Фотографирование структуры

Для фотографирования структуры с фазами, имеющими собственную окраску, применяют кратковременное травление раствором 50. При этом четко выступают контуры фаз без изменения их окраски. [c.276]

Для наблюдения за структурой и измерения сетки (рис. 6.4) на крышке вакуумной камеры (1) размещен металлографический микроскоп 2 типа МВТ. Измерение сетки осуществляется с помощью микрометрической оптической головки типа МОВ-1-15. Фотографирование структуры или сетки осуществляется с помощью микрофотонасадок МФН-1 (на пластинки 9 X 12 см) и МФН-12 (на фотопленку) при увеличениях до 300 крат при рабочем расстоянии объектива около 80 мм. На рис. 6.5 приведены отдельные моменты развития деформаций в вершине трещины). Для наблюдения за развитием трещины, а также для измерения раскрытия трещины и деформаций в ее вершине при больших увеличениях используется также промышленная телевизионная установка, присоединяемая непосредственно к металлографическому микроскопу (рис. 6.6). Изображение зоны развития трещины подается на телеэкран (рис. 6.7). [c.225]

Японский портативный микроскоп RMM позволяет осуществлять фотографирование структур непосредственно в сосуде. [c.86]

Металлографический микроскоп — прибор для наблюдения и фотографирования структуры металлов и сплавов, использующий отраженный свет от непрозрачного объекта — шлифа. Набор объективов и окуляров обеспечивает в современных микроскопах полезное увеличение до 2000 раз. [c.7]

Для фотографирования структуры выбирают интересующее исследователя место шлифа, а затем отраженные от микрошлифа лучи света направляют в фотокамеру через проекционный окуляр. [c.64]

Средняя часть экрана 9, имеющего отверстие, закрытое гранью призмы 11, может быть рассмотрена также при помощи оптического микроскопа 12 небольшого увеличения. При дополнительном увеличении оптическим микроскопом в 4—5 раз наибольшее полезное увеличение электронного микроскопа достигает 100 ООО раз. Фотографирование структуры производится на фотопластинках, так как электроны действуют на фотослой пластинки так же, как и луч света. [c.95]

Закономерности в структуре спектров были установлены не только у водорода, но и у других элементов. Спектральные исследования выполнили в конце XIX в. Кайзер и Рун-ге, применившие фотографирование спектров. Обобщая экспериментальные данные, Ритц в 1908 г. сформулировал так называемый комбинационный принцип, согласно которому всякую новую линию в спектре можно вывести из ранее известных, комбинируя их в виде сумм и разностей. [c.61]

Первые установки для тепловой микроскопии были снабжены приспособлениями в виде шторки или заслонки из металлического листа. Внутри рабочей камеры установки такая шторка при помощи электромагнитного толкателя, введенного через вакуумное уплотнение, перемещалась параллельно плоскости смотрового стекла. Шторка располагалась в промежутке между поверхностью образца и смотровым стеклом. Небольшое отверстие в ней на время наблюдения за структурой образца совмещалось с оптической осью объектива микроскопа, находящегося снаружи вакуумной камеры. При этом напыление на смотровое стекло происходило только во время наблюдения и фотографирования строения образца. Недостаток приспособления заключался в том, что после окончания опыта нужно было очищать смотровое стекло от слоя конденсата. [c.86]

На установке ИМАШ-5С-65 внесен ряд изменений в конструкцию некоторых узлов микроскопа МВТ. В частности, объективы крепятся к опак-иллюминатору удлиненной переходной втулкой (увеличивающей примерно на 60 мм оптическую длину тубуса микроскопа). Изменены также рукоятки координатного перемещения столика микроскопа. Оптические характеристики применяемых объективов приведены в табл. 14, а действительные увеличения микроскопа МВТ при наблюдении, фотографировании и киносъемке структуры образцов (для различных сочетаний объективов и окуляров) — в табл. 15. [c.121]

ДЕЙСТВИТЕЛЬНЫЕ УВЕЛИЧЕНИЯ МИКРОСКОПА МВТ ПРИ НАБЛЮДЕНИИ, ФОТОГРАФИРОВАНИИ И КИНОСЪЕМКЕ СТРУКТУРЫ ОБРАЗЦОВ НА УСТАНОВКЕ ИМАШ-5С-в5 (ДЛЯ РАЗЛИЧНЫХ СОЧЕТАНИЙ ОБЪЕКТИВОВ И ОКУЛЯРОВ) [c.122]

При фотографировании деформационной структуры с экрана монитора получается достаточно хорошее качество изображения. Линии развертки при визуальном исследовании поверхности образца на экране монитора не влияют на точность подсчета линий скольжения и не искажают общую картину деформационного рельефа (рис. 183). [c.285]

Ориентировочная продолжительность металлографических испытаний а) определение типа структуры путём сравнения с эталонами (без фотографирования)—5—10 мин. б) испытание на микроструктуру, включая травление реактивами, фотографирование и подробные описания — 30—120 мин. [c.371]

Установка дает возможность тщательно изучить структуру металлов и других материалов, исследовать диффузию, изучить р—п-переходы в полупроводниках. Загрузка и выгрузка образцов обеспечивается без нарушения вакуума в рабочей камере. Предусмотрена возможность фотографирования спектра исследуемого вещества. [c.313]

Спекл-структура изображений проявляется как при фотографировании в когерентном свете, так и в голографии. В последнем случае размеры С. также определяются по ф-лам (1) и (2), где а — угл. размеры голограммы. [c.604]

Изучение структур и их фотографирование производилось при тысячекратном увеличении (ХЮОО) на гори- [c.97]

По расположению оптических систем и устройств различают микроскопы вертикальные и горизонтальные. Вертикальные микроскопы МИМ-6 и МИМ-7 при визуальном наблюдении дают увеличение 60—1440 раз, что позволяет изучать детали структуры с минимальным размером 0,2 мкм. Горизонтальные микроскопы (МИМ-8) обеспечивают увеличение до 1350 раз при визуальном наблюдении и до 2000 раз — при фотографировании. [c.64]

Для наблюдения микроструктуры служат металлографические микроскопы, дающие возможность исследовать структуру при увеличении до 1600 раз при визуальном наблюдении и при увеличении до 2400 раз при фотографировании (табл. 2.20). [c.57]

Фотографирование структуры производится с помощью микрофотонасадки МФН-1 Максимальное увеличение оптической системы 350-кратное. Для освещения поверхности образца при высоких температурах применяются ртутные лампы типа ДРШ-100. Перемещением тубуса с помощью зубчатого устройства объектив устанавливается над образцом на требуемом рабочем расстоянии. Оптическая ось объектива и ось индентора смещены на определенный угол, что позволяет попеременно подводить объектив и индентор к исследуемому участку на поверхности образца. Путем перемещения оптической системы микровинтовым устройством 31 с нониусной шкалой в горизонтальных направляющих троектории движения осей индентора и объектива при повороте вокруг оси I—/ совмещаются. Угол поворота системы фиксируется вилкообразным регулируемым упором 32, установленным на крышке камеры. Таким образом достигается прицельное внедрение индентора в выбранную зону на поверхности образца. [c.69]

УВЕЛИЧЕНИЕ МИКРОСКОПА МВТ С ОБЪЕКТИВОМ ОСФ-16 ПРИ НДБЛЮДЕИИИ И ФОТОГРАФИРОВАНИИ СТРУКТУРЫ ОБРАЗЦОВ И РАЗМЕРОВ ОТПЕЧАТКОВ [c.164]

Фотографирование структуры и микрофотография. Для изготовления фотоснимков структуры применяют микроскопы больших размеров с пластиночным фотоаппаратом, а также такие небольшие устройства, как Вертиваль [142], представляющий собой обычный отражательный микроскоп, в ко- [c.180]

Для фотографирования структуры плоского образца (размером 90 X 20 X 1,5 непосредственно в процессе эксперимента в вакууме или среде инертных газов высокой чистоты в осветителе микроскопа установки ИМАШ-ЮМ применена импульсная лампа высокой яркости, так называемый строботрон типа ДРШ-15. Поджиг с троботрона обеспечивает схема синхронизации, управляющая его горением, продолжающимся всего около 1,5 мксек, что позволяет наблюдать и фотографировать выбранный участок поверхности колеблющегося образца. [c.9]

С помош,ью вертикального металломикроскопа МИМ-6 исследуют непрозрачные объекты в светлом и поляризованном свете, а также производят фотографирование структуры шлифов. Микроскоп МИМ-6 дает увеличение при наблюдении 63—1425 а при фотографировании — 86—1416 К микроскопу прилагается комплект объективов и окуляров для различных увеличений. [c.277]

Вертикальный металломикроскоп МИМ-6 позволяет исследовать непрозрачные объекты в светлом и поляризованном свете, а также производить фотографирование структуры шлифов. Микроскоп МИМ-6 дает увеличение при наблюдении от 63 до 1425 раз, а при фотографировании от 86 до 1416 раз. [c.360]

Возникает вполне естественный вопрос а нельзя ли каким-либо способом зафиксировать всю информацию о предмете На этот вопрос в 1947 г. ответил Д. Сабор — изобретатель голографии. Он обратил внимание на то, что при фотографировании предмета всегда приходится осуществлять наводку на резкость, иначе изображение будет нечезким, а го и вовсе может отсутствовать. Между тем независимо от наводки на резкость лучи света, образующие изображение на фотопластинке, на участке между объективом и фотопластинкой нику/га не исчезают и к ним не добавляются новые. Разбираясь в этом парадоксе, Габор предположил, что изображение предмепа присутствует в скрытом от наблюдателя виде в любой плоскости между объективом и фотопластинкой. Иначе говоря, изображение в том или ином виде содержится в самой структуре световой волны, распространяющейся от предмета к объективу фотоаппарата. Это утверждение следует из хорошо известного принципа Гюйгенса—Френеля, согласно которому волна, излученная источником или отраженная от предмета, болыие не зависит от них и распространяется в пространстве как бы сама но себе. Так волновая теория света, впервые предложенная X. Гюйгенсом, привела английского, физика Д. Габора к открытию г олографии. [c.5]

Тонкую структуру выявляют с помощью микротравителей. Исследования микроструктуры проводят при 50—1500-кратных оптических увеличениях. Основной задачей микротравления является расчленение структуры для каждого выбранного типа выявления, например для выявления границ зерен и тонких выделений (сегрегации), которое возможно при правильном соотношении выбранного увеличения к глубине резкости при одновременном хорошем просмотре структуры. Микротравление может применяться для выявления всех видов структуры а также в тех случаях, когда должна быть выявлена только общая структура (зеренная, литая) или распределение какого-либо сопутствующего или легирующего элемента. Микротравление позволяет использовать шлиф без дополнительной обработки при фотографировании макро- и микроструктуры. [c.27]

С целью повышения устойчивости травителя его готовят, смешивая реактивы 25а и 256, которые неограниченно устойчивы при соотношении 1 1. Картина травления формируется, как при травлении реактивом Хейна. Как в стали, так и в чугуне выявляются сегрегации и первичная структура. Чтобы получить высокую контрастность, особенно для фотографирования, Дюар рекомендует покрывать травленую поверхность слоем воды или разбавленным раствором хлорида цинка, к которым добавляют 54 [c.54]

Нельсон [6] для травления богатых оловом подшипниковых сплавов рекомендует 25%-ный водный раствор азотной кислоты. При этом эвтектическая структура после травления в течение 5 с выглядит темной, а меднооловянные и сурьмянооловянные фазы —светлыми. Иногда шлифы полезно дополнительно обрабатывать кипящим спиртовым раствором пикрата натрия. Для этого не требуется тщательной полировки. Описанный способ травления пригоден для фотографирования макроструктуры. [c.232]

Образец 1 помещается в фокусе Fэллипса (на 101,6 мм ниже вершины эллипсоида). Изображение структуры на торце образца передается в фокус (ход лучей показан тонкими линиями со стрелками). В фокусе F , находящемся снаружи корпуса 3, имеется окуляр 9, а также может быть камера для фотографирования изучаемой структуры. [c.98]

Оптическая система установка ИМАШ-18 состоит из объектива 11 с большим рабочим расстоянием, укрепленного на опак-иллюминаторе 12 специального металлографического микроскопа. В осветителе микроскопа 13 применена ртутная газоразрядная лампа сверхвысокой яркости типа ДРШ-100-2 мощностью 100 Вт. Яркость свечения жгута паров плазмы в этой лампе составляет около 100 кстб. Следует напомнить, что яркость электрической дуги составляет всего около 15 кстб. Визуальное наблюдение за структурой образца осуществляется через окуляр 14 и монохроматический узкополосной светофильтр 15. Последний является одним из важных элементов оптической системы [58]. Он пропускает преимущественно волны с длиной X = 546 мкм (ртутная линия в спектре лампы) и срезает собственное световое излучение образца, а также волны других длин из спектра лампы. При этом становится возможным прямое наблюдение за микроструктурой образца в отраженном свете, а также фотографирование или киносъемка ее камерой 16. [c.138]

Лучшими пластинками для фотографирования микроструктуры считаются контрастные ортохроматические и изоортохроматические с применением при экспозиции жёлто-оранжевых (X = 510оА) или зелёных (X = 460оА) светофильтров. Чувствительность пластинок желательна 200—300 по X и Д. Пластинки с большей чувствительностью, а равно диапозитивные и штриховые не рекомендуются, так как они дают резкий контраст и тем самым скрывают тонкие детали структуры. Фотографирование макроструктуры, наоборот, лучше производить на штриховых пластинках с чувствительностью 50—100 по шкале X и Д. [c.148]

Структуру поперечных мод, или распределение интенсивности излучения по сечению луча, можно определить фотографированием луча или его сканированием приемником, регистрируюш им в каждый момент времени интенсивность отдельной части сечения. [c.103]

Результаты экспериментального исследования движения конденсата в решетке соплового аппарата турбины на специальной установке, позволяющей визуализировать поток и производить фотографирование картины течения, опубликованы в статье Л. 19]. Авторы установили, что конденсат течет в виде слоя по всей высоте лопатки. Исследование его структуры показало, что слой бинарный по поверхности лопаток воды, а над пленкой — слой с большим содержанием капель. С увеличением скорости пара на выходе из решетки вплоть до Afi l,l толщина бинарного слоя уменьшается, а при повышении начальной влажяо-сти—растет (рис. 4). На выпуклой поверхности профиля пленка значительно тоньше, чем на вогнутой, где собирается более /з всей капельной влаги, содержащейся в потоке. С задних кромок лопаток конденсат стекает не в ви- [c.8]

Телевизионная техника позволила установить сопряжённость П. с. в двух полушариях, исследовать быстрые изменения и тонкую структуру П. с. Наряду с изучением естеств. П. с. были поставлены эксперименты по созданию искусств. П. с., во время к-рых с ракеты на высоте неск. сотен км инжектировался в атмосферу пучок электронов высоких энергий. Измерения интенсивности отд. эмиссий и фотографирование П. с. из космоса проводятся со спутников как на полярных круговых орбитах с высот — 400—1000 км, так и на эксцентричных орбитах с апогеем 10 км. Использование свечения в крайнем ультрафиолете, излучаемого на высотах >110 км, позволяет вести наблюдения П. с. также и в областях атмосферы, освещённых прямыми солнечными лучами. Т. о., со спутников осуществляется непрерывная регистрация свечения верхней атмосферы, его распределения в области высоких широт и интенсивности. Результаты используются для диагностики эл.-магн. состояния ближнего космоса. [c.80]

Простейший вариант спекл-фотографии сводится к фотографированию объекта на одну и ту же фотопластинку до и после смещения или деформации. При освещении полученной таким способом спекл-фотографии нерасширеяиьш лазерным пучком в дальней зоне наблюдается гало дифракции с полосами Юнга (рис. iy, ориентация и период к-рых определяются направлением и величиной смещения объекта между экспозициями. При изменениях микроструктуры объекта меж-, ду экспозициями, что может быть обусловлено эрозией или коррозией поверхности, контактными взаимодействиями с др. телами, износом и т. д., идентичность спекл-структур, образованных объектом до и после смещения, нарушается и контраст полос Юнга уменьшается, что используют для изучения указаввых явлений. [c.605]

Визуальные наблюдения и скоростное фотографирование не дают однозначной информации о типе структуры двухфазного течения из-за наличия покрытой волнами пленки жидкости на оптических стеклах. Более надежно режимы течения определяются при анализе спектральных плотностей пульсаций световой интенсивности в прозрачных объектах, а также при помощи спектрального анализа пульсации статического давления или температуры в непрозрачном канале. На рис. 2.1, а даны примеры основных структур двухфазных течений и осциллограммы пульсаций статического давления, на рис. 2.2 — осциллограммы интенсивности света для этих же реяшмов. [c.39]

Чувствительность стали к выявлению дефектов зависит от химического состава металла и дефекта (газовые раковины, шлаковые вклю-ченля я т. п.), структуры металла, толщины детали, глубины залегания дефекта, расположения и его формы, условий съемки и обработки негатива и других причин. При просвечивании здоровой части отливки поглощение лучей будет иметь одну величину, а при наличии раковин, пор и т. п. дефектов другую. Место нахождения дефекта выявится на экране в виде темного пятна, повторяющего очертания дефекта. Дефекты можно выявлять путем проектирования на экран (рентгеноскопия) или фотографированием на пленку (рентгенография). [c.444]

Если необходимо сфотографировать микроструктуру, то призма 7 сдвигается в сторону, и луч после пластинки 2 попадает в фотоокуляр 9, проходит через диафрагму и затвор 10, отражается в зеркале //и направляется на матовое стекло 12. Наводку на резкость и выбор объекта фотографирования проводят по матовому стеклу. Затем вместо стекла ставят кассету с пластинкой и начинают съемку структуры. Процесс фотографирования обычный. [c.80]

Вариант метода — метод КФОР (камера фотографирования обратной решетки), который позволяет получать на рентгенограмме неискаженные сечения обратной решетки. Методы вращения и КФОР удобны для анализа диффузного рассеяния, связанного с нарушениями кристаллической структуры, например при исследовании процессов выделения из пересыщенного твердого раствора [12, с. 166 и 385). [c.113]

Для определения размеров макромолекул силиконов и силиконовых каучуков братья Роховы исследовали поверхности излома силиконовых каучуков при помощи электронного микроскопа. С этой целью каучуки, охлажденные в жидком азоте до температур, при которых они становятся очень хрупкими, подвергались излому. Чтобы выявить неровности на поверхности излома, с большим успехом применяют оттиски поверхности, сделанные кремнеземом, который резко оттеняет все неровности. Для получения такого оттиска на свежую поверхность излома наносится покрытие, состоящие из 5%-ного раствора желатины. После высыхания желатиновое покрытие снимается и помещается в вакуум-испаритель, где на это покрытие специальным методом наносится слой кремнезема. Желатину с кремнезема смывают водой, после чего на кремнеземе остается позитивный оттиск поверхности излома каучука. Оттиск затем оттеняется испарением и осаждением на него урана, после чего подвергается фотографированию под электронным микроскопом с увеличением 20 ООО. Микрофотографию фотографическим способом увеличивают до размера, нужного для демонстрации деталей структуры поверхности. Рис. 35 и 36 представляют собой типичные фотографии, полученные этим способом. [c.651]

При определении механиче-ких свойств при комнатной и рабочей температурах должно быть испытано не менее двух образцов на растяжение и трех на ударную вязкость для каждой температуры. Микроструктуру исследуют не менее чем на двух микрошлифах в поперечном и продольном направлениях. После исследования шлифов проводят фотографирование наиболее типичных участков при 100-кратном увеличении — снимок для определения обш его характера структуры и снимок внутреннего края трубы для оценки степени обезуглероживания внутренней поверхности трубы при 500- и 1000-кратном увеличении — снимок для определения строения структурных составляющих. Балльность оценивают по неметаллическим включениям. Определяют степень сфероидизации перлита (для углеродистых, молибденовых и хромомолибденовых сталей), графитиза-ции (для углеродистых и молибденовых сталей) и сравнивают структуры со шкалой структур, рекомендуемых для данной марки стали [c.222]

При выявлении пониженных механических свойств металла одной из труб паропровода необходимы исследования микроструктуры и механических свойств металла неразрушающим методом всех труб (потрубный анализ). Для исследования микроструктуры металла непосредственно на паропроводах хорошо зарекомендовали себя переносные микроскопы, сконструированные на базе биологического микроскопа МБИ-1 и металлографического микроскопа ММУ-1 или ММУ-3. Изготовление микрошлифа для микроструктурного анализа аналогично описанному в гл. 1, т. е. включает шлифовку, полировку и травление. Для исследования структуры обычно достаточно приготовления микрошлифа размером не более 20X20 мм. Микроскоп крепят к поверхности трубы с помощью цепного устройства, обеспечивающего жесткое крепление, затем проводят фотографирование микроструктуры на пленку или фотопластинку, для чего на микроскоп укрепляют фотокамеру Зенит или микронасадку МФН-1, МФН-2 или МФН-3. Переносные микроскопы не дают возможности исследовать микроструктуру при больших увеличениях и в труднодоступных местах. [c.223]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...