Ширина линий рентгеновского излучения

ШИРИНА ЛИНИЙ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ [c.964]

Таблица 35.4. Значения ширины ярких линий рентгеновского излучения на половине высоты Х, нм [31

ШИРИНА И ФОРМА ЛИНИЙ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ [c.806]

Рентгеновские лучи, падающие на материал, обладают хроматической когерентностью вдоль направления волнового вектора к, которая определяется естественной шириной линии характеристического излучения ДХ. Например, для /(а-линии медного излучения относительная ширина ДХ/Х порядка 10 % что соответствует значению длины хроматической когерентности /у = Х ДХ 10 см [98]. В направ- [c.238]

Из явлений микромира отметим эффект Комптона (см. 9.6), при котором рентгеновское излучение передает часть своего импульса электронам, на которых оно рассеивается, и тем самым сообщает этим электронам отдачи большие скорости. Импульс излучения обнаруживает себя также в отдаче , которую испытывает атомное ядро при испускании гамма-лучей. Это явление вполне аналогично отдаче ружья при выстреле. Эффект отдачи в принципе существует и при испускании света атомами, но в оптической области он приводит к ничтожному сдвигу частоты испускаемого света (значительно меньшему естественной ширины линии). [c.171]

Дальнейшее усложнение возникает в связи с наличием конечного интервала длин волн для каждого реального источника. Для рентгеновских лучей естественная полуширина линий характеристического излучения имеет порядок 10 к или больше. При дифракции нейтронов, поскольку используемое излучение выбирается из широкого распределения белого излучения, интервал длин волн можно расширить, чтобы увеличить полную интенсивность падающего излучения. Для электронов излучение обычно значительно более монохроматично с шириной около 10 . [c.122]

Качество работы рассматриваемой системы в значительной мере определяется следующими факторами а) шумами, обусловленными квантовой природой рентгеновского излучения б) ограничениями в характеристиках отдельных элементов недостаточной шириной полосы пропускания каких-либо контуров, малой разрешающей способностью оптической системы, наличием линий телевизионного растра в) свойствами рентгеновских излучений энергией, геометрической нерезкостью и др. [c.265]

Основная проблема при измерении длины волны та же самая, что и при измерении любой длины точность отметки. Чтобы определить длину волны, пользуются эталоном (обычно нелинейным)— стабильным и воспроизводимым источником излучения. По шкале, калиброванной при помощи эталона, измеряют длину волны неизвестного излучения. Точность такого метода определяется погрешностью, с которой можно зафиксировать центры масштабных меток эталона и следов неизвестного излучения. Чем уже эти следы, тем выше точность измерения. Ширина же следа представляет собой свертку аппаратных функций источника, измерительного прибора и приемника. В отличие от рентгеновской или дальней инфракрасной области возможности измерения длины волны в оптическом диапазоне обычно не ограничиваются разрешающей способностью фотоприемника. Можно сконструировать оптическую систему с достаточно высокой дисперсией, чтобы полностью использовать разрешающую способность оптики. Обычные спектрографические фотопластинки и фотоумножители не вносят заметного уширения в линию. [c.321]

Теоретическая форма линии имеет симметричный вид относительно максимума интенсивности. Однако для ряда элементов форма линии несимметрична. Особенно сильна асимметрия у элементов переходной группы железа. Такая асимметрия линии объясняется спин-спино-вым взаимодействием 2р-электронов с электронами незаполненной Зй-оболочки [3]. Это взаимодействие приводит к расщеплению 2р-уровня, несимметричному относительно начального положения 2р-уровня. Так как расщепление меньше полной ширины каждого из подуровней, то форма результирующей линии становится асимметричной. Аналогичная картина асимметрии линий рентгеновского излучения наблюдается в некоторых химических соединениях и сплавах и связана с характером химических связей [3]. [c.806]

Рис. 5. Зависимость интенсивности рентгеновского рассеяния от переданного илтульса излучения Q. а — данные, полученные на четырехслойном образце вещества 40.8 при температуре 40 С источник излучения рентгеновский генератор с вращающимся анодом. Сплошная линия — кривая, соответствующая теоретически предсказанному степенному форм-фактору с показателем Т] = = 0,1 5 б — данные, полученные иа двухслойном образце вещества 1485 при 65°С с синхронным, излучением сплошная линия — теоретическая кривая при 1] = 0,13. Ширина линии синхротронного излучения 6 10 Л значительно уже, чем в случае источника с вращающимся анодом (0,04 A ). Штриховые линии — инстру ментальный контур.

