Анализаторы оптические

Схема установки представлена на рис. 580. В этой установке 5— источник света, 1 — конденсатор, 2 — светофильтр, 6 — объектив, 7 — экран. Модель 4 помещается между двумя поляризующими элементами 3 и 5. Первый из них называется поляризатором, а второй — анализатором. Оптические оси поляризатора и анализатора составляют друг с другом угол в 90°. При этом пучок света, прошедший через поляризатор 3, поляризуется в горизонтальной плоскости (вектор поляризации располагается горизонтально, а световые [c.516]

Схема установки представлена на рис. 14.14. В этой установке S - источник света, 1 - конденсор, 2 - светофильтр, 6 - объектив, 7 - экран. Модель 4 помещают между двумя поляризующими элементами St/i 5. Первый из них называется поляризатором, второй - анализатором. Оптические оси поляризатора и анализатора составляют между собой угол 90°. [c.555]

В состав приемной системы ОЭП может входить также отдельный анализатор оптического изображения, с помощью которого из сигнала — изображения наблюдаемого объекта (1)—извлекается информация о его пространственном положении, контурах, законе распределения освещенности и т. п. Очень часто функции такого анализатора выполняет растр — пространственный фильтр (Р), а съем полезной информации происходит при относительном взаимном перемещении растра и изображения. При этом растр является также и модулятором лучистого потока. Однако в ряде случаев модуляция сигнала в приемной системе осуществляется отдельным модулятором ( 0). При этом вид модуляции и параметры модулятора выбираются из условий обеспечения наилучшего режима работы всей следящей системы и подавления внешних и внутренних помех. [c.15]

Действие призмы Френеля можно исследовать, используя оптическую схему, показанную на рис. 2.22. После прохождения поляризатора Pi падающий свет будет линейно поляризован. Вращая анализатор Рг. будем периодически наблюдать полное исчезновение прошедшего света, что соответствует определенному направлению линейно поляризованных колебаний, получивших в результате превращения призмой Френеля линейной поляризации в круговую и повторного превращения в линейную поляризацию в результате действия пластинки в четверть длины волны. Можно также продемонстрировать это в УКВ-диапазоне, для чего используется большой ромб Френеля , изготовленный из парафина. [c.99]

Такие пластинки изготовляют обычно из кварца, а иногда и из тонких слоев слюды, которая, несмотря на то является двуосным кристаллом, может быть использована в этих целях. Свойства пластинки Х/4 легко проверить, поместив ее между двумя скрещенными поляризаторами. Если при вращении анализатора интенсивность прошедшего света не меняется, то толщина подобрана правильно — на выходе из пластинки Получается циркулярно поляризованный свет. Добавив еще одну такую пластинку, можно снова перевести круговую поляризацию в линейную, в чем легко убедиться вращением анализатора. В по-добных опытах, конечно, должно быть выдержано упомянутое выше условие, т. е. вектор Е в волне, падающей на пластинку, должен составлять угол л/4 с ее плоскостью главного сечения. Это достигается относительным вращением поляризатора и пластинки вокруг направления луча. Здесь следует указать, что если направление колебаний вектора Е в падающей волке совпадает с оптической осью пластинки 1/4 (или с направлением, перпендикулярным этой оси), то через пластинку пройдет лишь одна волна. В таком случае из пластинки выйдет линейно поляризованная волна. [c.117]

Как уже отмечалось, если в системе, изображенной на рис. 18.4, убрать поляризатор П] и направить па пластинку естественный свет, то интерференционной картины не будет. Если же на пластинку направить частично поляризованный свет, то через анализатор ГК будет наблюдаться интерференционная картина, хотя и не такая контрастная, как при падении линейно поляризованного света. Таким образом, сочетание кристаллической пластинки и анализатора представляет собой устройство, позволяющее при появлении интерференционной картины обнаруживать частичную поляризацию в падающем свете. Такие устройства называются полярископами. Чувствительность полярископа зависит в первую очередь от конструкции и ориентации кристаллической пластинки (вместо одной пластинки можно применять систему пластинок). Наиболее известен полярископ Савара, в котором используются две кварцевые пластинки равной толщины, вырезанные под углом 45° к оптической оси и сложенные так, чтобы их оси были в скрещенном положении (рис. 18.8). При достаточной яркости исследуемого света с помощью полярископа Савара можно обнаружить степень поляризации порядка 1—2 %. Очевидно, что полярископом можно только обнаружить поляризацию, а для ее количественного измерения необходимо специально проградуированное компенсирующее устройство (например, стопа стеклянных пластинок, по- [c.60]

Ориентировка анализаторов на рис. 151 характеризуется векторами а и Ь, которые одинаково фиксированы относительно соответствующих оптических осей анализаторов, например коллинеарны им. Оптические оси анализаторов лежат в плоскостях, перпендикулярных линии движения фотонов. Взаимная ориентировка анализаторов описывается углом между векторами а и Ь. [c.421]

Если поляризатор и анализатор вращаются так, что их оси остаются перпендикулярными, то полосы остаются постоянными, а изоклины двигаются. Когда это вращение производится достаточно быстро, изоклины становятся невидимыми. Круговой полярископ приводит к тому же эффекту, но чисто оптическими средствами. [c.168]

При этом пучок света, прошедший через поляризатор 5, поляризуется в горизонтальной плоскости (вектор поляризации располагается горизонтально, а световые колебания происходят в вертикальной плоскости). Поляризованный пучок света через анализатор при указанном расположении оптических осей не пройдет и экран освещен не будет. Поляризатор и анализатор, как говорят, установлены на темноту . При нагрузке модель приобретает свойство поворачивать в зависимости от величины напряжений плоскость поляризации проходящего через нее света. Тогда свет с повернутой плоскостью поляризации частично проходит через анализатор, давая на экране изображение исследуемой модели, покрытое системой светлых и темных полос. [c.556]

Отдел проводит поверку средств газоаналитических, оптических и оптико-физических измерений, измерений плотности и вязкости. Освоена поверка анализаторов, применяемых в медицине для анализа крови, и других отраслях - для контроля степени загрязненности сточных вод, каче- [c.105]

Схема когерентного оптического анализатора пространственных структур приведена на рис. 24. Предмет располагается в передней фокальной плоскости линзы и освещается параллельным лучом лазера, В ее задней фокальной плоскости при этом формируется спектр Фурье предмета в виде характерной картины ярких точек различного размера, образующих некоторую структуру (в общем случае непериодическую). Пространственный фильтр выполняется в виде прозрачного экрана с набором непрозрачных точек, перекрывающих изображение спектральных компонент эталонного [c.97]

Рис. 24. Схема когерентного оптического анализатора

Полярископ. Изохромы. Сущность оптического метода исследования напряжений наглядно представляется при рассмотрении прибора, называемого полярископом. Схема полярископа изображена на рис. 85. Он состоит из двух поляроидов или призм Николя, называемых поляризатором (/) и анализатором (//) полярископа. [c.131]

Испытываемый нагруженный образец 3 — плоскую модель, изготовленную из листа оптически чувствительного материала толщиной в несколько миллиметров, устанавливают в полярископе между анализатором и поляризатором перпендикулярно к направлению луча. В ненагруженном состоянии образец почти не изменяет освещенности на экране, и если полярископ был установлен [c.132]

Поляризатор и анализатор заключены в поворотные оправы, обеспечивающие возможность вращения поляризующих элементов вокруг оптической оси полярископа. Отсчет углов наклона главных плоскостей поляризатора и анализатора производится [c.244]

Целесообразность применения поляризованного света для исследования травленых образцов меди и ее сплавов подтверждена Шварцем [24]. В работе [45] предложено использовать поляризованный свет для исследования травления поверхности зерен большинства металлов и сплавов ( оптическое окрашивание ). При повороте объектного столика меняется окраска в каждом азимуте. Самая интенсивная окраска наблюдается при положении, перпендикулярном к плоскости колебания света. При повороте объекта на 90° поверхность зерна окрашивается иначе. Поверхности зерен изменяют свою обычную окраску в светлом поле от светло-коричневой до темно-коричневой, если анализатор поворачивают на 90°, т. е. НИКОЛИ расположены параллельно. [c.14]

Индикаторы среды предназначены для контроля среды, в которой проводят усталостные испытания, например, всеклиматические испытания авиационных материалов и конструкций, во время которых определяют влияние погоды, в том числе атмосферных осадков на усталость материалов. Принцип действия индикатора состоит в том, что на поверхности контролируемого материала располагают торцы световодов, по которым посылают зондирующие световые импульсы с известной характеристикой преобразованные средой импульсы возвращаются по соседним световодам в анализатор, где с помощью известных оптических методов определяется разновидность среды (дождь, туман, снег, гололед, солнечная радиация) и фиксируется ее качественный и количественный состав. [c.308]

Таким образом, приходим к выводу о том, что для определения напряжений при использовании метода фотоупругости весьма важным является умение экспериментально определить разность фаз 6. Именно для этой цели служит анализатор, представляющий собой вторую поляризационную призму. Как уже отмечалось, происходит интерференция света с разностью фаз 6. Обычно оптические оси поляризатора и анализатора либо скрещены, либо параллельны. [c.68]

Особенностью прохождения света через пластинку ортоферрита является резкая зависимость регистрируемого за анализатором оптического контраста от угловой апертуры пучка, обуслорлепная двулучепреломлением материала. Действительно, для произвольного направления распространения света формула пропускания света анализатором (2.20) содержит 0F=2f/A sin (Д /2), где Ап— двупреломление материала. Тогда при изменении направления считывающего светового пучка по отношению к оптической оси на 5° контраст падает от 350 почти до О (рис. 2.15). Это накладывает определенные требования на параллельность применяемых световых пучков. [c.81]

Матричное предгтавление 142 Многоканальный анализатор оптический 64, 405 Мода 127, 177 [c.510]

Для анализа СО в ОГ применяются в основном методы инфракрасной спектроскопии (ИКС). ИКС базируется на селективном поглощении инфракрасного излучения в области длин волн 4,7 мкм. ИКС-анализаторы обладают высокой селективностью, стабильностью и надежностью показаний. Преимущественное распространение получили бездисперсионные анализаторы, работающие на полихроматическом излучении, в которых применяются оптико-акустические детекторы, заполненные анализируемым газом. Эти приборы отличают простота и надежность конструкции устойчивость к механическим и тепловым нагрузкам, что и определило их преимущественное распространение. При заполнении рабочих полостей другим газом (метаном, сернистым ангидридом, двуокисью углерода, окисью азота) и соответствующей корректировке оптической и измерительной систем ИКС-анализаторы могут быть использованы и для анализа других компонентов отработавщих газов. [c.20]

Поляризация излучения является третьей основной характеристикой монохроматич( ской волны. Наиболее простой случай. нинейной поляризации имеет место в УКВ-области, и его можно искусственно создать и в оптическом диапазоне. Существует множество различных типов оптических поляризаторов — устройств, на выходе которых получа( тся линейно поляризованный спет (кристаллы исландского игиата или кварца, призма Николя и различные другие приспособле шя). ( помощью таких уст ройств можно не только поляризовать излучение, но и проверить, характеризуется ли неизвестная радиация линейной поляриза-иией.Методика подобных исследований ясна из рис. 1.12, где показаны две взаимные ориентации поляризатора и анализатора, при которых свет проходит целиком или нацело задерживается. Метод исследования эллиптически поляризованного света [c.36]

Опыты с кварцем. Классическим объектом для демонстрации вращения плоскости поляризации служит одноосный кристалл. Схема опыта представлена на рис. 4.9. Поляризатор и анализатор установлены так, что они не пропускают излучения (скрещены). После введения пластинки кнарца толщиной d поле просветляется. Свет распространяется вдоль оптической оси [c.153]

Описать картину, которая должна наблюдаться в параллельных лучах при помещении между скрещенными Николями пластинки, вьирезанной из одноосного кристалла параллельно оптической оси. Что произойдет, если вращать пластинку если вращать анализатор [c.893]

Зависимости (16), (17) и (21) определяют преобразование оптической системой поля излучения в пространстве предметов в произвольную область пространства изображений. Такс>й способ описания преобразующего действия оптической системы используется прежде всего в том случае, когда анализ оптического поля на выходе оптической системы с помощью анализатора изображения осуществляется в произвольной плоскости пространства изображений, в общем случае е совпадающей с плоскостью изображений, определяемой геометрическо11 оптикой. Тогда моделью оптической системы является выражение (21), а преобразования (16) и (17) осуществляются с помощью модельных представлений слоя пространства. [c.47]

Такой подсистемой может быть юдвижный и неподвижный растры, оправа приемника лучистой энергии мозаика фоторезисторов и т. п. В вырожденном случае - это неподвижная диафрагма и стоящий непосредственно за ней приемник лучист13й энергии. Методически удобно отнести к подсистеме анализатор изобр 1жения — развертывающее устройство, характеризуемое некоторым коэффициентом пропускания г и законом перемещения в поле анализа изображения, а также устройство, осуществляющее преобразование многомерного сигнала в одномерный без искажений во временной координата. Таким устройством может быть, например, безынерционный фотоприемник. В этом случае можно считать, что на вход анализатора изображения поступает сигнал в виде распределения освещенности, создаваемого либо оптической системой, либо слоем пространства. [c.60]

Уравнение (51) отвечает также требованиям, предъявляемым к модели элементов оптико-электронного тракта как объекта проектирования. Оно наглядно представляет процесс пр< образования сигнала в анализаторе изображения и в то же время явным образом связано с конструктивными параметрами системотехнического уровня проектирования. В качестве таких параметров целесообразно рассматривать коэффициенты рядов, описывающих импульсный отклик h (х, j ) и закон анализа х = х (г), у = у(/). Как и в случае оптической системы, функцию h x, у) удобнее представлять в ЭВМ в форме двумернсго массива (матрицы) и в форме степенного ряда [c.61]

В результате решения задач v стемотехнического уровня проектант формулирует ТЗ на подсистемы ojjiofi технической природы для схемотехнического уровня. Основой такого ТЗ являются передаточные функции оптической системы и одномерной части ОЭП. Вопросы, связанные с проектированием анализатора изображения, в основном решены на системотехническом уровне. [c.150]

Для построения модели необходимо составить программу на входном языке ПАСМ, последовательно записывая на экране дисплея соответствующие операторы. Их последовательно ть должна соответствовать направлению прохождения сигнала от входа к выходу тракта. Например ВВОД ИЗОБРАЖЕНИЯ - ОПТИЧЕСКАЯ Ji TEMA - АНАЛИЗАТОР ИЗОБРАЖЕНИЯ. [c.174]

Схема воспроизведения на экране двумерной картинки с помощью управляемого магнитооптического транспаранта на ЦМД показана на рис. 19. Оптическая эффективность такого транспаранта и контрастность воспроизводимой картинки определяются магнитооптической добротностью среды — носителя доменов. Оптический контраст между информационными ячейками в открытом и закрытом состояниях достигается антипараллельным направлением в них векторов намагниченности. Плоскость поляризации проходящего света вращается в паре информационных ячеек в противоположные стороны. Анализатор устанавливают так, чтобы свет при прохожде- [c.37]

Приборы телевизионной и когерентно-оптической структуроскопии. Во многих случаях информация о качестве объектов контроля может быть получена на основе анализа структуры их материала как поверхностной, так и объемной. Для этих целей создан ряд приборов, среди которых наибольшее распространение получили телевизионные анализаторы (ТВА) и когерентно-оптические процессоры (КОП). Действие ТВА основано на сканировании изображения изучаемых структур видеодатчиком (телевизионной камерой или устройством типа бегущий луч ) и последующей машинной обра- [c.114]

До сих пор мы рассматривали однородно деформированную пластинку. В случае же сложным образом деформированной плоской модели каждая ее частица ведет себя как двоякопре-ломляющий кристаллик, оптическая ось которого параллельна одному из главных напряжений этой частицы, а вся модель в целом может рассматриваться как мозаичная совокупность таких кристалликов с различной ориентацией оптических осей. Различным частицам соответствуют, вообще говоря, различные а и б, а значит, и различные интенсивности прошедшего через них света, наблюдаемого через анализатор. [c.237]

Просмотр шлифов в поляризованном свете — это важнейшее вспомогательное средство при исследовании включений и различии оптически изотропных кристаллов от оптически анизотропных. Изотропность определяется строением кристалла. Все вещества, кристаллизующиеся в кубической системе, и аморфные материалы являются оптически изотропными. Все вещества, кристаллизующиеся в других системах, относятся к оптически анизотропным материалам. Изотропные вещества, т. е. большинство металлов, дают одинарное лучепреломление и не изменяют плоскости поляризации плоскополяризованного света, так что наблюдаемое поле при рассмотрении со скрещенными николями (+Л/) остается темным и освещенность незначительно изменяется при повороте объектного столика. Оптически анизотропные кристаллы, например бериллия, кадмия, магния, титана, цинка, а также пластинчатого и коагулированного графита, напротив, дают двойное лучепреломление. Они соответственно их кристаллографической ориентации разлагают плоскополяризованный свет на две взаимно перпендикулярные поляризованные компоненты. Яркость света увеличивается в зависимости от положения оси кристалла к плоскости колебания анализатора при скрещенных николях. Интер металл иды цветных металлов, кроме йнтерметал-лидов, образующихся на основе алюминия, кремния, свинца и AlSb, оптически различаются благодаря тому, что во время поворота объектного столика на 360 они четыре раза попеременно попадают в светлое и темное поле, при этом в отдельных случаях наблюдается окрашивание. [c.13]

Наиболее широкие перспективы применения разработанной методики открываются при использовании телевизионных анализаторов изображения в сочетании с высокотемпературными установками, позволяющими визуально наблюдать за поверхностью образцов в процессе их испытания. С этой целью в Лаборатории высокотемпературной металлографии в содружестве с Проблемной лабораторией металловедения Уральского политехнического института разработан телевизионный анализатор изображения, который может быть использован совместно с любыми металлографическими микроскопами, снабженными фотонасадкой типа МФН-12. В этом приборе световое поле анализируемого объекта преобразуется видиконом в последовательность электрических импульсов, амплитуда которых пропорциональна оптической плотности, а длительность — протяженности частицы, считываемой электронным лучом. Усиленные камерой видеоимпульсы совместно с сигналами частоты строк и полей подаются на дискриминатор, представляющий собой регулируемый фиксатор уровня видеосигнала. Путем регулирования уровня фиксации можно выделить из общей металлографической картины ту часть изображения, которая должна подвергаться анализу. Степень дискриминации воспроизводится видеоконтрольным устройством (монитором). [c.11]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...