Источники методических погрешностей

Источники методических погрешностей ИПТ [c.55]

Формулировке задачи теплообмена предшествует качественный анализ, имеющий целью а) выяснение исходного теплового состояния исследуемого объекта б) разработку тепловой модели ИПТ в соответствии с предполагаемыми условиями его размещения в объекте в) выявление тепловых воздействий (режимных факторов), определяющих возникновение методической погрешности, т.е. определение источников методических погрешностей. [c.56]

Источники методических погрешностей 55 [c.492]

Другой источник методической погрешности возникает при использовании вторичных величин и процессов. Например (см. разд. 1.4.3), погрешность измерений высоты барометром абсолютного давления, обусловленная изменениями температуры и влажности атмосферы по сравнению с теми их значениями, при которых барометр градуирован в единицах высоты, не зависит от свойств барометра (высотомера). Следовательно, она относится к методическим погрешностям. Аналогично, к методическим относится и погрешность измерения температуры с помощью оптического пирометра (см. там же), обусловленная отличием длины волны излучения объекта измерения от того значения, при котором пирометр градуирован в единицах температуры. Подобные отличия нередки и зависят от свойств тела, излучающего тепловой поток — вторичный процесс измеряемой величины. [c.64]

Таким образом, данный источник методической погрешности может появиться в тех случаях, когда для измерений (отнесенных нами к прямым — см. разд. 1.4.3) какой-либо величины применяется средство измерений, градуированное в единицах измеряемой величины, но непосредственно реагирующее на другую (вторичную) величину, функционально связанную с измеряемой. При этом могут влиять возможные изменения параметров функциональной зависимости между измеряемой и вторичной величинами относительно тех значений этих параметров, для которых справедлива градуировка средства измерений в единицах измеряемой величины. Соответствующая погрешность измерений не зависит от свойств применяемого средства измерений. Она зависит от свойств объекта измерений и функциональной связи между величиной, принятой в качестве измеряемой, и вторичной величиной. Назовем эту погрешность погрешностью от использования вторичной величины. [c.64]

Выше рассмотрены источники методических погрешностей пря- [c.65]

Ниже рассматриваются возможные источники методических погрешностей при различных условиях измерения температуры, а также мероприятия, реализация которых позволяет свести эти погрешности к минимуму. Следует отметить, что задача определения методических погрешностей измерения стационарных температур за счет теплообмена излучением и теплопроводности должна решаться путем совместного учета обоих факторов. Однако с целью упрощения и наглядности ниже рассматриваются отдельно погрешности измерения, происходящие вследствие теплообмена излучением, и погрешности, обусловленные теплопроводностью, [c.234]

Теоретической основой стационарных методов определения теплопроводности, изложенных в Практикуме, являются решения одномерных задач теплопроводности без внутренних источников теплоты для пластины, цилиндра и шара (см. п. 1.3.2). В экспериментах измеряют тепловой поток, температуры на поверхностях образца, размеры (толщину, внутренний и внешний диаметры). Далее по формулам п. 1.3.2 вычисляют теплопроводность. Для исключения методических погрешностей необходимо позаботиться, чтобы в эксперименте были реализованы условия, при которых получены соответствующие теоретические решения. [c.125]

В отличие от случайной погрешности, выявленной в целом вне зависимости от ее источников, систематическая погрешность рассматривается по составляющим в зависимости от источников ее возникновения. Различают субъективную, методическую и инструментальную составляющие погрешности. [c.124]

При совокупных и совместных измерениях функциональная зависимость измеряемых величин от аргументов, подвергаемых прямым измерениям, выражается системой неявных уравнений. Более подробно на совокупных и совместных измерениях мы не останавливаемся, так как они многократно описаны в литературе (например, в [9]). Нас интересует лишь тог факт, что при совокупных и совместных измерениях могут возникать методические погрешности, обусловленные алгоритмами решения уравнений. Следовательно, они соответствуют тому признаку, который позволяет четко отделить прямые измерения от косвенных и выделить определенный источник погрешностей измерений прн анализе и синтезе МВИ. [c.53]

Таким образом, выявление основных источников методических и инструментальных погрешностей технических измерений (по отдельности) имеет существенное практическое значение для научно обоснованной разработки МВИ. Перейдем к рассмотрению методических погрешностей. [c.63]

Погрешность МВИ состоит из ряда составляющих. В данном случае мы имеем в виду не модель (2.12), характеризующую свойства погрешности. В разд. 2.1.1 анализируются основные источники погрешности МВИ и выделяются ее соответствующие составляющие. Они разделены на три группы 1) методические погрешности прямых измерений 2) методические погрешности косвенных измерений 3) инструментальные погрешности. Поскольку косвенные измерения включают в себя прямые измерения, фактически инструментальные погрешности относятся к группе прямых измерений. Иначе говоря, прямые измерения сопровождаются методическими и инструментальными погрешностями, а косвенные измерения — погрешностями прямых измерений (включая и методические, и инструментальные погрешности прямых измерений), осуществляемых в рамках косвенных измерений, и методическими погрешностями косвенных измерений (это в основном погрешность косвенных измерений может содержать и инструментальную составляющую, обусловленную взаимной корреляцией между погрешностями прямых измерений). В разд. 2.1.1 показано, что основными составляющими погрешностей измерений (погрешностей МВИ) являются следующие частные погрешности. [c.182]

Глава седьмая посвящена анализу источников тепловых погрешностей, возникающих при калориметрических измерениях. В методическом отношении изучение составляющих погрешностей, в особенности при измерении количества теплоты, представляет общую задачу для всех прецизионных калориметрических исследований. Основные источники погрешностей измерения количества теплоты имеют тепловое происхождение. Рассмотрение способов их количественной оценки возможно на основе теоретических исследований, изложенных в предыдущих главах. [c.5]

Анализ источников погрешностей [17, 22, 24, 42, 50, 55, 56, 59, 68, 71, 76, 78] показывает, что основные погрешности имеют тепловую природу. Быстродействие современных регистрирующих приборов, особенно электронных, исчисляется долями секунд, а процесс теплообмена между ТП и средой может занимать значительно большее время. Количественный анализ методических погрешностей в конечном итоге заключается в обосновании и выборе математической модели, определяющей процесс теплового взаимодействия объекта исследования с ТП. [c.113]

При определении теплофизических свойств (ТФС) материалов и изделий измерение температур в стационарных и нестационарных процессах пагрева или охлаждения объектов производится контактными термопарами [59]. Методические погрешности свойственны в той или иной степени всем контактным методам измерений, независимо от принципа действия выбранных приборов. Суммарное воздействие различных источников и ошибок приводит к тому, что измерительный комплекс регистрирует пе температуру материала tд, а некоторую отличную от нее температуру э- Одна из основных задач нри контактном измерении температуры заключается в определении действительной температуры по измеренной температуре э, т.е. состоит в оценке суммарной погрешности измерения. [c.116]

Для решения основной задачи необходимо из допустимых погрешностей расчета абсолютных значений характеристик поля излучения за защитой определить допустимые погрешности расчетных параметров защиты. К таким параметрам относятся кратности ослабления функционалов поля излучения защитой или их значения в защите для источника излучения единичной мощности. В качестве основной характеристики защиты выберем кратность ослабления дозы или любого другого функционала с аналогичными особенностями формирования пространственных распределений. Анализ максимальных мощностей известных источников нейтронного и у-излучения позволяет установить соотношение между значением дозы (и допустимой погрешностью ее определения) и максимальной кратностью ослабления дозы защитой, за которой такая доза может реализоваться на практике. Установленное соответствие позволяет выявить зависимость допустимой погрешности оценки дозовых нагрузок за защитой от кратности ослабления дозы нейтронного или первичного у-излучения (рис. 1). Полученная зависимость характеризует допустимые значения полной погрешности расчета, которую определяют неопределенности задания источника излучения, геометрии установки, функции отклика детектора, а также методическая и константная составляющие погрешности расчета. [c.287]

Ответственным этапом является оценивание погрешности измерений путем анализа возможных источников и составляющих погрешности измерений методических составляющих (например, погрешности, возникающие при отборе и приготовлении проб), инструментальных составляющих (допустим, погрешности, вызываемые ограниченной разрешающей способностью СИ) погрешности, вносимые оператором (субъективные погрешности). [c.158]

Основной источник погрешности измерения действительной температуры тела пирометрами излучения — большая погрешность в оценке коэффициента излучения и его изменение в процессе измерения (данная погрешность классифицируется как методическая). Эта погрешность наибольшая у пирометров полного излучения и наименьшая у пирометров спектрального отношения. В [18] приведены формулы для оценки значений этих погрешностей. Поскольку оперативное измерение коэффициента излучения практически невозможно, часто при использовании пирометров искусственно создаются условия, приближающиеся к условиям измерения температуры абсолютно черного тела. [c.340]

Чем больше сопротивление вольтметра по сравнению с внешним сопротивлением цепи, тем меньше погрешность. Но условие R < R - достаточное, но не необходимое условие малости 5. Погрешность мала также и в том случае, когда выполняется условие г < т- е, сопротивление вольтметра много больше внутреннего сопротивления источника тока. При этом внешнее сопротивление может быть как угодно велико. Погрешность систематическая методическая. [c.44]

Выше определены цель и признаки, по которым выделены методические и инструментальные погрешности. Здесь мы рассмотрим основные особенности и наиболее характерные источники этих двух групп погрешностей [3]. [c.62]

Задача о том, какими составляющими погрешности можно пренебрегать по сравнению с ее другими составляющими, постоянно встречается в метрологической практике. Наиболее типичная метрологическая задача — это расчет или экспериментальное оценивание погрешности (средств измерений, измерений, измерительных систем, МВИ и т. п.). Очень часто, по разным причинам, эта задача решается путем предварительного расчета или экспериментального оценивания различных составляющих (инструментальных, методических систематических, случайных имеющих различное происхождение, источники вызванных различными факторами и т. п.) погрешности и последующего их объединения. При этом всегда нужно учитывать, что практически невозможно ни рассчитать, ни экспериментально оценить, особенно при технических измерениях, погрешность с очень высокой степенью точности. Да это практически и не требуется. Поэтому всегда возникает естественный вопрос — все ли составляющие погрешности необходимо учитывать Нельзя ли пренебречь теми из них, влияние которых на суммарную погрешность настолько мало, что в пределах погрешности определения погрешности это не будет заметно [c.136]

Калориметрическая система предназначена для косвенных измерений тепловых величин, каждая из которых выражается через физическую величину — количество теплоты. Поэтому в методическом плане изучения составляющих погрешностей измерения количества теплоты с помощью калориметров с развитыми для них модельными представлениями являются общей для всех калориметрических исследований задачей. Основные источники погрешностей измерения количества теплоты имеют тепловое происхождение, и отсутствие теоретического обоснования для их учета может привести к различиям в оценках погрешностей измерений. [c.89]

На основе анализа источников погрешности (инструментальные, методические и другие) формируются необходимые для ее расчета исходные данные, включающие метрологические характеристики СИ, алгоритмы обработки результатов измерений, характеристики влияющих величин и объекта измерений. [c.70]

Методическими называют пофешностн, обусловленные особенностями методов и алгоритмов управления, реализуемых СУ БР. Основными источниками методических погрешностей являются допускаемые на этапе разработки алгоритмов управлення упрощения математических моделей полета БР и ГЧ и моделс внешних возмушающих воздействии, [c.152]

Систематической называется погрешность, которая при повторных экспериментах остается постоянной или изменяется дг кономерным образом. В зависимости от источника возникновеь различают следующие разновидности систематических погрешностей методические, инструментальные и субъективные. Методические погрешности обусловлены приближенностью математического описания исследуемого явления и возможной приближенностью методов их решения неточностью соотношений, описывающих физические законы и явления, на которых основан принцип измерения возможным несоответствием условий проведения измерений тем условиям, для которых эти соотношения получены, и т. д. Методические погрешности не зависят от точности применяемых при проведении физического и аналогового эксперимента средств измерения. [c.36]

Дополнительным источнико.м методических погрешностей является нагрев находящегося внутри тела ИПТ измерительным током. [c.389]

Итак, каждая из трех рассмотренных гипотез является источником существенных методических погрешностей радиоуглеродного метода датировки. Несмотря на то, что для измерения радиоактивности образцов Либби сконструировал точные приборы, ошибка в датировке может превышать 1200 лет. Вот что значит большая методическая погрешность Если четко не знаете, что и как измерять, то чем измерять — безразлично. [c.132]

Погрешности измерений, обусловленные свойствами цифровых вычислений , имеют другие источники чем в АИП. Свойства элементов, схемы и конструкции цифровых ВУ могут вызывать сбои , то есть грубые промахи, которые должны исключаться из данных, вырабатываемых цифровым ВУ. Погрешности измерений, связанные с применением цифровых ВУ, могут быть обусловлены только-алгоритмами вычислений и количеством разрядов применяемого кода, то есть относятся к методическим погрешностям (см. главу 2). Это исключает необходимость такой метрологической операции, как поверка цифровых ВУ, но зато вызывает необходимость введения новой для метрологии операции — аттестации алгоритмов (или программ) вычислений, осушествляемых цифровыми ВУ, применяемыми в ИС. [c.58]

В этой МВИ осуществляются аналоговые преобразования (ИП], ИПг, ИПз, ИП5) совместное аналоговое преобразование двух величин в одну (ИП4) аналого-цифровое преобразование (АЦП и АЦПг) вычислительные операции (ВУ, и ВУ2). Все компоненты, кроме ВУ, и ВУг, имеют источники инструментальных погрешностей измерений и поэтому должны подвергаться метрологическому обслуживанию и метрологическому надзору точно таким же, как средства измерений (каковыми они и являются). Цифровые вычислительные устройства ВУ, и ВУг могут служить источниками только методических погрешностей измерений, не зависящих от свойств самих ВУ, а зависящих от используемых алгоритмов (программ) вычислений и числа разрядов используемых кодов. Поэтому цифровые ВУ не подвергаются такому же метрологическому обслуживанию и метрологическому надзору, как средства измерений. Для обеспечения возмож.-ности определения погрешности МВИ на рис. 1.1, обусловленной применением цифровых ВУ, достаточно аттестовать используемые алгоритмы (программы) вычислений и учесть количество разрядов кодов. [c.59]

Итак, одна из целей классификации погрешностей технических измерений — это возможность при разработке МВИ устанавливать целесообразное в каждом практическом случае соотношение между составляющими погрешности измерений, обусловленными применяемой методикой измерений и обусловленными применяемыми средствами измерений. Отсюда ясно вытекает признак данной классификации источник составляющих погрешности измерений — методика или средства измерений. В соответствии с этим признаком выделяются две основные классификационные группы погрешностей методические и инструментальные (иногда их называют аппаратурными). Третья — личная погрешность — погрешность отсчи-тывания оператором показаний по шкалам измерительных приборов. [c.60]

Любая методическая и личная частные погрешности МВИ обычно действительно являются случайными величинами. Это связано с тем, что в отдельных реализациях МВИ каждая из них может принять любое, заранее неизвестное значение в пределах наибольшего возможного интервала, определенного путем анализа соответствующего источника частной погрешности. Для перевода от интервальной (полученной в результате анализа источника частной погрешности) характеристики, соответствующей вероятности, принимаемой равной единице, к точечным вероятностным характеристикам приходится вводить некоторые предположения о виде закона распределения вероятностей данной частной погрещности как случайной величины. Эти предположения, конечно, должны основываться на анализе конкретной методики измерений, обусловливающей данную методическую или личную частную погрешность. При отсутствии какой-либо информации о возможной тенденции группирования реализаций случайной пог-грешности обычно принимают, что закон распределения ее — равномерный в пределах наибольшего возможного интервала. Такое цредположение признается приемлемым по двум причинам. Во-перзых, для большинства источников методических и личной частных погрешностей действительно не существует какого-либо предпочтительного значения их реализаций или предпочтитель-,ного группирования их вокруг какого-либо конкретного значения. Во-вторых, в известном смысле, равномерный закон раснределе-нпя представляет худший случай, так как при заданных границах распределения равномерному закону соответствует наибольшая дисперсия. Значит, при этом определяется как бы некоторая оценка сверху дисперсии частной погрешности. [c.185]

Всякое И. неизбежно связано с его погрешностями. В зависимости от источников погрешностей И. различают методические погрешности, порождённые несовершенством метода И., и инструментальные погрешности, обусловленные несовершенством техн. средств, используемых при И. По хар-ру проявления различают систематические погрешности, изменяющиеся закономерно или остающиеся постоянными при И.,и случайные погрешности, изменяющиеся случайным образом (вследствие внутр. шумов элементов, из к-рых состоят измерит, приборы, неконтролируемых случайных колебаний темп-ры окружающей среды и др. влияющих величин). При высокоточных И. систематич. погрешности исключают введением поправок. Случайные погрешности оценивают по данным многократных наблюдений методами матем. статистики. Особую проблему составляет определение погрешностей И., обусловленных инерционностью применяемых средств И., при И. изменяющихся во времени величин. В микромире предел достижимой точности измерений обусловлен неопределенностей соотношением. [c.208]

Из-за высокой сложности и специфичности средств ПРВТ само многообразие источников погрешностей и характерный подход по снижению каждой из существенных составляющих инструментальных погрешностей стали методическим признаком этого направления неразрушающего контроля. [c.449]

Можно ли считать подобные измерения косвенными Фop iaль-но по [7] как будто можно. Иногда в литературе можно встретить отнесение подобных методов к косвенным методам измерении. Но возникает вопрос с какой целью подобные измерения, наравне с измерениями, где результат определяется путем расчета, могли бы быть отнесены к косвенным В подобных измерениях не возникают какие-либо источники погрешностей, которые было бы целесообразно объединить в одну группу с погрешностями, вызванны.ми расчетом результатов измерений по результатам измерений других величин, связанных с измеряемой величиной функциональной зависимостью. Погрешности, обусловленные изменениями параметров функциональной зависимости между измеряемой и вторичными величинами, внешне кажутся подобными погрешностям, обусловленным неинформативными параметрами входных процессов (сигналов) средств измерений [35, 36]. Но в отличие от последних они относятся к методическим, а не к инструментальным погрешностям, так как не зависят от свойств самих средств измерений — см. разд. [c.49]

Этими восемью общими группами погрешностей — пять методических и три инструментальных, — по-видимому, исчерпыв ются основные составляющие погрешностей измерений. Конечно, в простых МВИ отдельные из этих составляющих могут отсутствовать. В других, более сложных МВИ, могут появиться какие-либо дополнительные источники погрешностей измерений. При анализе МВИ основное внимание должно уделяться выявлению источников погрешностей измерений. [c.68]

Несмотря на такое многообразие источников ошибок, практически во всех коммерческих системах промышленной вычислительной томографии точность воспроизведения томограмм доведена до уровня методических ограничений за счет оттгимизации конструкции, тщательного изучения систематических составляющих погрешностей измерения и их коррекции как на аппаратном, так и программном уровнях. [c.363]

Дополнительная информация о структуре исследуемого вещества может быть получена в сиектроскопич. исследованиях при изменении внешних условий темп-ры, давления, напряжённостей электрич. и магнитных полей, освещённости, интенсивности проникающих излучений п т. п. В таких исследованиях, как правило, измеряются не абсолютные значения измеряемых параметров, а их приращения, величина к-рых в ряде случаев может быть весьма небольшой. Именно поэтому требования к точности и разрешающей способности аппаратуры для сиектроскопич. исследований оказываются достаточно высокими. Напр., разрешающая способность аппаратуры для измерения приращения скорости в биологич. средах должна быть не хуже 10 — 10 при точности абсолютных измерений скорости УЗ не хуже 10 — 10 . Точность измерений абсолютного значения коэфф. затухания УЗ должна быть не менее 2—5% при точности относительных измерений 0,2—0,5%. Реализация такой высокой точности измерительной аппаратуры в широком диапазоне частот требует учёта и тщательного анализа возможных источников погрешностей, как инструментальных, так и методических. Снижение инструментальных погрешностей достигается совершенствованием электронной аппаратуры и механич. узлов приборов, тогда как снижение методич. погрешносте требует тщательного согласования импедансов пьезоэлектрич. преобразователей измерительной камеры с входным и выходным импедансами электронной схемы. Особое внимание должно быть уделено учёту систематич. погрешностей, возникновение к-рых обусловлено дифракционным и волноводными эффектами в измерительной камере. [c.331]

В дальнейшем Б. В. Войтюк [23] повторно измерил плотность жидкого этилена в том же диапазоне параметров, применив ту же экспериментальную методику. Снижение погрешности измерения плотности до 0,15 % он объясняет более высокой чистотой исследуемого этилена, содержащего лишь 0,01 % этана. Наши расчеты показали, что наличие в этилене 0,25—0,3 % примесей близких по природе углеводородов не может привести к погрешности, указанной в [1]. Очевидно, источники погрешностей следовало искать в методических элементах работы, что и обусловило попытку Б. В. Войтюка более тщательно учесть поправки на теплообмен в весовой части установки. К сожалению, в 123] также приведены сглаженные значения плотности, что затрудняет оценку разброса данных. [c.15]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...