически не видно совсем. [c.41]

Затем выбирается и устанавливается на редукторе электромотора скорость записи. Выбор скорости производится таким образом, чтобы время действия сигнала на фотоэлемент было меньше времени установления отсчета, равного 0,7 сек. Чувствительность прибора при записи такова, что полному отбросу светового пятна на пластинке соответствует отброс в 600—650 делений по миллиметровой шкале. Для удовлетворения этого условия необходимо ввести серые фильтры и круговой клин таким образом, чтобы отброс для луча, проходящего через отверстие пленки, не превышал 600—650 единиц. Точка начала записи на матовом стекле грубо устанавливается вращением маховичка 21 и движением предметного стола при открепленном зажиме 23. Точная установка начала отсчета проводится микрометрическим винтом 28. Наконец, матовое стекло заменяется кассетой с фотопластинкой, выключателем 19 включается электродвигатель, и производится запись. Путем изменения положения нулевой точки на одну пластинку можно записать несколько фотометрических кривых. [c.65]

Гравитационное искривление световых лучей. Распространение световых лучей тоже можно рассматривать как задачу динамики, так как их следует представлять себе в виде прямых линий, лежащих на нуль-конусе. Они являются, таким образом, геодезическими линиями нулевой длины. Ясно, что в формулировке принципа о геодезической линии функцию Лагранжа (9.10.3) можно умножить на константу т. При этом в право 1 части (9.10.4) вместо 1 будет стоять пг. По мере умеиьин пия т частицы будут вг( [c.378]

КРИСТАЛЛЫ валентные (атомные) содержат в узлах кристаллической решетки нейтральные атомы (С, Ge, Те и др.), между которыми осуществляется гомеополярная связь, обусловленная квантово-механическим взаимодействием глобулярные представляют собой частный случай молекулярных кристаллов и имеют вид клубка полимеров жидкие обладают свойствами как жидкости (текучестью), так и твердого кристалла (анизотропией свойств) внутри малых объемов идеальные не имеют дефектов структуры иопные обладают гетерополярной связью между правильно чередующимися в узлах кристаллической решетки положительными и отрицательными ионами квантовые характеризуются большой амплитудой нулевых колебаний атомов, сравнимой с межатомным расстоянием металлические образуются благодаря специфической химической связи, возникающей между ионами кристаллической решетки и электронным газом (Си, А1 и др.) молекулярные (Лг, СН , парафин и др.) формируются силами Ван-дер-Вальса, главным образом дисперсионными нитевидные вытянуты в одном направлении во много раз больше, чем в остальных оптические [активные поворачивают плоскость поляризации света вокруг падающего линейно поляризованного луча анизотропные обладают двойным лучепреломлением, состоящим в том, что луч света, падающий на поверхность кристалла, раздваивается в нем на два преломленных луча двуосные имеют две оптические оси, вдоль которых свет не испытывает двойного лучепреломления одноосные (имеющие одну оптическую ось отрицательные, в которых скорость обыкновенного светового луча меньше, чем скорость распространения необыкновенного луча положительные, в которых скорость распространения обьпсновенного светового луча больше, чем скорость распространения необыкновенного луча))] КРИСТАЛЛИЗАЦИЯ— образование кристаллов из паров, растворов, расплавов веществ, находящихся в твердом состоянии в процессе электролиза и при химических реакциях [c.244]

Рис. 38. Реконструкция голограммы объектной волной. Излучение точки объекта а, взаимодействуя со своей гармоникой v , образованиой на голограмме в результате интерференции излучения точки и референтного источника S, расщепляется на два луча нулевой порядок 1да и луч 1г соответствующий восстановленному нзлученню референтного источника S. Взаимодействуя с чужой гармоникой v. представляющей собой результат записи картины интерференции излучения точки Ь и референтного источника 5, излучение точки а образует луч l t>, который не был записан на голограмме. Аналогично взаимодействует со структурой голограммы излучение точки Ь. Наблюдатель /г, регистрирующий излучение восстановленной таким способом голограммы, вндит на месте референтного источника яркую точку 5, окруженную световым гало лучей, анало гпчных 1 1, и 1ьа- Типичное распределение интенсивности в таком изображении приведено в верхней левой части рисунка

