Дифракционный коэффициент

Зная среднее значение полного давления на поверхности цилиндра, получаем дифракционный коэффициент [c.292]

Отсюда дифракционный коэффициент сферического микрофона [c.303]

Дифракционные коэффициенты, рассчитанные по формулам (V.2.28) и (V.4.22), относят к микрофонам, когда выполняются граничные условия Неймана. Обычно микрофоны отвечают этим граничным условиям, если чувствительный элемент выполнен из пьезокристалла. Но если в микрофонах применяют подвижные элементы (например, ленточный микрофон), то необходимо все расчеты изменить и учесть импеданс активной части его поверхности. [c.303]

Согласно этому выражению, граница апертуры полностью описывается своими дифракционными коэффициентами. Однако выражение (5.2.47) получено в приближении Кирхгофа, поскольку поле и определяется как падающее поле, вычисленное в отсутствие экрана. В следую- [c.352]

Здесь множитель р /5(р + )] учитывает расходимость дифрагированных лучей, покидающих поверхность в точке 6 2 и фокусирующихся на расстоянии от 025 множитель с , / таким образом, dt /dt 2У учитывает расходимость поверхностных лучей. В выражении (6Л.2) дифракционный коэффициент ) р записан в виде произведения двух коэффициентов > (0,) и > ,(0 , поскольку радиусы кривизны траекторий (и, следовательно, /3), в точках 0, и [c.428]

В качестве заключительного этапа приведенные выще выражения можно обобщить на случай -волны, заменяя дифракционный коэффициент на ) , определяемый выражением [c.428]

Дифракционный коэффициент 352, 406 Дифракция на дифракционных решетках 434, 441 [c.652]

С другой стороны, задание коэффициентов 1>°, очевидно, однозначно определяет дифракционные коэффициенты % (ос,Р ) (см,(1.22)), т.е. однозначно определяет лучевое разложение [c.112]

В предыдущих параграфах этой главы рассматривалась одномерная задача дифракции плоской волны на правильной структуре из N параллельных щелей. При расчете коэффициента пропускания дифракционной решетки учитывалась зависимость лишь от одной переменной величины (текущей координаты х). Считалось, что ось X, лежащая в плоскости решетки, направлена перпендикулярно образующим щелей. При перемещении приемника параллельно оси У никаких интерференционных эффектов не наблюдалось — вдоль щели интенсивности складывались. Перейдем к исследованию дифракции в более сложных слу- [c.344]

Формула (50.4) показывает, что разрешающая способность спектрального аппарата равна произведению порядка спектра т на число световых пучков, интерферирующих в приборе. Число это для дифракционной решетки равно числу штрихов для пластинки Люм-мера—Герке или Фабри—Перо можно условно считать число N равным числу отраженных световых пучков значительной интенсивности (число эффективных лучей), которое тем больше, чем больше коэффициент отражения Я (см. 30). Для интерферометра Майкельсона Л/ = 2 для эшелона Майкельсона N равно числу пластин и т. д. [c.216]

Для голографии характерна возможность появления многих дополнительных изображений. Причина их возникновения, по существу, была выяснена в 58. Интерференционную картину можно рассматривать как наложение элементарных систем полос, обусловленных интерференцией опорной плоской волны и пространственных фурье-составляющих поля объекта (см. также 52). Соответствующая элементарная дифракционная рещетка будет периодической, но если фотографический процесс должным образом не отрегулирован, коэффициент ее пропускания не будет гармонически зависеть от координаты. При просвечивании такой решетки образуются волны не только с порядком т = 0, 1, но и с /п = 2 [c.261]

Рентгеноструктурный анализ различных марок сталей и алюминиевых сплавов показывает, что высота периферической и циклической зон может быть выявлена по изменению ширины дифракционной линии в зависимости от толщины стравленного слоя металла с поверхности излома [53]. Интегрально для всех марок сплавов получены величины Q = 0,0354, а = 0,0012. Очевидно, что коэффициенты пропорциональности почти на порядок отличаются от тех, что получены при измерении твердости материала [30, 50, 51]. Поэтому данные о размерах зон, полученные по результатам исследований различными методами, должны быть скорректированы между собой. [c.140]

Затухание предопределяется, с одной стороны, типом волны, с другой -физико-механнческими характеристиками среды и учитывается введением мнимой части в выражение для волнового числа k = 2k/ v, f/б (6 —коэффициент затухания). Известно, что за счет дифракционного расхождения амплитуда объемных продольных и поперечных волн уменьшается по закону 1/Аг, в то время как амплитуды релеевской, нормальной и дифрагированных воли уменьшаются по закону 1/]/"/гг, а амплитуда головной но закону [c.21]

Формирователь управляющего напряжения автоматической временной регулировки чувствительности (ВРЧ) предназначен для выработки напряжения, управляющего во времени коэффициентом усиления приемного тракта дефектоскопа. Применение системы ВРЧ позволяет уменьшить время восстановления усилителя после перегрузки его зондирующим импульсом. Кроме того, система ВРЧ позволяет компенсировать ослабление УЗ-колебаний в контролируемом изделии, обусловленное дифракционным расхождением и затуханием ультразвука. В некоторых дефектоскопах форму управляющего напряжения ВРЧ можно наблюдать на экране электронно-лучевой трубки. [c.182]

В табл. 5.7 приведены основные характеристики методов распознавания типа дефектов и определения их реальных размеров. Все методы условно можно разбить на четыре группы. К первой группе относят методы, основанные на измерении условных и угловых размеров. реальных дефектов, ко второй —основанные на определении акустического коэффициента формы. Методы третьей группы основаны на использовании дифракционных и [c.251]

Снижение амплитуды волны под влиянием затухания (см. подразд. 1.2) определяется множителем где б — коэффициент затухания х — путь, проходимый волной. При экспериментальном измерении б ставят задачу учесть экспериментальным или расчетным путем все потери, не связанные с затуханием ультразвука на дифракционное расхождение лучей, переход энергии в другую среду, электроакустическое преобразование. Часто эти потери превосходят потери при затухании, поэтому их влияние на точность измерения коэффициента затухания весьма велико. [c.418]

Полученное противоречие обусловлено тем, что величина t в уравнении (1.17) отождествлена с определяемыми рентгеновскими дифракционными методами размерами областей когерентного рассеяния Lav В результате облучения размеры ОКР становятся меньше, но уменьшение коэффициента теплопроводности при этом более значительно, чем это следует из уравнения Дебая. Следовательно, изменение теплопроводности обусловлено не только изменением размеров ОКР, но и рассеянием фононов на радиационных дефектах. [c.111]

На основе описанных лазерных дифракционных измерителей могут быть разработаны приборы для механических испытаний (определения коэффициента упругости, разрывного усилия и т. д.), а также для определения оптических, теплофизических и других свойств волокон, измерение которых непосредственно в волокне другими методами не представляется возможным. [c.277]

Частицы, размеры которых соизмеримы с длиной волны падающего излучения. Как видно из рис. 1-1 — 1-6, в области lO p l имеют место наиболее значительные местные изменения коэффициентов ослабления в зависимости от р, связанные в основном с дифракционными явлениями. Особенно заметно они проявляются при и = 10 и малых х- [c.32]

Описанный характер дифракционных явлений имеет место на всех больших частицах независимо от рода вещества, т. е. от его комплексного показателя преломления т. Всегда при р со излучение, рассеянное большой частицей в узком пучке вперед, становится равным излучению, рассеянному частицей во всех направлениях по законам геометрической оптики, а безразмерный коэффициент ослабления лучей асимптотически стремится к значению /с = 2. [c.41]

Частота изменения коэффициента звена с двумя дифракционными решетками равна удвоенной частоте решетки. Это позволяет значительно повысить точность отсчета рассогласовании. Число штрихов на диске современных фотоэлектрических преобразователей составляет от 10 800 до 32 400. [c.277]

Технологические возможности лазера прежде всего определяются предельной плотностью энергии в фокальном пятне. Воспользовавшись соотношением (2.43) для типичных параметров СОг-лазеров с диффузионным охлаждением Р 1 кВт, ft 4 см, получим предельную величину S 10 ... 10 Вт/см". Реальная расходимость [(1...5)-10 1 этих лазеров, как правило в 5.,.10 раз больше дифракционной [(0,5...1) 10 ] и поэтому обычно S 10 ...10 Bт/ м Причиной столь высокой расходимости является большое число оптических элементов и большие размеры диффузионных лазеров, а также генерация высоких поперечных мод излучения. Реальные значения введенного в гл. 2 коэффициента Вт составят [c.128]

Числитель в уравнении (6.12) представляет собой косинус-преобразование Фурье от В (ф), а знаменатель выполняет роль простого масштабного коэффициента. Нетрудно заметить, что для каждого значения длины базы D видность дает информацию об одном конкретном фурье-компоненте распределения яркости. Это легко выясняется с помощью теоремы о свертке (разд. 4.5). Выразив наблюдаемую интерференционную картину при данном D в виде свертки В (ф) с инструментальным откликом, мы получаем из теоремы о свертке, что фурье-преобразова-ние этой свертки является произведением отдельных преобразований. Но преобразование инструментального отклика представляет собой набор полос вида os , у которых имеется единственная пространственная частота, определяемая значением D. Поэтому оказывается, что преобразование от наблюдаемой дифракционной картины лепестков при данном D содержит информацию лишь об одной гармонике в распределении яркости источника. [c.130]

Авторы предпочли другой подход, в котором дифракционный элемент рассматривают как бесконечно тонкий транспарант с особым образом заданным амплитудным коэффициентом пропускания. Во-первых, такое представление ДОЭ достаточно реально отражает условия его работы дифракция света на рельефно-фазовых структурах, изготавливаемых с помощью фотолитографического метода, происходит в пределах тонкого слоя толщиной не более двух длин волн. Во-вторых, оперируя с амплитудным коэффициентом пропускания, очень просто задавать асферические отклонения в структуре ДОЭ, тогда как при рассмотрении рефракционной линзы пришлось бы вводить асферические поверхности, что затрудняет расчет элемента. Конечно, реальные ДОЭ всегда представляют собой дифракционную структуру на поверхности стеклянной подложки конечной толщины. Общепринято, однако, рассматривать в качестве ДОЭ только структуру, на которой дифрагирует свет. Если же влияние подложки существенно, то реальный оптический элемент представляется как совокупность бесконечно тонкого ДОЭ и подложки как чисто рефракционного компонента. [c.7]

Второе замечательное свойство разложения (1.6)—независимость коэффициентов Ст, определяющих распределение энергии дифрагированного света по порядкам дифракции, от вида эйконала записи, т. е. для данного вида зависимости (1.3) можно искать эти коэффициенты, считая Фо линейной функцией координат в плоскости ДОЭ, а сам элемент — периодической решеткой. Определение эффективности дифракционных решеток путем преобразования Фурье профиля штриха, к которому сводится интеграл (1.5) при линейной зависимости Фо от координат, широко известно [34], однако Ст легко вычислить, не прибегая к такого рода упрощениям. Отметим, что коэффициент пропускания t и эффективность ДОЭ в данном порядке (т. е. квадрат модуля Ст, имеющий смысл отношения интенсивности света, дифрагированного в т-й порядок, к интенсивности падающего света) зависят от многих факторов длины волны падающего [c.13]

Данное представление удобно тем, что по форме совпадает с представлением отраженного поля в случае дифракции на отражающей строго периодической структуре. Нахождение поля на поверхности сводится к определению дифракционных коэффициентов Д . Далее будет показано, что в пределе выражения для дифракционных коэффициентов в квазинержоднческом случае совпадают с коэффициентами, вычисленными для строго периодической решетки с параметрами Этот результат является основным для асимптотической оценки поля при дифракщш на квазипериодической структуре. [c.213]

Сравнивая дифракционные коэффициенты с полученными ранее коэффициентами > 1 [см. (5.2.48)] и О у, [см. (5.10.21)], можно заметить, что они отличаются только множителем, стояпщм в квадратных скобках. Кроме того, коэффициенты становятся сингулярными в случае, когда ф = тг + ф, т. е. когда мы рассматриваем лучи, лежащие в плоскости, проходящей через падающий луч и точку 0 . С точки зрения геометрической оптики эта плоскость отделяет освещаемую область от области тени, отсюда и ее название — граница тени, В то время как при ф ф = тг коэффициенты I) J и >р становятся сингулярными, коэффициенты остаются конечными. Легко показать, что данному направлению в геометрической оптике соответствует направление отраженных лучей. Поэтому полуплоскость, проходящая через точку и включающая в себя отраженный луч, называется границей отражения, В заключение заметим, что все упомянутые дифракционные коэффициенты, вычисленные для направлений, лежащих вблизи границы тени, практически совпадают, в то время как для других направлений их различие становится существенным. Таким образом, можно сделать вывод, что вычисления, проведенные на основе скалярного представления и приближения Кирхгофа, совпадают с расчетом на основе точной теории только тогда, когда мы рассматриваем лучи, дифрагированные в прямом направлении и отклоняемые лишь ненамного от границы тени. Фактически же данное утверждение означает, что приближение Кирхгофа неверно как в глубине области тени, так и в глубине освещенной области. [c.410]

Параметры р играют роль поверхностных дифракционных коэффициентов и равны Ьычетам г , о которых речь щла в предыдущем разделе [c.426]

Здесь (а) - дифракционные коэффициенты, которые в случае приходящей волны считаются известными, в случае уходящей под- лезкат определению / - геометрическая расходимость 7=11 =(т-а)/Ла,т), где 7Ла,т) - гладкая положительная функция (нетрудно доказать, что Л (а,х ) [c.20]

В предыдущих 40—42 и гл. VIII распределение освещенности, возникающее в результате дифракционных явлений, вычислялось для таких условий, когда амплитуда волнового фронта остается постоянной на протяжении всего отверстия, ограничивающего размеры волнового фронта. Во многих случаях это условие не выполняется. Например, можно получить изменение амплитуды вдоль волнового фронта, если на пути волны поместить пластинку с переменным коэффициентом пропускания. Разумеется, общие свойства дифракционных явлений (такие, как порядок величины угла дифракции) останутся прежними. Однако целый ряд важных деталей испытывает существенные изменения. [c.184]

Оптические квантовые генераторы оказали и, несомненно, будут оказывать в дальнейшем значительное влияние на развитие оптики. Изучение свойств самих лазеров существенно обогатили наши сведения о дифракционных и интерференционных явлениях (см. 228—230). Распространение мощного излучения, испущенного оптическим квантовым генератором, сопровождается так называемыми нелинейными явлениями. Некоторые из них — вынужденное рассеяние Мандельштама — Бриллюэна, вынужденное рассеяние крыла линии Рэлея и вынужденное температурное рассеяние — описаны в главе XXIX выше упоминались также многофотонное поглощение и многофотонная ионизация (см. 157), зависимость коэффициента поглощения от интенсивности света (см. 157), нелинейный или многофотонный фотоэффект (см. 179), многофотонное возбуждение и диссоциация молекул (см. 189), эффект Керра, обусловленный электрическим полем света (см. 152) сведения о других будут изложены в 224 и в гл. ХК1. Совокупность нелинейных явлений составляет содержание нелинейной оптики и нелинейной спектроскопии, которые сформировались в 60-е годы и продолжают быстро развиваться. [c.770]

До снх пор мы интересовались конфигурацией поля внутри резонатора. Характеристики пучка, выщедшего из лазера, можно найти, решая дифракционную задачу и принимая в качестве исхо,л-ного распределение поля на внешней стороне зеркала, отличающееся на коэффициент пропускания зеркала от поля на внутренней его поверхности. [c.807]

Оптические квантовые генераторы с плавной перестройкой частоты служат основой для спектральных приборов с исключительно высокой разрешающей силой. Пусть, например, требуется исследовать спектр поглощения какого-либо вещества. Измерив величину лазерного потока, падающего на изучаемый объект и прощедшего через него, можно вычислить значение коэффициента поглощения. Перестраивая частоту лазерного излучения, можно, следовательно, определить коэффициент поглощения как функцию длины волны. Разрешающая способность этого метода совпадает, очевидно, с шириной линии лазерного излучения, которую можно сделать очень малой. Ширина линии, равная, например, 10 см" , обеспечивает такую же разрешающую способность, как дифракционная рещетка с рабочей поверхностью длиной 5 м, а изготовление таких больших решеток представляет почти неразрешимую задачу. [c.819]

Радиополяризационный метод лри-меняется для исследования остаточных напряжений, напряженно-деформи-. рованного состояния, неоднородной поляризации изделий из пьезокерамики и текстур. Текстура — органи-вованная структура, образующаяся при формировании промышленных изделий. Неправильно сформированная текстура является причиной растрескивания изделий из керамики при обжиге, появления остаточных напряжений, плохого качества шделий в целом. Применение просветляющих покрытий, дифракционных решеток и экранов при диагностике изделий с большим коэффициентом отражения (пьезокерамика, сегнетоэлектрики) способствует получению качественной информации об их внутренней структуре. [c.238]

Амплитуда дифракционного луча пропорциональна амплитуде порождающего его первичного луча. Константа пропорциональности называется коэффициентом дифракции D. Физический смысл коэффициента дифракции состоит в том, что он определяет соотношение амплитуд Лдиф луча, распространяющегося в направлении луча с амплитудой Лцад, его порождающего, с учетом локальных особенностей формы тела, на котором лро-исходит дифракция, т. е. q (а) — это функция, определяющая форму тела, на котором происходит дифракция. Зная распределение коэффициента дифракции по разным направлениям дифрагированных волн, можно восстановить функцию q (а). Коэффициенты дифракции определяются из решения модельных задач дифракции продольных и поперечных волн на телах простой формы, для которых можно получить аналитические выражения. [c.36]

В табл. 5.7 показана схема И еще одного метода, основанного на измерении соотношений амплитуд продольных и поперечных волн, трансформированных на дефекте. Согласно этой схеме обнаруженный дефект озвучивают с помощью наклонного преобразователя с углом ввода 45° импульсами поперечных волн. Приемником с переменным углом ввода последовательно принимают импульсы продольных волн, распространяющихся от дефекта и отражающихся от донной поверхности изделия (угол приема приблизительно равен О. .. 20°), и поперечных, также распространяющихся от дефекта и отражающихся от донной поверхности (угол приема около 45°). Находят и измеряют максимум амплитуд поперечных и продольных волн. Определяют разность указанных амплитуд и вносят в нее поправку, зависящую от глубины залегания дефекта, толщины изделия, разности коэффициентов затухания и дифракционного ослабления поперечных и продольных волн. На рис. 5.40 приведены зависимости отношения амплитуд поперечных и продольных волн для трещины с раскрытием Ь = = 0,01. .. 0,15 мм, а также для эллиптических моделей дефектов. Из анализа кривых следует, что для плоскостных дефектов с коэффициентом формы Q < 0,07 (кривая 1) отношение AflAi уменьшается с увеличением высоты дефекта. Это обусловлено образованием волн дифракции первого и третьего типа. В то же время отношение амплитуд практически не зависит от размеров дефектов, если Q >0,10 (кривые 2, 3). [c.270]

Исправление профиля линий для исключения инструментального уширения осуществляют путем сравнения с линиями эталона— природного графита. При этом допускают, что физическое уширение инии обусловлено блочностью структуры. Однако применение Фурье-анализа с расчетом коэффициентов на ЭВМ показало, что такое допущение ведет к занижению полученных результатов из-за леучтенного вклада микродеформаций в уширение дифракционных линий. Оценить это занижение [c.100]

В действительности же, как было замечено выше, безразмерный коэффициент ослабления лучей для предельно больших частиц равен двум, а эффективное сечение ослабления составляет удвоенную площадь поперечного сечения частицы. Это означает, что большие частицы отбирают из потока в два раза больше энергии, чем падает на площадь их поперечного сечения. Такое удвоение ослабления связано с наличием особых дифракционных явлений на больших частицах, приводящих к специфическому характеру их индикатрисс рассеяния. [c.41]

Подчеркнем, что К-—длина волны света, реально падающего и дифрагирующего на элементе, тогда как Яо — условная длина волны, используемая для аналитического выражения структуры ДОЭ (коэффициента пропускания i). Только в частном случае голографической записи ДОЭ Яо приобретает реальный физический смысл длины волны интерферирующего света при изготовлении элемента. В дальнейшем во всех случаях будем называть Ло длиной волны записи, функцию Фо — эйконалом записи, соответственно Ф и Фт — эйконалами падающей и дифрагированной волн. Отметим, что понятие эйконала записи ДОЭ является основным в теории ДОЭ и используется как при аберрационном анализе, так и при расчете структуры дифракционных линз с заданными характеристиками. Как следует из соотношения [c.13]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...