Дисперсия схемы

Судом полагать, что весь объем несущей фазы охвачен воз-муп ,енным движением. Эту схематизацию будем условно называть схема <>д , и она, ио-видимому, больше подходит при достаточно равномерном но расстояниям друг от друга, но хаотическом по направлениям друг относительно друга располо. кении дисперс-пых частиц. [c.108]

Гц,). Измерения проводят по схеме, представленной на рис. 8.4. Заметим, что, используя в этой схеме в качестве диспергирующего элемента призму, можно ввести дополнительный источник погрешности, так как ее дисперсия зависит от исследуемой области длин волн п очень сильно изменяется в инфракрасной области, где и находится Для всех реальных источников света, температура которых обычно не превышает 3000 К. [c.414]

Поляризационный монохроматор Вуда, основанный н а явлении дисперсии показателей преломления, может быть осуществлен по схеме рис. 39. Поля- [c.893]

Рисунок 4.4 показывает закон дисперсии вдоль какого-то одного направления в к-пространстве (в схеме приведенной и расширенной зон). Аналогичные зависимости можно построить и в дру-тих направлениях, причем качественно характер е(к) не зависит от направления. Однако величина трансляции (В разных вправлениях различна, поэтому энергетические щели в различных направлениях по высоте (величине энергии) могут как перекрываться, так и нет. Это изображено на рис. 4.5, точки Г, Н, Р соответственно изображают центр зоны и границы зон Бриллюэна в направлениях [100] и 111]. При наличии перекрывающихся зон электроны в конечном счете могут обладать какой угодно величиной энергии. Если же имеются не-перекрывающиеся во всех направлениях энергетические зоны, то это значит, что соответствующими энергетическим энергии электроны обладать не могут. [c.73]

Параметрические диоды (ПД1 отличаются исключительно малой инерционностью дисперсия в них отсутствует до частот порядка 10 Гц. При расчетах параметрических усилителей (генераторов) параметрический диод заменяется эквивалентной схемой, показанной на рис. 4.13 и справедливой для большинства типов ПД в любых рабочих диапазонах частот, включая СВЧ. Здесь через Я обозначено сопротивление потерь, —емкость монтажного патрона, — паразитная индуктивность вводов. В диапазоне СВЧ типовые параметры ПД следующие Сд от 1 до 0,1 пФ, Я от 10 до 1 Ом, = 0,1 нГн, С от 1 до 0,5 пФ (вторые значения относятся к ПД высокого качества). [c.153]

Во всех этих случаях допустимое значение выходного параметра будет характеризоваться математическим ожиданием и дисперсией, а схема возникновения отказа будет определяться вероятностью пересечения двух областей (см. гл. 4, п. 4) — области возможного существования параметра (область состояний) и области работоспособности. [c.174]

В таблицах величины ошибок и дисперсии ошибки даны в величинах, соответствующих шкале кодирующих вольтметров с пределами — 100--[-100 единиц. Нетрудно видеть, что ошибки воспроизведения из табл. 3—5 и табл. 6 (система IV в) являются вполне приемлемыми и, в частности, максимальные ошибки могут быть связаны с ошибками измерений кодирующих вольтметров (единица младшего разряда шкалы). Последнее следует также из характера распределения ошибок и сравнения закона их распределения с нормальным. В то же время ошибки, подобные тем, которые даны в табл. G для систем (4) — (7), весьма значительны и указывают на дефекты в электрической схеме воспроизведения, а соответствующие распределения существенно отличны от нормального. В УТИХ случаях производилась дополнительная отладка системы, замена вышедших из строя блоков и т. д. Все это способствовало снижению ошибок до уровня тех, что приведены для системы (8). [c.72]

Спектрограф ИСП-28 с кварцевой оптикой является модернизированной моделью спектрографа ИСП-22. Оба прибора имеют почти одинаковые оптические данные. Его рабочая область спектра 2000—6000 Д. Практически с прибором можно работать до 7000 А, но дисперсия в этой области очень мала. Оптическая схема прибора показана на рис. 95. Спектрограф ИСП-28 имеет одну кварцевую призму 4. Объективом коллиматора в спектрографе служит вогнутое [c.109]

С другой стороны, минимаксные схемы выборочного контроля слишком дороги даже сравнительно с эвристическими планами контролеров, интуитивно ориентированными на уровень и дисперсию доли брака на данной операции и даже у данного рабочего. В нашей стране проводится успешная исследовательская работа в области разработки экономичных схем выборочного приемочного контроля и достигнуты существенные результаты (см. [31 ]). В частности разработаны.методы и таблицы, с помощью которых можно выбрать лучший в экономическом отношении план применительно к условиям, когда регламентация комплексной производственной функции обеспечения качества позволяет исходить из реально ожидаемого распределения доли брака в предъявленных на контроль партиях. [c.244]

Схема кривых плотности распределения в сочетании с кривой усталости дана на рис. 4. Рассмотрение случая оценки вероятности разрушения по долговечности при фиксированном напряжении приводит, мк и i nee, к условию N — п = R< 0. Средняя величина R = Nр — п, дисперсия S% = -j- [c.143]

Прямопролетный масс-спектрометр, так же как и радиочастотный масс-спектрометр, выгодно отличается от масс-спектрометров с пространственной дисперсией масс в магнитном поле сравнительно малыми размерами аналитических камер, простотой измерительных и вспомогательных электронных схем и по своим конструктивным особенностям, габаритам и простоте эксплуатации может быть с успехом использован в промышленных условиях. Поэтому развитию этих методов, их практическому усовершенствованию и исследованиям придается большое значение. [c.375]

В первом варианте схем исследования предполагается применение источников когерентного и в достаточной степени монохроматического интенсивного излучения, частота которого может плавно перестраиваться в широких пределах. В этом случае должна измеряться спектральная зависимость МОВ и МЦД, отражающая все структурные несовершенства материала. До создания перестраиваемых по частоте лазеров, в частности жидкостных, реализация подобной схемы представляла серьезные технические трудности. В настоящее время разработка методики исследования материалов по дисперсии МОЁ или МЦД представляется особенно перспективной. [c.194]

Повторяя схему расчетов, используемую в примере 1, находим средние и дисперсии величин /(юоо и [c.246]

Пример 5.1. Для условий схемы (5.62) рассчитать значения р Х/у] и р Ylx, построить теоретические линии регрессии и теоретические кривые распределения ф (л ) и <р ((/) при следующих значениях дисперсий сумм Z, S, Q, распределенных по закону Гаусса [c.176]

Определение параметров модели погрешностей — значений Сц, с [см. формулу (1.1)1 и дисперсии случайной составляющей ст — осуществляется по логической схеме, представленной на рис. 1.4 вычисления по этой схеме иллюстрируются на примере. [c.23]

Созданы опытные образцы приборов для определения математического ожидания, дисперсии, плотности распределения и числа выбросов нагрузок, предложены схемы приборов для 144 [c.144]

Чем больше область распределения факторов, тем больше могут быть дисперсии оценок погрешности v схемы и функций влияния mv, зависящие от разброса наблюдений Зф-. [c.20]

Исследования показали, что отношение напряжения сигнала от дисбаланса к напряжению помехи на выходе оптимальной схемы (рис. 5) зависит только от энергии сигнала и плотности мощности помехи Gn iчастоты вращения со [51. Дисперсия фазовой ошибки при этом будет [c.49]

Анализ экспериментальных данных схемы балансировочной машины с оптимальным определением фазы сигнала от дисбаланса показал, что точность измерения фазы с учетом помех, создаваемых в работающей турбомашине, может, например, оцениваться дисперсией а ,, = 0,025(2,5 -е 3°). Это позволяет рекомендовать приведенную схему при проектировании и совершенствовании измерительных устройств балансировочных машин. [c.51]

Как видно из рис. 5.25, максимальное расхождение экспериментальных данных с результатами расчетов (расчеты выполняли МКЭ по расчетной схеме, представленной, ira рис. 5.17) для всех трех образцов не превышает 40 МПа при дисперси й примерно 30 МПа. Такое несущественное различие между рас- [c.316]

Существует класс полупроводниковых приборов, выполненных на основе смешанных окислов переходных металлов, которые известны под общим названием термисторов. Термин термистор происходит от слов термочувствительный резистор . Толчком к разработке термисторов послужила необходимость компенсировать изменение параметров электронных схем под влиянием колебаний температуры. Первые термисторы изготавливались на основе двуокиси урана ПОг, но затем в начале 30-х годов стали использовать шпинель MgTiOз. Оказалось, что удельное сопротивление MgTiOз и его температурный коэффициент сопротивления (ТКС) легко варьируются путем контролируемого восстановления в водороде и путем изменений концентрации MgO по сравнению со стехиометрической. Использовалась также окись меди СиО. Современные термисторы [60, 61] почти всегда представляют собой нестехиометрические смеси окислов и изготавливаются путем спекания микронных частиц компонентов в контролируемой атмосфере. В зависимости от того, в какой атмосфере происходит спекание (окислительной или восстановительной), может получиться, например, полупроводник п-типа на поверхности зерна, переходящий в полупроводник р-типа в глубине зерна, со всеми вытекающими отсюда последствиями для процессов проводимости. Помимо характера проводимости в отдельном зерне, на проводимость материала оказывают существенное влияние также процессы на границах между спеченными зернами. Высокочастотная дисперсия у термисторов, например, возникает вследствие того, что они представляют собой сложную структуру, образованную зонами плохой проводимости на границах зерен и зонами относительно высокой проводимости внутри зерен. [c.243]

Схема намерения дисперсии и риареженных газах н в парах металлов при помощи интерферометра Рождественского [c.225]

Для разделения спектров разных порядков применяют различные приемы (исполь. )уют стеклянные фильтры, селективные приемники излучения и т.д.). С равнительно легко отделить инфракрасное излучение от видимого или видимое от ультрафиолетового, но если разность длин волн, соответствующих соседним порядкам дифракции, невелика (а так будет всегда при использовании вькчлшх порядком), го приходится применять достаточно сложную схему монохроматнзации излучения. Поэтому (аналогично тому, как делалось в многолучевой интерферометрии) целесообразно ввести понятие области свободной дисперсии [c.322]

На рис. 7.5 представлена схема кривой усталости, где одновременно нанесены функции плотности распределения P(lgN). Дисперсия S(lgiV) обычно зависит от амплитуды напряжения, увеличиваясь с ее уменьшением. Заштрихованные площади на графиках плотности распределения характеризуют накопленную вероятность разрушения P(lgAl) для числа циклов ilV. Если нанести точки, соответствующие P(lg JV) = onst, то через них можно провести кривую усталости, изображенную пунктиром. Эта кривая соответствует равной вероятности разрушения Р. [c.132]

Следует отметить определенные недостатки применения режима накопления заряда в матричных ФПУ. В спектральном диапазоне излучения слабо нагретых тел значительна доля фонового излучения, вызывающего протекание тока во входных цепях, в результате время протекания тока разряда, соответствующего полезному сигналу, сокращается. Большие трудности, возникающие при использовании матричных ФПУ, связаны и с неоднородностью чувствительности их элементов. Дисперсия обнаружительной способности отдельных приемных элементов может составлять 10 % и более, тогда как для обеспечения температурной чувствительности АТ = = 0,1 °С требуется не более нескольких десятых долей процента. Разрабатываются специальные приемы устранения этого недостатка, в частности запоминание и последующее вычитание сигнала, соответствующего равномерному фону. Ведутся работы над проблемой вычитания фонового фототока с помощью дополнительных схем, в частности на основе ПЗС. [c.143]

Принципиальная схема ультразвуковых методов исследования состоит в создании пульсирующего давления различных частот на одной стороне образца при помощи передающего преобразователя и регистрации модифицированных при прохождении через образец сигналов приемным датчиком на другой стороне образца. Результаты описанного в работе [10] исследования прохождения ультразвуковых сигналов через среду, состоящую из карбон-фенольной матрицы, армированной слоями высокомодульных волокон, отстоящих друг от друга на расстояние около 6 мм, показали четко выраженную зависимость фазовой скорости от частоты. Дисперсионные свойства бороэпоксидного композита были изучены в работе [72], где построена зависимость групповой скорости от частоты плоских продольных и поперечных волн, распространяющихся параллельно или перпендикулярно направлению волокон. В этой работе было установлено, что поперечные волны, распространяющиеся вдоль волокон, обладают ярко выраженной дисперсией, причем с ростом волнового числа групповая скорость увеличивается. [c.383]

Новые схемы построения совмещенных систем воспроизведения вибраций полностью исключают из схемы управления один набор полосовых фильтров без замены их другими устройствами, Эти устройства (рис. 20) относятся к классу адаптивно-параметрических систем, принцип действия которых основан на изменении глубины частотно-зависимых обратных связей, охватывающих объект управления, в соответствии с сигнало1М рассогласования заданной и измеренной дисперсий сигналов с выходов полосовых фильтров, которые одновременно используют для форынроваиия требуемого энергетического спектра. Устройство (рис, 20) содержит один набор полосовых фильтров каждый фильтр охвачен положительной обратной связью, глубина которой регулируется сигналом рассогласования, пропорциональным разности дисперсий сигналов, измеренных в полосе пропуска- [c.322]

Информация о действительной нагруженности и несущей способности — важный элемент при решении вопросов расчета конструкций, совершенствования их схем и форм, применения поверхностного упрочнения и других способов повышения эксплуатационной надежности и ресурса. Далее рассматриваются некоторые вопросы оценки вероятности неразруше-ния (надежности) в связи с условиями нагружения и несущей способностью элементов конструкций. Отказы по прочности, оцениваемые как возникновение разрушения, повреждение опасными трещинами или недопускаемые деформации, могут возникать в результате однократных или кратных перегрузок как статических, так и динамических или же вследствие наличия дефектов, достаточных для разрушения элементов конструкций при свойственном им уровне эксплуатационной нагруженности. Разрушения такого типа рассматриваются как статические, их вероятностная оценка осуществляется с учетом кратности статического нагружения, статистики возможных статических нагрузок и дисперсии статической прочности во внересурсной постановке. Это, например, уже давно делается в области оценки надежности строительных конструкций, гидротехнических сооружений и ряда других, нагруженных в основном статической нагрузкой. [c.137]

Изложенная в этой главе общая методика построения математических моделей технологических процессов дает возможность рассчитывать точность обработки для различных типов процессов, встречающихся на практике. Для наиболее характерных случаев, начиная с простейших операций, имеющих один вход и один выход, и кончая сложными процессами со многими входами и выходами, составлены расчетные таблицы.В этих таблицах для каждого варианта процесса приведены структурные схемы и соответствующие им уравнения связи и формулы для расчета математических ожиданий, дисперсий и практических полей рассеивания погрешностей обработки по заданным характеристикам исходных факторов заготовок и преобразующей системы. Каждой развернутой структурной схеме процесса соответствует эквивалентная матричная структурная схема. Формулы суммирования получены для общего случая, когда все анализируемые технологические факторы взаимно коррелированы между собой. Ниже будут рассмотрены примеры, иллюстрирующие применение изложенного материала к решению практических задач, связанных с анализом и расчетом точности конкретных технологических процессов. [c.304]

Л. K. Сизёнов привел схему разложения общей дисперсии по каждому из выходов на две части, из которых первая определяет влияние неучтенных факторов, зависящих от процесса термической обработки, а вторая — [c.81]

Рис. 2.19.функциональная схема установки для измерения флуктуаций автоэмиссионного тока ВСИ — высоковольтный стабилизированный источник ИЧХ — измеритель частотных характеристик КГ — кг1либровочный генератор КО — контрольный осциллограф ШО — широкополосный осциллограф Ф — фотоаппарат 30 — запоминающий осциллограф ИД — измеритель дисперсии АС — анализатор спектра УНЧ -I- ЛС — усилитель низкой частоты с акустической системой ВЧФ — фильтр высокой частоты Д — экспериментальный диод УС — широкополосный усилитель 3 — быстродействующая защита [c.90]

Контроль нестабильностей высокого напряжения в диапазоне 1 Гц—20 МГц, начиная с милливольт, осуществлялся контрольным осциллографом КО. Калибровка измерительной схемы по току и контроль АЧХ тракта в низко частотной области выполнялись калибровочным генератором КГ. В целях предохранения тракта от токовых перегрузок, возникавших при пробое анодно-катодного промежутка диода, на выходе усилителя включена схема малоемкостной быстродействующей защиты 3. Количественные измерения нестабильности тока автокатодов в НЧ—ВЧ области осуществлялись с помощью измерителя дисперсии ИД, который позволял измерять по принятым для описания случайных процессов параметрам дисперсию, среднеквадратичное сг и относительное среднеквадратичное отклонение а/1 — среднее значение эмиссионного тока автоэмиттера). Величина и/1 является параметром, характеризующим стабильность тока автоэмиттера. [c.91]

Что касается локализации оптимального числа контрольных точек телеи шерений на схеме опытного района, то можно выдвинуть два тр( бования 1) дисперсия тепловых нагрузок по выбранным абонентам должна соответствовать дисперсии по всему району 2) сред lee запаздывание теплоносителя до выбранной группы абонентов должно соответствовать среднему запаздьшанию для всего района. [c.161]

Способ образования когерентных пучков в М. э. и его оптич. схема такие же, как у дифракционной решётки. Угл. распределение интенсивности в результирующей интерференционной картине в плоскости дисперсии также определяется произведением двух функций дифракционной — (sinii/и) при дифракции на одной ступеньке шириной d и интерференционной функции (sinAi. /sini ) , определяемой интерференцией N когерентных пучков от всех ступенек М. э. [c.28]

Преимущество классич. схемы — более высокая дисперсия, т. к. за счёт скользящего падения видимое расстояние между штрихами решётки уменьшается в l/siny раз. В то же время для схемы конич. дифракции характерна более высокая эффективность, поскольку в ней отсутствует взаимное затенение штрихов. [c.349]

Основой оптич. схем С. п. этой группы является диспергирующий элемент дифракционная решётка, зше-летт, эшелле, интерферометр Фабри — Перо, спектральная призма), обладающий угловой дисперсией Дф/ДЯ, что позволяет развернуть в фокальной плоскости изображения входной щели в излучении разных к (рис. 3). Для объективов Oj и обычно используются зеркала, не обладающие хроматич. аберрациями (в отличие от линзовых систем). Если в фокальной плоскости установлена одна выходная щель, схема С. п. представляет собой схему монохроматора, если неск. щелей,— полихроматора, если фоточувствит. слой или глаз,— спектрографа или спектроскопа. [c.612]

Рис. 3. Схема спектрального прибора с прос 1ранственньш разделением длин волн с помощью угловой дисперсии 1 — коллиматор с входной щелью Щ и объективом О1 с фокусным рас-сюннием 2 — диспергирующий элемент, обладающий угловой дисперсией Аф/ДА. 3 — фокусирующая система (камера) с объективом 0 создающим в фокальной плоскости Ф изобра-и еиия входной щели в ивлучении разных длин волн с линейной дисперсией Лх/АЯ.

Рис. 3. Схема <a href="/info/347695">спектрального прибора</a> с прос 1ранственньш разделением <a href="/info/12500">длин волн</a> с помощью <a href="/info/14428">угловой дисперсии</a> 1 — коллиматор с входной щелью Щ и объективом О1 с фокусным рас-сюннием 2 — <a href="/info/191987">диспергирующий элемент</a>, обладающий <a href="/info/14428">угловой дисперсией</a> Аф/ДА. 3 — <a href="/info/247112">фокусирующая система</a> (камера) с объективом 0 создающим в <a href="/info/12774">фокальной плоскости</a> Ф изобра-и еиия входной щели в ивлучении разных <a href="/info/12500">длин волн</a> с линейной дисперсией Лх/АЯ.

В этой группе приборов сканирование не применяется, дискретный ряд длин волн (в полихроматорах) или участки непрерывного спектра (в спектрогра х) регистрируются одновременно и оптич. часть строится обычно по схеме, приведённой на рис. 3. Если вместо системы, создающей угл. дисперсию, служит набор узкополосных светофильтров, то прибор относят к фотометрам. , [c.614]

Одним из наиб, эффективных лазерных устройств для генерации импульсов короче 100 фс является лазер на красителе со сталкивающимися импульсами [3 ]. В этой схеме применяется столкновение встречных СКИ в нелинейном быстрорелаксирующем поглотителе, к-рый обеспечивает взаимное сжатие импульсов за счёт совместного просветления поглотителя. Длительность импульсов, к-рые могут генерироваться в таком лазере, составляет 20—30 фс, при условии компенсации дисперсии групповой скорости (такая дисперсия определяется наличием в резонаторе зеркал, активной среды и насыщающегося поглотителя и приводит к уширению импульса) путём помещения в резонатор пары призм, к-рая при определённой их установке может давать отрицат. дисперсию. [c.280]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...