Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Отражение диффузионное

Рассеяние света происходит также на свободной поверхности (на границе раздела жидкость—воздух) жидкости и на границе раздела двух несмешивающихся жидкостей. На возможность такого рассеяния указал Смолуховский еще в 1908 г. Однако это явление им не было обнаружено и теория явления не была разработана. Этот вопрос рассеяния света как экспериментально, так и теоретически был решен Л. И. Мандельштамом . Он пишет Ниже мне хотелось бы подробнее обсудить вопрос, относящийся к форме поверхности жидкостей. Поверхность жидкости, которая при идеальном равновесии должна быть, напрнмер, плоской, вследствие нерегулярного теплового движения непрерывно деформируется. Если заставить отражаться от такой поверхности световой луч, то наряду с регулярным отражением должно появиться н диффузионное. Достаточны уже очень малые — по сравнению с длиной волны — шероховатости, чтобы это рассеяние обладало заметной величиной .  [c.321]


При диффузионном рассеянии отраженных от стенки молекул средняя величина тангенциальной составляющей скорости летящих от стенки молекул равна нулю. Так как тангенциальная составляющая подлетающих к поверхности молекул не равна нулю, то и средняя тангенциальная скорость всех молекул, подлетающих к стенке и улетающих от нее, также не равна нулю и представляет собой скорость скольжения газового потока (рис. 11.1). Еще в большей мере этот эффект проявится при о С 1-При взаимодействии со стенкой газа, температура которого отлична от температуры стенки, на поверхности теплообмена возникает температурный скачок АТ =  [c.391]

Если тело поглощает все падающие на него лучи, т. е. А = I, а/ =0иО=0, то оно называется абсолютно черным. Если вся падающая на тело энергия отражается, то/ = 1,аЛ=0иП=0. Если при этом отражение подчиняется законам геометрической оптики, то тело называется зеркальным. При диффузионном отражении, когда отраженная лучистая энергия рассеивается по всем нь правлениям, тело называется абсолютно белым. Если О = 1, а Л = О и / = О, то тело пропускает все падающие на него лучи и называется абсолютно прозрачным. В природе абсолютно черных, белых и прозрачных тел не существует.  [c.230]

Эффективное излучение зависит не только от физических свойств и температуры данного тела, но и от физических свойств и температуры окружающих его тел. Кроме того, оно зависит от формы, размеров и относительного расположения тел в пространстве. Вследствие этих факторов физические свойства эффективного и собственного излучений различны. Различными оказываются и спектры их излучения. Если поверхность тела имеет идеально диффузионное излучение и идеально диффузионное отражение, то его эффективное излучение будет также идеально диффузионным. Понятие эффективного излучения впервые было введено О. Е. Власовым (1929 г.).  [c.366]

Некоторые результаты расчета представлены на рис. 5-2—5-5. При анализе графиков следует иметь в виду, что характер снижения теплоотдачи по мере увеличения х обусловлен не только утолщением пленки, что имеет место при конденсации чистого неподвижного пара. На рисунках отражен результирующий эффект, обусловленный также влиянием скорости смеси на диффузионное термическое сопротивление и на величину трения на поверхности пленки. К сожалению, отсутствие обоб-  [c.131]

Здесь R—коэф. отражения, а — коэф. оптич. поглощения, L—диффузионная длина электронов, В—вероятность выхода фотоэлектронов в вакуум, т. е. вероятность прохождения области изгиба зон и границы раздела полупроводник— вакуум. Обычно В лежит в пределах 0,05 ч-0,5.  [c.366]


