Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Лазеры 71, 72. См. также Источники

Плазма — это уникальное рабочее тело качественно новой энергетической техники. Она может быть и низкотемпературной (до 10 К), и высокотемпературной (более 10 К). Низкотемпературная плазма используется в магнитогидродинамических (МГД) генераторах и термоэлектронных преобразователях (ТЭП), а высокотемпературная плазма -в термоядерных энергетических установках. Плазма применяется также в лазерах в качестве активной среды (например, в газоразрядных лазерах) или источника возбуждения лазерной активной среды (электронная накачка).  [c.280]


С открытием лазеров как источников коротких импульсов излучения в оптическом диапазоне электромагнитных волн появилась возможность наблюдения фотонного эха [67], являющегося оптическим аналогом спинового эха, а также свободного распада электронной поляризации [68] и других эффектов [69-71], обусловленных сложением фаз, т. е. когерентностью атомного ансамбля. Как мы увидим ниже, эволюция во времени недиагональных элементов матрицы плотности примесного центра определяет свободное затухание поляризации, различные типы фотонного эха и некоторые другие нелинейные явления. Эти эффекты получили название переходных. Их можно наблюдать лишь после возбуждения образца достаточно короткими световыми импульсами. Среди переходных эффектов наибольший интерес в настоящее время вызывает фотонное эхо, превратившееся в главный инструмент для исследования фазовой и энергетической релаксации электронных состояний примесных центров в твердых растворах. Достижениям теории в области описания фотонного эха и посвящена в основном данная глава.  [c.195]

Лазеры 71, 72. См. также Источники света, лампы, Синхротроны Ламберта - Бера закон 58-60  [c.485]

В заключение отметим, что создание мощных источников света лазеров — привело к принципиально новым выводам также и при исследовании отражения света от металлической поверхности. В 1965 г. группа ученых сообщила о генерации электронами проводимости второй гармоники падающего света при отражении света мощного импульсного лазера от серебряного зеркала. Было установлено, что образование второй гармоники происходит именно на поверхности серебра при отражении света от нее. Таким образом, при распространении мощного потока света на границе раздела диэлектрик—металл может происходить изменение (удвоение) частоты отраженного от металла света,  [c.66]

В-третьих, непрерывная запись оптических волн исключительно важна для изучения быстропротекающих событий. Голографические интерферограммы можно получать почти мгновенно при помощи импульсного лазера, а затем изучать их при восстановлении, используя источник света непрерывного действия. При. этом юстировка оптической измерительной схемы, а также фотографическая регистрация интерферограмм могут проводиться с. этим же источником непрерывного действия, что облегчает выполнение экспериментальной работы.  [c.31]


ВОЛН, В которых получена генерация на лазерах различного типа. На этом рисунке указаны также области, где имеется потенциальная возможность получения генерации. Следует заметить, что в общем случае указанные области не могут быть перекрыты непрерывным образом, исключая лазеры на красителях. Отметим также, что на основе лазеров, генерирующих на некоторой частоте, можно создать источники когерентного излучения и на других частотах, используя нелинейные оптические эффекты.  [c.298]

Использование в оптическом эксперименте лазерных источников света привело к открытию ряда явлений, не совместимых с принципом линейности. Практически одновременно с созданием первых лазеров были обнаружены такие нелинейные оптические явления, как генерация гармоник, сложение и вычитание частот световых потоков, вынужденное комбинационное рассеяние света, двухфотонное поглощение. Было ясно также, что сам лазер — это оптическая система, в которой важную роль играет эффект насыщения усиления света активной средой. Все это стимулировало бурное развитие теоретических и экспериментальных исследований нелинейного взаимодействия света с веществом, разработку методов практического использования нелинейных оптических явлений в науке и технике и привело, в частности, к возникновению нелинейной оптики.  [c.298]