Принцип отбраковки изделий по массе основан на использовании отклонения квадранта на определенный угол под действием нагрузки. При наложении изделий на грузоприемную площадку квадрант начинает отклоняться и микрошкала своими теневыми полосами перекрывает путь световых лучей двух фотоэлектрических датчиков один для отбраковки по.верхнему пределу, а другой — по нижнему. Для каждого фотодатчика на микрошкале имеется своя теневая полоса, расположенная симметрично от нулевого штриха. Для датчика нижнего предела отбраковки теневая полоса расположена вверху, а для датчика верхнего предела —внизу. [c.119]

Мы уже заметили в последней лекции, что причина корреляционного эффекта лежит в случайной амплитудной модуляции светового луча. Таким образом, множитель п, которым частота п-кратных совпадений (при нулевом времени задержки) отличается от частоты случайных совпадений, легко объясняется в терминах моментов гауссового распределения амплитуды W Ш, х), данного равенством (14.48). Чтобы понять поведение корреляционного эффекта при ненулевом времени задержки и объяснить, например, почему эффект исчезает при 5 > 1 /2у, мы можем использовать распределения квазивероятности для двух значений амплитуды [c.154]

Вторичная фотопленка 6, на которой фиксируется изображение, помещается в плоскости, проходящей через точку фокусирования Qi. Перед ней ставится диафрагма (вторичная щель) 5, ограничивающая экспонирующий вторичную фотопленку световой поток и исключающая попадапие па нее света от лучей нулевого порядка, пучка расходящихся лучей первого порядка и лучей высших порядков. Заметим, что наличие кроме полезного еще и паразитных лучей требует, чтобы в спектре доплеровских частот не было нулевой составляющей. Запись и обработка сигналов ведется на средней доплеровской частоте, отличной от нуля, примерно равной половине ширины спектра доплеровских частот принимаемого сигнала ( доп.ср = I /A). Для космических РСА обработку ведут на частоте, равной четверти частоты повторения (F /4). Чтобы ввести нужное смещение частоты, антенну РСА отворачивают от нормали к вектору путевой скорости или вводят дополнительную модуляцию фазы в излучаемый сигнал, нанример, для сдвига частоты на F /4 в зондирующем сигнале вводят сдвиг фазы на тг /2 в каждом периоде зондирования. [c.63]

Очень существенным является предположение о многократной диффракции света, высказанное впервые Бриллюэном [368] и уже упомянутое нами выше при объяснении появления частот, обусловленных э4к )ектом Допплера. Представим себе еще раз, основываясь на схеме фиг. 211,, как световой луч при диффракции переходит из нулевого порядка в плюс и минус первый порядок, а затем после вторичной диффракции частично переходит опять в нулевой, а частично в плюс и минус второй порядок. Таким образом может быть объяснено как возникновение спектров высших порядков при диффракции на решетке с синусоидальным распределением пропускае-мости света, так и большая интенсивность этих спектров. Однако многократная диффракция возможна лишь в том случае, когда свет проходит достаточно большое расстояние I в ультразвуковом поле, или, другими словами, при достаточно больших значениях отношения ИХ. Это условие выполняется в большинстве опытов. На фиг. 212 приведены два диффракционных спектра,, полученные Бэром [1431. Для случая, изображенного на фиг. 212,6, расстояние, проходимое лучом света в ультразвуке, сокращалось в верх- [c.174]