Рис. 14. Влияние коэффициента диффузионного отражения на теплообмен. Рис. 14. <a href="/info/15254">Влияние коэффициента</a> диффузионного отражения на теплообмен.
Рис. 21. Поверхность раздела молибденовой проволоки с покрытием ,0з после диффузионной сварки с нихромом (80% Ni—20% Сг) и последующего нагрева при 1200 С в течение 100 ч в водороде. Толщина покрытия Y Og около 1,5 мым. (Проволока на всех микрофотографиях расположена в левом нижнем углу) [30]. Изображение в рентгеновских лучах а — в отраженных электронах б — в лучах Y а — в лучах Мо а — в лучах Ni Рис. 21. <a href="/info/26134">Поверхность раздела</a> <a href="/info/62993">молибденовой проволоки</a> с покрытием ,0з после <a href="/info/7372">диффузионной сварки</a> с нихромом (80% Ni—20% Сг) и последующего нагрева при 1200 С в течение 100 ч в водороде. <a href="/info/43614">Толщина покрытия</a> Y Og около 1,5 мым. (Проволока на всех микрофотографиях расположена в левом нижнем углу) [30]. Изображение в <a href="/info/1712">рентгеновских лучах</a> а — в <a href="/info/285723">отраженных электронах</a> б — в лучах Y а — в лучах Мо а — в лучах Ni
Максимальное прохождение достигается в случае использования гладких полированных поверхностей стекла. Замена полированной поверхности на матовую превращает зеркальное отражение в диффузионное и уменьшает вдвое пропускание света.  [c.323]

Сульфидные покрытия на монокристаллах молибдена оказались удобным о ектом для изучения эпитаксии при росте диффузионных покрытий. Покрытия однофазны и обладают гексагональной кристаллической решеткой с параметрами а = 0,313 0,001 нми с- 1,220 1,246 нм. Отражения (10/) с нечетными / на рентгенограммах размыты что указывает на нарушения периодичности укладки гексагональных сеток из атомов молибдена в решетке сульфида.  [c.135]

Формирование слоистой структуры в результате диффузионных и деформационных процессов в присутствии поверхностноактивной смазочной среды обусловливает усложненную картину рентгенограммы металла с ГЦК решеткой кроме основных линий твердого раствора появляется другая система линий, соответствующая отражению рентгеновских лучей от кристаллографических плоскостей медной пленки. По соотношению интегральных интенсивностей интерференционных линий разных фаз можно оценить толщину отражающих слоев. Особенно отчетливо выявляются две системы линий на рентгенограммах образцов с высоким начальным содержанием цинка, приводящим к увеличению разности периодов кристаллических решеток. На рис. 61 приведены две рентгенограммы, полученные после испытания на трение латуни Л63 в течение 17 и 40 ч. Соотношение интенсивностей линий сви-154  [c.154]

При правильном отражении (по законам геометрической оптики) тело называется зеркальным, а при диффузионном отражении (рассеянном)—абсолютно белым.  [c.190]

Блеск металлических осадков оценивают по результатам измерения интенсивности зеркально отраженного от покрытия или диффузионно-рассеянного света с помощью рефлектометров, фотометров и других оптических приборов.  [c.189]

Поляризационные диаграммы, отображающие кинетику общего (кривая АА), анодного (кривая ВВ) и катодного (кривая ББ) процессов на поверхности образца показаны на рис. 15. Кривая А А представляет собой регистрируемую гальваностатическую поляризационную диаграмму образца Фсо— его стационарный потенциал. В силу диффузионного ограничения катодной реакции кривая ББ зависимости г = (ф) на некотором интервале между равновесными потенциалами катодной и анодной реакции близка к прямой линии / = /пр. Отсюда участок экспериментального графика ГГ может рассматриваться как результат параллельного переноса влево на расстояние / р участка ВВ графика зависимости 1 = /а (ф). Выполним обратный перенос, т. е. перенесем начало отсчета плотности тока из точки О в точку 0 . Предполагаем, что участок ГГ кривой АА отображает кинетику анодного процесса на поверхности металла образца, тождественную кинетике металла на поверхности стальной трубы, которая будет уложена в грунт в данном месте, если линию ДД рассматривать как ось потенциалов. Построим частную катодную поляризационную диаграмму металла на поверхности трубы и ее зеркальное отражение относительно новой оси ф. Очевидно, на отмеченном выше интервале эта диаграмма (кривая КК) будет близка к линии РГ, параллельной ДД и отстоящей  [c.84]


Боковые стенки канала с диффузным отражением падающей на них радиации являются препятствием лучевому переносу с одной торцовой поверхности на другую. Если бы длина канала к была много меньше размера й торцовых поверхностей (А/ <1), то облученность торцовых поверхностей приближалась бы к единице (ф1,2, о->1)- Наличие боковых поверхностей в канале с полным многократным отражением вызывает диффузионное сопротивление лучевому переносу в канале. Эквивалентная оптическая плотность среды, отвечающая диффузионному сопротивлению лучевому переносу в канале, определяется произведением коэффициента ослабления на длину канала кЪ (критерий Бугера). Коэффициент ослабления лучевого переноса в канале можно определить величиной, обратной средней длине пробега фотонов при их многократном отражении от стенок (А =1/7ф). Средняя длина пробега фотонов отвечает эквивалентному размеру объема пространства канала V, ограниченного отражающими стенками  [c.439]

Разброс по КПД соответствует погрешностям измерения потерь на стенке лампы. Актив-ный элемент — стекло ГЛС-23. внутренний диаметр АЭ — 12 мм, наружный — 20 мм, длина 140 мм. Отражающее диффузионное покрытие нанесено на боковую поверхность АЭ, коэффициент отражения его д=0,98. Лампа ИФП-1200 без покрытий на колбе. Потери в электрическом контуре — 10 %,  [c.112]

Идеально рассеивающие матовые поверхности дают диффузионное (рассеянное отражение).  [c.257]

Общий коэффициент отражения р складывается из коэффициентов направленного и диффузионного отражений и согласно определению всегда меньше единицы.  [c.258]

Далее в числителе значится величина 5 2 — квадратный корень из коэффициента выявляемости дефекта. Коэффициент выявляемости учитывает снижение амплитуды эхо-сигнала от реального дефекта в сравнении с амплитудой эхо-сигнала от идеального плоского отражателя той же площади. Это снижение происходит в результате диффузионного отражения УЗК от шероховатой поверхности реального дефекта. Мерой коэффициента выявляемости может, следовательно, служить отношение амплитуды эхо-сигнала от дефекта к амплитуде эхо-сигнала от равновеликого контрольного плоского отражателя, залегающего на одинаковой с дефектом глубине в аналогичном материа-192  [c.192]

Рнс. 22. Диффузионные поры типа отрицательный кристалл (свет отраженный, уп. 90)  [c.62]

Для устранения этих трудностей Д. Я. Светом был предложен модуляционный рефлектометрический метод измерения коэффициента отражения, который позволяет исключить влияние самоизлучения исследуемой (поверхности. Предварительная модуляция светового потока от вспомогательного источника исключает собственное излучение поверхности покрытия. В работе [130] предложен относительный метод модуляционной рефлектоме-трии, позволяющий измерять коэффициенты диффузионного отражения.  [c.163]

Характер отражения света поверхностью данного вещества зависит от качества ее обработки. В общем случае отражение имеет характер направленно-рассеянного отражения, когда максимум силы отраженного света совпадает с направлением, соответствующим закону отражения. В зависимости от того, какая из составляющих отраженного потока (зеркальная или диффузная) превалирует, отражение рассматривается как зеркальное (коэффициент зеркального отражения р) или как диффузное (коэффициент диффузионного отражения Ряиф). Поверхности, для которых в отраженном потоке излучения преобладает диффузная составляющая, в той или иной степени приближаются к поверхностям, яркость которых не зависит от направления, а сила света убывает пропорционально косинусу угла между нормалью к поверхности и рассматриваемым направлением (равнояркостные, или ламбертовские поверхности).  [c.768]

Рефлектометрический метод и прибор. Известно, что шероховатость поверхности является одним из основных факторов, определяющих соотношение между зеркально отраженным и диффузионно рассеянным светом. Для идеально рассеивающей среды известен закон Ламберта  [c.120]

В качестве определяемых обычно используются числа Нус-сельта — тепловое и диффузионное. Коэффициенты тепло- и массообмена в них носят условный характер, зависят от способа определения площади поверхности контакта и движущих сил процесса. Эта условность ограничивает полноту отражения физической сущности процесса и диапазон действия критериальных уравнений. В этой связи можно сформулировать некоторые желательные требования к определяемому числу подобия.  [c.39]

Только в том случае, когда дифракционная картина является результатом суммирования отражений для разных ОКР — разных участков, не однородных по составу кристаллита (дендритная ликвация, диффузионный слой), при достаточной амплитуде изменений состава твердого раствора и достаточно резкой зависимости периода его решетки от состава возможен дифракционный эффект — размытие ( 2 Ав) линий, возрастающее с увеличением угла в по закону тангенса АС1Ся Аа1а =  [c.129]

