Анализаторы структуры количественные

Анализаторы структуры количественные 31 Антиферромагнитный резонанс 182 Атомная функция рассеяния 115 Атомный объем 288, 289 Аустенит остаточный 131 [c.348]

Количественные анализаторы структуры [3, 5] [c.31]

При использовании автоматических количественных анализаторов структуры необходимо иметь в виду, что они могут учитывать нежелательные детали изображения. Поэтому к анализируемым шлифам предъявляются высокие требования в отношении чистоты поверхности, отсутствия дефектов изготовления, четкости выявления структурных составляющих наряду со специфическим требованием плоско-параллельности, обеспечивающей постоянство фокусировки микроскопа. [c.32]

Для объективной автоматической количественной оценки структуры образца весьма перспективным является использование телевизионных анализаторов изображения [c.10]

Развитие электроники и средств автоматизации привело к созданию телевизионных анализаторов изображения, применение которых в металлографии позволяет значительно ускорить количественный анализ структуры металлов и сплавов. Однако использование телевизионных анализаторов до последнего времени ограничивалось исследованием количества и распределения структурных составляющих в металлах и сплавах [1]. [c.90]

На существующих автоматических анализаторах изображения -можно подсчитывать число и определять размеры зерен, оценивать протяженность их границ, а также осуществлять различные количественные исследования структуры, например проводить подсчет площади феррита и перлита, высокотемпературных включений, газовых раковин, числа дислокационных ямок травления и др. [c.283]

Если нужно лишь получить пики для простой идентификации химической Природы атомов, то экспериментальная система довольно проста. Если же требуется дополнительная информация, то необходимо усовершенствовать измерительную систему. Так, для получения количественных данных, т. е. возможности связать амплитуды ожэ-пика или его интегральной площади с количеством данного вещества, необходимы очень точная калибровка, а также тщательная и контролируемая работа анализатора. Для выяснения, получен ли сигнал от изолированного атома или от атома, входящего в состав сложной молекулы, требуется высокая разрешающая способность. Хорошо разрешенные пики могут быть проанализированы для получения сведений о структуре молекул на изучаемой поверхности. Сведения такого рода представляют большую ценность при изучении поверхностей и взаимодействия с ними адсорбированных частиц. Краткое описание возможностей метода свидетельствует о его очевидной перспективности для исследования поверхностей трения. Особенно существенна в ряде новых методов и в том числе в методе ЭОС возможность исследования поверхностей без разрушения образца. [c.85]

Металлографическое изучение деформации биметаллов целесообразно проводить с использованием комплексной методики экспериментирования, основанной на применении автоматических телевизионных анализаторов изображения. Это позволяет осуществлять количественную оценку накопления пластической деформации по числу полос скольжения в анализируемых участках материала, измерять длину трещин и площадь пластической деформации в их вершинах. Наряду с анализом деформационной структуры методика предусматривает проведение микрорентгеноспектраль-ного анализа и фрактографическое изучение изломов с помощью растровой электронной микроскопии. Ниже приведены примеры исследования процесса накопления пластической деформации в переходных зонах образцов биметалла Ст. 3+Х18Н10Т, подвергнутых циклическому нагружению на установке ИМАШ-10-68. Подсчет числа полос скольжения производится с помощью телевизионного анализатора изображения на площади, заключенной в рамку сканирования (рис. 1). Образец, размещенный на предметном столике автоматического количественного микроскопа РМС , перемещался по заданной программе вдоль выбранной базы измерения, ширина которой была равна высоте, а длина соответствовала ширине рамки сканирования, умноженной на число перемещений столика. [c.90]

В лаборатории высокотемпературной металлографии Института машиноведения впервые были сделаны попытки применить анализаторы изображения для изучения деформационной структуры образцов металлических материалов после их испытания в установках для тепловой микроскопии. Разработанные при этом методики позволяют производить количественный анализ накопления усталостных повреждений (подсчет числа линий скольжения и их площади), изучение процессов зарождения и развития усталостной трещины (измерение длины трещины и площади пластической зоны в ее вершине), измерение величины диагонали и расстояния между отпечатками ми кротвердости [76]. [c.284]

Кроме описанного прибора, предназначенного главным образом для исследования металлов и сплавов, под руководством автора Л. И. Скоробогатом разработан количественный телевизионный анализатор, позволяющий проводить оценку распределения фазового состава, удельной межфазной поверхности и линейных размеров частиц керамических материалов. Основное отличие этого анализатора заключается в применении специального устройства (дискриминатора), обеспечивающего отсутствие неравномерности фона и видеосигнала и полностью ликвидирующего так называемый краевой эффект при количественном анализе структуры. [c.291]

Применение современных цифровых технологий позволяет су-ш ественно снизить трудоемкость металлографических исследований и повысить объективность количественных оценок. Регистрация изображения структуры в металлографических микроскопах при этом осушествляется с помощью цифровых фото- или видеокамер. Далее изображение вводится в компьютер, где обрабатывается с помощью специальной программы-анализатора. Существует ряД версий таких программ, как отечественных, так и зарубежных. В инженерном центре Архангельского государственного технического университета применяется отечественная программа-анализатор Grain Analyzer PRO 2.9, разработанная НИИИН МНПО Спектр . Программа позволяет решать основные стандартные металлографические задачи и, выполняя фазовый, морфологический и гранулометрический анализы структуры, получать соответствующие объективные количественные оценки с минимальными трудозатратами. [c.191]

Описанная выше методика позволяет выполнить не только качественный анализ состояния поляризации, но и количественно характеризовать поляризационную структуру исследуемого излучения. Вследствие того, что эллиптически поляризованный свет является наиболее общим случаем упорядоченного состояния поляризации, при количественном анализе пoлнo тьюi поляризованного излучения необходимо определить отношение полуосей эллипса поляризации и ориентацию его большой оси. Для этой цели необходимо определить азимуты (ориентацию) пластинки Я/4 и анализатора. На этом принципе основаны методы анализа состояния поляризации с помощью азимутальных компенсаторов. Эти методы будут подробно рассмотрены ниже. [c.289]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...