Укажем еще на одно интересное оптическое явление. Впервые его наблюдал Бусс [3941 при попытке определить разность давлений в ультразвуковой волне в жидкости, пользуясь интерферометром Дамена или Маха. Уже при малых интенсивностях звука наблюдался сдвиг интерференционных полос на величину, равную половине полосы, однако с увеличением силы звука этот сдвиг не возрастал, а только менялась видимость картины. Это непонятное явление было подробно изучено Бэром [159], который применил улучшенную аппаратуру. Он затемнил все световые лучи, которые испытывали диффракцию на звуковой волне и изменили при этом свою частоту и, следовательно, не могут уже участвовать в интерференции. Тогда упомянутое явление может быть объяснено на основании теории Рамана—Ната о фазовой модуляции света звуковой волной. Два световых пучка, интерферирующие в приборе Жамена, имеют амплитуды, равные 1 и / (а) где Уо—функция Бесселя нулевого порядка а—величина, определяемая формулой (149) Действительно, было экспериментально уста новлено, что для значения а =2,4 интерферен ционные полосы исчезают, а для значения л =3,8 они имеют наилучшую видимость. [c.192]

Применяя ультразвуковые ячейки в качестве модуляторов света в оптических телефонах, где световой луч пробегает значительные расстояния, используют спектр нулевого порядка. Ячейка, согласно фиг. 448, помещается на пути параллельного светового пучка. Особой экранировки диффрагированных лучей в этом случае не требуется, так как на приемник эти лучи не попадают. [c.414]

Вщ ак (Кавунец Д.И. и др. Определение геометрических параметров подкрановых путей с помощью лазерных визиров /УИнж. геод. 1979, вып.22. С.90-93) рекомендуется строить лучевые параллельные створы АА и ББ. Для этого (рис.40) один визир центрируется над осью рельса, а на другом конце пути на рельсы устанавливают приборы-марки и измеряют расстояние Е между осями рельсов. Второй лазерный визир устанавливают на такое же расстояние о между лазерными лучами. После этого горизонтальные лазерные лучи наводят на нули горизонтальных шкал. Перемещая подвижные марки вверх-вниз, совмещают нулевые штрихи вертикальных шкал с геометрическим центром светового пятна. Последовательно устанавливая приборы-марки на рельсы против каждой колонны, определяют превышения и отклонения осей рельсов от створа. Ширину колеи вычисляют по формуле ( 53), заменив в ней (7 на й. [c.82]

Направляют лазерный луч на центр марки, а затем поднимают с помощью элевационного винта нивелира и наводят на зеркало 4, которое вращают вокруг горизошальной оси, добиваясь, чтобы отраженный луч попал на шкалу 2. По отклонению I световой точки лазерного луча от нулевого штриха шкалы судят об угле перекоса оси ходового колеса, которое вычисляют по формуле ( 89). [c.113]

Если в катушке электромагнита тока нет, то подвижный магнит устанавливается в нулевое положение под влиянием противодействующего момента. Этот момент образуется натяжением бронзовых растяжек и постоянным магнитным полем I зазоре между пермаллоевыми наконечниками, направленным вдоль оси подвижного магнита. При протекании переменного тока по катушке электромагнита между его полюсами появляется магнитное поле, перпендикулярное оси подвижного магнита в пулевом положении. Переменное поле вызывает вибрацию подвижного магнита световая линия на шкале, получающаяся при отражении луча от зеркала, связанного с подвижным магнитом, размывается в полосу тон или иной плфины в зависимости от значения измеряемого переменного напряжения. [c.56]

Наряду с описанными П. п., пропускающими один линейно поляризованный луч (т. н. о д в о л у ч е-вые П. и.), существуют конструкции П.п., пространственно разделяющие две линейно поляризованные компоненты. Такие двулучевые П.п. широко применяются в разл. поляризац. приборах как своеобразные двухканальные анализаторы. Они используются для получения на выходе оптич. системы знакопеременного сигнала при нулевом методе измерений, а также для подавления избыточных световых шумов, проявляющихся в синфазной модуляции интенсивности света в обоих каналах. Из двулучевых П. п. наиб, распространение имеют призмы Рошона, Сенармона л Волластона (рис. 6). В П. п. Рошова и Сенармона обыкновенный луч не ме- [c.62]

До В1ключения в работу бактерицидной лампы зайчик при помощи корректора гальванометра наводился на нулевое деление шкалы гальванометра. При зажигании бактерицидной лампы поток бактерицидных лучей, падая на слой виллемита, вызывал сзечение его зеленым цветом. Энергия светового потока от виллемита при помощи селенового фотоэлемента созда- [c.111]

Небольшая доля падаюихего луча отражается от пластинки по направлению к датчику. Кокова эта доля — это зависит от ряда факторов. Так, например, рассмотрим амплитуду отраженной и прошедшей волн, когда плоская волна падает на однородный изотропный делитель пучка с нулевой проводимостью. Принимая магнитную восприимчивость равной единице и обозначая через А амплитуду электрического вектора падающей световой волны (где А — комплексная величина), можно вычислить амплитуды прошедшей (преломленной) и отраженной волн. Разлагая А на две составляюш.ие, параллельную и перпендикулярную плоскости падения, и обозначая через Т и R комплексные амплитуды прошедшей и отраженной волн, мы получаем [1] [c.21]

Энергетические условия фрезерования — серьезный фактор, определяющий качество получаемой поверхности. Однако этот фактор следует рассматривать в совокупности со способностью резца срезать тонкую стружку. На рис. 8.1, а на начальном отрезке дуги резания резец по расчету срезает очень тонкую стружку, начиная с нулевой толщины. Реальный резец может срезать стружку только тогда, когда ее толщина находится в определенном отношении к радиусу кривизны режущей кромки. При радиусе кривизны Гк=2—4 мкм резец может срезать стружку неизменной толщины Sz=20 мкм. При большем значении Гк в начале дуги резания толщина стружки оказывается неопределенной. Это объясняется не только собственно остротой резца, т. е. отношением радиуса кривизны кромки к толщине стружки, но и отношением ее к размеру поперечного сечения клетки, которая несколько больше- или меньше 20 мкм. На рис. 8.1, а фреза образует волнистую поверхность, структура которой по указанным причинам отличается от теоретической. Отличие действительноко профиля полученной поверхности от расчетного определяют профилометрами или профилографами — приборами, которые основаны на ощупывании профиля поверхности иглой или на сечении этой поверхности световым плоским лучом. Пример записи профилографом профиля заготовки, обработанной цилиндрической фрезой, показан на рис. 8.4 14]. [c.166]

По размерам образца рассчитывают ток в подвижной рамке и, установив его, включают намагничивающие обмотки. После помещения образца в пермеаметр и намагничивания его до насыщения уменьшают ток в намагничивающей цепи до тех пор, пока стрелка милливольтметра в цепи измерительного генератора не дойдет до нуля при этом отклонение луча, отраженного от зеркальца, укрепленного на подвижной рамке, покажет величину остаточной намагниченности , (или остаточной индукции В,./ ,10, так как Я = 0) затем уменьшают ток в намагничивающих катушках до нуля, и давая ток обратного направления, получают зависимость намагниченности от напряженности поля (определяемой по милливольтметру Г ) во II квадранте гистерезисного цикла. При намагниченности, равной нулю, т. е. когда световой зайчик придет в нулевое положение, по показанию милливольтметра определяют коэрцитивную силу. Вообще пермеаметр надежно работает иа участке петли гистерс-зиса между /г и Не. [c.316]

Для работы фотоэлектрическим методом в ход лучей включается преломляющая призма-клин 9, направляющая свет на зеркала 12, матовые стекла И и сурмяно-цезиевые фотоэлементы 10. Фотоэлементы (Ф-4), соединенные по дифференциальной схеме, через усилитель подключены к нулевому гальванометру. При измерении необходимо привести стрелку гальванометра к нулю, изменяя величину световых потоков измерительными диафрагмами. Отсчеты, как и при визуальном методе, снимаются с барабанов диафрагм. [c.280]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...