Уже Габор высказал мысль, что метод голографии способен передать глубину предмета но только Лейт и Упатниекс реализовали голографическое устройство для голографирования трехмерных предметов. Схема этого устройства дана на рис. 12. Часть расширенного лазерного пучка попадает на зеркало, формирующее референтный пучок, и часть пучка освещает предмет. Диффузионно рассеянное предметом излучение интерферирует со световым пучком, отраженным зеркалом. В результате этого формируется голограмма. При реконструкции изображение имеет все свойства трехмерного изображения.  [c.21]

Из полученных формул следует, что при обращении в нуль хотя бы одного из коэффициентов отражения зеркал Ri или/ 2 генерация исчезает. Эта особенность специфична для механизма нелинейности, связанного с циркулярными фотогальваническими токами. При диффузионной нелинейности возможна генерация в полуоткрытом линейном резонаторе с / 1 = 0. Д1Я рассмотренного механизма нелинейности левозможен также режим генерации в кольцевом резонаторе при возвращении прошедшего  [c.164]


Оценка коэффициента отражения зеркала при скользящем падении может быть сделана на основании формул электромагнитной теории света, связывающих угол полного внутреннего отражения с концентрацией электронов в отражающем веществе. (Речь идет, разумеется, об электронах, принимающих участие в дисперсии.) Оказывается, что для данной длины волны критический угол возрастает как С — концентрация элексро-нов). Или, иначе говоря с увеличением С при данном угле падения можно наблюдать излучение с более короткой длиной волны. Из этих соображений следует, что в условиях скользящего падения выгоднее всего покрывать решетку платиной или золотом, для которых С велико. Наоборот, для углеводородов С мало, поэтому коэффициент отражения решетки уменьшается при осаждении на ее поверхности паров масла. Это заставляет считать более целесообразным применение ртутных диффузионных насосов, а пе масляных [23]. Рассчитанные по электромагнитной теории значения углов полного внутреннего отражения согласуются с экспериментальными данными.  [c.133]

В этих условиях простые диффузионные представления о переносе тепла, массы и шшульса теряют силу интенсивность перемещения молекул по различным направлениям в сильно разреженном газе не сохраняется одинаковой сказывается лучевой характер перемещения молекул. Перенос энергии на границе с поверхностью тела в разреженном газе осложняется отражением молекул с неполным обменом энергии с частицами тела наблюдается явление температурного скачка. Течение разреженного газа относительно поверхности тела осуществляется со скольжением, и на границе наблюдается скачок скорости тече-  [c.103]

Труды профессора Якова Ефимовича Амстиславского по созданию и разработке новых лекционных демонстраций хорошо известны всем преподавателям вузов, читающим курс по общей физике. Эти работы всегда характеризовались поиском новых путей эксперимента и проводились на предельно простой аппаратуре, что полностью выявилось в предлагаемой читателю книге Учебные эксперименты по волновой оптике в диффузионно-рассеянных лучах . В этой книге Я. Е. Амстиславский воскресил идеи таких крупных физиков прошлого века как Стокс и Рэлей, развив предложенные ими принципы эксперимента по эассеянию света и построив оригинальные диффузорные рассеиватели света, работающие как на отраженном (гл.1), так и на прошедшем свете (гл. 2). В третьей главе автор совершенствует разработанную технику эксперимента и, описав опыты, аналогичные знаменитому построению Юнга, переходит к созданию простейших амплитудных дифракционных решеток с небольшим числом штрихов. Эту очень трудоемкую заботу было бы легче проводить, используя фабричные копии (реплики) различных решеток, однако наша оптическая промышленность все еще не организовала массовый выпуск этих полезных и дешевых приборов. Конечно, смонтировать и отъюстировать диффузный рассеиватель совсем непросто, но думается, что в этой трудности скрыто одно из главных положительных качеств предлагаемой книги, где подробно описывается методика экспериментов, которые студент может сделать от начала до конца собственными руками. Это особенно важно в наше время, когда наличие стандартных приборов ( черных ящиков ), физическая природа которых совсем не ясна, часто приводит к пренебрежительному отношению студентов к ручному эксперименту, который на самом деле часто обеспечивает успех опыта. В то же время автор не чурается условий современного эксперимента и описывает опыты с использованием неон-гелиевого лазера, убедительно показывая разницу интерференционных картин в зависимости от когерентности источника и геометрии эксперимента. В целом, считаю, что это учебное пособие безусловно может быть рекомендовано как в качестве руководства по постановке новых лекционных демонстраций, так и для проведения студенческих практикумов по курсу оптики. Думаю, что некоторые эазделы этой книги могут быть полезны школьным преподавателям для повышения интереса учащихся к физике.  [c.5]

Несмотря на возросший научный интерес к вопросам интерфе-эенции в диффузно рассеянных лучах, они не получили должного отражения в учебной литературе. Например, среди большого числа отечественных учебников по оптике, появившихся в печати во второй половине 20 столетия, а также учебников, появившихся за тот же пе-эиод в переводных изданиях, можно, пожалуй, сослаться только на монографию Рэлея [20], в которой обсуждается природа диффузионных колец Ньютона , и на книги Поля [21], в которых затрагиваются опыты по интерференции от плоского запылённого зеркала и то — в варианте, пригодном лишь для индивидуального наблюдения. Несколько лучше обстоят дела в зарубежной учебной литературе по оптике [22-24.  [c.7]

Химические, физико-химические и биохимические воздействия, которые отнесены не к операциям III, а к операциям VII, поскольку они в большинстве случаев (за исключением титрометрических методик) предшествуют процедуре измерений, приводят также к самым различным физическим эффектам механическим — изменениям объема, давления, упругости, масс различных частей жидкостной системы, скорости, коэффициента поглощения и дисперсии звука тепловым — изменениям температуры оптическим — изменениям оптической плотности, коэффициентов рассеяния и отражения, оптической активности, двойного лучепреломления, спектральных характеристик люминесценции и света, прошедшего через среду, изменениям дисперсии света электрическим — изменениям пассивных электрических характеристик среды, их дисперсии, эффектам, связанным с изменениями ЭДС гальванических элементов и диффузионных потенциалов магнитным — изменениям магнитной проницаемости радиационным и радиационно-химическим — появлению радиоактивности и возникновению химических реакций изотопного обмена в результате введения в исследуемую пробу изотопных индикаторов (так называемых меченых атомов).  [c.34]

Примем, что отражатель О ( дефект ), расположенный в ко,нтролируемом изделии на глубине г, имеет площадь 5о и ориентирован перпендикулярно оси падающего пучка УЗК. При этом, учитывая, что поверхность реального дефекта в общем случае является шероховатой и отражение от нее даже при значительных размерах дефекта имеет не зеркальный, а диффузионный характер, введем понятие эквивалентного отражателя. Эквивалентным будем называть отражатель, имеющий форму круга диаметром 2в, плоскую поверхность и создающий при отражении от него УЗК такое же давление на поверхности пьезопреобразователя, как и реальный отражатель. Площадь эквивалентного отражателя, естественно, меньше площади реального и может быть выражена следующим образом  [c.168]

Коэффициент выявляемости может быть определен лишь для дефектов определенного характера, на определенной частоте и по отношению к конкретному эталону. При замене эталона коэффициент выявляемости должен быть уточнен. При изменении частоты значение коэффициента выявляемости меняется (с понижением частоты оно увеличивается, поскольку диффузион-иость отражения уменьшается).  [c.193]

Рнс. 23. Диффузионные коалесцентные (цепочечные) поры в хромите. Свет отраженный, ув. 90  [c.63]


Смотреть страницы где упоминается термин Отражение диффузионное : [c.459]    [c.271]    [c.110]    [c.69]    [c.337]    [c.123]    [c.30]    [c.267]    [c.86]    [c.288]    [c.325]    [c.98]    [c.221]    [c.252]    [c.194]   
Физическая газодинамика реагирующих сред (1985) -- [ c.144 ]

Молекулярное течение газов (1960) -- [ c.157 , c.215 ]



ПОИСК



Отражение



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте