Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Основные оптические материалы

МАТЕРИАЛЫ Основные оптические материалы  [c.720]

Следующая основная погрешность оптических систем — хроматическая аберрация, природа которой непосредственно связана с зависимостью показателя преломления оптических материалов (стекло, кварц) от длины волны, т. е. с дисперсией вещества. Вследствие дисперсии фокусное расстояние зависит от длины волны, что и приводит к невозможности получить точечный фокус для немонохроматического излучения.  [c.331]


Контроль ко.эффициента преломления оптических элементов, выявление неоднородности стекла, включений типа пузырей и свилей являются важными. этапами контроля качества оптических изделий. С конца прошлого столетия основным оптическим инструментом, применяющимся для количественных измерений прозрачных неоднородных материалов, был интерферометр Маха-Цендера, на основе которого разработаны теневые и интерференционные методы контроля. Ограничением ЭТИХ методов являются аберрации оптических систем самого интерферометра. Методы голографической интерферометрии позволяют компенсировать аберрации и тем самым существенно улучшать качество проводимых измерений.  [c.105]

Одной из основных характеристик материалов, определяющих их жаропрочность, является стабильность их структуры и свойств при высоких температурах. Для определения характера идущих при высоких температурах структурных превращений используются методы металлографического исследования с помощью оптического и электронного микроскопов, фазового и рентгеноструктурного анализа, а также вакуумной металлографии. Задачей этого комплекса исследований является установление механизма структурных превращений и характера образующихся фаз, кинетики их развития, а также температурного интервала, в котором идут эти процессы. С этой целью образцы подвергаются выдержкам не только при рабочей, но и при других температурах, причем, как и при испытаниях на длительную прочность, максимальная длительность старения образцов должна быть не менее чем на порядок меньше ресурса работы изделия. При более высоких температурах, чем рабочая, максимальная длительность выдержки может быть соответственно уменьшена. Так, для оценки процессов старения сварных соединений, предназначенных для работы в течение 10 ч при 600° С максимальная выдержка образцов при этой температуре не должна быть менее 10 ч при 650° С не менее 3-10 ч, а при 700° С не менее 500 ч. Соответственно должны меняться и промежуточные выдержки. Для рассматриваемого случая желательно их принимать следующими при 600° С —  [c.119]

Эта статья под названием Обзор и анализ оптических регистрирующих сред дает описание наиболее известных классов оптических регистрирующих сред и содержит анализ потенциальных возможностей материалов для специальных применений. Свойства одиннадцати классов регистрирующих сред сведены в таблицы. Наш параграф построен в основном на материале этой статьи.  [c.299]


Переходим к критериям отбора нелинейных оптических материалов, используемых в качестве рабочих тел устройств генерации второй гармоники, суммовых и разностных частот, а также плавного параметрического преобразования частоты излучения накачки. При прочих равных условиях основным требованием к кристаллу (текстуре) является наличие в нем направлений, по которым имеет место равенство скоростей распространения взаимодействующих излучений, так называемых направлений синхронизма. При отсутствии в среде направления синхронизма (вследствие не-  [c.238]

Генерация гармоник, суммовых и разностных частот лазерного излучения. В течение последнего десятилетия развитие лазерной техники вышло на своеобразное плато насыщения — произошел отбор активных материалов, обладающих оптимальными характеристиками, устоялись конструктивные варианты основных узлов и компоновки лазерных систем в зависимости от их назначения. Это сопровождалось аналогичными процессами селекции нелинейных оптических материалов и изготавливаемых из них компонентов лазеров.  [c.241]

Отклонения величины основного показателя преломления п , средней дисперсии Пр — и других констант оптических материалов деталей от расчетных (табличных) значений, а также такие дефекты, как оптическая неоднородность, двойное лучепреломление, свили и т. д. (см.  [c.402]

Принадлежности и материалы для чистки оптических деталей. Основными промывочными материалами, применяемыми для чистки оптических деталей, являются спирт-ректификат, бензин авиационный, эфир этиловый (наркозный), которые должны храниться в чистых стеклянных банках или пузырьках с широким горлышком и притертой стеклянной пробкой.  [c.425]

