Поляризационные установки — Схем

Поляризационные установки — Схема 522 [c.553]

Поляризационно-оптические исследования распределения напряжений 578 Поляризационные установки —Схемы 584 Поляриметры координатно-синхронные ЛГУ 584 Полярископы — Типы 582, 583 Поперечные силы — см. Силы поперечные [c.640]

Исследование двулучепреломления в активном элементе можно проводить с помощью поляризационной установки, схема которой изображена на рис. 4.8 [76]. Измерением компонент поляризации узкого пучка света лазера 1, проходящего через различные сечения активного элемента, можно определить направление главных напряжений, величину наведенного двулучепреломления и его распределение по торцу элемента. Фотоэлектрические измерения сигналов по двум каналам позволяют регистрировать быстрые изменения двулучепреломления на отдельных участках поперечного сечения активного элемента, однако для получения информации по всему сечению требуется большое число измерений. [c.185]

Рис. 256. Схема поляризационной установки

Для исследований, проводимых в лаборатории напряжений Института машиноведения АН СССР, использовалась схема полярископа удваивающего типа. Для ее осуществления поляризационная установка ИМАШ-КБ2 перестраивается по схеме, приведенной на фиг. П1. 50. Вместо плоско-параллельной стеклянной пластины [8 ] применяется полупрозрачное зеркало, пропускающее около половины падающего на него света при угле падения 45° для света с длиной волны Я = 546 mix. Зеркало представляет собой плоско-парал-16 243 [c.243]

Задание. 1. Изучить устройство и теорию работы простого и сложного интерференционно-поляризационного светофильтра и его основные характеристики — коэффициент пропускания Т в максимуме полосы пропускания, полуширину полосы пропускания бЛ, свободный спектральный интервал АХ. 2. Ознакомиться с работой и отъюстировать экспериментальную установку по схеме на рис. П.П. При установке в пучок света интер- [c.517]

На рис. 34.7 дана принципиальная оптическая схема интерференционно-поляризационной установки. Как видно из рисунка, блок интерференционных пластин Л, В, С помещен между элемен- [c.259]

Оптическая схема интерференционно-поляризационной установки [c.259]

Поляризационно-динамические установки. Основные схемы поляризационно-дина-мических установок (ПДУ), их особенности и области применения приведены в табл. 15.1. Примеры картин полос т (х, у, 1) к т (х, ), полученных соответственно в режимах покадровой съемки и фоторегистратора, приведены на рис. 15.1 и 15.2. На рис. 15.3 приведен пример съемки смещений и (х, 2 ). Более подробное описание различных схем ПДУ имеется в работе [7]. Вопросы, посвященные применению различных источников света и высокоскоростных камер, изложены в работах [4, 6]. [c.194]

Рис. 15.2. Фотограммы картин полос т х, t), полученные с помощью поляризационно-динамической установки по схеме 1 табл. 1, в режиме фоторегистратора, Up = 2,2 мм/мкс

Рис. 348. Схема установки для измерения упрощенных поляризационных кривых

Рис, 222. Схема установки для снятия поляризационных кривых [c.343]

Принципиальная схема установки для измерения поляризационных кривых доказана на рис. 36. [c.85]

На рис. 28 показана схема поляризационно-оптической установки, где источник монохроматического света S посылает луч в поляризатор Р, представляющий собой призму из исландского шпата, изготовленную таким образом, что, используя анизотропию оптических свойств шпата, на выходе можно получить поляризованный свет, обусловливающий когерентность волн. Далее на пути луча устанавливается плоская модель М. При прохождении ее лучом [c.65]

Рис. 28. Схема простейшей поляризационно-оптической установки

Поэтому если к контуру равномерно проводящ,ей среды, подобному контуру модели, приложить потенциалы, пропорциональные суммам главных напряжений на контуре, которые можно определить поляризационно-оптическим методом непосредственно, то потенциалы, возникающие в любой внутренней точке, пропорциональны сумме главных напряжений в этой точке. В качестве электрической модели можно взять электролитическую ванну или электропроводящую бумагу. В обоих случаях можно точно измерить потенциалы и, следовательно, узнать суммы главных напряжений во внутренних точках модели из полимерного материала. Электрическая схема установки, применяемой для решения плоской задачи, показана на фиг. 8.11. На фиг. 8.12 приведена фотография одной плоской электрической модели с электрическими проводниками и нанесенными линиями постоянных значений (Oj -f О2). Техника эксперимента этого метода описана в работе [6] ). Пример решения задачи этим методом приведен в разд. 9.3. [c.224]

Фиг. 181. Схема поляризационно-оптической установки.

Конструкция установки. Схема типовой поляризационно-оптической установки для исследования контактных напряжений в очаге деформации, а также распределения напряжений в теле инструмента показана на рис. 42. В качестве источника монохроматического света используют электрическую лампу специальной конструкции со светофильтром, пропускающим свет строго определенной длины волны. Проходя через поляризатор, световые волны приобретают одинаковую ориентацию, т. е. на выходе из поляризатора они лежат в параллельных плоскостях. Конденсаторные линзы обеспечивают падение лучей на поверхность модели под прямым углом. При исследовании процессов прокатки в качестве инструмента применяют прозрачные валки с расположенной посередине бочки вставкой (вклейкой) из оптически активного материала (эпоксидных смол ЭД-6, ЭД-5, [c.53]

Рис. 42. Схема типовой поляризационно-оптической установки

РИС. 17. Схема установки для измерения омического и поляризационного сопротивлений [c.99]

Схема установки, применяющейся при изучении кинетики электродных реакций, приведена на рис. 53. При равном соотношении площадей электродов (1 см ) коррозионную диаграмму можно получить простым совм ещением катодной поляризационной кривой ф° — Л с анодной ф° Б на одном чертеже, так как в этом случае плотность тока совпадает с силой [c.91]

Рис. П-24. Схема установки для снятия гальваностатических поляризационных кривых.

Гальваностатический способ. Схема любой установки для снятия поляризационных кривых гальваностатическим способом близка к схеме для измерения потенциалов компенсационным методом и отличается от нее, по существу, только тем, что она 172 [c.172]

Существует потребность и в разработке схем автоматических стабилизаторов поляризационного потенциала с применением усилителей постоянного тока, повышающих возможности управления протекторными установками. [c.253]

Рис. 81. Схема установки для снятия поляризационных кривых в объемах электролитов [20]

В зависимости от поставленных задач установки для снятия поляризационных кривых могут быть различными. Принципиальная схема установки для снятия поляризационных кривых в объемах электролитов приведена на рис. 81. [c.137]

Рис. 1. Схема потенциостатической установки для снятия поляризационных

Фиг. 9. Схема установки для измерения поляризационной кривой потенциостатическим методом

Для снятия поляризационных кривых использовалась установка, представленная на фиг. 1. Введение в схему 12 нормальных элементов Вестона Э. ], подключаемых в. нужном количестве с помощью J34 [c.134]

Рис. 28. Схема установки для измерения катодной поляризационной

Фнг. 195. Поляризационная установка Имаш КБ2 с рабочим полем диаметром 130 мм / — источник освещения (ртутная лампа СВДШ-250 или точечная самолётная лампа) 2—теплофильтр J —коллектор 120/180 4 — светофильтр = 546,1) 5—поляризатор (поляроидная пластинка) 6 и <9 — пластинка четверть волны 7—плоская модель Р —анализатор (поляроидная пластинка) ii —телецентрический объектив // — ирисовая диафрагма и затвор /2 — зеркала фотокамеры для наблюдения со стороны нагрузочного устройства /J—матовое стекло (или кассета фотокамеры) 14 — откидной стеклянный экран с калькой /5—настенный экран для увеличения 1 5. Съемные или откидные детали на верхней схеме обозначены чёрными кружками. Поляризатор, анализатор и пластины четверть волны имеют лимбы с точностью установки до 0,5 . [c.262]

