Фотографирование спектров

Закономерности в структуре спектров были установлены не только у водорода, но и у других элементов. Спектральные исследования выполнили в конце XIX в. Кайзер и Рун-ге, применившие фотографирование спектров. Обобщая экспериментальные данные, Ритц в 1908 г. сформулировал так называемый комбинационный принцип, согласно которому всякую новую линию в спектре можно вывести из ранее известных, комбинируя их в виде сумм и разностей. [c.61]

Спектрограмму хорошего качества можно получить лишь при" правильном выборе экспозиции при фотографировании спектров. Ее оптимальная величина подбирается опытным путем по пробной фотопластинке, где фотографируют ряд спектров с выдержками,, отличающимися одна от другой в 2—3 раза (например, 1, 2, 5, 10, 20 с и т. д.). Оптимальной считается экспозиция, при которой характерные группы линий, выбранные для оценки фокусировки или для дальнейшей работы, имеют достаточные для измерений почернения, но не передержаны, что снизило бы практическую разрешающую силу спектрографа. [c.28]

Интенсивности линий на спектрограммах могут сильно зависеть от многих факторов концентрации атомов соответствующего элемента в образце, способов возбуждения и фотографирования спектров, интенсивности в спектре излучения выбранной для анализа линии и от ряда других экспериментальных условий. При неблагоприятных условиях анализа выбранная линия может получиться на спектрограмме очень слабой или вовсе отсутствовать она может также маскироваться близкими по длине волны линиями других элементов. [c.29]

Расстояние между электродами устанавливается таким, чтобы изображение межэлектродного промежутка на экране диафрагмы 4 было несколько больше 5 мм причем в отверстие диафрагмы не должны попадать изображения раскаленных концов электродов. Фотографирование спектров всех образцов можно делать с одним и тем же отверстием диафрагмы — 5 мм (то же относится к задаче 3). [c.34]

Упражнение 2. Качественный анализ латуни. В соответствии с рекомендациями, приведенными в 2, сфотографируйте спектры железа, латуни и меди. Для этого необходимо предварительно подготовить электроды и выбрать оптимальные условия фотографирования спектров. [c.39]

Перед фотографированием спектров эталонов и анализируемых образцов необходимо каждый раз в течение 10 с производить предварительный обжиг электродов с тем, чтобы стабилизировалось соотношение интенсивностей линий аналитических пар. [c.46]

Упражнение 1. Фотографирование спектров. [c.49]

Установка дает возможность тщательно изучить структуру металлов и других материалов, исследовать диффузию, изучить р—п-переходы в полупроводниках. Загрузка и выгрузка образцов обеспечивается без нарушения вакуума в рабочей камере. Предусмотрена возможность фотографирования спектра исследуемого вещества. [c.313]

Спектрофотография. Фотография спектров излучения или поглощения, продолженная в инфракрасную область, дала возможность установить и определить место новых спектральных полос и проделать тщательные исследования. Благодаря стремлению исследователей продвигаться беспрерывно вперед, все к большим значениям длины волны, в фотографировании спектров создалось известное соревнование, которое привело к наиболее примечательным изысканиям и открытиям в получении сенсибилизаторов. [c.177]

В работе [В.5] путем фотографирования спектров шелковинок были определены зоны срыва на несущем винте автожира при полете вперед. Как величина этих зон, так и темп их роста с увеличением скорости полета превышали рассчитанные в ра- [c.804]

В работе [G.136] описываются теоретические и летные исследования срыва на несущем винте. Распределение углов атаки рассчитывалось методом работы [В.4] и было показано, что область срыва возникает на конце отступающей лопасти и увеличивается с ростом fi,. Положение областей срыва в полете определялось путем фотографирования спектров шелковинок и был сделан вывод, что области срыва и их рост могут быть в первом приближении определены расчетным путем. Оказалось, что экспериментальные срывные характеристики хорошо коррелируют с расчетными значениями угла а, 270, и на этой основе был развит описанный выше критерий срыва. В работе [G.134] приведены результаты измерений характеристик винта при больших нагружениях и больших скоростях полета с вхождением винта в срыв. Показано, что рост профильной мощности связан со значением угла i, 270, как это установлено выше. [c.805]

Спектры поглощения указанных фосфоров измерены нами двумя методами — фотографическим и спектрофотометрическим. Фотографирование спектров производилось при помощи спектрографа ИСП-22 и водородной лампы ГОИ в качестве источника света. Спектрофотометрические измерения произведены на кварцевом спектрофотометре СФ-4. [c.162]

В случае фотографирования спектра имеет значение освещенность, создаваемая на фотопластинке. Освещенность соответственно для спектральной линии и непрерывного спектра равна [c.31]

Фотографирование спектра производится на фотопленку, а при больших В — на фотопластинки с тонким стеклом, позволяющим изгибать их в кассете по кругу Роуланда. [c.297]

При фотографировании спектров высоких порядков на многометровых вакуумных спектральных аппаратах длины волн могут быть измерены с точностью до десятитысячных долей ангстрема [32]. Высокая точность при измерении длин волн была достигнута в работах по определению лэмбовского сдвига (см. 45). [c.234]

Один из методов градуировки спектральных приборов основан на одновременном фотографировании спектра в вакуумной и в видимой областях. Регистрируя на различных спектральных [c.241]

Вначале рассмотрим наиболее простую установку для фотографирования спектров комбинационного рассеяния, чтобы получить самое обп ее представление о постановке эксперимента, а также о тех трудностях, которые при этом могут возникнуть. [c.763]

При фотографировании спектра входная щель прибора имеет определенную величину а следовательно, интервал длин волн АХ сплошного спектра, соответствующий величине изображения щели спектрального прибора, определится через линейную дисперсию выражением —АХ = а /61, где а — ширина изображения входной щели. В этом случае = АХ = Ь а /01,, где Ьх—спектральная плотность яркости. Тогда [c.489]

Принадлежность исследуемого свечения неону была подтверждена посредством фотографирования спектра свечения [c.125]

Ширина спектральной щели при фокусировке и при фотографировании спектров образцов устанавливается равной 0,005 Н-0,01 мм. Рабочая высота щели ограничивается с помощью передвижной диафрагмы 7 (диафрагма Гартмана), расположенной перед щелью. Все спектры на пластинке, предназначенной для расшифровки, фотографируются при неизменном положении кассеты, но при разных положениях гартмановской диафрагмы. Для анализов могут применяться как ступенчатая диафрагма, так и имеющая косой вырез (рис. 10). В последнем случае диафрагму от рнимка к снимку передвигают немного меньше, чем на одно деление с тем, чтобы спектры соприкасались или слегка накладывались. Расшифровка спектров, далеко отстоящих друг от друга, трудна и сопряжена с возможностью ощибок в анализе. [c.35]

Определение А1, Ре, Мп, 8п, РЬ, 2п в латуни (анализ на заданные элементы). Спектрограмму получают следующим образом. На фотопластинке фотографируют спектр исследуемого образца— латуни и по обе стороны от него — спектры железа и меди. Экспозицию для спектра меди выбирают несколько большей, чем для спектра латуни (на л 20%). Фотографирование спектров ведут с применением гартмановской диафрагмы. Спектр железа в дальнейшем служит шкалой длин волн при расшифровке спектр меди используют при выборе последних линий, не имеющих наложений с линиями меди. [c.36]

Такой порядок фотографирования спектров позволит упростить процесс отождествления линий на спектрограмме. Начинать расшифровку нужно со снимка, соответствующего последним 5 с испарения пробы (из общего времени испарения 20 с), содержащего наименьщее число линий. На нем будут зарегистрированы лишь последние и наиболее интенсивные линии элементов исследуемой смеси. [c.37]

Спектрограф для ультрафиолетовой области спектра конструкции ГОИ —ЛОМЗ (фиг. 10) предназначен для фотографирования спектров в ультрафиолетовой области на [c.117]

Спектры фотографируются или исследуются визуально. Фотографирование спектров производится на спектрографе. Интенсивность линий определяется фотометрированием сравнительно с эталоном. Такой метод дает возможность получить весьма точный объективный количественный результат. При количественном анализе используется ультрафиолетовая и видимая область спектра в интервале длин волн 200—600 нм. Применяя стилоскоп, спектр рассматривают непосредственно в окуляр интенсивность линий определяют визуально, сравнивая их с некоторыми линиями постоянной интенсивности, например с линиями железа. Этот метод применяется для качественного или нолуколичественного анализа легированного метал- [c.65]

В заключение отметим, что уменьшение дополнительных иска- 1 ений спектральных линий, вызываемых фотослоем, за счет увеличения фокусного расстояния камерного объектива, т. е. за счет уменьшения его светосилы, приводит к необходимости увеличить вре.мя кспозиции при фотографировании спектра. Иначе говоря, получение более полной информации о спектре достигается за счет увеличения времени регистрации. [c.106]

К окну в кожухе спектрографа (рис, 2,30), В современных ваку-j MHbix спектрографах имеются специальные приспособления, позволяющие изменять ширину входной щели, перемещать объективы и кассету с фотопластинкой и выполнять другие операции BHj Tpn кожуха без нарушения вакуума. Фотографирование спектров в области ВУФ производится па специальные фотопластинки плп фотопленки (см, 4,3). Вместо фотопленки в кожухе можно "становить выходную щель и соответствующий приемник пзлучения, что позволяет исследовать спектр фотоэлектрическим методом. [c.194]

Каково выражение для нормальной ширины щели, которую необходимо установить для фотографирования спектров нспускания иа спектрографе ИСП-51 [c.182]

Когда напряжение на лампе достигнет ПО—120 В, снимите спектр ртутной лампы, который необходим для того, чтобы в дальнейшем исключить его из КР-спектра. При фотографировании спектра ртути крышка-рефлектор с белым экраном должна закрывать левую часть кюветного отделения осветителя. Ширина щели при съемке спектра ртутной лампы берется 0,01 мм=10мкм. Высота щели 2—4 (по верхней шкале фигуриой диафрагмы). Экспозиция 5 мин. Не забывайте во время экспозиции открыть шторку кассеты и колпачок щели. Экспозиция дается с помощью затвора в кассетной части прибора. Кассета должна находиться вверху на делении 5. Для более надежной защиты фотопластинки от света кассетная часть прикрывается куском черной материи. [c.204]

КОЙ на расстоянии 12,5 см от щели. При фотографировании спектра с помощью однометрового прибора нормального падения на пластинке получались два спектра, сдвинутых на 2,5 мм друг относительно друга. [c.183]

Фотографирование спектров. Фотографирование спектров коротковолнового излучения отличается только тем, что употребляется фотослой, чувствительный к этой области спектра. Однако при работе на фотопленке было замечено, что пленка иногда смещается во время экспозиции, а также дает трещины на светочувствительном слое. Это объясняется тем, что эмульсия и подложка, помещенные в вакуум, высыхают, что приводит к усадке желатинового слоя и появлению натяжений в пленке, приводящих к ее смещениям. Поэтому рекомендуется до зарядки в кассету высушить пленку в вакууме. Если фотографирование производится на шуманновских эмульсиях, то необходимо соблюдать большую осторожность при установке пленки в спектрографе. Приспособление, позволяющее, не повреждая пленку, надежно ее фиксировать, описано в статье [9]. Необходимо соблюдать осторожность и при проявлении, так как подложка. может неравномерно деформироваться. [c.228]

АгП в области длин волн 610—520 А. Для фотографирования спектров использовался трехметровый вакуумный спектрограф [c.319]

Во избежание наложения спектров разных порядков в комплекте прибора имеются светофильтры, а для уменьшения возможного рассеяния света внутри прибора помещены диафрагмы Z), и Dj. При фотографировании спектров фотопластинка в кассете (9x12) устанавливается в положение Фп. [c.450]

Задание. 1. Ознакомиться с оптической схемой и конструкцией спектрографа ИСП-30, а также правилами юстировки осветительной системы по техническому описанию. Ознакомиться с работой на приборах спектропроектора ДСП-1 и измерительном микроскопе МИР-12. 2. Отъюстировать осветительнук систему и приступить к фотографированию спектров. Последовательно сфотографировать спектры железа и меди и сразу же после фотографирования каждого спектра впечатать миллиметровую шкалу. 3. Осуществить градуировку шкалы после обработки фотопластинки провести отождествление спектральных линий железа по длинам волн, пользуясь спектропроектором и атласом спектра железа, и определить положение этих линийг относительно миллиметровой шкалы. 4. Построить градуировочную кривую iV = f(Л), где N — отсчет по шкале на фотопластинке X — длина волны. 5. Определить длины волн некоторых спектральных линий меди, пользуясь градуировочной кривой V = f( ,). Сопоставить и уточнить найденные длины волн па таблицам спектральных линий. [c.521]

Величину спектральной светочувствительности определяют путем фотографирования спектра в специальном приборе — спект-росенситометре (рис. 82 и 83). На схеме прибора показаны [c.114]

Для фотографирования спектров Р. л. применяются специальные спектрографы. На фиг. 5 приведена схема спектрографа Брагга —щели, вырезающие узкий пучок Р. л., К—кристалл, Р, Р—фотографич. пленка. Кристалл медленно вращается, при становится к падаю- [c.307]

Анализ образующегося в С. п. спектра сводится к измерению его энергии в зависимости от к. Метод, анализа — визуальный, фотографический, фотоэлектрический или тепловой — определяется применяемым приемнико.м излучения. В соответствии с методом регистрации различают визуальные ( п., или сне к-троскопы (наблюдение снектра глазом), спектрографы (фотографирование спектра на фотопластинку), спектрометры (измерение потока излучения, выходящего из щели, расположенной в фокальной плоскости камерного объектива, см. Монохроматоры). [c.9]

ОБЪЕКТИВНАЯ ПРИЗМА — призма, устанавливаемая перед объективом рефрактора (или перед отверстием рефлектора) для фотографирования спектров небесных светил. Телескоп с О. и. представляет собой бесщелевой спектрограф, позволяющий фотографировать на одной фотопластинке спектры множества звезд. Поскольку в таком инструменте не происходит потери света па щели коллиматора (к-рый не нужен при исследовании бесконечно удаленных объектов), он позволяет получать спектры слабых звезд. Для расширения узких ( ниточных ) спектров звезд, к-рые дает О. н., телескопу сообщают небольшое движение по отношению к звездам обычная ширина спектров 0,2—0,4 мм. О. п., применяемые при и( - [c.476]

Цилиндрическая трубка с закрытым входом и выходом разделена на два отсека диафрагмой, по обе стороны от которой находятся газы различных физических свойств. Газ, находящийся в левом отсеке, сжат до значительно большего давления, чем другой. В некоторый момент времени диафрагма разрушается и газ из левого отсека устре -ляется в правый. Разрыв давлений, имевший место до разрушения диафрагмы, распространяется в виде ударной волны вправо, увлекая за собой спутный поток газа. Этот поток встречает на своем пути исследуемую модель, размещенную в правом отделении трубы. Специальная оптическая установка позволяет произвести при этом мгновенное фотографирование спектра обтекания модели, а также и другие интересующ-ие исследсвателя измерения. [c.184]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...