Анализ состояния поляризации

Перечисленные результаты исчерпывают все возможные случаи поляризации светового пучка и в совокупности дают метод полного качественного анализа состояния поляризации. [c.54]

Анализ состояния поляризации [c.286]

Принципы анализа состояния поляризации. При анализе состояния поляризации необходимо определить, какой из поляризационных структур характеризуется исследуемое излучение, и измерить степень поляризации. Процедуру анализа целесообразно построить в соответствии со схемой, представленной на рис. 4.4.1. Вначале на первом этапе на пути исследуемого излучения помещают анализатор (поляризационную призму, поляроид) и вращают его. При этом могут иметь место случаи,, приведенные ниже. [c.286]

Рис. 4.4.1. Структурная схема анализа состояния поляризации в общем

Компенсационные методы анализа состояния поляризации. Рассмотренные выше методы анализа состояния поляризации применяются тогда, когда о поляризационной структуре исходного излучения нет никаких предварительных сведений. В практике поляризационных измерений такие случаи встречаются крайне редко. Чаще всего качественный характер поляризационной структуры известен либо из теоретического анализа, ли- [c.290]

Рассмотрим применение этого полярископа в оптических уст-Т)ойствах стокс-поляриметрии. Анализ состояния поляризации путем измерения элементов вектора Стокса связан с регистрацией интенсивности света, прошедшего через полярископ. Интенсивность света, прошедшего через фазовую пластинку, главная ось которой ориентирована под углом р к горизонтальной оси л [c.307]

АНАЛИЗ СОСТОЯНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИИ [c.213]

Начнем анализ состояния поляризации с рассмотрения простых случаев, когда задача сводится к качественной оценке типа поляризации. Если требуется, например, отличить естественный свет от эллиптически поляризованного или частично поляризованный от линейно поляризованного, то эту задачу легко выполнить с помощью поляризатора, который будет играть роль анализатора. Если поворот анализатора (поляроид или поляризационная призма) вокруг горизонтальной оси системы приведет к изменению освещенности без полного погасания, то свет эллиптически или частично поляризован. Неизменяемость освещенности свидетельствует о том, что анализируемый свет — естественный или циркулярно поляризованный. Если при некотором положении поляризатора имеет место полное гашение света, то свет линейно поляризован. Однако полный качествен- [c.213]

Итак, мы видим, что параметры Стокса, как и матрица когерентности, служат полезным инструментом для систематического анализа состояния поляризации квазимонохроматической волны. [c.510]

Изменения, возникающие в состоянии поляризации света, зависят как от объемных свойств среды, так и от свойств и структуры поверхностных слоев. Эти свойства можно определить по результатам анализа изменения поляризации отраженного или прошедшего через исследуемый объект света. [c.200]

Используем развитый математический аппарат для анализа поведения некоторых видов световых пучков, играющих фундаментальную роль в теоретической оптике. Сопоставляя их свойства и обсуждая результаты когерентного сложения (суперпозиции), будем считать, что все участвующие пучки не только монохроматичны, но и имеют одинаковые частоту и состояние поляризации. [c.26]

Любая анизотропия резонатора снимает вырождение различных состояний поляризации и выделяет среди множества возможных несколько (два в линейных и четыре в кольцевых резонаторах) собственных состояний поляризации данного резонатора. Таким образом, собственные типы колебаний анизотропных резонаторов (кроме рассмотренных ранее энергетических, пространственных и частотных характеристик) различаются также состоянием поляризации. Различным собственным состояниям поляризации соответствуют, вообще говоря, разные потери и изменения фазы. Поэтому при наличии амплитудно-фазовой анизотропии резонатора описанным в предыдущих главах расчетам должен сопутствовать анализ собственных состояний поляризации и соответствующих дополнительных поляризационных потерь и изменений фазы. Такой анализ и составляет содержание данной главы. [c.141]

Для получения полностью или частично поляризованного света из естественного применяют поляризационные приборы. Линейную П. с. в видимой и ультрафиолетовой областях получают посредством поляризационных призм (разделяющих пучки света с различной поляризацией на основе явления двойного лучепреломления) или поляроидов (поглощающих одну из компонент). В инфракрасной области применяют почти исключительно П. с. при отражении. Для получения эллиптич. П. с. к перечисленным приборам необходимо добавлять пластинку четверть длины волны. Анализ состояния П. с. производят анализаторами. [c.149]

Принцип оптической эквивалентности показывает, что параметры Стокса не только интересны сами по себе, но и представляют собою полную систему величин, которые необходимы для характеристики интенсивности и состояния поляризации светового пучка, поскольку этот пучок является предметом практического анализа. Теоретически пучки с одинаковыми параметрами Стокса могут различаться, но эти различия нельзя измерить. В частности, существует только один вид естественного света [c.59]

Ясно, что для выявления хода столь большого числа фаз нужна весьма обширная экспериментальная информация. Ее получают из опытов по изучению тройного рассеяния при разных взаимных ориентациях плоскостей рассеяния и различных поляризациях пучка. При анализе результатов учитывается поляризация обоих нуклонов. Так, например, определение поляризации обоих нуклонов позволяет различать два сферически симметричных состояния so и которые отличаются взаимной ориентацией спинов антипараллельные для so-состояния и параллельные для ро). [c.82]

V (J = 0), т. е. в результате излучения двух фотонов полный момент атома остается неизменным и, следовательно, суммарный момент двух фотонов равен нулю. Этот каскадный переход очень удобен для анализа поляризаций испущенных пар фотонов в схемах счета совпадений, потому что время жизни атома в промежуточном состоянии очень малое и составляет примерно 5 не. [c.419]

Для анализа поляризации полученных в каскадном переходе фотонов необходимо рассмотреть свойства промежуточного состояния с J = 1. Проекция полного момента J = 1 на произвольную ось может принимать значения ntj = I, О, 1 [см. (37.31)]. Таким образом, переход (J = 0) [c.419]

Описание процесса установления поляризации зависит от вида модели, положенной в основу расчета, и от характеристики внутреннего поля в диэлектрике. Для анализа процессов примем модель двух состояний диполя /76/, а электрическое поле внутри диэлектрика зададим двумя вариантами первый - когда внутреннее электрическое поле диэлектрика равно внешнему [c.128]

Поляризатор может служить также для анализа состояния поляризации света если светой пучок является естественным, то поворот поляризатора вокруг оси, совпадающей с осью пучка, не изменит интенсивности прошедшего через него света пучок же плоскополяризованного света всегда можно погасить пу-ляризатором, поставив главную плоскость поляризатора перпендикулярно плоскости колебаний светового вектора. Поляризаторы, используемые для анализа состояния поляризации света, называются анализаторами. [c.231]

Поляризационный К. о. нрименяется для анализа состояния поляризации света. Общий принцип устройства " превращение исследуемого света в свет, поляризованный линейно (при визуальных измерениях) или циркулярно (при фотоэлектрич. измерениях). При визуальных измерениях обычно применяют дополнит, полутсыевые устройства, благодаря которым измерение производится путёц уравнивания яркостей двух полей (см. Полу теневые приборы). Фотоэлектрические методы более быстры, удобны и точны [2]. [c.428]

Более подробный анализ состояния поляризации генерируемого импульса выполнен в работе [14]. В ней использована кювета с Na толщиной 3 см и давлением буферного газа (гелий) I мм рт.ст., находящаяся при температуре 260 °С. Частота излучения была отстроена в красную сторону от перехода Si/2 - Pi/2 з величину (а>-с о)/2л- = 5 ГГц. Длина резонатора, образованного зеркалом с коэффициентом отражения R = 0,94 и обращающим зеркалом, составляла 30 см. Мощность генерации составляла около 1 Вт. Поляризация пучка накачки, встречного по отношению к падающему на обращающее зеркало генерируемому пучку, была горизонтальной, а попутного — вертикальной. Генерируемый пучок содержал как горизонтально, так и вертикально поляризованные компоненты, причем отношение их интенсивностей составляло величину /горДвер 2 и сохранялось постоянным при заданной температуре и частотной расстройке. В работе [14] указывается, что с ростом концентрации атомов натрия отношение /горДвер падано (для Г 280°С /гор/4ер = 1/Ю) Дополнительные измерения показали, что Rj,q для пробного пучка в отсутствие обычного зеркала ОВФ-резонатора различно для разных поляризаций. Так, при падении горизонтально поляризованного пробного пучка = [c.183]

По полученному вектору Джонса вычисляются параметры возникшего эллипса поляризации с использованием формул (4.1.16) для азимута главной оси а= [ar tg(tg 2)( os б) ]/2 и эллиптичности = [ar sin (sin 2x1 sin б])]/2. Эти параметры определяются экспериментально путем анализа состояния поляризации. [c.273]

В практике поляризационных измерений важное место занимает анализ состояния поляризации. Исследуемое излучение может характеризоваться следующим образом неполяризован-ное излучение излучение частично (линейно, циркулярно или эллиптически) поляризованное полностью поляризованное (линейно, циркулярно или эллиптически) излучение. [c.286]

Описанная выше методика позволяет выполнить не только качественный анализ состояния поляризации, но и количественно характеризовать поляризационную структуру исследуемого излучения. Вследствие того, что эллиптически поляризованный свет является наиболее общим случаем упорядоченного состояния поляризации, при количественном анализе пoлнo тьюi поляризованного излучения необходимо определить отношение полуосей эллипса поляризации и ориентацию его большой оси. Для этой цели необходимо определить азимуты (ориентацию) пластинки Я/4 и анализатора. На этом принципе основаны методы анализа состояния поляризации с помощью азимутальных компенсаторов. Эти методы будут подробно рассмотрены ниже. [c.289]

Комбинация двулучепреломляющей пластинки и анализатора образует интерференционный полярископ. Простейщим полярископом является сочетание пластинки Х/4 и анализатора. Модель такого полярископа мы использовали в разделе, посвященном анализу состояния поляризации. [c.307]

Другая возможность анализа состояния поляризации реализуется не путем изменения ориентации фазовой пластинки,, а путем изменения вводимой ею разности фаз. Рассмотрим эту возможность. Схема такого полярископа представлена на рис. 4.5.10. Он состоит из двухлучепреломляющего элемента К (типа поляризационного компенсатора) и, анализатора А, ори- [c.309]

Перечисленные вопросы придают книге в определенной мере прикладной характер. Книга, как и в первом издании, делится на девять глав, из которых пять принадлежат главной теме учебного курса — теории интерференционных явлений, проблемам построения интерференционных систем, конкретным оптическим схемам интерферометров, приемам юстировки и методам измерений. После-дуюш,ие две главы относятся к изучению поляризационных и интерференционных явлений в антизотропных средах, к способам анализа состояния поляризации и построению интерференционно-поляризационных установок. [c.4]

Лазерная эллипсометрия основана на анализе изменений состояния поляризации света, отраленного от поверхности изделия. Метод позволяет пнтролировать с высокой точностью юлщнны (10 —2-10" мм) и показатели преломления (до 10" ). Применение лазеров позволило резко поднять чувствительность и информативность эллипсометрического метода, так как они определяются главным образом монохроматичностью и степенью направленности источника излучения. [c.66]

Нек-рые из этих эффектов лежат в основе простейших поляризац. приборов — поляризаторов, фазовых пластинок, компенсаторов оптических, деполяризаторов и т. д,, с помощью к-рых осуществляется создание, преобразование и анализ состояния П. с. Изменение состояния П. с. в результате прохождения через дву-прелоьсляющую среду лежит в основе изучения оптич. анизотропии кристаллов. При визуальных исследованиях оптически анизотропных сред используется эффект хроматич, поляризации — окрашивания поляри-зов. пучка белого света в результате прохождения через анизотропный кристалл и анализатор. [c.67]

Из сказанного должно быть ясно, что в таких случаях задачи о дифракционном преобразовании распределения комплексной амплитуды и об изменении состояния поляризация по прохождении сложной оптической системы могут рассматриваться независимо друг от друга. С методами решения первой мы уже ознакомились анализ поляризационных харак-хертстик когерентных пучков удобнее всего производить методом Джонса. [c.25]

Хуже обстоит дело у резонаторов с триппель-призмами. Соответствующий анализ [190] показывает, что даже в той благоприятной ситуации, когда триппель-призма всего одна (или их две, но с одинаково ориентированными ребрами), апертура резонатора разбивается на три пары расположенных друг против друга 60-градусных секторов. Внутри каждой такой пары устанавливается свое состояние поляризации, отличное от состояний в других секторах. Это, равно как и наличие фасок конечной ширины на ребрах призм, ослабляет связь между соседними парами секторов. Поэтому в резонаторах с триппель-призмами одновременно с некоторым по- [c.241]

Следует остановиться на применении всех описанных методик к исследованию кристаллов. Очевидно, что число измерений в этом случае должно быть больше — по крайней мере четыре для одноосных кристаллов, ибо последние характеризуются четырьмя параметрами — о, Пя, хо, Хи. Видимо, необходимо, или, во всяком случае желательно, чтобы число измерений было больше [72]. С другой стороны, анализ [015] показывает, что проводя для прозрачных кристаллов измерения интенсивности и поляризации отраженного света, можно в принципе определить все параметры по отражению от одного аншлифа (одной отполированной плоскости) как для одно-, так и для двуосного кристалла. Это можно осуществить, в частности, только измерениями состояния поляризации или же их сочетанием с измерениями интенсивностей. [c.262]