Фиг. 23. Схема поляризационной установки БПУ 1 — источник света (ртутная лампа СВДШ-250 или лампа накаливания с короткой нитью) 2—коллектор 120/180 J — светофильтр Х=54б,1. илл 4 У — поворотные поляроиды с лимбами, свободный 0 130 мм Su 7 — поворотные, откидные слюдяные пластинки четверть волны , свободный 0 130 мм 5 — модель в нагрузочном устройстве на координатнике 9телецентрический проекционный объектив /= 400, совместно с коллектором изображающий источник света на ирисовой диафрагме 10 (перемещается вместе с объективом) с увеличением 2,2 и модель — на фотопластинке 11 в масштабе от —1 до —1,5 или на настенном экране в масштабе от —1 до —5 /2 — устройство с поворотным зеркалом для наблюдения со стороны модели.

Картины, наблюдаемые в скрещенном и параллельном полярископах, являются дополнительными предпочтение скрещенному расположению поляризатора и анализатора отдается только из-за более легкой их юстировки по темному полю. Оптическая схема поляризационной установки приведена на рис. 4.7. Активный элемент 4 помещается между поляризатором 3 и анализатором 5. В качестве источника света 1 удобно использовать лазер, пучок излучения которого расширяется телескопической системой 2. Если лазер излучает поляризованный свет, то необходимость в поляризаторе 3 отпадает. Для получения наиболее четкой световой картины на экране (фотопленке) 7 плоскость фокусировки объектива 6 (как и при работе с интерферометрами) следует еовмеш,ать С центральным сечением образца 4, [c.183]

Фиг. 23. Схема поляризационной установки БПУ 1 — источник света (ртутная лампа СВДШ-250 или лампа накаливания с короткой нитью) 2 — коллектор 120/180 — светофильтр Л=54б,1 и

Состояние Ф+) соответствует паре фотонов, один из которых поляризован правоциркулярно, а другой — левоциркулярно. Состояние Ф ) соответствует паре фотонов, один из которых поляризован под углом 45° к оси X, а другой — под углом -45° к той же оси. И, наконец, Фо) соответствует паре фотонов, один из которых поляризован вдоль Х-оси, а другой — вдоль У-оси. Экспериментально поляризационные преобразования вышеуказанных состояний проводились на установке, блок-схема которой изображена на рис. 6.1, заимствованном из рабо- [c.191]

Рис. 15.1. Кинограмма картин полос т х, у, t) при взаимодействии волны напряжений с прямоугольным отверстием, полученная в режиме покадровой съемки с помощью поляризационно-динамической установки по схеме 1, табл. 15.1 (частота съемки 2,5 10 кадров/с, ноле съемки 70X70 мм]

Степень поляризации зависит от характера анодных и катодных участков, состава коррозионной среды и плотности коррозионного тока. Чем бо.чьше наклон поляризационных кривых, тем сильнее поляризуется электрод и тем сильнее тормозится анодный или катодный процесс. Для снятия поляризационных кривых могут быть использованы разные схемы установок. Схема любой установки для снятия поляризационных кривых гальва-ностатическим способом подобна схеме для и.змерения электродных потешгиалов компенсационным методом н отличается от нее по существу только тем, что она предусматривает подвод постоянного тока к исследуемому электроду и измерение его величины, т. е. включает источник постоянного тока, приборы для измерения силы тока и регулирования его величины и вспомогательный поляризующий электрод. Схема установки для снятия поляризационных кривых приведена на рис. 222. [c.342]

I л Рис. 3.10. Функциональная схема установки для реализации амплитудного и поляризационного микрорадиоволнового методов [c.134]

Рис. 2.6. Схема установки для снятия поляризационных кривых гальваноста-тическим методом

На рис. 2.6 приведена схема установки для снятия поляризационных кривых г-альваностатическим методом ячейка — без разделения катодного и анодного пространства. Для определения характера коррозионного процесса в атмосферных условиях поляризационные кривые снимают в тонких слоях электролитов [3]. [c.32]