Издания данной серии охватывают разные проблемы быстро развившейся области оптической техники. Разработки, приведшие к бурному развитию этого направления, включают вопросы, посвященные лазерам и их многочисленным техническим и промышленным применениям, новым оптическим материалам, градиентной оптике, электро- и акустооптике, волоконной оптике и связи, оптическим вычислениям и распознаванию образов, считыванию, записи и хранению оптической информации, биомедицинской измерительной технике, промышленным роботам, интегральной оптике, системам инфракрасного и ультрафиолетового диапазонов и т. д. Поскольку оптическая промышленность в настоящее время является одной из основных развивающихся отраслей, то этот список, несомненно, станет еще более обширным.  [c.7]

Основные оптические свойства магнитооптических гранатовых пленок описываются эффектом Фарадея и поглощением в материале [6, 12, 15—18].  [c.26]

Как это уже имело место для систем обработки речи и технического зрения, ПЕЯ имеет свою историю развития в области исследования интерфейсных устройств для сопряжения человека с машиной. Здесь задача состояла в создании машины, понимающей фразы или предложения на английском языке, вводимых в нее с помощью каких-либо периферийных устройств (обычно клавиатуры). На ранних этапах развития этого направления основной целью (помимо перевода языка) являлось создание систем, позволяющих обращаться с запросами к большим базам данных. Сама структура запроса и его интерпретация имели очень большое значение, и пользователю следовало быть очень внимательным, следя за точным переводом запроса на язык базы данных. Для приведенного ранее в данной главе примера запрос по обнаружению в базе данных сведений, посвященных нелинейным оптическим материалам для двумерных пространственных модуляторов света, мог бы, в случае ввода сигнала на естественном языке, иметь следующую структуру  [c.314]

Составление и обоснование технического задания на проектирование микроскопа. В техническом задании приводятся материалы и практические соображения, необходимые для проектирования, назначения прибора кратко описываются основные физические принципы, на основании которых функционируют микроскопы указываются требования к основным оптическим узлам и системе микроскопа в целом как в отношении оптических характеристик, так и габаритов приводятся комплекты микрообъективов, окуляров, оптических принадлежностей и устройств, с помощью которых достигаются те или иные методы освещения, типы применяемых источников и приемников световой энергии. (ФЭУ, ЭОПа, фотопластинок и др.). Особое внимание уделяется взаимозаменяемости и максимальной унификации узлов, их экономичности, надежности в эксплуатации и патентоспособности.  [c.368]


Практическая значимость таких достаточно сложных решений умаляется тем, что в настоящее время полностью отсутствуют экспериментальные данные по важнейшим оптическим свойствам пористых материалов. Поэтому вполне оправданы попытки упростить решение уравнения переноса излучения, для того чтобы выявить в аналитическом виде наиболее существенные характеристики сложного теплообмена в проницаемых матрицах. Кроме того, в ряде практических ситуаций такие упрощения вполне справедливы. Например, в низкотемпературных гелиоприемниках, где основная часть поглощаемой матрицей энергии излучения отдается за счет конвективного теплообмена потоку газа, собственным ее излучением можно пренебречь.  [c.61]

Изучение состояния поляризации можно провести как в отраженном, так и в проходящем свете. В случае металлов преломленная волна практически поглощается в очень тонком поверхностном слое. Поэтому в данном случае целесообразно использовать измерения в отраженном свете. Наоборот, при слабом отражении от диэлектриков основным методом исследования является эллипсометрия в проходящем свете. В тех случаях, когда возможны соответствующие измерения в отраженном и проходящем свете, эллипсометрия в отраженном свете удачно дополняет эллипсометрию в преломленном свете, и наоборот. Следует отметить, что эллипсометрия позволяет не только определять оптические константы чистых поверхностей материалов, она позволяет также, исходя из непосредственно измеряемых параметров эллипса поляризации, определить характеристики тонких поверхностных пленок, возникающих вследствие адсорбции и т. д., например толщину (вплоть до долей ангстрема) и показатель преломления (с точностью до 10" ) поверХНОСТНОГО слоя.  [c.64]

Твердые диэлектрики для оптических квантовых генераторов (лазеров) являются активной средой, представляющей собой кристаллическую или стеклообразную матрицу, в которой равномерно распределены активные ионы (активаторы). Все процессы поглощения и излучения света связаны с переходами электронов между уровнями активного иона, при этом матрица играет пассивную роль. Спектр излучения лазера в основном зависит от типа активного иона. Как вещество кристаллической или стеклообразной основы, так и активаторы должны удовлетворять целому ряду специфических требований. Свойства некоторых лазерных материалов приведены в в табл. 6.7,  [c.247]

Для защиты от окисления испытываемого образца и нагревателя исследования материалов на приборе проводятся в вакууме 1,3 10- Па и инертной среде с избыточным давлением (1,96—2,94) 10 Па, создаваемым в "рабочей камере /, которая для удобства в работе выполнена разборной и состоит из основания 2, корпуса 3 и крышки 4. На основании монтируются основные узлы прибора, и через патрубок в нем камера связана с вакуумной системой. В крышке камеры предусмотрено смотровое окно с кварцевым стеклом, через которое ведется наблюдение за структурой образца и измерение его температуры оптическим пирометром. Здесь же крепится шторка для защиты стекла от выпадения конденсата. Корпус, крышка, основание интенсивно охлаждаются проточной водой, подаваемой в специальные карманы, приваренные в местах нагрева. Рабочая камера установлена на амортизирующей подушке, что уменьшает влияние вибрации и толчков.  [c.65]

Ниже приведены сведения, цель которых — помочь металловедам в расчете, конструировании и эксплуатации основных систем (вакуумной, нагревательной и оптической) установок для тепловой микроскопии и прежде всего ознакомить исследователей и практиков с техническими средствами микроструктурного исследования металлических материалов в широком температурном интервале. Системы механического нагружения описываются в соответствующих главах, где рассмотрены основные типы созданной автором аппаратуры. Кроме того, как показала практика, средства тепловой микроскопии успешно могут быть использованы на стандартных испытательных машинах.  [c.30]

Появление композиционных материалов было вызвано в основном стремлением повысить механические свойства конструкционных материалов. Однако очевидно, что направленное армирование волокнами открывает возможности создания новых материалов с особыми теплофизическими, электрофизическими, гальвано-магнитными, оптическими и другими свойствами. Методы получения композиций с особыми физическими свойствами в основном те же, что и для получения высокопрочных композиций направленная кристаллизация эвтектических сплавов, ориентированная перекристаллизация эвтектоидных систем, пропитка каркасных систем расплавом, совместная деформация волокон и матрицы и др.  [c.219]

В первой половине книги кратко и систематически изложены общие основы метода. При этом авторы приводят минимальные нужные сведения о законах оптики, достаточно полно рассматривают устройство полярископов и необходимого дополнительного оборудования, приемы работы с ними, а также используемые зависимости между двойным лучепреломлением и напряжениями и способы проведения измерений. Они сообщают данные об упругих и вязкоупругих характеристиках используемых в США для изготовления моделей материалов, которые близки к отечественным, и анализируют закономерности их деформирования в связи с исследованиями напряжений при упругих деформациях, при изменениях температуры и действии импульсных нагрузок. Наряду с этим рассмотрены методы исследования напряжений на объемных моделях из материалов, позволяющих фиксировать получаемый при деформации оптический эффект. Весьма кратко изложены основные методы обработки данных поляризационно-оптических измерений. Для более быстрого и полного решения задачи также рекомендуется использо-  [c.5]


На рпс. 2,29 и 2,30 приведены кривые зависимости п и dn d K от длпиы волны для основных оптических материалов, исполь-з емых для изготовления дисперсиотшых призм.  [c.187]

Основными оптически активными материалами являются целлулоид и фенолформальдегидные прозрачные пластмассы (фенопласты). К последним относятся применяемые за границей бакелит (США), родоид и орка (Франция). Применяются также стекло, желатин и пр. [2]. При исследовании составных конструкций одна часть модели, в которой определяются напряжения, изготовляется из оптически активного материала, а остальная часть —из материала оптически неактивного (инактина), например плексигласа.  [c.254]

Из данного примера было бы, однако, неправильно сделать заключение, что оптические свойства дисперсных систем не связаны закономерно с оптическими свойствами материалов. Наоборот, знание основной оптической характеристики материала, его комплексного показателя преломления необходимо для расчета оптических свойств дисперсных систем наряду с такими их характеристиками, как оптические свойства среды, размер частиц, порозность системы. Поэтому накопление фундаментальных олытных данных об оптических свойствах различных технических материалов в инфракрасной части спектра и пределах колебаний этих свойств в зависимости от количества различных примесей является важной задачей дальнейших исследований. Внешний вид материалов, как известно, не позволяет судить о их прозрачности для инфракрасных лучей, и мы лишены подобного простейшего ориентира, обычного для видимой части спектра. Так, привычно непрозрачный шлак оказывается хорошо прозрачным для инфракрасного излучения.  [c.80]

Коэффициент поглощения а большинства оптических материалов существенно изменяется с температурой и частотой, так что для различных частотно-температурных интервалов используются разные материалы. При нормальных условиях основными рабочими телами ВУФ-диапазона слул<ат фториды легких металлов от УФ-диапазона до ближнего ИК-диапазона применяются преимущественно простые и сложные оксиды, включая органические соединения в среднем и дальнем ИК-диапазонах — галиды и халь-когениды тяжелых металлов при выборе рабочих тел СММ-диа-  [c.192]

Заготовка модели с припуском на последующую механич ескую обработку изготавливалась из материалов ОНО и ЭД5-М для оптически чувствительного слоя. Склейка заготовок выполнена кар-бинольным клеем по известной технологии [81., после чего заготовка механически обрабатывалась до номинальных размеров. Основные характеристики материалов модели ОНС — aj = 5000кгс/см На полосу, Е = 2,9 10 кгс/см ЭД5-М — = 10,8 кгс см на полосу (получена по картине полос модели вала в области однородного напряженного состояния), Е = 3,0-10 кгс/см .  [c.57]

В книге описана экспериментальная техника, спектральные приборы, оптические материалы и источники света, применяемые при исследованиях, связанных с использованием вакуумной ультрафиолетовой области спектра. Изложены также основные результаты по применению этой области к изучению плазмы, атомных спектров, атомных столкновений, флуоресцентного и эмиссионного спектрального анализа. Книга написана по тому же плану, что и написанная десять лет назад книга этих же авторов Спектроскопия вакуумного ультрафиолета и отражает большие достижения вакуумной спектро-скошии за последнее десятилетие.  [c.4]

Кривая типичного распределения частиц приземного аэрозоля по размерам в условиях умеренной запыленности (Мз = 0,8849), показанная на рис. 4.1, в диапазоне размеров г<0,2 мкм слабо обеспечена достоверным измерительным материалом. Можно считать, что она экстраполирована в эту область. Исходя из этого обстоятельства, в работе [И] было проверено несколько гипотез о возможном поведении /(г 0,2 мкм) и влиянии этого поведения на численный прогноз основных оптических параметров. Выбранный класс гипотетических распределений мелкой фракции включил в себя известные в литературе экстремальные случаи степенное распределение (2.6) с параметром v = 4,0 (кривая 1а), прямоугольную модель Дейрменджана [26] (кривая 1г), а также широко используемые распределения дымок М и Н (кривые соответственно  [c.103]

Обычно изменение показателя преломления оптических материалов выражают в виде (2.2.27), известном как дисперсионная формула Селмейера. Одним из любопытных фактов истории науки является то, что основные идеи приведенного анализа впервые были высказаны Максвеллом в 1869 г. во время сдачи экзамена по математике в Кембридже. Позднее, в 1872 г., независимо пришел к выражению (2.2.27) В. Селмейер в ряде своих статей, опубликованных в Annalen der  [c.49]

Из приведенного выражения (3.41) следует, что даже в этом упрощенном варианте на величину потока излучения сказывают существенное влияние все оптические свойства слоя, в том числе и вид индикатрисы рассеяния. В этой связи следует отмегить, что величина коэффициента поглощения таких материалов, как пористое стекло и кварцевая керамика, целиком определяется их химическим составом. В то же время на коэффициент рассеяния основное влияние оказывает форма, ориентация и концентрация рассеивающих центров, какими являются поры. Это важное для технологии обстоятельство позволяет регулировать ошические характеристики проницаемых матриц из полупрозрачных материалов.  [c.62]

Визуальный контроль основных материалов, сварных соединений и изделий проводится невооруженным глазом и с применением оптических приборов (луп, микроскопов, визуально-оптических приборов — цистоскопов, эндоскопов, бароскопов, флексоскопов, биноклей, перископических дефектоскопов, зеркал, зрительных труб и др.).  [c.140]

Квантовая электроника использует новейшие достижения физики в исследовании квантовых процессов, происходящих внутри атомов и молекул вещества, при которых излучается электромагнитная энергия сверхвысокочастотных колебаний, с длиной волны около одного микрона, т. е. в области инфракрасных колебаний. Создаваемые при этом параллельные световые лучи огромной яркости позволяют сконцентрировать колоссальную энергию в малом объеме. Генераторы и усилители этого типа (лазеры и мазеры) могут быть отличным средством для космической связи и для оптических локаторов. Эти генераторы дают возможность использовать энергию высокой плотности и осуществлять новые впды химических реакций, сварки и плавления тугоплавких веществ и другие высокотемпературные процессы. Разработка новых материалов, обладающих квантово-оптическими свойствами, — одно из основных условий успеха в этой области.  [c.4]

Одна из наиболее трудных задач состоит в из.адерении количества продуктов реакции после отжига, поскольку желательно ограничить полную толщину реакционной зоны величиной приблизительно 2 мкм. В большинстве исследований были использованы методы оптической металлографии. Наиболее важен в этих работах этап приготовления образцов, так как необходимо получить плоскую поверхность шлифа и избежать появления ступеньки между твердым волокном и значительно более мягкой матрицей. В каждой лаборатории принята своя методика приготовления микрошлифов, но, по-видимому, основные условия состоят в следующем необходимо избегать излишнего нажатия при полировании и следует создавать хорошую опору для края образца в опрессовочном материале или использовать специальный держатель, Шмитцем и Меткалфом [38] разработана методика косых сечений, которая была использована в последующих исследованиях. Для определения местного увеличения в направлении скоса был использован расчет конического сечения разрезанного наискось волокна. Этот метод пригоден для толщин менее 0,3 мкм и становится не столь надежным при больших толщинах из-за ошибок, вызванных отсутствием плоскостности сечения. Электронная ]микроскопия с использованием метода реплик оказалась не впол-  [c.103]


Стекло относится к аморфным, или некристаллическим, материалам, которые охлаждены из расплавленного состояния до состояния с высокой вязкостью при комнатной температуре таким образом, что оно становится твердым и пригодным для практических целей. Основным компонентом большинства обычных стекол является SiOg, хотя в составе многих специальных стекол основой служат другие окислы. Стекла, как и металлы и кристаллические материалы, изменяют свои физические и механические свойства при облучении ионизирующим и неионизирующим излучением. Вероятно, наиболее важный и несомненно наиболее изученный результат влияния облучения на стекла — изменение их оптических свойств.  [c.207]

Учитывая влияние внешних факторов нагружения на строение изломов, следует также принимать во внимание состояние и свойства материала. Особенно целесообразно исследование изломов для установления связи структуры материала с его способностью тормозить разрушение широко проведенное исследование, обязательно включающее анализ излома, дает непосредственную информацию о том, какие структурные составляющие ускоряют или тормозят трещину, что является микроочагами разрушения и что практически не оказывает влияния на разрушение, какие структуры обладают большей или меньшей способностью к микролокальной деформации, определяющей сопротивление развитию разрушения. Это важнейшее направление фрактографических исследований служит основной металловедческой задаче — созданию материалов с высокой прочностью и надежностью. Для этих исследований целесообразно использовать электронные и оптические микроскопы.  [c.6]

Рассмотрены основы моделирования задач в области прочности машиностроительных конструкций и их элементов с использованием газовых и моноимнульсных лазеров, голографии, высокоскоростной регистрации волновых полей напряжений и перемещений в моделях из. прозрачных оптически чувствительных материалов. Приведены способы и приемы моделирования физически и геометрически нелинейных задач. Определены основные направления и перспективы развития современных экспериментальных методов моделирования машиностроительных задач.  [c.174]

В качестве -оптически чув-ств и тельных материалов для моделей в основном используют полимеры, молекулы которых представляют собой дли-нны-е гибкие цепочки, со-ставлен-ные из многократно ЛО Вторяющихся стру1ктурных звеньев, овязанны-х между -со-бой кова-лентными связями- [29]. Такие -м-олекулы обыч-но -называют -макромолекулами, поскольку -они имеют довольно большую- длину (несколько тысяч ангстрем) яри малом поперечном размере (порядка нескольких ангстрем). Наличие. длинных гиб-ких макромолекул с резким различием характера связей -в-доль цепи молекулы и между цепями и определяет основ-ные физико-механические свойства.  [c.16]

Хотя эта книга и содержит необходимые основные сведения, ее все-таки нельзя назвать полным пособием по поляризационнооптическому методу исследования напряжений и деформаций, так как некоторые сведения пришлось опустить. Так, читатель найдет здесь мало сведений о стандартных линзовых полярископах, о некоторых оптически чувствительных материалах, например о бакелите 61-893, о фотометрах и некоторых методах, которыми авторы пользуются редко. Все такие ценные сведения читатель сможет найти в других опубликованных работах. С другой стороны, приборы и методы, которые но опыту авторов особенно полезны и интересны, описаны здесь детально, даже если они и редко упоминаются в других книгах или статьях. Таким образом, хотя в книге содержится много классических сведений, все же авторы стремились внести все новое, что им подсказывала их собственная практика.  [c.14]

В следующих четырех разделах рассматриваются четыре группы оптически чувствительных материалов фенолформальдегид-ные смолы, смола R-39, уретаповые каучуки и эпоксидные смолы. Для всех них, как показано, типична в определенных пределах линейная зависимость между напряжениями и деформациями в любой момент времени. Все эти четыре категории материалов, как показано, по своему поведению соответствуют в основных чертах модели 2 в табл. 5.1.  [c.122]

Хизол 4485 (прежде называвшийся хизолом 8705) представляет собой мягкий уретановый каучук с высокой оптической чувствительностью по напряжениям. При соответствующей механической обработке он не дает заметного краевого эффекта времени и нри комнатной температуре не обнаруживает вязкого течения. Он обладает большим коэффициентом теплового расширения, легко обрабатывается и склеивается с другими материалами. Листовой хизол 4485 находит применение нри исследовании температурных и динамических напряжений. Его можно изготовить отливкой из смеси, составленной из 100 частей хизола 2085 (прежде 8530) как основного материала и 24 частей хизола 3562 (прежде G-5) в качестве отвердителя. Смесь нолимеризуется в течение 2 час при 138° С и затем в течение 4 час при 100° С.  [c.136]

Различие кривых 1 -а. 2 (фиг. 5.37) объясняется действием ряда факторов. Во-первых, что важнее всего, порядок полос в каждой точке возрастает со временем из-за ползучести. Во-вторых, химические, механические и оптические свойства материала в процессе продолжающейся полимеризации, вероятно, меняются. Когда модель разгружается, деформации начинают восстанавливаться, но материал продолжает полимерпзоваться, становясь более жестким, что затрудняет процесс релаксации. В некоторый момент времени после разгрузки достигается равновесное состояние, так что оставшиеся деформации закрепляются в материале. Для рассматриваемой пластмассы этот период составлял меньше 16 час, причем оставшаяся картина полос отображена кривой 3. Одним из основных факторов, влияющих на характер этой кривой, является длительность выдержки модели под нагрузкой. Если бы, например, нагрузку поддерживать до полной поли-  [c.175]


Смотреть страницы где упоминается термин Основные оптические материалы : [c.81]    [c.301]    [c.20]    [c.67]    [c.165]    [c.10]    [c.241]    [c.23]    [c.28]    [c.9]   
Смотреть главы в:

Справочник технолога-приборостроителя  -> Основные оптические материалы



ПОИСК



Материал основной



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте