Фабри- Перо плоскости

В первом приближении моды резонатора типа Фабри — Перо можно представить себе как суперпозицию двух плоских электромагнитных волн, распространяющихся в противоположных направлениях вдоль оси резонатора. При таком допущении нетрудно получить резонансные частоты, если наложить условие, что длина резонатора L должна быть равной целому числу полуволн, т. е. Т = т(/./2), где т=1, 2,. . . . Такое условие необходимо для того, чтобы на обоих зеркалах электрическое поле электромагнитной стоячей волны было равным нулю. Поэтому резонансные частоты равны т = = т(с/2Т). Разность частот, соответствующих двум последовательным модам, равна Ат = с/2Т. Эти две моды отличаются одна от другой распределением поля вдоль оси резонатора (т. е. в продольном направлении). Поэтому такие моды называют продольными. Кроме продольных мод в резонаторе осуществляются и поперечные моды, которые дают распределение поля в плоскости, перпендикулярной к оси резонатора. [c.281]

Рис. 4.15. Кольца Фабри — Перо, образующиеся в фокальной плоскости линзы при падении на интерферометр Фабри — Перо рассеянного пучка, а — схема эксперимента б — наблюдаемый кольцевой рисунок в фокальной плоскости (рис. а) в случае, когда падающая волна является монохроматической в — кольцевая картина в случае, когда падающий пучок состоит из двух монохроматических воли.

Интерферирующие лучи в интерферометре Фабри-Перо образуются в результате многократных отражений на зеркальных поверхностях. В проходящем свете образуется система когерентных световых Лучей I, 2, 3, 4.. . . которые собираются линзой в ее фокальной плоскости. Условием максимума интерференции служит равенство разности хода соседних интерферирующих лучей (например. / и 2, 2 и < , < и и т. д.) целому числу длин волн. [c.12]

Многолучевой интерферометр типа Фабри-Перо является спектральным Прибором высокой разрешающей силы. Он дает возможность различать свет различных длин волн, т. е. получать разделенное изображение двух близко расположенных относительно друг друга спектральных линий. Интерференционную картину определяют дисперсия интерферометра и его разрешающая сила. Угловая дисперсия характеризует величину угла, на который разойдутся два луча, различающиеся по длинам волн на весьма малую спектральную величину. Линейная дисперсия показывает расстояние между изображениями линий в фокальной плоскости объектива. Разрешающая сила характеризует способность интерференционного спектроскопа различать две близко расположенные спектральные линии источника. [c.13]

Эталон Фабри—Перо состоит из двух полупрозрачных плоских и параллельных пластин (слегка клиновидных) из кварца или стекла, на которые нанесены покрытия с высоким коэффициентом отражения. Расстояние между отражающими плоскостями фиксировано жестким разделительным элементом с низким коэффициентом теплового расширения. Чаще всего эталон Фабри—Перо применяется в спектроскопии как фильтр с малой угловой апертурой. При освещении эталона источником с узким спектральным интервалом он пропускает свет только под определенными углами. В результате в фокальной плоскости линзы возникает система концентрических колец. Освещенность в фокальной плоскости дается выражением [11] [c.380]

Если область дисперсии эталона мала, то прежде чем измерять ширину отдельных компонент, необходимо отфильтровать нежелательные спектральные компоненты. Для этого можно взять полосовой фильтр или вспомогательный эталон Фабри— Перо с меньшим расстоянием между пластинами эталона. Аппаратная ширина, г. е. минимальная теоретическая ширина полосы, которая может быть разрешена (в предположении, что плоскости пластин строго параллельны и бесконечно протяженны), определяется выражением [11] [c.380]

Найти радиус четвертого кольца в интерференционной картине от интерферометра Фабри— Перо в фокальной плоскости линзы с фокусным расстоянием /=0,5 м. Расстояние. между пластинами интерферометра / = 1 см, длин волны монохроматического излучения Х = 693 нм. [c.205]

Конкурентоспособными с интерферометром Фабри—Перо оказываются пластины, сделанные из кристаллического кварца, благодаря их прозрачности в далекой ультрафиолетовой области. Кварцевая пластина вырезается так, чтобы главная оптическая ось кварца была ориентирована параллельно короткой ее грани. Перед пластиной устанавливается поляризатор для получения поляризованного света с ориентацией плоскости поляризации, совпадающей с плоскостью поляризации необыкновенного луча в кварцево пластине. [c.208]

Большое число когерентных световых пучков может возникнуть в результате дифракции при прохождении плоской волны через экран с одинаковыми регулярно расположенными отверстиями (метод деления волнового фронта). Распределение интенсивности в такой многолучевой интерференционной картине будет рассмотрено в 6.5 на примере дифракционной решетки. Здесь мы изучим интерференцию при многократных отражениях света от двух параллельных поверхностей (метод деления амплитуды). На этом принципе действует интерферометр Фабри—Перо, широко используемый в спектроскопии высокого разрешения и в метрологии. Он может быть выполнен в виде плоскопараллельной стеклянной или кварцевой пластины, на обе поверхности которой нанесены отражающие слои, либо в виде двух пластин, у которых покрытые отражающими слоями плоскости установлены строго параллельно друг другу и разделены воздушным промежутком. [c.256]

В обзоре [54] обсуждается лазерный измеритель скорости на базе интерферометра Фабри — Перо с регистрацией изменения положения интерференционных колец во времени при помощи высокоскоростного фотохронографа. Искомая скорость поверхности определяется по величине смещения интерференционных колец в фокальной плоскости выходной линзы интерферометра с использованием соотношений типа [c.70]

Однако такой резонатор может быть использован для другого способа дискриминации высших мод, основанного на ограничении углового спектра пучка. Для этого в общей ( каль-ной плоскости двух линз (рис. 4.26) устанавливается диафрагма диаметром ограничивающая угловой спектр пучка величиной Q=dJF . Недостатком такого способа селекции является большая концентрация энергии в окрестности диафрагмы, а также существенные потери энергии излучения при наличии заметных внутрирезонаторных фазовых искажений. Угловую селекцию можно проводить не только диафрагмированием в фокальной плоскости линз или зеркал, но также с помощью селектора Фабри—Перо или призм на основе полного внутреннего отражения [21. [c.142]

Полосы наложения применяются также для сравнения толщины эталона Фабри—Перо с концевой мерой большой длины Ь. В этом случае последовательно располагается эталон Фабри — Перо (зеркала Р и Р2) и интерферометр Майкельсона (зеркала М., Мь М3) (рис. 3.8.3). Эталон Фабри — Перо и интерферометр Майкельсона освещаются параллельным пучком лучей. Лучи, многократно отразившиеся от зеркал Р и Р2 эталона, попадают на делительное зеркало М, проходят ветви интерферометра Майкельсона и зеркалом М направляются в коллиматор О2. В этой системе могут наблюдаться интерференционные полосы наложения равной толщины. Если расстояние между плоскостью Р и зеркалом М2 в т раз больше длины / эталона Фабри—Перо, то разность хода между лучами, т раз отразившимися между зеркалами эталона Фабри— Перо и затем разделенными зеркалом М, будет мала и интерференционная картина может наблюдаться в белом свете. [c.215]

Интерферометр Фабри—Перо (ИФП) как спектральная система. В гл. 3 были уже рассмотрены количественные характеристики многолучевого двухзеркального интерферометра. В конце сороковых годов нашего столетия такой интерферометр был использован в качестве монохроматора для тонкого спектроскопического эксперимента. Полосы равного наклона, получаемые в фокальной плоскости объектива, расположенного после ИФП, совмещались с металлической маской (диафрагмой). Маска имела узкие кольцевые прорезы, положения которых точно совпадали с положениями интерференционных максимумов различных порядков. Также можно было бы иметь в маске только одно круглое отверстие, совпадающее с центральным максимумом. Если ширина кольцевой или диаметр круглой диафрагмы таковы, что будут выделять определенную долю интерференционного максимума, то на выходе такого устройства получим излучение, имеющее весьма узкий спектральный интервал в соответствии с характеристиками по [c.457]

Интерферометры применяются как для абсолютных измерений длин волн с высокой точностью, так и для спектрального разложения с высокой разрешающей способностью. Если для абсолютных измерений прежде всего используется интерферометр Майкельсона, то для спектрального разложения доминирующим является интерферометр Фабри — Перо, он представляет собой открытый резонатор с двумя зеркалами, обладающими высокими коэффициентами отражения. Благодаря симметричной его конструкции относительно оптической оси этот интерферометр особенно удобен для исследования многих проблем НЛО и лазерной физики, в которых подобные резонаторы используются уже в самих источниках света. Кроме того, интерферометр многолучевого типа допускает относительно компактную конструкцию. Особенно часто употребляется интерферометр Фабри — Перо с плоскими пластинками, его аппаратная функция уже была рассмотрена в разд. BI.II. В первую очередь рассмотрим следующее условие регистрации пусть в направлении оси падает идеально параллельный световой пучок (угол падения 0 = 0). На выходе регистрируется прошедшая через интерферометр мощность излучения, зависящая от длины резонатора I. (Если интерферометр заполнен газом, то путем изменения давления можно изменять показатель преломления и оптическую длину пути в интерферометре.) Кроме того, можно регистрировать зависимость от 0, если направлять падающий свет под различными углами падения и затем измерять распределение интенсивности в фокальной плоскости [c.50]

Объективы С и Q имеют одно и то же фокусное расстояние. Ордината сопряженных точек одинакова в плоскости и в плоскости А (единичное увеличение). Достаточно изучить дисперсию эталона Фабри — Перо в фокальной плоскости линзы L. [c.53]

Если выбрать ширину входной щели монохроматора таким образом, чтобы ширина ее изображения в фокальной плоскости камерного объектива L, выраженная в частотах, была меньше области дисперсии интерферометра Фабри—Перо, то спектры соседних порядков не будут перекрываться. Таким образом, в каждом порядке интерференции будет представлен весь участок исследуемого спектра. [c.180]

При использовании интерферометра Фабри — Перо необходимо помнить, что интерференционная картина, возникающая при освещении интерферометра протяженным источником света, представляет собой семейство кривых равного нак.иона (колец), локализованных в бесконечности (рис. 5.56). Если кольца рав ного наклона наблюдать на каком-либо экране, то надо установить объектив L2 (рис. 5.57) так, чтобы плоскость экрана [c.244]

Оптическая схема установки. В настоящей работе в качестве монохроматора используют стеклянный трехпризменный спектрограф ИСП-51. Применена внешняя (по отношению к спектрографу) установка интерферометра. Оптическая схема установки изображена на рис. 31. Излучение полого катода 1 с помощью кон-денсорной линзы 2 с /=20 см направляют на интерферометр Фабри—Перо 3. Объектив 4 с [=30 см проектирует интерференционные кольца на щель спектрографа 5. В фокальной плоскости его камеры получают интерференционные изображения спектральных линий источника света. [c.83]

ИНТЕРФЕРОМЕТР ФАБРЙ — ПЕРО — многолучевой интерференц. соектральиый прибор, с двумерной дисперсией, обладающий высокой разрешающей способностью. Используется как прибор с пространств, разложением излучения в спектр и фотогр. регистрацией и как сканирующий прибор с фотоэлектрич. регистрацией. И. Ф.— П. представляет собой плоскопараллельный слой из оптически однородного прозрачного материала, ограниченный отражающими плоскостя.чи. Наиб. широко применяемый воздушный И. Ф.— П. состоит из двух стеклянных или кварцевых пластинок, расположенных на нек-ром расстоянии d друг от друга [c.174]

Простейшей моделью, описывающей спектральные свойства одномерного О, р., является идеальный интерферометр Фабри — Перо, состоящий из двух бесконечно проводящих плоскостей, между к-рыми, последовательно отражаясь, мечется плоская эл.-магн. волна. Как и н случае струны с жёстко закреплёнными концами, в такой системе возможны собственные (нормальные) синусоидальные [ ехр(1ю, 1)] колебания (моды) с частотами ю = лсп/1, где 1 — расстояние между отражателями (при заполнении средой с проницаемостями и 1 надо заменять спас/]/ е х) = 1,2, 3,...— число полуволн /2 = 1/п, ук.чадывающихся [c.395]

Основой оптич. схем С. п. этой группы является диспергирующий элемент дифракционная решётка, зше-летт, эшелле, интерферометр Фабри — Перо, спектральная призма), обладающий угловой дисперсией Дф/ДЯ, что позволяет развернуть в фокальной плоскости изображения входной щели в излучении разных к (рис. 3). Для объективов Oj и обычно используются зеркала, не обладающие хроматич. аберрациями (в отличие от линзовых систем). Если в фокальной плоскости установлена одна выходная щель, схема С. п. представляет собой схему монохроматора, если неск. щелей,— полихроматора, если фоточувствит. слой или глаз,— спектрографа или спектроскопа. [c.612]

Если ПВМС расположить внутри резонатора Фабри—Перо-ла-зера, то кроме существенного повышения контраста возможно одновременное достих<енне весьма большого усиления яркости изображений [187]. Действительно, модовьгм селектором, пространственно (в плоскости управляющего элемента) изменяющим потери в резонаторе, можно сформировать суперпозицию генерируемых мод (рис. 4,4). В качестве такого селектора можно цс- [c.225]

Если эталон Фабри—Перо применяют в качестве спектрографа, то интерференционные кольца регистрируют на фотопластинке. Если используется сканирующий интерферометр Фабри—Перо, то информацию о спектре дает электрический сигнал фотоумножителя. Фотоумножитель помещают позади круглой диафрагмы, расположенной в центре фокальной плоскости, на которой воспроизводится кольцевая интерфе-эенционная картина [68]. [c.350]

Обычный метод измерения спектральных свойств излучения твердотельных лазеров основывается на применении эталона Фабри — Перо (фиг. 7.5). При таком методе считается, что луч лазера более или менее сколлимирован и имеет диаметр D, Линза Li служит для формирования колец в плоскости пленки Р (она не обязательно должна быть линзой с хорошей коррекцией, если система сфокусирована на рабочей длине лазера). Линза служит полевой линзой, качество которой не имеет большого значения и роль которой заключается в распределении света в нужной области на плоскости Р. Фокусным расстоянием линзы L2 определяется число колец, которые будут хорошо видны [c.384]

Пример 28.1. Линия X = 546,1 нм в излучении ртути является дублетом, длины волн в котором Х и Хг очень близки друг к другу. Считая, что l/Xj — [Хг =0,1 смопределить, какие требования надо предьявить к коэффициенту отражения пластин интерферометра Фабри — Перо и допуску на отклонение пластин от абсолютной плоскости. Расстояние между пластинами равно 1 мм. [c.179]

Осветительные систеи ы при установке интерферометра Фабри— Перо внутри спектрографа применяются обычные, так что в плоскость интерферометра может проектироваться либо источник света (установка в сходящихся лучах), либо осветительная линза (установка в параллельных лучах). Таким образом, установки внутри прибора ничем принципиально не отличаются от внешних установок и к ним имеет смысл прибегать только при отсутствии хороших ахроматических объективов, между которыми должен устанавливаться интерферометр. В некоторых случаях возможно использовать вместо объективов зеркала, установленные по зет-схеме . [c.202]

Для малых углов падения os0 l и SK= / 2h). Спектральный интервал, занимаемый исследуемым излучением, не должен превышать этой величины, чтобы максимумы соседних порядков от отдельных монохроматических компонент излучения не перекрывались. По этой причине интервал АЯ. называют свободной областью дисперсии или постоянной интерферометра. В 6.6 показано, что с увеличением расстояния h между пластинами возрастает разрешающая сила прибора, характеризующая способность разделять две близкие по длине волны монохроматические спектральные линии. Однако из (5.81) видно, что увеличение h сопровождается уменьшением области дисперсии SK = l / 2h). При типичных значениях (ft = 5 мм Я. = 0,5 мкм) ДЯ. составляет менее 0,03 нм. Это значит, что при работе с интерферометром Фабри—Перо требуется (за очень редким исключением) дополнительный более грубый спектральный прибор для выделения в излучении источника спектрального интервала, не превосходящего дисперсионной области интерферометра. В простейшем случае может быть применен фильтр, но чаще интерферометр скрещивают с призменным или дифракционным (см. 6.6) спектральным прибором. Можно, например, спроецировать интерференционные кольца на плоскость щели спектрографа так, чтобы центр картины совпал с серединой щели. Когда исследуемый спектр состоит из отдельных линий, изображения щели в свете этих линий, получающиеся в соответствующих местах фокальной плоскости спектрографа, оказываются пересеченными поперечными дугами, представляющими участки колец (рис. 5.31). Таким образом можно изучать структуру спектральных линий, состоящих из нескольких близко расположенных компонент, так как каждая из компонент образует свою систему интерференционных колец. Измеряя на спектрограмме, какую долю от расстояния ДЯ. между дугами колец соседних порядков составляет расстояние между дугами расщепившихся колец, можно определить спектральные интервалы между компонентами линии, структура которой не разрешается спектрографом. Измерения обычно производят на втором или третьем от центра кольце, где дисперсия еще достаточно велика, но изменяется не столь быстро, как в центре интерференционной картины. [c.263]

Для реализации дисперсионного резонатора в настоя-нхее время используется широкий класс спектральных селекторов. Среди них отметим интерференционные, работающие на пропускание интерферометр Фабри — Перо и фильтр Лио. Свойства интерферометра рассмотрены в 19. Фильтр же Лио работает на основе интерференции поляризованных лучей. Он состоит из двулучепреломля-ющего кристалла 1 и поляризаторов 2 (рис. 21.3). Оптическая ось кристалла 1 расположена под углом к плоскости поляризации, задаваемой поляризаторами 2. В результате волна, прошедшая через кристалл, расщепляется на [c.199]

Особое место при градуировке спектрографа занимает интерференционно-расчетный метод. Он заключается в следующем перед входной щелью спектрального прибора помещается интерферометр типа эталона Фабри—Перо, освещенный параллельным пучком лучей от источника непрерывного спектра. В этом случае спектр в фокальной плоскости будет пересечен вертикальными интерференционными полосами равного хроматического порядка. Для интерференционных максимумов, как ясно из рассмотрения ПРХП (см.сс. 129—132), при условии, что промежуточный слой — воздух, справедливо равенство 2ta = k, где t — толщина слоя а — волновое число k — порядок интерференции. Это равенство может быть записано несколько иначе при условии, что k = ko- -k, [c.481]

Наиболее распространенным многолучевым двухпластинчатым интерферометром является интерферометр (эталон) Фабри—Перр (ИФП). Изобретенный учеными Фабри и Перо в конце XIX столетия этот прибор не потерял своего значения и в настоящее время. Интерферометр Фабри—Перо представляет собой две стеклянные или кварцевые пластинки Pi и р2, разделенные воздушным промежутком d (рис. 17.1). Внутренние поверхности пластин имеют покрытия Si и Sa, обладающие высоким коэффициентом отражения. Многократные отражения луча, падающего на прибор, приводят к интерференции многих пучков, которые в проходящем и отраженном свете создадут интерференционную картину. В соответствии с рассмотрением, проведенным в 7, в проходящем свете в фокальной плоскости объектива будут наблюдаться узкие интерференционные максимумы и широкие минимумы. Картина в отраженном свете будет обратной. [c.122]

Простейшим примером резонатора, который удовлетворяет указанным требованиям, является инпкрферометр Фабри — Перо [10] с парой плоскопараллельных зеркал (рис. 7,7). Этот резонатор можно представить себе как обычный резонатор, имеющий форму замкнутой цилиндрической поверхности, у которой устранены боковые стенки, так что модам с высокой добротностью, соответствуют лишь две ква-зиплоские волны, бегущие в противоположных направлениях перпендикулярно плоскости зеркал. Условия распространения этих волн более благоприятны, чем любых других волн, распространяющихся под косыми углами к оптической оси интерферометра Фабри — Перо. То, что некоторая часть мощности теряется вне резонатора за счет плоской коллимированности лучей в пучке, приводит к снижению относительной добротности Q. [c.486]

Первоначально интерферометр Фабри — Перо использовался как спектрограф, в котором в фокальную плоскость выходной линзы помещали фотопластинку. Если источник монохроматического излучения имеет конечные размеры, то излучение, падающее на эталон, может быть представлено суперпозищ1ей плоских волн с волновыми векторами, заполняющими некоторый телесный угол. Следовательно, через эталон проходят только те компоненты излучения, углы падения которых принадлежат ряду дискретных значений, таких, что [c.565]

В 1948 г. Жакино и Дюфур предложили спектрометр Фабри — Перо, в котором фотопластинка была заменена фотоэлементом (который в настоящее время представлял бы собой ФЭУ или фотодиод), расположенным за системой точечных отверстий в плоскости, совмещенной с фокальной плоскостью выходной линзы. Этот метод называется сканированием центрального пятна. Изменяя линейно во времени давление газа внутри интерферометра или смещая зеркала, поддерживаемые пьезоэлектрическими прокладками, с фото детектора мы получим сигнал, который будет пропорщюнален спектральной яркости источника излучения на той частоте, на которую в данный момент настроен интерферометр. Например, если интерферометр поместить в камеру высокого давления, содержащую газ (показатель преломления газообразного при нормальных условиях равен примерно 1,00078), то можно достичь [60] скорости сканирования 3,9 А/атм. Если при сканировании давлением область свободной дисперсии не зависит от расстояния /, то при механическом сканировании эта область увеличивается с уменьшением. Чтобы просканировать всю область дисперсии, величину необходимо изменить на Х/2. [c.566]

ПОИ ПЛОСКОСТИ вход- метра Фабри — Перо ( — расстоя-НОГО и выходного кол- Ние между зеркальными плоскостп- [c.11]

Мы видели, что при имеющихся в нашем распоряжении отражающих пленках т уменьшается при увеличении Э следовательно, для фильтра заданного порядка, изготовлешюго из данных материалов, меньшей полуширине сопутствует меньшее пропускание. Практически, как н в случае интерферометра Фабри — Перо, верхний предел полезного отражения определяется изменениями оптического расстояния между отражающими поверхностями ио рабочей п.тощади пластин. Однако здесь отступление от идеа.тьной плоскости стеклянной поверхности, на которой изготовляется фильтр, несущественно, так как нанесенная испарением пленка повторяет все неровности поверхности, на [c.319]

Многолучевыми полосами Физо пользуются в оптических цехах для испытания высококачественных оптических поверхностей, например у пластин, применяемых в интерферометре Фабри — Перо они широко использовались также То.яанским и его сотрудниками лри изучении топографии почти плоских кристаллических и металлических поверхностей [87]. Испытуемая и оптически плоская эталонная поверхности, покрытые отражающими слоями серебра, плотно прижимаются друг к другу. Создаваемые воздушной прослойкой интерференционные полосы рассматриваются в микроскоп с большой угловой апертурой, позволяющей использовать все полезные пучки. Если X = Х /п — длина ВОЛЛЫ в воздухе, то полосы соответствуют контурам исследуемой поверхности, определяемым плоскостями, параллельными эталонной поверхности и разделенными интервалами Х/2. При достаточно большом клине между пластинами в иоле зрения появляется большое число полос (см., например, рис. 7.76), и можно измерить неровности исследуемой поверх1Юсти, определяя отклонение полос от прямых линий там, где неровности поверхности достигают Ак, полосы смещаются в сторону на Ат порядков так как [c.327]

Пластины эталона Фабри — Перо устанавливаются строго парачлельно на расстоянии 1 см друг от друга при помощи трех инваровых клиньев. Эталон помещается между двумя идентичными собирающими линзами 1 и 2, и.меющими фокусное расстояние 15 см. В фокальной плоскости линзы 1 располагается [c.41]

На рис. 32 дана схема установки с интерферометром Фабри — Перо и спектрографом ИСП-51 в качестве предварительного монохроматора. Осветительная и интерференционная части установки расположены в различных комнатах. Осветитель рассеивающего объема будет подробно описан ниже. Объектив с ирис-диафрагмой фокусирует выходную диафрагму сосуда D через призму Воластона W и деполяризующий клин на входную щель монохроматора S . На щели Si получаются два изображения диафрагмы одно под другим, касающиеся друг с другом или слегка разделенные, как и на установке для изучения крыла (рис. 30). Таким образом, верхняя и нижняя части щели монохроматора освещены рассеянным светом с различной поляризацией. Выходная щель S2 монохроматора находится в фокусе объектива L4, который направляет параллельный пучок света на интерферометр FP. Объектив L5 фокусирует в плоскости фотопластинки Р интерференционные полосы и выходную щель монохроматора В такой схеме рис. 32 изображение щели испещрено интерференционными полосами, половина которых вызвана -компонентой рассеянного света, а другая половина — х-компонентой. Сле- [c.182]

В 8 гл. 3 говорилось о том, что оптический резонатор лазера образован параллельными отражающими поверхностями и представляет собой интерферометр Фабри — Перо. Параллельные зеркала можно легко получить скалыванием [16]. Как показано на рис. 5.2.2, в GaAs плоскости естественного скола 110 перпендикулярны плоскости 100 , на которой выращены эпи- [c.186]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...