Для решения дифференциального уравнения Лапласа (81) может быть также применен экспериментальный метод электрической аналогии. В электрической модели с напряжениями, создаваемыми на контуре, распределение потенциалов внутри поля удовлетворяет уравнению Лапласа. Чаще всего плоскую электрическую модель изготавливают из электропроводной бумаги и исследуют на установках типа ЭГДА [16]. Этот метод позволяет определять величины сумм главных напряжений + Ог внутри контура модели, что в сочетании с данными поляризационно-оптического метода Oj — 02 дает возможность получать раздельно главные напряжения и (Ja-Линии равных сумм главных напряжений Oj + (jg (изопахики) могут быть определены и при помощи оптического прибора — интерферометра как линии равных приращений толщины модели. Интерферометр ИТ [17] позволяет определять Oj + на материалах с малой оптической чувствительностью (типа органического стекла). В результате наложения интерференционных картин в модели до и после ее загружепия образуются муаровые полосы, являющиеся изопахиками. При работе с оптически чувствительными материалами типа эпоксидных смол этот интерферометр с введенным в его схему анализатором позволяет определять абсолютную разность хода лучей, поляризованных в плоскостях, соответствующих напряжениям и Ог. Главные напряжения определяют в этом случае по отдельности через абсолютные разности хода [c.69]

Схема установки для измерения электродных аютенциалрв металлов в тонких слоях электролитов приведена на рис. 66 в установке предусмотрена возможность снятия поляризационных кривых [7]. Электрохимическая ячейка, состоящая из двух металлических электродов 9 размером 4—5 мм, вмонтированных в стеклянную обойму, помещается в плексигласовую камеру 7, в которой с помощью насыщенного раствора Са304 8, содержащего избыток соли, создается влажность, близкая к 100%. Электроды укрепляются на крышке 4 камеры с помощью штуцеров 3 и гаек 2. На поверхность стеклянного держателя диаметром 35 мм наносится тонкий слой электролита толщина его рассчитывается исходя из веса и объема капель, наносимых из микробюретки, и составляет обычно 30—300 мкм. Если на установке измеряют только потенциалы, то образцы не соединяются электролитическим ключом. Для большинства [c.122]

И. Л. Розенфельд, Е. К- Оше, А. Г. Акимов [49] разработали осциллографический метод измерения сопротивления пленок, позволяющий определить сопротивление в очень короткий промежуток времени (10 сек) от начала опыта, когда поляризационное сопротивление еще не успевает развиться. Схема установки для измерения сопротивления защитных пленок на металлах осциллографическим методом приведена на рис. 104, В схеме применяется осциллограф ЭНО-1 или С1-4, подключающийся сначала в положение /, а потом в положение 2. Таким образом, на экране осциллографа сначала измеряют падение напряжения, возникающее от источника постоянного тока на известном сопротивлении Ro, величина которого выбирается соизмеримой величи- [c.163]

Развитие современной техники немыслимо без использования жаропрочных и жаростойких сплавов. Основой таких сплавов чаще всего является никель. Влияние легирующих элементов, в частности железа и хрома, на коррозионное и электрохимическое поведение сплавов изучено недостаточно [1—4]. В настоящей работе изучалось анодное поведение сплавов с содержанием железа 5—30 ат. % в 1 н. Н2304 и 1 н. НСЮ4, и с содержанием хрома 1,25—31,25 ат. % в 1 н. Нг304 при 25° С. Сплавы отжигались при 1050° С с последующим охлаждением на воздухе. Сплавы № — Сг термообработке не подвергались. Состав первых определялся химическим анализом образцов, а вторых — по анализу шихты. Из исследуемого материала вырезались электроды площадью 0,5 см с токоподводом. Рабочая порерхность электрода шлифовалась наждачной бумагой с зерном до 14 мкм, а затем полировалась алмазной пастой с зерном 1 мкм. После этого электроды обезжиривались этиловым спиртом, промывались дистиллированной водой и высушивались в вакуум-эксикаторе. Нерабочая часть электрода и токоподвод покрывались перхлорвиниловым лаком. Растворы готовились из дважды перегнанных серной и хлорной кислот. Поляризационные кривые снимались на потенциостате ЦЛА. Схемы потенциостатической установки и электрохимической ячейки приведены на рис. 1 и 2. [c.80]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...