Нек-рые из этих эффектов лежат в основе простейших поляризационных приборов — поляризаторов, фазовых пластинок, анализаторов, компенсаторов оптических и др., с помощью к-рых осуществляется создание, преобразование и анализ состояния П. с. В наст, время разработаны эффективные методы расчёта изменения состояния П. с. при прохождении света через оптически анизотропные элементы. Изменение поляризац. состояния светового пучка вследствие прохождения через двупреломляющую среду используется для изучения оптич. анизотропии кристаллов (см. Кристаллооптика). При визуальных исследованиях оптически анизотропных сред широко используется эффект хроматической поляризации — окрашивание поляризованного пучка белого света после прохождения через анизотропный кристалл и анализатор. В хроматич, поляризации в наиболее эфф. форме проявляется интерференция поляризованных лучей. [c.576]

Все существующие феноменологические модели связи электрического сигнала на электродах короткозамкнутого конденсатора с диэлектрическим слоем при прохождении волны нагрузки с параметрами нагрузки предполагают поляризацию диэлектрика на фронте волны с изменением диэлектрической проницаемости и проводимости (или без изменения последней) I связанную с поляризацией неравновеспость состояния вещества за фронтом волны. За фронтом идет процесс распада поляризации по одному или нескольким механизмам с соответствующими временами релаксации [109, 157, 311, 374]. Для большинства исследованных материалов в диапазоне давления до ЫО кгс/см2 величина ударной поляризации в 10 —10 раз лченьше предельной величины поляризации, соответствующей развороту всех диполей полярного диэлектрика в одном направлении. В связи с этим следует ожидать, что при наложении сильного электрического поля поляризация диэлектрика значительно более высокая, чем при прохождении ударной волны. Вместе с тем вклад ударной поляризации в поляризованном электрическим полем диэлектрике резко уменьшается. Эти соображения позволяют принять, что процессы ударной поляризации в диэлектрике при сильном внешнем электрическом поле можно не учитывать при анализе работы диэлектрического датчика давления. [c.173]

Если такая поляризационно-неустойчивая среда помещена в ОР. то флуктуации поляризации могут нарастать во времени. В стационарном режиме прошедшее через ОР излучение оказывается в одном из двух симметричных состояний, отличающихся знаком угла поворота эллипса поляризации относительно исходного направления и направлением вращения вектора напряжённости поля. Линейной поляризации падающего на ОР излучения (/axt е = 0, ф = 0) соответствуют два возможных набора устойчивых значений параметров П1. ni и Фп1 (г = I, 2), причём ещ = —e , и фщ = = —фп4. Это соответствует поляризац. О. б. Полный анализ О. б. с учётом изменения поляризация излучения весьма громоздок, поскольку он сводится к анализу зависимости интенсивности / и двух параметров поляризации (вд, ф ) прошедшего излучения от соответствующих характеристик падающего. Однако указать область параметров оптич. системы, при к-рых возможна О, б. или мультистабильность, а также качественно понять, как проявляется О. б., можно из анализа вида бифуркац. поверхности — поверхности в пространстве параметров падающего излучения, на к-рой меняется число стационарных состояний поля в нелинейном ОР. Она определяется из ур-ния [c.429]

Оптические свойства П. Соотношения между амплитудой, фазой и поляризацией падающей, отражённой и преломлённой на П. световых волн определяются Френеля формулами. У П. образуются связанные состояния фотонов с поверхностными оптич. фононами, пла.э-монами и др. дипольно-активными квазичастицами, наз. поверхностными поляритонами. Анализ их характеристик лежит в основе одного из перспективных оптич. методов исследования П. Интенсивность комбинационного рассеяния света на молекулах, адсорбированных на металлах, в ряде случаев значительно выше (в 10 —10 раз), чем на тех же молекулах в объёмной фазе (гигантское комбинационное рассеяние). Это обусловлено усилением эл.-магн. поля геом. неоднородностями П., а также эфф. передачей энергии от поверхностных электронных возбуждений колебательным модам адсорбиров. молекул. При пересечении П. эаряш. частицами наблюдается эл.-магн. переходное излучение. [c.654]

В этой связи, исходя из приведенного выше анализа возможных видов кор-розионно-механического разрушения гибкой части сильфонных компенсаторов тепловых перемещений из сталей типа 18-10 (18-9) в условиях подземной прокладки с учетом преждевременного отказа, были проведены исследования коррозионной стойкости и коррозионно-усталостной долговечности стали 12Х18Н10 в состоянии поставки и после провоцирующей термообработки, в том числе при одновременной поляризации анодным током в условиях имитирующих эксплуатационные с целью выявления безопасности с точки зрения общей коррозии полей потенциалов блуждающих токов и обоснования ресурса гибкой части компенсатора в таких условиях. [c.93]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...