Измерение поляризации света

ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИИ СВЕТА [c.491]

ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИИ СВЕТА [гл. 10 [c.496]

Диаграмму рассеяния атмосферной дымки нельзя исследовать так же просто, как ее закон ослабления, так как из-за присутствия повторного рассеяния из света неба нельзя просто выделить компонент, обусловленный молекулярным рассеянием, и компонент, обусловленный дымкой. Тем не менее фотометрия распределения света по дневному небу может дать довольно правильное представление о диаграмме рассеяния аэрозоля, особенно в связи с тем, что его присутствие в атмосфере обычно ограничивается нижними 3000 м. Измерения поляризации света будут значительно труднее, и, насколько известно автору, они не проводились. [c.487]

Сходное, хотя и менее полное исследование было выполнено Покровским (1927). В первой статье он описывает измерения поляризации света, рассеянного очень мелкими капельками, образованными при конденсации пара, вытекающего из сопла. Во второй статье аналогичное исследование проведено для крупных капелек (диаметром больше 100 мк), полученных с помощью [c.497]

Рассмотренные выше процессы дисперсии и рассеяния света не исчерпывают, конечно, явлений, возникающих при взаимодействии света и вещества. Среди них чрезвычайно важное место и в принципиальном, и в практическом отношении занимает явление вращения плоскости поляризации света. Было обнаружено, что явление это имеет место в весьма разнообразных телах, получивших название естественно-активных. К числу таких тел принадлежат, например, сахар и ряд других органических веществ поэтому измерение вращения плоскости поляризации стало ходовым аналитическим методом в ряде промышленных областей. Исследования показали, что объяснение этого явления можно получить, рассматривая общую задачу взаимодействия поля световой волны с молекулами или атомами вещества, если только принять во внимание, конечные размеры молекул и их структуру. [c.607]

Измерение степени поляризации света различных источников. [c.111]

Эллипсометрия как метод анализа изменения поляризации света вследствие его взаимодействия с исследуемым объектом известна давно [39, 136]. Однако за последнее десятилетие она получила большое развитие из-за необходимости исследований и измерений некоторых параметров полупроводниковых и диэлектрических материалов, пленочных схем и металлических покрытий [102]. [c.200]

Многие лазеры имеют линейно-поляризованное излучение, что позволяет строить измерения на исследовании изменения поляризации света. [c.219]

Поляроид оставляют в найденном положении наибольшего затемнения и в световой пучок перед поляроидом вводят пластинку Х/2. В общем случае, когда оси пластинки не совпадают с направлением колебаний падающего на пластинку излучения, введение такой пластинки вызовет просветление наблюдаемого поля за поляроидом. Поворачивая пластинку V2, снова добиваются наибольшего затемнения поля за поляроидом, что соответствует совпадению одно го из главных направлений пластинки с направлением колебаний электрического вектора просвечивающего светового потока. В найденном положении пластинки к/2 делается отсчет по шкале на корпусе тубуса. При этом положении пластинки к/2 вставляется пластинка к/А. Юстировка пластинки Х/4 не отличается от юсти-ровки пластинки к/2. Если для пластинки Х/4 заранее найдено положение быстрого и медленного главных направлений, то после проведенной юстировки положение пластинки относительно плоскости колебаний электрического вектора известно, а следовательно, известно и состояние поляризации света, прошедшего через эту пластинку при различных ее ориентациях. Помимо уже проведенных операций но юстировке установки перед измерениями необходимо правильно выставить иммерсионную ванну Во-первых, дно ванны, через которое входит просвечивающий ну- [c.37]

Если можно по одной характеристике отличить лазер от обычных источников света, то такой характеристикой является спектральная плотность энергетической яркости. Измерение спектральной плотности энергетической яркости, т. е. плотности потока, отнесенной к единичному телесному углу и к единичному спектральному интервалу, включает в себя измерения зависимости мощности излучения от времени, плотности потока, расходимости пучка, поляризации света и его спектрального состава. К этому перечню внешних лазерных параметров, которые должны быть измерены для определения яркости, необходимо добавить когерентность. В табл. 1.1 перечислены основные внешние характеристики лазеров. [c.10]

Температура, определяемая с помощью зондирующего светового пучка, характеризует область, размеры которой в плоскости образца обычно совпадают с размерами светового пятна, а размер в глубину близок к толщине (/г) слоя, в котором формируется сигнал. Для некоторых методов (например, основанных на измерении коэффициента отражения или параметров поляризации света) значение /г совпадает с глубиной 3 проникновения света в материал. Для металлов, облучаемых светом видимого диапазона, 6 34-30 нм, т. е. порядка 54-50 постоянных кристаллической решетки. Для полупроводников и диэлектриков в области поглощения 3 0,014-10 мкм в области прозрачности 6 14-100 см (отражение от поверхности в этом случае формируется в слое толщиной порядка нескольких длин волн). В ряде методов (например, интерферометрическом, а также по положению края поглощения света в кристалле) определяется температура, усредненная по толщине прозрачного или полупрозрачного образца, имеющего форму плоскопараллельной пластины. [c.198]

Электромагнитная природа света. Существование электромагнитных волн было теоретически предсказано Максвеллом (1862—1864) как прямое следствие из уравнений электромагнитного поля. Скорость электромагнитных волн в вакууме оказалась равной величине 1/ у/ёфо (в современных обозначениях), называемой в то время электродинамической постоянной. Ее числовое значение (3,1 -10 м/с) было получено несколько раньше (1856) из электромагнитных измерений В. Е. Вебера (1804—1891) и Р. Г. Кольрауша (1809—1858). Оно почти совпадало со скоростью света в вакууме, равной, по измерениям И. Л. Физо (1819—1896) в 1849 г., с= 3,15-10 м/с. Другое важное совпадение в свойствах электромагнитных волн и света обусловлено поперечностью волн.- Поперечность электромагнитных волн следует из уравнений Максвелла, а поперечность световых волн — из экспериментов по поляризации света (Юнг, 1817). Эти два факта привели Максвелла к заключению, что свет представляет собой электромагнитные волны. [c.17]

Измерение эллиптической поляризации света, отраженного от поверхности металла при наклонном падении линейно поляризованного света, лежит в основе предложенного Друде экспериментального метода определения оптических характеристик них металла. Теория связывает м и х с эксцентриситетом и положением осей эллипса колебаний. По данным измерений этих величин можно рассчитать них. Наибольшая чувствительность метода (и одновременное упрощение расчетных формул) достигается при определенном угле падения (главном угле падения, играющем при отражении от поглощающих сред ту же роль, что и угол Брюстера при отражении от прозрачных сред). В большинстве случаев он лежит вблизи 70°. Для этого угла отраженный свет имеет круговую поляризацию, если соответствующим образом подобрать направление поляризации падающего света. [c.163]

Этим методом находят следовательно сразу разность постоянных поглощения раствора и растворителя. Относительная погрешность измерения во втором методе меньше. Для измерения спектров поглощения непрозрачных тел можно применять следующее расположение лучи от мощного источника света (вольтовой дуги, лампы накаливания в 2 ООО—3 ООО свечей) при помощи конденсора собираются на исследуемом объекте, рядом с к-рым помещается белая пластинка, рассеивающая все лучи в равной степени. При помощи фотографич. объектива на щелях спектрофотометра получаются действительные изображения. Лучи от источника света должны падать на освещаемый предмет под возможно малым углом. Наиболее точные результаты можно получить, применяя полусферич. осветитель Гибсона. При спектро-фотометрич. исследованиях в отраженном свете должно учитывать влияние на результат измерений поляризации света при отражении от исследуемого образца. Если измерения производятся по второму способу с перестановкой, то, обозначив коэфициент поляризации для лучей правого и левого полей бипризмы через а и Ъ, вместо ф-лы (3) получают [c.314]

Угол 1рот (или 90 —<р ,) равен углу между направлением плоскости поляризации света, поступающего от поляризатора установки, и осью X. Поле изоклин определяет направление главных напряжений во всех точках модели и используется для вычерчивания траекторий главных напряжений (изостат) и при компенсации по точкам при измерении Я —за- [c.267]

Возросший интерес к поляризационным методам исследования выдвигает повышенные требования к их точности, быстродействию и наглядности отображения информации. В связи с этим в последнее время отдается предпочтение разработке автоматических систем, обеспечивающих большую чувствительность измерений благодаря применению различной модуляционной техники, например ячеек Фарадея [253] и Керра [240], позволяющих дополнительно поворачивать плоскость поляризации на несколько градусов. При этом параметры эллипса поляризации наблюдаются непосредственно на экране ЭЛТ или записываются на ленту самописца или магнитную пленку для дальнейшей обработки. Следует отметить, что современные отечественные и зарубежные, ручные и автоматические эллиисометры основаны на классических принципах исследования поляризации света. Однако имеются сведения о возможности построения лазерных эллипсометров, основанных на принципе интерференции света [45, 102, 197]. [c.202]

Если среда, на к-рую падает свет, поглощающая, то ни при каком угле падения не достигается полная поляризация света. Б. з. выполняется недостаточно строго из-за существоваиия очень топкого переходного слоя на отражающей поверхности ра.здела двух сред, в к-ром дипольные моменты молекул ориентиронаны иначе, чем внутри диэлектрика. Измерение деполяризации света, отражённого при фц, используется для изучения свойств тонких плёнок. [c.232]

