Способность разрешающа

Разрешающая способность. Разрешающая способность балансировочной машины определяется ири неуравновешенности порядка одного допуска для данных роторов. [c.308]

Способность разрешающая глаза 32, 33 [c.817]

Совет по САПР координационный 15 Способность разрешающая 67 Стадии разработки САПР 16 [c.218]

Разрешающая способность. Разрешающая способность определяется исходя из критерия Релея (см. 4, рис. УП.1). Две длины волны разрешаются, если максимум совпадает с минимумом 2. [c.367]

Однако оптический микроскоп не является аппаратом, который может обнаружить кристаллик любого малого размера. Как известно из оптики, разрешающая способность микроскопа равна [c.38]

В поле напряженностью 50000 В электронам сообщается скорость 124000 км/с, что соответствует длине волны, равной сотым долям ангстрема. Разрешающая способность современного электронного микроскопа порядка [c.38]

В последнее время под электронным микроскопом изучают тонкие пленки исследуемого металла, в той или иной степени прозрачные для электронного луча. В этом случае разрешающая способность электронного микроскопа близка к величине межатомных расстояний. [c.39]

Перемещение луча по экрану дисплея осуществляется как при растровом способе, но изображение формируется из строк простых графических элементов. При таком способе формирования изображений значительно сокращается описание изображения за счет ограничения возможностей получения произвольных изображений и некоторого ухудшения качества изображения. Данный способ имеет много общего с растровым способом формирования символов и обычно используется в недорогих дисплеях с малой разрешающей способностью. [c.61]

Ом При 300 К ПО сравнению с 50 Ом у термометров меньшего размера), что улучшает их разрешающую способность при низких температурах. [c.233]

Работа графопостроителей определяется следующими показателями производительностью, точностью изображения и разрешающей способностью. Производительность характеризуется линейной скоростью перемещения регистрирующего органа и измеряется в мм/с. Точность изображения определяется отклонением координат [c.32]

Разрешающая сила микроскопа. Явление дифракции на апертуре объектива ограничивает возможности микроскопа. Как и в других оптических приборах, для количественной характеристики способности микроскопа вводится понятие его разрешающей силы. [c.199]

Для регистрации результатов исследований, полученных при помощи прямотеневых, шлирных, интерференционных и голографических. методов, могут быть использованы различные расположенные в плоскости экрана светорегистрирующие среды, такие как фотографические и электрографические материалы, фоторезисторы, полупроводниковые светочувствительные экраны. Однако-широкое применение в настоящее время нашли галоидосеребряные фотографические материалы из-за их сравнительной дешевизны, высокой чувствительности и разрешающей способности. Разрешающая способность некоторых из них достигает 2800 линий на 1 мм и более. [c.221]

Информационное число равно величине перемещения, деленной па разрешающую способность. Разрешающая способность — это наименьшее перемещение рабочего органа, которое может быть задано спстемои управления или зарегистрировано системой обратной связи. 3 Информация о числе может быть [c.521]

Эмиссионный электронный микроскоп (рис. 1.420). Объект служит источником электронов (катод), причем электронная эмиссия может вызываться как путем нагрева (термоэмиссия), так и облучением электронами, ионами или ультрафиолетовым излучением. Контрастность получается благодаря различию в электронной эмиссионной способности. Разрешающая [c.159]

Одной из важнейших характеристик микроскопа является его разрешающая способность. Разрешающая способность микроскопа ограничена вследствие диффракции света и зависит от численной апертуры объектива и длины волны света. В результате диффрак-дии изображение бесконечно малой светящейся точки, рассматриваемой в микроскоп, имеет вид круглого светлого диска, окруженного несколькими слабыми светлыми кольцами. Освещенность первого кольца равна 1,75% освещенности диска. Диаметр диска [c.7]

Резание с максимальной производительностью. Критерий производительность процесса резания - 1000 впервые введен В.А. Криво-уховым в 1931 г. при исследовании износостойкости режущего инструмента. В дальнейшем критерий был представлен в виде произведения толщины среза на скорость резания оу и назван А.О. Этин разрешающей способностью. Разрешающая способность пригодна для сравнения способов одного вида обработки, но дает ошибки для различных видов. Например, при сравнении протягивания (а = 10 м, V = 0,5 м/с, оу = 5 10" м /с), шлифования (а = 10 м, V = 30 м/с, оу = 10 м с) и точения (а = 5 10 м, у = 2,5 м/с, оу= 1,25 10 м с) выясняется, что протягивание менее эф- [c.42]

Основные спектральные характеристики п. дисперсия спектрального прибора (угловая ф/гЛ и линейная [ ( к) разрешающая способность (разрешающая сила) область дисперсии (для интерференц. С. п.) — спектральный интервал, при к-ром не происходит наложения спектров соседних порядков светосила. С. п., обладающие большей угловой дисперсией, позволяют более точно измерять длину волны спектральных линий и получать при равных геометрич. параметрах С. п. и равной ра.чрошающей силе большую величину потока спектрально разложенного излучения (см. ниже). [c.10]

Полупроводниковые детекторы по принципу работы аналогичны иони-1зационным с тем преимуществом для быстрых ч-ц, что в нём используется тв. среда с более высокой тормозной способностью. Разрешающее время ПП Д. мало ( 10 с). ПП Д. обладают высокой надёжностью, могут работать в магн. полях. Осн. недостаток, ограничивающий их применение, небольшие размеры ( 10 см , см. Полупроводниковый детектор). [c.151]

РАЗНОСТЬ ХОДА лучей, разность оптических длин путей двух световых лучей, имеюпщх общие нач. и конечную точки. Понятие Р. х. играет осн. роль в описании интерференции света и дифракции света. РАЗРЕЖЕННЫХ ГАЗОВ ДИНАМИКА, см. Динамика разреженных газов. РАЗРЕШАЮЩАЯ СПОСОБНОСТЬ (разрешающая сила) оптических приборов, характеризует способность этих приборов давать раздельное изображение двух близких друг к другу точек объекта. Наименьшее линейное (или угловое) расстояние между двумя точками, начиная с которого их изображения сливаются и перестают быть различными, наз. линейным (или угловым) пределом разрешения. Обратная ему величина служит количеств, мерой Р. с. оптич. приборов. Идеальное изображение точки, как элемента предмета, может быть получено от волновой сферич. поверхности. Реальные оптич. системы имеют входные и выходные зрачки конечных размеров, ограничивающие волновую поверхность. Благодаря дифракции света даже при отсутствии аберраций и ошибок изготовления оптич. система изображает точку в монохроматич. свете в виде светлого пятна, окружённого попеременно тёмными и светлыми кольцами. Пользуясь теорией дифракции, можно вычислить наименьшее расстояние, разрешаемое оптич. системой, если известно, при каких распределениях освещённости приёмник (глаз, фотослой) воспринимает изображение раздельно. В соответствии с условием, введённым англ. учёным Дж. У. Рэлеем (1879), изображения двух точек можно видеть раздельно, если центр дифракц. пятна каждого из них пересекается с краем первого тёмного кольца другого (рис.). [c.615]

Чем больше апертурное число А (A=h sin p), тем меньше разрешающая способность. В современных микроскопах отверстный угол объектива близок к 90°, показатель преломления воздуха равен 1. Отсюда [c.38]

Главным достоинством растровых дисплеев, обеспечившим их распространение в последнее время, является возможность вывода больших объемов информации и универсальность (они позволяют выводить на экран как текстовую, так и графическую информацию как, например, дисплей Электроника МС7401 ), Современные графические растровые дисплеи дают возможность получать сложные многоцветные изображения, формируемые в памяти дисплея с помощью специального программного обеспечения. Поэтому в ИРС считается почти обязательным наличие цветного растрового дисплея с высокой разрешающей способностью. [c.60]

Основные трудности при создании растровых дисплеев с высокой разрешающей способностью связаны с использованием быстродействующего буферного ЗУ большой емкости. Эта проблема в той или иной степени решается при использовании современных БИС и СБИС. Иногда для снижения требований к быстродействию элементной базы применяют ЭЛТ с большим временем послесвечения (запоминающие ЭЛТ), как, например, в графическом дисплее 15ИГ-160Х210-001 [6]. Однако работать с таким дисплеем менее удобно из-за его низкого быстродействия. [c.60]

Развитие средств оперативного общения и женера с ЭВМ идет в направлении использования интеллектуальных цветных графических дисплеев с высокой разрешающей способностью, снабженных алфавитно-цифровой клавиатурой с большим набором функциональных клавиш и устройствами управления курсором. [c.63]

В общем случае загруженные проектирующие подсистемы ПО могут функционировать либо как обычные подпрограммы, подчиненные управляющей нодснсгсме ПО, либо как иараллелыю выполняемые подзадачи, способные соревноваться между собой и монитором за управление. Функционирование нескольких пакетов одновременно в качестве подзадач оправдано. только в случаях, когда каждый из них в отдельности не способен загрузить процессор ЭВМ и распараллеливание не сказывается на эффективности и удобстве работы каждого из пользователей. Очевидно, что при этом каждая из проектирующих подсистем ПО должна иметь свою локальную подсистему диалогового взаимодействия. Создание подзадач — один из способов обеспечения множественного доступа пользователей к САПР, однако его реализация значительно усложняет управляющую подсистему во-первых, возникает задача динамического расиределения ресурсов ЭВМ во-вторых, появляется потребность в механизме, разрешающем каким-либо образом конфликты в работе подзадач. Такие конфликты могут возникнуть, например, при одновременном обращении нескольких проектирующих пакетов к подсистеме управления базой данных. Конфликты могут быть устранены использованием очередей запросов к СУВД, в которых запросы на обслуживание подсистем ПО базой данных располагаются в порядке поступления и приоритетности. [c.28]

Образец СО-1 (рис. 4.10) предназначен для определения условной чувствительности дефектоскопа с преобразователем (преобразователь в положении А), а также для определения погрешности глубиномера (преобразователь в положении Б) и проверки разрешающей способности при работе прямым или наклонным преобразователем. Условная чувствительность Ку дефектоскопа с преобразователем, измеренная по образцу СО-1, выражается максимальной глубиной расположения (в миллиметрах) цилиндрического отражателя, уверено фиксируемого индикаторами дефектоскопа. Глубина расположения отражателя показана цифрами на обргоце. Согласно ГОСТ 14782 исходный и выпускаемые государственные стандартные образцы изготавливают из органического стекла с единым значением коэффициента затухания продольной волны при частоте 2,5 МГц 10%, лежащим в пределах 0,26...0,34 мм . [c.205]

Для снятия оттиска с микрошлифа применяются полистирол марки Д (ГОСТ 944), рентгеновская пленка на колок-силиновой основе, лента для магнитной звукозаписи, целлулоид или полимерные сжиженные материалы. Наибольшую разрешающую способность и наиболее высокую контрастность изображения обеспечивают полистироловые реплики. О ггиски на рентгеновской пленке имеют худшее изображение, а оттиски на ленте дают четкое изображение микроструктуры при визуальном рассмотрении в микроскопе, но недостаточно контрастны при фотографировании. Поэтому рекомендуется применять полистирол, а в качестве раствори-теля-бензол или толуол. [c.325]

В настоящем разделе рассма фивается методика оценки работоспособности, определения срока службы для оборудования по параметрам испытаний и эксплуатации аппарата. В качестве параметра, обеспечивающего заданный ресурс оборудования, принято отношение испытательного Р к рабочему Рр давлению Ри/Рр- В основу расчета положен следующий консервативный подход, обеспечивающий определенный запас прочности. Полагается, что в элементах оборудования имеются трещины, размеры которых изменяются в широком диапазоне от размеров, соответствующих разрешающей способности средств диагностики, до критических, зависящих от параметров испытаний и эксплуатации. При этом за расчетные параметры при оценке ресурса взяты критические размеры трещин, в частности, критическая глубина продольной не- [c.330]

На первом этапе производится расчет на прочность по существующим нормативным материалам (ГОСТы, СНИ-Пы, РД и др.) с использованием фактических механических свойств, найденных в результате испытаний образцов, вырезанных из элементов оборудования, или косвенными методами (например, по изменению твердости или химическому составу и др.). Далее производится оценка остаточного ресурса по фактическим или априорным (если недостаточно диагностической информации) данным о дефектности, например, по разрешающей способности методов и средств неразрушающего контроля с учетом предыстории нагружения, а также характеристикам допускаемых технологических и конструктивных концентраторов напряжений. При такой оценке ресурса необходимо более полно учитывать реальные условия эксплуатации и использовать наиболее жесткие критерии разрушения, дающие консерватив- [c.362]

ЭКСПЕРТНЫЕ СИСТЕМЫ (ЭС) - класс систем искусственного интеллекта,способных получать, накапливать, коррелировать знания из некоторой предметной области,представляемые в основном экспертами, выводитьновые знания, решить на основе этих знаний практические задачи и объяснять ход решения. С помощью ЭС решаются задачи, относящиеся к классу неформализованных, слабо структурированных задач. Алгоритмические решения таких задач или не существуют в силу неполноты, неопределенности, неточности, расплывчатости рассматриваемых ситуаций и знаний о них,или же такие решения неприемлемы на практике в силу сложности разрешающих алгоритмов. Различные ЭС, реализованные обычно в виде систем математического обеспечения ЭВМ, ориентированы на задачи идентификации, интерпретации, распознавания, классификации, прогнозирования, диагностики, проектирования, планирования, контроля и предупре>кцения о возникновении нештатных ситуаций, тестирования, отладки, ремонта, обучения, управления. [c.91]

УЗД типа икгазсап обнаруживает любые дефекты диаметром более 10 мм и глубиной более 1,5 мм и обеспечивает точность измерений 0,5 мм (по глубине) для дефектов диаметром более 20 мм и глубиной более 1 мм. При этом в случае внутреннего дефекта подразумевается глубина его залегания. Разрешающая способность приборов зависит от характера дефектов. Например, УЗД определяет все размеры дефектов металла трубы, а магнитный дефектоскоп — только их глубину. Таким образом, УЗД соединительных трубопроводов, транспортирующих сероводородсодержащие среды, имеет преимущество перед магнитной дефектоскопией, поскольку наряду с поверхностной коррозией позволяет выявлять дефекты металла труб. [c.96]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль [c.153]

Эффект Зеемана. Фарадей после обнаружения магнитного вращения плоскости поляризации ирсдпршшл попытки во действо-вать магнитным полем на спектральные линии, однако малая разрешающая способность используемого им спектрального аппарата и слабое магнитное иоле не позволили ему обнаружить какой-либо эффект. В 1896 г. Зееману удалось обнаружить расщепление спектральных линий под действием внешнего магнитного поля. Это явле- [c.292]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...