После охлаждения образцы по грани 8 х 35 мм шлифовали, исследовали их структуру на металлографическом микроскопе МИМ-8М и по методу Глаголева определяли объемное содержание связующего сплава по длине образцов. Распределение меди и кобальта по длине образцов исследовали методом локального рентгеноспектрального анализа на установке Микроскан-5 . Облучение образцов проводили электронным зондом длиной 1000 и шириной 2 мкм. Это позволило замерять усредненную интенсивность рентгеновского излучения исследуемых элементов и избежать влияния структуры сплава (зернистости) на измерение интенсивностей. Пять участков измерения интенсивностей располагались на грани 8 X 35 жж по линии, перпендикулярной продольной оси грани, расстояние между этими линиями составляло 0,5 мм. В образцах, контактировавших с расплавом кобальта, количественное содержание связуюш,его металла находили также путем сравнения отношений интенсивностей кобальта и вольфрама (/ o//w) с отношением интенсивностей этих элементов в эталонах. Абсолютная ошибка определения содержания кобальта составляла 0,5 об. %. Разность результатов определения содержания связующего металла по методике Глаголева и путем измерения отношений интенсивностей не превышала 0,8 об.%. [c.95]

Поскольку до сих пор отсутствует единая методика определения тонкой кристаллической структуры закаленной и отпущенной стали II1X-15 в чистом виде, для получения достаточно надежных данных о напряжениях II рода и размерах блоков когерентного рассеяния были применены различные методики, в том числе метод моментов второго порядка [7] и метод аппроксимации формы интерференционных линий от кристаллографических плоскостей (011) (101) — (НО) — (121) (211) — (112) мартенсита с учетом поправки ширины инструментальной ширины интерференционной линии на тетра-гональность решетки мартенсита, немонохроматичность рентгеновского излучения и геометрические условия рентгенографирования [6]. [c.177]

Остаточные напряжения на поверхности материалов. Для оценки влияния технологии изготовления образцов на величину и глубину поля остаточных напряжений было проведено рентгеноструктурное исследование поверхностного слоя образцов из стали 13Х1Ш2В2МФ и сплава BT3-L Примененная интегральная рентгеновская методика позволяет по ширине линий дифракции рентгеновских лучей судить о макро- н микродеформациях. Работа проводилась на рентгеновском аппарате ДРОН-2 в железном излучении. Регистрация интенсивности дифрагированного образцом излучения и фиксирование дифракционных линий (110). (200), (211), (220) для стали 13Х11Н2В2МФ и (100), (200), (101), (102), (110), (103) для титанового сплава ВТЗ-1 проводились сцинтиляционным счетчиком в режиме записи на диаграммной ленте потенциометра [c.103]

В то же время из выражения (2,116) находим, что (при Av = 0) 1/стт(0)Avq. На частотах УФ- и ВУФ-диапазонов при умеренных давлениях можно считать, что ширина линии Avo определяется доплеровским уширением. Следовательно [см, (2,78)], Avo Vo, поэтому dPno /dV увеличивается как (если положить Vp л Vo). При более высоких частотах, соответствующих рентгеновскому диапазону, ширина линии определяется естественным уширением, так как излучательное время жизни становится очень коротким (порядка фемтосекунд). В этом случае Avo Vq и dP JdV увеличивается как v . Таким образом, если мы, к примеру, перейдем из зеленой области (Х = 500 нм) всего лишь в мягкий рентген (X л 10 нм), то длина волны уменьшится в 50 раз, а dP op dV увеличится на несколько порядков С практической точки зрения заметим, что многослойные диэлектрические зеркала в рентгеновской области обладают большими потерями и трудны в изготовлении. Основная проблема состоит в том, что в этом диапазоне разница в показателях преломления различных материалов оказывается очень малой. Поэтому для получения приемлемых коэффициентов отражения необходимо использовать большое число (сотни) диэлектрических слоев, а рассеяние света на столь большом числе поверхностей раздела приводит к очень большим потерям. Поэтому до сих пор рентгеновские лазеры работают без зеркал в режиме УСИ (усиленное спонтанное излучение), [c.434]

Обратимся теперь к экспериментам по исследованию рассеяния мягкого рентгеновского излучения реальными поверхностями и оценим основные выводы теории рассеяния ка основе приближения Кирхгофа. Изучение зависимостй отражательной способности жесткого рентгеновского излучения от состояния поверхности впервые было предпринято Эревбергом [42). Несколько позже Эллиот [43] изучал связь качества полировки поверхности рентгеновского зеркала о рассчитанными им индикатрисами на основе модели поверхности в виде конических пиков. В работе [68], по-видимому, впервые было проведено исследование рассеяния мягкого рентгеновского излучения шероховатой поверхностью отражателя. Измерения проводились на Яа-линиях алюминия и углерода, угловая ширина падающего на исследуемый образец пучка составляла 8". [c.31]

Ширина линии характеристического спектра рентгеновского излучения равна сумме тирии верхнего и нижнего уровней атома. Полная ширина уровня определяется радиационными и безрадиациоиными (эффект Оже) переходами. Оже-переходы какого-либо определенного типа возможны только в том случае, если энергия перехода превышает энергию связи конвертируемого элект- [c.806]

При малых а резко возрастает Ь(Нк1), поэтому для анализа тонких поверхностных слоев требуются соответствующие коллимационные устройства с узкими щелями. Изменение геометрической ширины рентгеновских линий b hkt), рассчитанное по формуле (23) в фукнции угла отражения, указывает, что при увеличении угла 0 геометрическая ширина линий возрастает, достигает максимального значения при 0 = 45°, а затем резко падает. Например, для линий меди (400), 0 = 82°12 (Со/(а-из-лучение) величина 6(4оо> в 3,5 раза меньше, чем 6(200) при 0 = = 44°27. Другие компоненты геометрической ширины (связанные с расходимостью первичного пучка в плоскости, перпендикулярной плоскости фокусировки, неоднородностью излучения и проникновением первичного пучка лучей в глубину материала об- [c.82]

Резкостью или четкостью снимка называется его качество, дающее возможность различать линии и контуры элементов и дефектов контролируемых объектов на полученном снимке. Эта величина характеризуется шириной границы перехода от потемнения к посветлению. Чем шире переход от светлых участков к темным, тем размытость контуров больше, тем труднее различить границы областей, тем выше нерезкость. Кроме того, рентгеновские пленки обладают собственной внутренней нерезкостью. Собственная нерезкость пленок, металлических и флуоресцирующих усиливающих экранов увеличивается с ростом энергии излучения. Так, при просвечивании рентгеновским излучением, генерируемым при напряжении на трубке около 80 кВ, величина собственной нерезкости пленок и металлических экранов достигает 0,05—0,1 мм, для 7-излучения равняется 0,2 мм, для излучения Со— 0,4. [c.104]

Экспериментальные исследования рентгеновского рассеяния показали, что большинство кристаллов относится к мозаичному или к промежуточному типу (наблюдается экстинкционное ослабление интенсивности ярких линий). В отдельных экземплярах природных кристаллов (алмаз, кальцит и др.), а также искусственно полученных (германий, хлористый натрий, металлы) четко проявляется динамическое рассеяние как в отношении ширины, так и интегральной интенсивности. Такие идеальные кристаллы представляют большой интерес для оптики рентгеновского диапазона длин волн и используются для изготовления рентгеновских интерферометров, резонаторов и для сверхмонохроматизации излучения и т. д. По отклонениям от динамического рассеяния можно исследовать методом рентгеновской топографии структурные несовершенства кристаллов (дислокации, дефекты упаковки). [c.110]

С другой стороны, падающий электронный пучок можно сколлимировать так, что он будет иметь угловую расходимость 10 рад и меньше, но для рентгеновских лучей расходимость излучения от каждой точки источника дает изменение угла падения на облучаемый участок образца (шириной около 20 мкм) порядка 10" рад. Таким образом, для электронов приближение плоской волны является хорошим, а для рентгеновских лучей уже необходимо рассматривать когерентную сферическую волну от каждой точки источника с изменением угла падения, значительно большим чем угловая ширина брэгговского отражения. Тогда на картине дисперсионной поверхности нельзя рассматривать только одно направление падения, определяющее две точки связки на двух ветвях поверхности, как это сделано на фиг. 8.3. Вместо этого следует учесть, что вокруг Ьо одновременно и когерентно возбуждена целая область дисперсионной поверхности. Эту ситуацию реализовали Като и Ланг [249], и Като [251] показал, как провести интегрирование по фронту сферической волны и получить выражения, дающие правдоподобную оценку особенностей секционных топограмм. Затем интенсивность толщинных полос, полученных на проекционных топограммах, вычисляют путем интегрирования секционной топограммы вдоль линий равной толщины. [c.209]

Этот простой подход не может предсказать какой-либо контраст для симметричного случая полос Кикучи. В этих случаях двухволновая динамическая теория с поглощением дает асимметрию линий, как и в рентгеновском случае. Для электронов величина структурной амплитуды намного больше из-за более сильного взаимодействия излучения с атомами. Для сильных рефлексов ширина рефлексов или расстояние между максимумом и минимумом асим- [c.321]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...