Поляризационный К. о. нрименяется для анализа состояния поляризации света. Общий принцип устройства " превращение исследуемого света в свет, поляризованный линейно (при визуальных измерениях) или циркулярно (при фотоэлектрич. измерениях). При визуальных измерениях обычно применяют дополнит, полутсыевые устройства, благодаря которым измерение производится путёц уравнивания яркостей двух полей (см. Полу теневые приборы). Фотоэлектрические методы более быстры, удобны и точны [2]. [c.428]

Магнитооптические М. основаны на изменении оптич. свойств веществ под действием магн. поля (Фарадея эффект, Керра эффект, Зеемана эффект, Ханле эффект и др.) и применяются в основном в лаб. исследованиях для измерения магн. индукции слабых, средних и сильных магн. полей (как постоянных, так и переменных). Линейная зависимость угла поворота плоскости поляризации света от магн. индукции, отсутствие электрич, цепей в области измеряемого магн. поля, практич. безынерционность магнитооптич. эффекта Фарадея обусловливают перспективность при- [c.700]

ПОЛЯРИМЁТРПЯ — оптич. методы исследования сред с естественной или наведённой магн. полем оптической активностью, основанные на измерениях величины вращения плоскости поляризации света с помощью поляриметров и спектрополяриметров. Поляри-метрич. и спектрополяриметрич, исследования сред с естеств. оптич. активностью используются для измерения концентрации оптически активных молекул в растворах (см. Сахариметрия), для изучения структуры молекул и кристаллов, межмолекулярных взаимодействий. идентификации электронных переходов в спектрах поглощения оптически активных систем, определения симметрии ближайшего окружения молекул в жидкости или в твёрдом теле и т, д. [c.76]

Назначение и функции установки. Установка УРС-А предназначена для исследования напряжений на объемных прозрачных моделях путем измерения интенсивности света, рассеянного в отдельных точках. По результатам измерения определяют состояния поляризации просвечивающего пучка в рассматриваемых точках [2] и по ним определяют разности и направления квазиглавных напряжений в слоях модели между этими точками. [c.31]

Очевидно, что метод наименьшего отклонения даст значение главного показателя преломления двулучепреломляющего кристалла лишь в случае, если биссектриса угла призмы совпадает с одной из главных плоскостей кристалла. Используя эту призму, можно определить два показателя преломления, соответствующие двум поляризациям света. Для того чтобы измерить все три главных показателя преломления двуосного кристалла, необходимы две призмы, биссектрисы которых совпадают с двумя главными плоскостями кристалла. Точность вырезания таких призм обычно и ограничивает точность измерения показателей преломления [127]. Наибольшая реализуемая точность измерения обычно составляет 0,002-0,004. Дополнительные ошибки создаются рассеянием света в образцах и на их поверхности. [c.81]

Применение зтого метода для измерения показателей преломления кристаллов, имеющих плоскости спайности, еще более затруднено, так как невозможно вырезать призму, биссектриса которой совдадает с плоскостью спайности, с отклоняющим углом, меньшим 40° (см. разд. 3.1). В этом случае используется модификация метода призм [128]. Изготовляется призма, одна из граней которой представляет собой плоскость спайности, а ребро совпадает с одной из кристаллографических осей. Для измерения двзос главных показателей преломления, соответствующих поляризации света в плоскости спайности, достаточно направить луч света перпендикулярно зтой плоскости и измерить углы отклонения 5 при разной поляризации. Эти показатели определяются даже с большей точностью, чем в обычном методе призм, так как очень легко вырезать описанную 6. Зак. 442 81 [c.81]

Измерение поляризации излучения лазера требуется во многих случаях, например при исследовании генерации оптических гармоник и других нелинейных эффектов, оптического гетеродинного и гомодинного приема, в экспериментах по интерференции и дифракции. Раньше мы уже говорили, что биения света невозможно наблюдать, если направления поляризации световых сигналов перпендикулярны друг другу. В опытах по интерференции мы обнаруживаем, что интерференции не будет, если идентичные во всех отношениях световые пучки поляризованы под прямым углом. То же самое верно и для противоположной круговой поляризации. В квантовой механике это объясняется тем, что световой пучок (фотоны) имеет две внутренние степени свободы. Чтобы охарактеризовать пучок света, мы с равным правом можем задавать как компоненты линейной поляризации, так и компоненты круговой поляризации. [c.89]

При падении светового пучка под углом к нормали наблюдаются не только разные коэффициенты отражения, но и разные изменения фазы отраженных световых волн для 8- и р-поляризованных компонент пучка. Регистрация различий фазовых скачков для разных поляризаций света лежит в основе эффективного метода диагностики поверхности — эллипсометрии [4.29]. Величины фазовых скачков зависят от действительной и мнимой частей комплексного показателя преломления материала. Поскольку обе части зависят от температуры, эллипсометрию можно применить для измерения температуры поверхности. Первые работы по эллипсометрической термометрии монокристаллов кремния и германия появились 30 лет назад [4.30, 4.31]. [c.104]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...