ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы где J J — интенсивности падающего и отраженного луча соответственно; [А — линейный коэффициент поглощения; а — угол наклона исследуемой поверхности к направлению первичного пучка; 0 — угол дифракции. Из соотношения видно, что толщина исследуемого слоя металла обусловлена углом наклона падающих на образец рентгеновских лучей (рис. 3, а). Это свойство рентгеносъемки использовано в методе скользящего пучка лучей. На рис. 3, б приведена схема съемки по этому методу. Пучок лучей с анода трубки с линейчатым фокусом /, пройдя систему коллимационного устройства 3, под строго фиксированным углом падает на исследуемую поверхность образца 4. Отраженные лучи регистрируются ионизационным или фотографическим способом 5. Для повышения разрешающей способности дифракционной картины, определяемой задачами исследования, первая щель может быть заменена монохроматором 2. Для реализации метода скользящего пучка лучей использовали цилиндрические камеры РКД или РКУ, в которые внесены необходимые изменения, касающиеся коллимационного устройства и механизма поворота образца, или вновь изготовленные [24, 43]. [Выходные данные]