Возбуждение источника каскадного излучения пар фотонов. Перевод атомов кальция на верхний возбужденный уровень (см. рис. 152) осуществлялся прямым двухфотонным возбуждением посредством двух лазеров криптонового лазера с А, = = 406 нм и перестраиваемого лазера с А, = 581 нм, настроенного на резонанс для двухфотонного процесса. Излучение лазеров имеет параллельную поляризацию и фокусируется на пучок атомов кальция. Мощность каждого лазера составляла несколько десятков милливатт, а их излучение фокусировалось на площадь менее 0,01 мм атомного пучка с концентрацией примерно 10 ° атомов/см . При этих условиях частота каскадных переходов, при которых излучаются пары фотонов, превосходит 10 каскадов/с. Была обеспечена также высокая стабильность частоты каскадных переходов (лучше чем 1% в течение нескольких часов).  [c.423]

К достоинствам подобных систем относятся повышенное по сравнению с обычными микроскопами разрешение, возможность регулирования яркости, контраста и масштаба изображения электронным способом, большой динамический диапазон (до 60 дБ и более). Для контроля материалов, прозрачных только в инфракрасном диапазоне спектра (кремний, германий, арсенид галлия), применяют лазеры, излучающие на соответствующих длинах волн, в сочетании с фотоприемниками, обладающими нужной спектральной чувствительностью. Возможно исследование объектов в поляризованных лучах, контролирование в них напряжений методом фотоупругости, а также исследование магнито- и электрооптиче-ских свойств материалов при использовании соответствующих источников электромагнитных полей.  [c.96]

Сверление отверстий является, пожалуй, одним из первых направлений лазерной технологии. Вначале, прожигая отверстия в различных материалах, экспериментаторы с их помощью оценивали энергию излучения лазерных импульсов. В настоящее время процесс лазерного сверления становится самостоятельным направлением лазерной технологии и занимает в отечественной и зарубежной промышленности значительный удельный вес. К материалам, подлежащим сверлению при помощи луча лазера, относятся такие неметаллы, как алмазы, рубиновые камни, ферриты, керамика и др., сверление отверстий в которых обычными методами представляет определенную трудность или является малоэффективным. При помощи лазерного луча можно сверлить отверстия разного диаметра. Для этой операции используют следующие два метода. При первом методе лазерный луч перемещается по заданному контуру и форма отверстия определяется траекторией его относительного перемещения. Здесь имеет место процесс резки, при котором тепловой источник перемещается с определенной скоростью в заданном направлении при этом, как правило, применяются лазеры непрерывного излучения, а также импульсные, работающие с повышенной частотой следования импульсов.  [c.144]

Высокая спектральная плотность лазерного излучения характеризуется не только большим количеством энергии, передаваемой посредством пространственно узкого луча, но также очень узкой полосой частот, в пределах которой концентрируется излучение. В спектроскопии, основанной на анализе спектров флуоресценции, интенсивность последней зависит от спектральной плотности поглощенного излучения. В табл. 30 приведены характеристики излучения некоторых типов лазеров и обычных источников света. Маломощный Не—Ме-лазер имеет спектральную плотность излучения почти на четыре порядка выше, чем наиболее интенсивные некогерентные источники света.  [c.217]


Перевод полученного результата в метрические единицы осуществляется умножением его на значение длины волны используемого лазера. В качестве источников излучения наиболее широко применяются одночастотные лазеры светового диапазона (в основном гелиево-неоновые) благодаря хорошей воспроизводимости длины волны излучения от образца к образцу, достаточно малому значению длины волны, обеспечивающему высокую точность измерителя, и большому сроку службы лазера. Важно и то, что при работе с такими лазерами появляется возможность визуальной настройки прибора, а также упрощается выбор регистрирующих фотоприемников.  [c.237]

Анализ выражения (188) позволяет сделать следующие выводы чувствительность уменьшается с уменьшением измеряемого размера D, что является существенным недостатком способа, затрудняющим точное измерение малых размеров она уменьшается также по мере удаления точек регистрации интенсивности от центрального максимума, и, следовательно, датчики интенсивности надо располагать по возможности ближе к центральному максимуму чувствительность зависит от мощности источника излучения, что приводит к нежелательной необходимости стабилизации излучения источника (лазера) и накладывает жесткие ограничения на пространственные смещения измеряемого объекта, а это связано с неравномерным распределением мощности в поперечном сечении лазерного пучка. Полученные выводы согласуются с результатами работы [224].  [c.251]

Луч высокой интенсивности, создаваемый лазером, можно использовать для быстрого оплавления металла. Отсутствие непосредственного контакта источника и обрабатываемой детали позволяет вести процесс в вакууме или инертном газе. Малое время обработки в большой мере снижает возможности окисления металла, а также устраняет возможности укрупнения кристаллов наплавляемого металла.  [c.509]

Эксимерные лазеры используются для очень точного травления различных материалов в приложениях, связанных с электронными печатными схемами, а также для выжигания тканей в биологии и медицине (например, радиальная кератомия радужной оболочки глаза). Эксимерные лазеры также широко используются в научных исследованиях и, по-видимому, найдут многочисленные применения там, где требуется источник мощного УФ-излучения с высоким КПД (например, в фотохимии).  [c.386]

Широко известный метод голографии с наклонным опорным пучком [4—7], разработанный Э. Лейтом и Ю. Упатниексом, впервые применившими в качестве источника излучения лазер, также основан на регистрации в присутствии когерентного фона светового поля от предмета в зоне дифракции Френеля, однако источник излучения смещен с линии объект - голограмма так, что объектный и опорный пучки сходятся под некоторым углом. Этот метод, позволяющий получать высококачественные объемные изображения трехмерных объектов, получил большое распространение в практике зкспериментальных исследований.  [c.8]

Схема лазерного локатора, предназначенного для измерения четырех основных пара.метров объекта (дальности, азимута, угла места и скорости) приведена на рис. 41 [6]. Хорошо видно, что конструктивно такой локатор состоит из трех блоков передающего, приемного и индикаторного. Основное назначение передающего блока— генерирование лазерного излучения, формирование его в пространстве, во времени и напрг влении в район объекта. Передающий блок состоит из лазера с источником возбуждения, модулятора добротности, сканирующего устройства, обеспечивающего посылку энергии в заданной зоне по заданному закону сканирования, а также передающей оптической системы.  [c.130]

Во-вторых, как известно из п. 3.13, два волновых поля могут быть зарегистрированы последовательно на одной и той же голограмме, а восстановлены одновременно. Это так называемый метод двух экспозиций или замороженныхт> полос. Небольшие отличия в схемах восстановления и регистрации имеют гораздо меньшее значение, чем в предыдущем методе, так как оба волновых поля испытывают одинаковые изменения. С другой стороны, после того, как на голограмме зарегистрированы оба волновых поля, на них уже нельзя оказдть влияния. Однако, как будет показано ниже, используя Два опорных источника или дВе голограммы, все-таки можно изменять вид интер- ференционных полос. Кроме того, разделяя голографическую пластинку на несколько частей при помощи масок или используя несколько опорных волн, можно регистрировать большое число пар волновых полей на одной и той же пластинке такой метод часто называют мультиплицированием двух экспозиций [4.17—4.21]. Волновые поля, получаемые при помощи импульсных лазеров, также могут быть зарегистрированы [4.22—4.23]. В этих случаях времена экспозиций очень малы, что позволяет преодолеть трудности, связанные с вибрациями оптической установки, и регистрировать в заданный момент времени форму волнового поля, которое весьма быстро изменяется во времени.  [c.78]

В этом плане важнейшими источниками потерь в лазерных резонаторах являются неполное отражение излучения от зеркал, погло-гцение в активной среде лазера и других диэлектриках, являюгцихся составными частями резонатора, паразитное отражение от торцов диэлектриков и др. В частности, для процессов, происходяш их в генераторе, энергию, выводимую из лазера, также следует рассматривать как потери, хотя термин потери в этом случае не вполне адекватен сути дела.  [c.30]

Процес восстановления фронта волны был открыт в 1947 году Дэн-нисом Габором из Имнериэл Колледж в Лондоне. В последующие годы Габор систематически совершенствовал этот метод, особенно стремясь применить его в электронной микроскопии. Другие ученые тоже внесли значительный вклад — особенно Хуссейн Эль-Сум и Поль Киркпатрик из Стрэнфордского университета. Однако отсутствие подходящего источника когерентного света (т. е. света, все волны которого в фазе) ограничивало их возможности. Изобретение лазера в 1960 году открыло путь новым успехам в области фотографирования методом восстановления фронта волны. Авторам статьи удалось получить в лаборатории Мичиганского Университета трехмерные (объемные) голографические изображения высокого качества, используя газовый лазер как источник когерентного света, а также ряд новых приемов (рис. 4). Возрождению интереса к возможным использованиям столь интригующего фотопроцесса способствовал результат этой работы, а также неисследованные еще возможности лазера как источника когерентного света.  [c.89]


ЛампЫе См. также Источники света, Лазеры, Синхротроны азотные 71 72  [c.486]

Связи водородные 230-231, 235, 247 в белках 353—354 Сдвиг фаз 86-88, 100, 107-110, 405-413, 424-426. 430 Синхротроны 71-73. См. также Источники света, Лазеры, Лампы Смопуховского уравнение 269, 277, 279-280, 293 Спектрофлуориметр идеальный 33 Спектры  [c.487]

Наиболее, важной особенностью эффекта Керра, обусловившей широкое его применение, является весьма малая инерционность. Это свойство ячейки Керра проверялось в остроумных опытах (схема опытов изображена на рис. 3.11), а в последующем детально исследовалось в большом количеспве экспериментов. Источник света (конденсированная искра) и конденсатор Керра получают напряжение от одного источника тока. Как только произошел пробой газа между электродами (искра) и возник связанный с этим пробоем импульс света, начинает постепенно исчезать эффект Керра, что вызвано релаксацией дипольных моментов. молекул. Системой зеркал можно удлинить путь от источника света до ячейки Керра. Опыты показали, что, пока свет проходит расстояние 400 см, все следы двойного лучепреломления успевают исчезнуть. Отсюда была найдена инерционность процесса, характеризуемая средним временем х 10 с. В последующих прецизионных опытах было учтено время пробоя газа и была установлена еще меньшая инерционность эффекта (г Г 10 с). Таким образом, открылась возможность создания практически безынерционного оптического затвора и тем самым были заложены основы физики очень быстрых процессов ( нано-секундная техника 1 не = 10 с).. За последнее время эта техника приобрела особое значение в связи с возможностью получения очень больших мощностей светового потока в лазерах. Действительно, если возбудить в твердотельном лазере импульс света с энергией 10 Дж и продолжительностью 10" с, то мощность такого импульса составит 10 кВт. Если же с помощью какого-либо быстродействующего устройства (например, ячейки Керра) заставить высветиться эту систему за время порядка 10 с, то мощность импульса составит уже 1 ГВт. Такие гигантские импульс обладают некоторыми совершенно новыми физическими свойствами. Использование подобных сверхмощных световых потоков играет большую роль в области бурно развивающейся нелинейной оптики, а также при решении различных технических задач.  [c.123]

Большие возможности в изучении изотопического сдвига предоставляет использование обогащенных и разделенных изотопов. Сравнение длин волн линий различных изотопов в одноизотопных источниках позволяет измерять смещения, которые невозможно разрешить в линиях изотопов. В последнее время ряд особо прецизионных измерений изотопических сдвигов был выполнен с помощью лазеров. Для исследования сверхтонкого расщепления уровней наряду с оптическими методами применяются также методы радиоспектроскопии, обладающие очень высокой точностью.  [c.73]

Было предпринято несколько попыток преодолеть эти трудности. Эдельман [24] предложил метод изготовления фотоупру-гих моделей, свободных от усадки. Дженкинс [41], Пи и Сатлиф [52], а также автор пытались применить методы рассеянного света, которые являются неразрушающими и позволяют проводить испытания при комнатной температуре, при которой коэффициент Пуассона матрицы таков же, как у моделируемого композита. На рис. 33 показано исследование простой модели в полярископе рассеянного света с лазерным источником модель состояла из заделанного в эпоксидную матрицу стеклянного стержня и подвергалась сжатию. На рис. 34 представлена картина полос в рассеянном свете, получающаяся в том случае, когда луч лазера направлен вдоль границы раздела параллельно оси волокна.  [c.540]

Одновременно с этим направлением ведутся исследования в области создания установок, в которых термоядерный процесс организуется с помош ью импульсных систем. Источниками энергии в этом случав могут быть, например, известные лазеры или электронные пучки, которые также дают возможность получать сверхсильные магнитные поля. С помощью энергии лазеров осуществляется быстрый нагрев небольпшх мишеней до термоядерной температуры. Достижения советских ученых высоко оценены во всех странах мира. По образцу Токамака и с тем же названием создаются установки в США, Японии и других странах. Советские ученые предусматривают дальнейшее расширение и углубление научно-исследовательских и проектнонкон-структорских работ.  [c.177]

Наиболее рационально применять маломощные источники ультрафиолетового излучения и источники средней мощности для освещения сравнительно небольщих поверхностей, имеющих хорощий доступ. Для освещения крупногабаритных объектов, поверхностей с плохим доступом, а также при автоматическом контроле желательно применять мощные источники, в том числе и лазеры. При этом необходимо учитывать, что наивысшая чувствительность зрения достигается при яркостях 80—320кд/м , что соответствует показаниям люксметра 250—1000 люкс.  [c.115]

Лазеры широко используются в химической спектроскопии, где их роль сводится не только к стимулированию химических реакций, но и к определению характера их протекания. Импульсные лазеры применяются для фотолиза веществ, в котором участвуют микросекупдные и наносекундпые импульсы. Однако использование пикосекундных импульсов позволяет повысить разрешение системы на трн-четыре порядка и открывает новые возможности для исследования фотофизических процессов. Большая мощность излучения лазера может быть вложена в малый объем твердого тела, жидкой или газовой среды, вызывая эффект пиролиза. Это может быть использовано в области микроскопических исследований, а также для ускорения специфических реакций и других целей. При определенных условиях лазеры могут служить для возбуждения определенной степени свободы в потенциально реактивных молекулах, приводя их таким образом к селективно возбужденной химической реакции. Этот метод может быть использован для исследований реакций при воздействии на них тепловым источником. Новым применением лазеров в химии является фотохимическое разделение изотопов, при котором используются такие положительные моменты, как высокая интенсивность, узкая полоса излучения и возможность настройки лазера на определенную длину волны. Облучая систему атомов или молекул, среди которых имеются изотопные элементы с несколько смещенной линией поглощения, можно возбудить их селективно и известным способом отделить от общей системы. Таким образом удалось разделить изотопы водорода (дейтерия), бора, азота, кальция, титана, брома, бария, урана и т. д. [238].  [c.222]

Такие измерители [8, 18, 113] состоят из источника излучения (лазера), оптического устройства-интерферометра, формирующего сигнал измерительной информации, а также, как и другие измерители, включают в себя электронное устройство обработки и индикации результатов измерения. Для устранения влияния излучения, отраженного от интерферометра обратно в лазер, на его характеристики в таких измерителях предусмотрена оптическая развязка резонатора лазера и интерферометра, которая обычно осуществляется поляризациоииыми элементами или путем разнесения мест деления и наложения интерферирующих пучков. Чувствительность к направлению изменения оптической длины почти у всех приборов достигается построением схем с двумя интерференционными картинами, сдвинутыми друг относительно друга на четверть иптерференционной полосы.  [c.237]


Функциональную основу Г. п., как правило, составляет газовый разряд (дуговой, тлеющий, высокочастотный, СВЧ-разряд, лазерный, пучково-плазменный). Для генерации плазмы пока ещё редко используется ионизация рабочего вещества резонансным излучением, но в будущем, в связи с развитие.м лазеров, такие Г. п. могут получить значит, распространение. Г. п., работающие на газах при давлениях, сравнимых с атмосферным, обычно наз. плазмотрона,ии. Г. п., работающие на газах низких давлений, как правило, входят в состав более крупных устройств, напр, двухступенчатых плазменных ускорителей или ионных источников. Если в плазмотронах одной из основных конструктивных трудностей является защита стенок газоразрядного канала от больших тепловых потоков, то в Г. п. пизкого давления возникает проблема предотвращения гибели за ряж. частиц на стенках. С этим борются, используя экранировку стенок магн. и электрич. полями (см. Ионный источник), а также совмещая ионизацию и ускорение в одном объёме, благодаря чему поток плазмы попадает преим. в выходное отверстие Г. п. (см. Ллаз-.пенные ускорители). В связи с задачами плазменной технологии большое внимание уделяется разработке Г. п., непосредственно генерирующих плазму из твёрдых веществ. Наиб, распространение для этих целей получили вакуумные дуги с холодным катодом. Воз-  [c.434]

Наиб, хорошо разработаны методы И. с. и ближней и средней ИК-области спектра, далёкая ИК-область освоена несколько хуже, но исследование ИК-спектров в этой области представляет большой интерес, т. к. в ней расположены частоты чисто вращательных переходов, а также частоты колебаний мн. кристаллич. решёток, молекул, содержащих тяжёлые атомы, межмолеку-лярные колебания и т. д. Развиваются методы И. с. в далёкой ИК-области спектра, использующие в качестве источников излучения лазеры и лампы обратной волны (см. Субмилламетровая спектроскопия).  [c.181]

Рабочие частоты совр. К. л. охватывают разл. участки спектра от УФ- до среднего ИК-диапазона. Эти частоты определяются рабочими частотами лазеров, пригодных для использования в качестве источников накачки, а также величиной Av ., к рая в зависимости от вида рассеяния может быть от 10 до 4,15-10 m i. Для К. л. УФ- и видимого диаиазонов источниками накачки служат эксимерпые лазеры на молекула KrF, Xe l, XeF с длинами волн X соответственно 249, 308, 353 нм [(3]. Для накачки К. л. видимого и ближнего ИК-диапазона используются лазеры на красителях и твердотельные лазеры. К. л. среднего ИК-днапазона  [c.422]

Элементный анализ (исследования элементного состава твёрдых и жидких веществ, в первую очередь ме-таллич. сплавов, полупроводников, геологич. объектов земного и внеземного происхождения). В связи с малой летучестью большинства таких веществ их одновро.у . испарение и ионизация осуществляются в вакуумном искровом разряде с одноврем. регистрацией большого участка масс-спектра либо на фотопластинке, либо с помощью пространственно протяжённых детекторов. Чувствительность метода для большинства элементов порядка 10 —10 % (путём обогащения примесями добиваются чувствительности 10 % и лучше). Для элементного анализа наряду с вакуумной искрой применяют лазерную ионизацию, вторичную ионную эмиссию, а также жидкометаллич. ионные источники. G помощью М.-с. проводят как общий, так и локальный, и послойный элементные анализы. При этом толщина, подвергающаяся анализу, составляет неск, мономоле-кулярных слоёв, локальность — меньше 1 мкм. Для общего анализа наиб, удобно использовать -вакуумную искру, для послойного — ионно-ионную эмиссию, для локального — лазер. Масс-спектральный элементный анализ поверхностного слоя твёрдого тела получил особое значение в микроэлектронике. Для элементного анализа жидких растворов применяют ионизацию в индуктивно связанной плазме.  [c.58]

Лит. см. при ст. Модуляторы света. А. Н. Напорский. МОДЫ (от лат. modus — мера, образ, способ, вид) — тииы колебаний (нормальные колебания) в распределённых колебат. системах (см. Объёмный резонатор. Оптический резонатор) ИЛИ типы волн (нормальные волны) в волноводных системах и волновых пучках (см. Волновод, Квазиоптика). Термин М. стал употребляться также для любого волнового поля (вне его источников), обладающего определ. пространственной структурой (симметрией). Так появились понятия М. излучения лазера, утекающая М., поверхностная М., М. шепчущей галереи , экспоненциально спадающая М., селекция М. ИТ. д.  [c.185]

Частицы в ондуляторе можно использовать в качестве активной среды ла.зеров. В источниках спонтанного когерентного О. и. плотность излучающих частиц — осн. параметр активной среды — в общем случае про-модулирована в пространстве координат и илщульсов, поэтому такие источники ваз. также параметрич. лазерами на свободных электронах (ЛСЭ). Фазы эл.-магн. волн, испускаемых частицами пучка в источниках спонтанного когерентного О. и., скоррелированы между собой, а интенсивность поэтому их назы-  [c.408]

Когерентными источниками излучения в О. служат гл. обр. инжекционные лазеры. Применяются гетероструктуры, из к-рых также наиб, распространёнными являются системы AlGaAs, Вследствие лазерного эффекта ширина линии АХ 0,1 нм, расходимость луча не более 30 , кпд до 50%. Длина волны меняется в зависимости от состава твёрдого раствора активной области. Наиб, освоен (на 1990) диапазон длин волн от  [c.462]

Источниками накачки служат лазеры непрерывного, импульсного и импульсно-периодич. действия и оптич. гармоники их излучения. Отд. II. г. с. обеспечивают перестройку частоты в пределах 10% от б>н. Особую ценность П. г. с. с плавной перестройкой частоты представляют Д.ЛЯ ИК-диапазона спектра. Во мн. странах выпускаются промышленные образцы разл. П. г. с. Уникальные характеристики 1Т. г. с. (когерентность излучения, узость спектральных линий, высокая мощность, плавная перестройка частоты) делают его основным, а норой единственным прибором для спектроско-пич. исследований (активная спектроскопия и др.), а также позволяют использовать его для селективного  [c.540]


Смотреть страницы где упоминается термин Лазеры 71, 72. См. также Источники : [c.110]    [c.4]    [c.227]    [c.210]    [c.397]    [c.399]    [c.75]    [c.245]    [c.410]    [c.430]    [c.164]    [c.184]    [c.224]    [c.423]   
Основы флуоресцентной спектроскопии (1986) -- [ c.0 ]



ПОИСК



Источники света 34—36. См. также лазеры, Лампы, Синхротроны

Лазер

Лампы. См. также Источники света, Лазеры, Синхротроны азотные

Лампы. См. также Источники света, Лазеры, Синхротроны вольфрамовые стандартные

Лампы. См. также Источники света, Лазеры, Синхротроны дейтериевые

Лампы. См. также Источники света, Лазеры, Синхротроны импульсные

Лампы. См. также Источники света, Лазеры, Синхротроны ксеноновые

Лампы. См. также Источники света, Лазеры, Синхротроны модулированные

Лампы. См. также Источники света, Лазеры, Синхротроны ртутно-ксеноновые

ОГС-лазеров в ДГС-лазерах



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте