Спектр диффракционный

Свет из освещенной горизонтальной щели З" (фиг. 3.232) проходит через вертикальный коллиматор С и затем диффракционной решеткой G или призмой разлагается в вертикальный спектр. Последний после прохождения через образец В, подвергнутый напряжению, или наблюдается глазом с помощью зрительной трубы и микрометра, или, что еще лучше, фотографируется спектрографической камерой К- [c.206]

Отметим, что /г-й диффракционный спектр рождается при [c.285]

Величины Rn — относительные амплитуды диффракционных спектров. Величины [c.285]

Рис. 86. Относительные амплитуды четных диффракционных спектров в зависимости от q.

Рис. 88. Относительные мощности диффракционных спектров в зависимости от ц.

Рис. 88. <a href="/info/433714">Относительные мощности</a> диффракционных спектров в зависимости от ц.

Коэффициенты Ап и при п= 1 +2,... определяют комплексные амплитуды диффракционных спектров. Мы не приводим графиков для Л и Вп, поскольку согласно последней формуле (53.04) они отличаются только множителем V2 от п1, для которых графики приведены ранее (рис. 86 и 87). Для решетки можно ввести следующие энергетические величины [c.292]

Из рис. 85 и 88 видно, что при значениях <7>0,7 около половины всей падающей мощности распределяется (приблизительно поровну) между отраженной и прошедшей волной, а другая половина сообщается диффракционным спектрам. При этом четырем главным диффракционным спектрам с индексами я= 1 (двум отраженным при г>0 и двум прошедшим при г<0) передается около 40% всей мощности. Существенное различие между волнами различных поляризаций проявляется лишь при значениях <7<0,б. [c.293]

Аналитический отдел завода включает четыре группы 1) сменную контрольную, 2) специальных анализов, 3) спектрально-аналитическую и 4) исследовательскую аналитическую. Сменная контрольная группа состоит из химиков и техников, которые работают в заводских сменах и выполняют срочные анализы, необходимые для технологического контроля процесса. Группа, занимающаяся специальными анализами, производит нестандартные анализы и анализы, требующие специальной методики. Сюда относятся анализы конечных продуктов, изотопный анализ продуктов деления, анализ проб активных газов и т. д. Спектрально-ана-литическая группа производит масс-спектро-метрические анализы как твердых, так и газообразных веществ, эмиссионный спектральный анализ, рентгеновский диффракционный и флюоресцентный анализы. Исследовательская аналитическая группа контролирует качество всех массовых анализов, помогает в затруднительных случаях, совершенствует методы и оборудование и подготавливает методические руководства. [c.41]

В тяжелой воде и в углероде (графите) достигается лучшее приближение к тепловому равновесию [47]. Малость эффективного сечения захвата этих материалов и, следовательно, большое время жизни тепловых нейтронов более чем компенсируют их меньшую эффективность в качестве замедлителей. Однако и в случае углерода спектр испускаемых нейтронов отличается от внутреннего спектра, хотя и по другой причине, чем в случае водорода диффракционный эффект в графитовой решетке приводит к преимущественному испусканию холодных нейтронов. В одном случае удалось наблюдать эффективную температуру испускаемых нейтронов всего лишь в 18° К- С точки зрения радиохимии углерод является полезным замедлителем только в соединении с котлом, так как в других случаях нейтронная плотность слишком быстро падает из-за большой диффузионной длины. [c.48]

Соответственными методами (призмы, диффракционные решетки и т. п.) можно, наоборот, разложить белый цвет на составные цвета (фиг. 52а, 52Ь стр. 5 3) и таким образом получить спектр, который имеет вид веера, расположенного по длинам волн, начиная от красного цвета (около 800 Ж л.) и кончая фиолетовым (около 400 л а). Твердые и жидкие тела при лучеиспускании дают непрерывный спектр, т. е. они посылают свет всех длин волны. [c.523]

Если р > к, диффракционных спектров нет, и вся энергия волны, падающей на непроницаемую среду, должна быть представлена в волне, отраженной прямо. Модуль А равен поэтому единице, Если р к, энергия распределяется между различными спектрами, включая и спектр нулевого порядка. Между квадратами модулей Лр а.2,. . . имеется, таким образом, некоторое соотношение, примем ряд продолжается, пока а действительно. [c.99]

Движение без вращения 19 Действие взрыва на окна 116 Диапазон слышимых частот 417 Динамическое подобие 415 Диссипативная функция для вязкой жидкости 306 Диффракционные спектры 143 Диффракция 140 Допплера принцип 155 Дымовые струи 392 [c.474]

Ф и г. "206. Диффракционные спектры, полученные на звуковых волнах в ксилоле (основная частота и третья и пятая гармоники). [c.169]

Свет возбуждающий 18, 66, 172, 232 — люминесценции 18, 66, 172, 232 Светофильтры запирающие 173, 229 Система иммерсионная 9 —микроскопа осветительная 10 Спектр диффракционный 8, 17 Стереофотографиро вание 119 Стереоэффект 173 [c.247]

Рентгеновские спектры получают в приборах, называемых спектрографами. Роль диффракционной решётки в рентгеновских спектрографах выполняет кристаллическая решёткавеществ, образующих хорошие монокристаллы, например каменная соль, кальцит и др. [c.156]

Принципиальная схема фазово-кон-трастного устройства представлена на фиг. 9. В передней фокальной плоскости конденсора К вместо апертурной диафрагмы устанавливается кольцеобразная диафрагма СС, которая конденсором и объективом изображается в задней фокальной плоскости объектива Об. Здесь помещена так называемая фазовая пластинка ЬЬ, представляющая собой фазовое кольцо, нанесенное на поверхности линзы вблизи заднего фокуса объектива. Это кольцо поглощает значительную часть света, прямо прошедшего через препарат, и сдвигает его фазу, т. е. вносит запаздывание (негативный контраст) или опережение (позитивный контраст) во времени, на четверть длины световой волны ( ДЯ-). Свет, рассеянный (диффрагированный) препаратом (пунктирные линии), проходит мимо фазового кольца и не претерпевает дополнительного сдвига фазы. Таким образом фазово-контрастное устройство ослабляет интенсивность и задерживает яркий нулевой диффракционный спектр, не внося каких-либо изменений в остальные спектры, бла- [c.17]

Поскольку коэффициенты входят в решение диффрак-ционной задачи для решетки из лент ( 53), целесообразно рассмотреть их зависимость от параметра (52.06) и, в частности, проследить, как они стремятся к предельным значениям (52.35), которые могут быть найдены из элементарных соображений. На рис. 85—87 даны абсолютные значения Rn ак функции q при 0<1 <4, причем мы ограничиваемся теми Rn, которые (при данном q) соответствуют плоским волнам, т. е. диффракцион-ным спектрам в собственном смысле этого слова. Из рис. 85 и [c.285]

Данная система является для длинных волн (по сравнению с d) фильтром, отражающим поляризацию и пропускающим.Я-поляриза1Цию, а для коротких волн—диффракционной решеткой, передающей диффракционным спектрам около половины мощности падающей волны и почти не реагирующей на поляризацию падающей волны (см. ниже). При ширине щелей, отличной от ширины лент, данную задачу решить в замкнутом виде не удается, поскольку ключевая задача 52 приводит к функциональным уравнениям, к которым о(бы Чный 1метод факторизации неприменим. [c.289]

Следует отметить, что имеется ряд работ, в которых теория гребенчатых структур строится, исходя из бесконечной системы линейных уравнений ср. 55). В работе это сделано для прямой гребенчатой структуры, а в работе —для косой системы полуплоскостей, причем в последнем случае вывод системы линейных уравнений, связывающей комплексные амплитуды диффракционных спектров и волноводных волн, не является тривиальным и производится с помощью особого приема (применения формулы Грина для искомой функции и для систе мы Бспомогательньих функций) в работах 28 и 29 рассматриваются волны, поляризованные параллельно краям полуплоскостей для таких волн приведено. много численных результатов. В работе с помощью бесконечной системы линейных уравнений решается та же задача, что в работе и 48—51. Полученное в работе характеристическое уравнение эквивалентно нашему уравнению (49.1i3), а численные результаты. (менее полные, чем у нас), согласуются i нашими работы и 27 выполнены независимо. [c.424]

Для разложения света в спектр при меняются спектральные приборы с приз ма.ми или диффракционными решетками В зависимости от способа регистрациг спектра они делятся на визуальные — стилоскопы, стилометры и фотографи ческие — спектрографы. В визуальны. приборах спектр рассматривается непо средственно в приборе глазом, чере окуляр, и все оптические части делаютсв из стекла. Тем са.мым область исполь зуемых длин волн ограничивается види мой частью спектра (длины волн 4000— [c.50]

В 1966 г. Робертсон и Мерритт [1496] исследовали электронный спектр различных изотопных модификаций диазирина в газообразном состоянии при температурах от 25 до 125° С. Давление газа в кювете достигало 0,2 мм рт. ст. Длина поглощающего пути изменялась в пределах от 4 до 24 м. Спектр регистрировался па приборе с диффракционной решеткой (/ = 3,4 л(), смонтированной по схеме Эберта. В спектре наблюдались две системы полос, расстояние между которыми составляет 200 см (начала полос расположены соответственно при 30 970 и 31 187 м- ). Анализ структуры полос в спектрах изотопных модификаций диазирина показал, что типы полос различны в двух системах, которые связаны, очевидно, с переходами из основного в различные возбужденные электронные состояния, и позволил вычислить приводимые ниже значения частот колебаний. [c.689]

Наряду с призменными приборами отечественная промышленность выпускает различные диффракционные спектрографы (ДФС-3, ДФС-8, ДФС-9, ДФС-10, ДФС-13), позволяющие вести исследования в видимой, ультрафиолетовой и ближней инфракрасной областях спектра. Спектрограф ДФС-10 имеет автоматическую фотоэлектрическую регистрацию спектра одновременно по десяти каналам. Для исследований излучения и поглощения вещества в инфракрасной области выпускаются инфракрасные спектрографы с автоматической записью спектра (ИКС-12, ИСК-13, ИКС-14), которые дают возмояшость работать в области спектра 0,75—50 мк. [c.340]

Для простоты Аббе в качестве объекта рассматривает решетку (фиг. 31), освещенную когерентным пучком, созданным, например, малым источником света 5, помещенным в фокусе коллиматора С. Согласно описанию свойств решетки (стр. 54) в фокальной плоскости объектива микроскопа создаются диффракционные спектры 5 , 52, 5з... эти спектры играют роль вторичных когерентных источников, интерферирующих между собой в результате этой интерференции создается перед окуляром картина / , которая воспринимается, как изображение решетки R. Вычисления П окавывают, что изображение тем лучше, чем больше имеется спектров в фшалъной плоскости объектива число спектров обратно пропорционально расстоянию между штрихами, м тем больше, чем больше численная апертура микроскопа. Необходимо наличие не менее двух спектров, чтобы была видна структура изображе -гия, позволяющая считать число штрихов. При одном спектре получается серый фон микроскоп не разрешает решетки. Согласно этой теории, при освещении, перпендикулярном плоскости решетки, наименьшее разрешаемое расстоятше равно [c.61]

Термические излучатели в настоящее время не применяются мы вкратце остановимся на них лишь из соображений полноты изложения. Альт-берг [ 1031 получал звуковые колебания с частотой до 300 кгц от искрового разряда в зазоре, питаемого от демпфированного колебательного контура. Такие искровые разряды излучают, конечно, широкий спектр для выделения какой-нибудь одной частоты приходится применять специальные средства—например, диффракцион-ную решетку [14051. Амплитуда колебаний, излучаемых такими источниками, крайне непостоянна и зависит от различных факторов, некоторые из которых невозможно контролировать. Излучение таких искровых источников используется теперь только в немногих исследованиях по распространению звука, в архитектурной акустике при испытании моделей [14641 и при исследованиях передачи звука в музыкальных инструментах [622, 624]. [c.38]

Во время издания настоящей книги появилась работа Партхасаратхи, Панчоли и Чхапгара [4931,4932], в которой на основе наблюдения создаваемых в жидкостях диффракционных спектров утверждается, что в пьезоэлектрической кварцевой пластинке можно возбудить не только колебания четных и нечетных высших порядков, но и колебания частот, являющихся субгармониками нечетных высших гармоник. [c.84]

Щель Р освещается через конденсор К сильным источником света L. Выходящий из линзы 0 параллельный пучок света проходит через кювету перпендикулярно к направлению распространения ультразвуковой волны, возбуждаемой Б кювете. Вторая линза Од дает изображение щели на экране S. Если щель освещать белым светом хо на экране рядом с центральным изображением щели появятся интенсивные диффракционные спектры вплоть до высоких порядков. Если же применять для освещения щели монохроматический свет, то на месте этих боковых спектров будут резкие диффракционные изображения щели. Фиг. 206 дает представление о резкости и большом количестве максимумов наблюдаемой дифи фракционной картины. Для возбуждения ультразвуковых волн с успехом может быть применена установка, показанная на фиг. 111. Экспериментальная установка для демонстрационных целей была описана также Смитом и Эвингом [1952]. [c.169]

Смотреть страницы где упоминается термин Спектр диффракционный : [c.438] [c.182] [c.8] [c.285] [c.292] [c.52] [c.311] [c.360] [c.322] [c.101] [c.221] [c.308] [c.308] [c.310] [c.310] [c.310] [c.311] [c.272] [c.54] [c.71] [c.72] [c.74] [c.75] [c.169]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...