Спектральная плотно

Если а 1/7 , то выражения для спектральных плотно- [c.87]

Спектральная плотное гь энергетической яркости по частоте L f [c.178]

Спеклы 83, 250, 401—i jO Спектральная плотно.ib 88 [c.732]

Разложить в интеграл Фурье и найти спектральную плотно гь излучения для затухающего осциллятора, волновое поле которого определяется выражением [c.217]

Затем вычислялись нормированные спектральные плотно- [c.398]

Рассмотрим частный случай переноса в оптически плотной среде, когда длина свободного пробега излучения мала по сравнению с расстоянием, на котором температура существенно изменяется. В этих условиях локальная спектральная плотность энергетической яркости излучения обусловлена переносом энергии излучения от участков среды, расположенных вблизи рассматриваемой точки перепад температур на длине свободного пробега излучения мал. Излучение от удаленных участков с существенно более высокой температурой поступает в рассматриваемую точку значительно ослабленным. [c.293]

Если продукты коррозии представляют собой компактные, плотно прилегающие к металлу пленки, то фазовый (рентгенографический, электронографический) микроскопический, спектральный и др.) анализ производят непосредственно на образце. [c.130]

Вынужденные движения колебательной системы происходят одновременно на различных частотах действия мощных источников детерминированных возмущений и в окрестности собственных частот колебаний конструкции вследствие избирательных свойств резонансной системы при действии на входе плотного случайного спектра от большого числа источников возмущений примерно равной интенсивности [21]. При этом колебания, вызванные источниками девиации частоты, проявляются в спектре в виде острых пиков на основанных частотах и кратных гармоник, а колебания на собственных частотах характеризуются наличием широких и пологих максимумов спектральной плотности. [c.357]

Расчеты спектральной интенсивности падающего излучения, на основании которых построены приведенные регрессионные зависимости, были проведены применительно к составу продуктов сгорания природного газа при значении парциального давления СОз Рсо, = 0,0089 МПа. На рис. 5-17 показано, как изменяется величина 1х (0) в зависимости от парциального давления при заданной толщине слоя L == 5 м и треугольном профиле температуры с заданными величинами Гц = 1500 К и Тс == 1200 К- Видно, что для оптически плотного участка спектра (X = 4,273 мкм, = 2116 м ) интенсивность падающего излучения (0) практически не зависит от парциального давления СОа. Это связано с тем обстоятельством, что значение коэффициента поглощения является здесь столь высоким, что во всей рассматриваемой области значений поглощательная способность слоя близка к единице. При этом изменение р , естественно, не сказывается на значении спектральной степени черноты слоя, а следовательно, и на 4 (0). [c.203]

ТОЛЩИНЫ слоя для условий излучения факела на фронтовой экран по сравнению с оптической толщиной слоя для бокового экрана. В той области спектра, где спектральная степень черноты факела невелика (А, 1 мкм), снижение составляет примерно 12 % для камеры горения и 1 % для камеры охлаждения. В. спектральном интервале с оптически плотной средой (к гги 2,75 мкм) это снижение составляет 16 % для камеры горения и 8 % для камеры охлажде-ния. Что же касается характера спектрального распределения плотности потока падающего излучения, то он примерно одинаков как для бокового, так и для фронтового экрана. [c.223]

Сообщаются результаты теоретического исследования излучательной способности равновесной цезиевой плазмы в диапазоне температур 2000—6000 К для давления 10 , 10 , 1 ата и толщин газового слоя =1 10 100 см. Рассматривается излучение в спектральных линиях атома цезия и предлагаются интегральные аналитические формулы для расчета энергии линейчатого излучения в главной, резкой, диффузной сериях и в серии 5 )—пР для оптически плотного и тонкого слоев газа. Таблиц 3. Библиографий 14. Иллюстраций 2. [c.405]

Перспективными для стекол представляются статистические методы моделирования неоднородно уширенных спектральных линий РЗ-ионов, в которых конфигурация лигандов РЗ-ионов строится в виде случайных искажений некоторой исходной конфигурации. выбранной на основе модели неупорядоченной плотнейшей упаковки шаров [64, 65], или с использованием метода Монте-Карло [68—70]. Такие подходы позволяют пока моделировать только наиболее простые по структуре линии переходов ионов УЬ + и но потенциальные их возможности достаточно большие. [c.34]

Подробно исследуя N и О при температурах в несколько эв, Армстронг и др. [3] нашли, что не существует спектрального интервала, большего чем 1 эв, где было бы менее двух линий. Поскольку таким образом показано плотное расположение линий в спектре, понятие локальной средней непрозрачности имеет смысл для всего спектра. Отсутствие спектральных окон должно быть показано в каждом конкретном случае, поскольку возможно, что поток энергии будет связан с узким участком спектра. Это [c.396]

Кроме того, на шлифах некоторых металлов и сплавов можно образовать достаточно плотную и в то же время тонкую, почти не обладающую собственной структурой оксидную пленку и затем отделить ее. ( Негативные углеродные, кварцевые, титановые и другие металлические слепки получают конденсацией соответствующих веществ из паров непосредственно на исследуемой поверхности, а позитивные слепки—на предварительно изготовленном оттиске исходного рельефа объекта. Процесс ведут в вакууме. Образец (или оттиск) подвешивают над испарителем той или иной конструкции. Испарение углерода происходит у точки касания угольных (спектральных) электродов, один из которых остро отточен, при пропускании через них тока 30—80 а. Дл испарения металлов и кварца их осколки или кусочки стружки в несколько миллиграммов нагревают в конической спирал ( корзиночке ) из вольфрамовой проволоки диаметром 0,5 мм, накаливаемой током 15—30 а. Расстояние образца от испарителя подбирают опытным путем в пределах от [c.172]

Интерференционным методом проверяются тщательно отполированные поверхности с отклонениями от плоскостности не более 2 мк. Стеклянная пластина плотно прижимается к измерительной поверхности, и при малейших отклонениях от плоскостности наблюдается интерференционная картина (фиг. 27, а). В случае идеальной поверхности (фиг. 27, б) интерференционные полосы отсутствуют. При подсчете отклонений от плоскостности следует учитывать, что расстоянию между двумя интерференционными полосами соответствует изменение величины отклонения поверхности, равное половине длины световой волны, соответствующей цвету интерференционных полос, по которым ведется измерение. Длина волн спектральных линий различного цвета приведена в табл. 8. [c.650]

В достаточно плотном газе за счет межмолекулярного взаимодействия происходит полное или частичное снятие вырождения энергетических уровней молекул, а также сильное перемешивание состояний с различными М и /. В [3] отмечается, что дипольные моменты переходов между такими состояниями можно представить также в виде суммы линейных и круговых диполей. При отсутствии внешних полей постоянные дипольные моменты молекул равномерно распределены по всем ориентациям, дипольные же моменты отдельных переходов анизотропны. Следовательно, газ, даже в отсутствие внешнего поля, является поляризационно неоднородной средой, и результат взаимодействия излучения с газом а, следовательно, и форма контура спектральной линии будет зависеть от поляризации излучения. [c.103]

М и покажем, что сильно неустойчивое многообразие W (p) плотно в М для каждой периодической точки р потока р . Аналогично тому, как это имеет место для диффеоморфизмов, из этого факта следует топологическое перемешивание. Пусть dim M = 2m -1. Контактная форма 9 индуцирует инвариантную гладкую меру, соответствующую элементу объема в так что по теореме Пуанкаре о возвращении 4.1.19 NW(ip ) = M. Таким образом, топологическая транзитивность следует из связности и наличия спектрального разложения. Достаточно показать, что множество W (p) плотно в окрестности U точки р, потому что тогда классы эквивалентности, определенные пересечениями многообразий, открыты, так что на самом деле есть только один такой класс и W (p) плотно. [c.577]

Теперь, если х — точка с плотной -орбитой тл у NW(f)Г /1 ( х ), пусть Л — топологически транзитивная компонента, содержащая такую точ-ку у, как в теореме о спектральном разложении 18.3.1. Тогда Т" = 0(х) С С к(А). [c.590]

Энергетическое освечивавие (интеграл от энергетической силы света по времени в пределах рассматриваемого интервала времени) Спектральная плотное ь энергетической фотометрической величины (производная этой величины по длине волны или др. спектральной координате) [c.613]

Спектральная плотн Сть энергетической светимости черного тела спектральная плотность излучательности черного тела [c.306]

Солесодержание пара определяется несколькими сио-собамн (выпаркой плотного остатка, спектральным анализом, методом меченых атомов), но наиболее распространен метод определения электропроводности конденсата с применением различных солемеров. [c.34]

Образование тугоплавких частиц происходит в результате фазовых переходов газ — твёрдое тело в плотных областях с темп-рами 500—2000 К. Необходимые условия, по-видимому, существуют во внеш, частях атмосфер звёзд-гигантов и сверхгигантов (см. Светимости класса) поздних спектральных классов, оболочках новых н сверхновых звёзд, планетарных туманностях и в газово-пылевых сгущениях при возникновении протозвёзд. В атмосферах холодных звёзд сначала образуются очень тугоплавкие зародыши. Вместе с газом они перемещаются в более высокие и холодные слои, где проводят меньше времсин из-за ускорения движения. В этих слоях выпадает в твёрдую фазу лишь часть элементов с низкими темп-рами конденсации. [c.83]

В таких жёстких режимах ток лидерной (незавершённой) стадии может превышать ток последующего завершённого С. р., замыкающего разрядный промежуток, а излучение разряда на этой стадии содержит интенсивную УФ-компоненту (вплоть до мягкого рентгена). Это излучение создаёт свободные фотоэлектроны на расстояниях, значительно иревышаюш их критич. размеры первичных лавин. При импульсном напряжении 50— 200 кВ вдоль поверхности диэлектрика легко возникают плазменные поверхности протяжённостью до 200 см, яркостная темп-ра к-рых может достигать 6-10 К, Специфика С. р. определяется активным взаимодействием плазмы разряда с поверхностью диэлектрика, что отражается на спектральных характеристиках излучения плазмы. Канал С, р, ограничен в пространстве ди-электрич. подложкой, поэтому площадь его сечения меньше, а погонное электрич. сопротивление соответственно больше, чем у свободного искрового разряда. Малая индуктивность и относительно большое сопротивление завершённого С. р. обеспечивают высокую мощность энерговыделения в канале разряда, что приводит к образованию плотной высокотемпературной плазмы с большой площадью излучающей поверхности (Й М ). [c.544]

Можно весьма ориентировочно указать границы, в пределах которых могут находиться числовые параметры Ад, е, а, р и Б(0). Значения этих параметров главным образом зависят от характера грунтов сейсмического района, интенсивности землетрясения и других условий. Так, например, при одной и той же интенсивности землетрясения в плотных грунтах (типа скальных пород) наибольшее значение имеют высокочастотные составляющие спектра ускорения (низкочастотные составляющие имеют слабую интенсивность), а в слабых и водонасыщенных грунтах (типа плывунов) сушественную роль могут играть низкочастотные составляющие. График спектральной плотности в этом случае может иметь не один, а несколько максимумов (рис. 7.5). Поэтому, аипроксимируя корреляционную функцию зависимостью (1.38), мы не учтем усиления низкочастотных составляющих (график будет следовать штриховой линии на рис. 7.5). Эти особенности можно учесть, изменив вид аппроксимирующей функции. [c.239]

Развитие техники электронных ускорителей, формирующих плотные сгустки электронов, стимулировало дальнейшие теоретические и экспериментальные исследования по генерации микроволн с использованием черепковского и переходного излучений. Такие исследования, начиная с 1965 г., проводились Барсуковым, Лазиевым с сотрудниками [65.10, 71.11, 72.22—72.24, 73.22, 73.23, 76.10—76.13]. В частности, на пучке электронов линейного ускорителя с энергией около 50 МэВ Лазиевым, Оксузяном и Серовым 72.23] было подтверждено, что спектральная интенсивность микроволнового переходного излучения, образованного в стопке пластин, находящихся в волноводе, имеет максимумы при некоторых частотах (так называемое параметрическое черепковское излучение [57.1]). Экспериментально было найдено, что интенсивность в максимуме примерно на два порядка превышает интенсивность черепковского излучения на той же частоте. Результаты эксперимента хорошо согласуются с теорией [57.1, 65.10, 71.11, 72.22, 76.10]. [c.22]

К сожалению, математическая теория таких спектральных задач развита слабо. Известна, например, теория несамосопряженных, операторов Лежандра [131], в которой доказывается, что спектры этих операторов состоят из изолированных собственных значений конечной алгебраической кратности, не имеющих конечных предельных точек. Линейная оболочка множества собственных и присоединенных функций обобщенного оператора Лежандра плотна в Ь2 (—1, 1) [131]. Если в уравнении (24) в последнем члене положить Яп = сОп(1 —ю ) и считать этот множитель собственным значением, а все остальные Юп в (24), (26) — данными, то такое уравнение можно записать в виде 2 Тп = ЯпТп, где 2 — несамосопряженный обобщенный оператор Лежандра. Тогда все указанные свойства переносятся на полученное уравнение. [c.265]

Данные о температурной зависимости удельного электросопротивления исследованных корундовых образцов приведены в табл. 2 и на рис. 1. 2. Они указывают на температурную зависимость удельного электросопротивления от химического состава и структуры материала. На рис. 1 сопоставлены значения электросопротивления плотных полупрозрачных образцов корунда, изготовленных из спектрально-чистого глинозема и технического глинозема прессованием. Как и следовало ожидать, более высокое электросопротивление получено для образцов, изготовленных из спектрально-чистого глинозема. На рис. 2 сопоставляются техмпера-турные зависимости удельного электросопротивления непрозрачны.х и прозрачных образцов корунда, изготовленных из технического глинозема Г-00. Как видно из графика, образцы различные по структуре резко отличаются и величиной электросопротивления. Полупрозрачная корундовая керамика обладает повышенным электросопротивлением. [c.372]

Изучение сверхзвуковых потоков разреженных газов представляет интерес как для решения практических задач, связанных с полетами тел на больших высотах, так и для решения принципиальных вопросов аэродинамики разреженных газов. Экспериментальных работ в области сверхзвуковых течений разреженных газов опубликовано мало. Это объясняется в большой степени методическими трудностями. Большинство методов, успешно применяемых для исследования течений плотных газов, или не применимо в случае течений разреженных газов, или их применение требует сложных усовершенствований. Так обстоит дело с интерферометрическим методом, шлиренметодом, методами спектрального поглощения, а также методами поглощения рентгеновских и электронных пучков [1]. Их применимость ограничивается давлениями 1— 10 мм рт. ст. Поэтому метод визуализации, использующий свойства послесвечения, представляется наиболее перспективным для исследований течений разреженных газов. В основе метода лежит зависимость интенсивности послесвечения от термодинамического состояния газа. Применение метода ограничивается давлением, при котором уже невозможно организовать разряд, вызывающий длительное послесвечение. В зависимости от условий эксперимента, предельное давление может быть доведено до 8—6- 10 мм рт. ст. В статье [1] дается обзор работ, посвященных исследованию свойств послесвечения в азоте и воздухе и их применению в газодинамических исследованиях. Преимущество азота и воздуха по сравнению с другими газами состоит в том, что в них легко вызывается послесвечение большой длительности (1 —10 сек). Медленное затухание свечения позволяет работать на стационарных аэродинамических установках и получать картины обтекания тел регистрацией на фотопластинку. В таких газах, как Не, Аг, Ые, Нг и др., послесвечение длится в среднем 10 —10 сек. При таком быстром затухании приходится работать в области малых интенсивностей света, а это вызывает необходимость фотоэлектронной регистрации. Малая продолжительность послесвечения накладывает ограничение на скорость исследуемых процессов — они должны протекать за 10— 10 сек. Процесс сжатия газа в ударной волне отвечает этому требованию. Что касается более медленных процессов, то они будут регистрироваться с искажениями, вызванными наложением процесса высвечивания на исследуемый процесс. Возможность использования послесвечений небольшой длительности позволяет выбрать наиболее простой тип возбуждающего разряда. [c.138]

Обычно для выплавки кремния употребляют крупнокристаллический кварц (удельный вес 2,59—2,65, твердость 7) или кварциты — плотные породы, в которых зерна кварца сцементированы кремнеземистыми примесями, содержащие от 98 до 99,5% Si02. Содержание примесей, восстанавливающихся вместе с кремнеземом, колеблется в следующих пределах 0,3—0,4% РеаОз 0,25—0,45% АЬОз 0,1—0,5% СаО эти примеси легко определяются спектральным анализом (табл. 1). [c.7]

Смотреть страницы где упоминается термин Спектральная плотно : [c.525] [c.391] [c.287] [c.607] [c.450] [c.590] [c.394] [c.425] [c.203] [c.220] [c.262] [c.15] [c.202] [c.184] [c.257] [c.297] [c.65] [c.310] [c.365] [c.30] [c.88]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...