Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Картина дисперсионной поверхности

Картина дисперсионной поверхности  [c.208]

Сочетание методов тепловой микроскопии с методами рентгеноструктурного анализа и просвечивающей электронной микроскопии дает более широкие представления о механизме и кинетике протекания дисперсионного твердения аустенитных нержавеющих сталей. Возросший за последнее время интерес к электронной микроскопии связан главным образом с появлением нового метода исследования на просвет тонких (до 1000 А) пленок, полученных из массивных образцов. Это стало возможным при применении в современных электронных микроскопах электронного пучка, обладающего большой проникающей способностью и высокой интенсивностью, что обеспечивается системой двойных конденсорных линз. Метод тонких пленок позволяет полностью использовать разрешающую способность современного электронного микроскопа и имеет по сравнению с методом реплик ряд преимуществ, основные из которых заключаются в получении трехмерной картины микроструктуры и возможности легко наблюдать такие дефекты матрицы, как линии дислокаций, и изучать их взаимодействие с выделениями. Можно также изучать картину электронной дифракции с небольших участков поверхности (около 0,25 мкм).  [c.223]


При полном внутреннем отражении происходит изменение фазы, не зависящее от частоты падающей волны. Поэтому при отражении импульса фаза изменится одинаково для всех частотаых компонент, а это в свою очередь равносильно различным длинам пробега для волн различных частот в свободном пространстве. Эквивалентный пробег при отражении импульса тем больше, чем длиннее волна. В результате импульс при отражении исказится так, как если бы он распространялся в дисперсионной среде с нормальной дисперсией. В этой связи полное внутреннее отражение можно рассматривать как дисперсию, сосредоточенную на отражающей поверхности. Аналогичный эффект сосредоточенной дисперсии возникает при отражении звука от препятствия с комплексным импедансом. Значение этого эффекта для целей нашего исследования заключается в том, что при рассеянии компонент с докритической фазовой скоростью (/ф < с . После рассеяния, в силу эффекта нормальной дисперсии, их фазовая скорость может стать больше скорости звука и изменить общую картину излучения.  [c.196]

Наиболее полную информацию о характере энергетического спектра поверхности получают из энергетических распределений эмитированных электронов, снятых при разных ориентациях коллектора относительно кристалла — методика ультрафиолетовой спектроскопии с угловым разрешением УФС УР). Пусть коллектором собираются электроны, вышедшие из кристалла под углом 0 к нормали. Кинетическая энергия эмитированного электрона Е связана с составляющей квазиимпульса, параллельной поверхности, кр данном случае кр = ку) простым соотношением = А й /2 7 5Ш 0. Поскольку при выходе электрона из твердого тела величина кр не меняется, это соотношение позволяет, зная кинетическую энергию Е и угол 0, вычислять кр. Измеряя энергетические распределения эмитированных электронов при разных полярных углах 0, можно получить, используя соотношения (5.18), дисперсионное соотношение Е к . Наконец, если проводить эти измерения при разных азимутальных углах, получится полная двумерная картина дисперсии Е кр).  [c.165]

Если препятствие имеет конечный размер вдоль оси Xg, то на поверхности воды образуется двумерная картина волн и анализ усложняется. Мы ограничимся задачей о гравитационных волнах на глубокой воде и используем дисперсионное соотношение (12.5). Этот случай охватывает картины волн, создаваемые объектами длиной 7. т-, движуш имися по воде глубиной h I (что обычно выполняется для корабельных волн).  [c.393]


С другой стороны, падающий электронный пучок можно сколлимировать так, что он будет иметь угловую расходимость 10 рад и меньше, но для рентгеновских лучей расходимость излучения от каждой точки источника дает изменение угла падения на облучаемый участок образца (шириной около 20 мкм) порядка 10" рад. Таким образом, для электронов приближение плоской волны является хорошим, а для рентгеновских лучей уже необходимо рассматривать когерентную сферическую волну от каждой точки источника с изменением угла падения, значительно большим чем угловая ширина брэгговского отражения. Тогда на картине дисперсионной поверхности нельзя рассматривать только одно направление падения, определяющее две точки связки на двух ветвях поверхности, как это сделано на фиг. 8.3. Вместо этого следует учесть, что вокруг Ьо одновременно и когерентно возбуждена целая область дисперсионной поверхности. Эту ситуацию реализовали Като и Ланг [249], и Като [251] показал, как провести интегрирование по фронту сферической волны и получить выражения, дающие правдоподобную оценку особенностей секционных топограмм. Затем интенсивность толщинных полос, полученных на проекционных топограммах, вычисляют путем интегрирования секционной топограммы вдоль линий равной толщины.  [c.209]


Смотреть страницы где упоминается термин Картина дисперсионной поверхности : [c.164]    [c.67]    [c.399]    [c.216]    [c.220]   
Смотреть главы в:

Физика дифракции  -> Картина дисперсионной поверхности



ПОИСК



Дисперсионные поверхности



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте