Интенсивное! ь интерференционной

Окончательная юстировка заключается в уравнивании расстояний длин обеих ветвей. Диффузное стекло О устанавливается перед объективом 0 (рис. 3.6.3,г). Одна его половина освещается ртутной лампой Ь, а вторая — рассеянным белым светом приблизительно такой же интенсивности Ь. При этом интерференционные полосы, как правило, наблюдаются в поле [c.175]

Рассмотрим случай интерференции двух таких пучков одинаковой суммарной интенсивности, в состав которых входит доля когерентного света у. Тогда интенсивность каждого светового пучка можно записать в виде Ь — уЬ т — у)Ь- Здесь первое слагаемое в правой части выражает интенсивность когерентного света, входящего в состав этих пучков, второе — интенсивность некогерентного света. Переменную составляющую освещенности интерференционной картины создает только когерентная часть колебаний, и поэтому вместо (13.3) получим [c.68]

Если объект имеет конечный объем, то форма максимумов интенсивности зависит как от 2(8), так и от формфактора 5р (глава IV, 4). Пусть объем 7 = где Ь — (средний) поперечник объекта. Если Ь значительно превышает радиус взаимодействия вид дифракционной картины определяется функцией распределения. В обш,ем случае профиль дифракционных пиков определяется сверткой интерференционной функции с формфактором (IV,76). Полуширина формфактора (1,53) равна l/L = 1/па, где п — число рассеивающих единиц. Полуширина мала по срав. нению с АХ (85), если Ь > т. е. если М. [c.215]

Можно графически представить распределение интенсивности при двухлучевой интерференции (рис. 3.1.1). Шириной интерференционной полосы Ь называется линейное расстояние между двумя соседними интерференционными максимумами. Ширина полосы может быть дана и в угловых величинах. [c.106]

Интенсивность в различных точках интерференционного поля, в соответствии с формулой (3.1.16), зависит от аргумента под знаком косинуса, а аргумент является функцией нескольких переменных. Прежде всего отметим зависимость аргумента от волнового числа о = 1/Я. При неизменной настройке интерферометра и при заданном расположении точек Ь, Р результат интерференции зависит только от волнового числа а. Интерференционные полосы, возникающие при изменении а, называют по- [c.112]

ПОЛЯ. Та же картина наблюдается и при исследовании частично поляризованного света (интенсивность максимальна при совпадении плоскости колебаний анализатора с большой осью эллипса и минимальна при совпадении с малой осью). В частном случае, при а == Ь врашение анализатора вообще не будет менять интенсивность проходящего света, как и при анализе естественного света. Интерференционная картина будет отсутствовать. [c.198]

Задание. 1. Изучить принцип действия интерферометра Фабри—Перо, характер распределения интенсивности в интерференционной картине, способы изменения разности хода при осуществлении сканирования интерференционной картины. 2. Собрать экспериментальную установку по схеме рис. П.7, а. Провести юстировку интерферометра Фабри—Перо и получить на экране хорошего качества интерференционную картину колец равного наклона. 3. Определить оптическую толщину интерферометра Фабри—Перо. Из рис. П.7, б следует, что существует следующая связь между радиусом Гр кольца с номером Лр и параметрами схемы = Ь 2то ро) — I " [2кр1ро), где [c.512]

На рис. 70 показан график распределения интенсивности в осевом сечении интерференционного поля, перпендикулярного к краю экрана, в зависимости от размера открытой части щели Ь. Из графика видно, что в отличие от фреиелевой дифракции на непрозрачном экране минимумы дифракционной картины удалены друг от друга на большее расстояние, увеличивающееся при уменьшении размера щели. Если принять за допустимую величину изменения интенсивности, характеризующую погрешность [c.119]

Если пластинка сделана из прозрачного вещества (например, стекла) и падение луча близко к нормальному, то коэффициенты отражения будут малы. Интенсивности многократно отраженных лучей нри этом оказываются настолько малыми, что их влиянием на вид интерференционной картины можно пренебречь. Именно на этом и базируется излои<енное выше рассмотрение двухлучевых интерферометров, в частности, типа Жамена и Майкельсона. Многолучевая интерферометрия испо.льзует диамет])ал ь-по противоположный случай, когда коэффициенты отра. коии ] велики. Это достигается либо путем нанесения на от-ражаюгцие поверхности тонкой пленки вещества с большим коэффициентом отражения, либо за счет больших углов падения. [c.191]

Особенно резко выраженный провал интенсивности рассеянного излучения в области малых углов 60 имеет место в случае покрытия, состоящего из достаточно однородных по размерам частиц серы, осажденных на стекле посредством испарения серы при нормальном атмосферном давлении. На рис. 1.15 представлены снимки, показывающие динамику деформации картины при увеличении диаметра d рассеивающих частиц (г = 45°, Ь — 6м, d 10мкм, (а) d 20мкм,(б) d 40 мкм (в). Слева (рис. 1.15а, б, в) — интерференционные картины справа (рис. 1.15А, Б, В) — покрытия, формирующие эти картины, (вид под микроскопом, увеличение 600 , цена деления шкалы в нижней части снимков 3,3мкм). [c.24]

Когда [Л стрС и в частотно-угловом распределении интенсивности излучения возникает максимум. Варьируя величины а и Ь, можно добиться того, чтобы указанное условие выполнялось в динамическом максимуме, т. е. чтобы динамические максимумы излучений, возникающие в разных кристаллических пластинах, интерференционно усиливали бы друг друга. При этом анализ формул показывает, что если вся стопка достаточно прозрачная , то интенсивность максимума будет пропорциональна квадрату числа пластин в стопке а ширина максимума будет меньше примерно в N раз, В результате полная интенсивность (или число квантов), проинтегрированная по всему максимуму, будет больше примерно в раз. Аналогичный результат получается и в том случае, когда стопка недостаточно прозрачная. Тогда полная интенсивность (или полное число квантов) максимума оказывается больше в соответствующее чис--ло Л эфф раз. [c.204]

Распределение интенсивности в двухлучевой интерференционной картине, согласно формуле (3.1.3), выражается формулой / = 2/о(1-Ь os б), где 6 — разность фаз. Из этой формулы можно определить значение фототока приемника, установленного за диафрагмой с узкой щелью, ширина которой значительно меньше ширины интерференционной полосы. При изменении разности фаз на Аб изменение тока равно А/ = = 2/osin6A6. Максимальное значение А/ будет при sin6 = = 1, т. е. при б = 2я -f-я/2, где k — целое число. В этом слу- [c.228]

Рассмотрим взаимодействие волн первого порядка. Это две плоские когерентные волны, образующие угол i с нормалью. Угол определяется из уравнения дифракционной решетки (sin a-bsin ) =Я. Дифрагированные волны, интерферируя, образуют в плоскости решетки вторичную интерференционную картину с синусоидальным распределением интенсивности периода Ь =V (2 sin ), т. е. [c.476]

Под действием продольного поля Е происходит дополнительное когерентное подмещивание 2Р- и 28-состояний атомов. Соответственно, при изменении расстояния Ь интенсивность излучения 1гр Ь) осциллирует с пространственным периодом Л/, = уо/у см. Здесь ьо есть скорость атомов, V — частота лэмбовского сдвига между уровнями 281/2 ( = О, Рх = 0), 2Р1/г Г = 1, Рх = 0). Очевидно, что зависимость грЩ представляет собой типичную интерференционную картину. [c.264]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...