Период дифракционной решетки

Совокупность N периодически расположенных щелей на непрозрачной плоскости называется дифракционной решеткой. Расстояние между одноименными краями соседних щелей а называется периодом дифракционной решетки. [c.224]

Следует отметить, что на решетке дифрагирует необыкновенный луч. Обыкновенный луч практически ие испытывает дифракции, так как соответствующий ему электрооптический коэффициент Г13 в 20 раз меньше, чем Гзз для необыкновенного луча. Угол дифракции 0 может быть увеличен за счет уменьшения периода дифракционной решетки. Экспериментально получено 0i = 2,17 X X 10 рад при Л = 300 мкм и /, = 0,71 [21]. [c.130]

Дифракция света на микроструктуре. Период дифракционной решетки, сформированной на поверхности непрозрачного материала с помощью стандартных методов литографии [4.1], увеличивается с температурой. При освещении решетки монохроматическим излучением (рис. 4.1) можно зарегистрировать температурную зависимость углов дифракции [c.93]

Для повышения точности проводится измерение расстояния L между пучками, отраженными в (+1) и (—1) порядки, при этом чувствительность dL/de —HX /a, где Я — расстояние от решетки до фотоприемника, — коэффициент термического расширения материала, свет падает по нормали. Взяв для оценки Я = 40 см, Л = 0,63 мкм, = А - 10 получаем dL/dO 4 10 см/К. Современные средства измерений (матричные фотоприемники на приборах с зарядовой связью и т. д.) позволили в данном случае создать действуюш,ие измерители температуры на основе очень слабого температурного эффекта при изменении температуры на 100 К период дифракционной решетки, имеюш,ей 330 штрихов/мм, изменяется всего на 1,3 нм, т. е. на 0,04%. Метод применялся для исследования взаимодействия химически активной плазмы с поверхностью кремния [4.2, 4.3]. [c.94]

Период дифракционной решетки 93 Плазменный резонанс 102 Плоскопараллельная пластина 25 Поглощение света 27 [c.221]

Фазовая функция (2.350) соответствует фазе периода дифракционной решетки с чистом порядков N/2) х N и обеспечивает фокусировку в половину исходной области из ] X ] порядков. Использование аналитического начального приближения [c.133]

Видно, что чем меньше отношение /Т, тем меньше погрешность вычисления поля направлений для данного метода вычисления. Конечно при этом, суш,ествует ограничение на уменьшение периода дифракционной решетки, вызванное появлением эффектов квантования и дискретизации при синтезе пространственного фильтра, которые экспериментально не исследованы. Также уменьшение периода решетки ограничено технологическими возможностями, а расширение спектра ограничено геометрическими размерами установки. Поэтому в оптической установке отношение периода дифракционной решетки й к ширине спектра Т следует выбрать, исходя из возможностей технической реализации в пределах от 0,0015 до 0,003. [c.644]

Пространственный период дифракционной решетки (его называют также постоянной решетки) мы будем обозначать буквой й. Участок решетки длины д. мы будем называть элементом решетки точки решетки, отстоящие на целое кратное с , — соответственными точками. Общий размер решетки в направлении, перпендикулярном к ее элементам, [c.359]

N одинаковых параллельных щелей в плоском непрозрачном экране ширины Ь каждая, расположенных на равных непрозрачных промежутках а друг от друга (рис. У.2.13). Величина (1=Ь+а называется постоянной (периодом) дифракционной решетки. [c.373]

Объясняется этот результат тем, что крахмал коагулирует в пучностях смещений стоячей волны, отстоящих друг от друга на половину длины волны ультразвука в жидкости. Следовательно, добавление в воду крахмала уменьшает период дифракционной решетки вдвое и согласно формуле (54) вдвое должно возрасти расстояние между дифракционными максимумами. Увеличение яркости дифракционной картины [c.144]

При наблюдении через дифракционную решетку красный край спектра виден на расстоянии 3,5 см от середины щели в экране. Расстояние от дифракционной решетки до экрана — 50 см, период решетки — 10 мм. Определите длину волны красного спета. [c.290]

Рассмотренный случай дифракции на трехмерной решетке имеет исключительно важное значение. Он осуществляется практически при дифракции рентгеновских лучей на естественных кристаллах. Лучи Рентгена представляют собой электромагнитные волны, длина которых в тысячи раз меньше длин волн обычного света. Поэтому устройство для рентгеновских лучей искусственных дифракционных решеток сопряжено с огромными трудностями. Мы видели, что трудность эта может быть обойдена путем применения лучей, падающих на решетку под углом, близким к ЭО". Однако дифракция рентгеновских лучей была осуществлена задолго до опытов с наклонными лучами на штрихованных отражательных решетках. По мысли Лауэ (1913 г.), в качестве дифракционной решетки для рентгеновских лучей была использована естественная пространственная решетка, которую представляют собой кристаллы. Атомы и молекулы в кристалле расположены в виде правильной трехмерной решетки, причем периоды таких решеток сравнимы с длиной волны рентгеновских лучей. Если на такой кристалл направить пучок рентгеновских лучей, то каждый атом или молекулярная группа, из которых состоит кристаллическая решетка, вызывает дифракцию рентгеновских лучей. Мы имеем случай дифракции на трехмерной решетке, рассмотренный выше. Действительно, наблюдаемые дифракционные картины соответствуют характерным особенностям дифракции на пространственной решетке. [c.231]

Если при исследованиях рентгеновских лучей в качестве дифракционной решетки использовать искусственную плоскую решетку с относительно грубым периодом и направить на нее рентгеновские лучи под углом, близким к 90°, то возможно наблюдение дифракции от плоской решетки, т. е. с максимумами, соответствующими всем длинам волн (ср. 47). [c.412]

Влияние периодической неоднородности можно уяснить, не прибегая к аналогии с отражением от дифракционной решетки. Каждый из периодов неоднородности можно уподобить тонкому слою, на границах которого происходит отражение света, аналогичное френелевскому отражению от плоскопараллельной пластин- [c.827]

Определить угловую дисперсию дифракционной решетки с периодом d = 2 мкм для второго порядка для X = 5000 А. [c.880]

Дифракционная решетка шириной в 3 см имеет период 3 мкм. Какова ее разрешающая сила во втором порядке Какова разность различимых длин волн для зеленых лучен [c.881]

Определить положение добавочных максимумов дифракционной решетки (период d, число штрихов N). [c.882]

Если энергия первичных электронов такова, что длина их волны соизмерима с периодом поверхностной решетки , то упруго отраженные электроны дадут дифракционную картину. Следовательно, надо зарегистрировать их пространственное- распределение. Это — метод ДМЭ, поскольку речь идет о медленных электронах с энергией 20—200 эВ. Аппаратура для получения дифракционных пятен несложна, чего нельзя сказать об анализе дифракционной картины и возможностях однозначной трактовки структуры поверхности. Возможности эти значительно улучшаются, если одновременно с пространственным распределением измеряется число отраженных частиц в каждом пятне как функция энергии первичных электронов, что однако усложняет эксперимент. [c.152]

Рис. 5.4. Формирование изображения дифракция и восстановление [О-объект (дифракционная решетка с периодом D) D-дифракционная плоскость I-изображение].

В другом предельном случае, если условия допускают только пары дифракционных максимумов нулевого и первого порядков, поступающих в объектив, в изображении может быть разрешен только основной период D решетки, и при том, как указано выше, лишь как простое синусоидальное изменение освещенности. Уравнение (5.05) показывает, что сообразно с этим наименьший период объекта, поддающийся разрешению, определяется условием [c.95]

Как было показано в гл. 1, дифракционная эффективность ДОЭ определяется видом зависимости амплитудного коэффициента пропускания t от эйконала записи дифракционного элемента Фо [см. выражения (1.5) и (1.3)]. Поскольку для анализа эффективности ДОЭ конкретный вид эйконала записи неважен, при иллюстрации полученных результатов будем считать его линейной функцией одной из координат в плоскости ДОЭ Фо == 2я /Г. При таком виде эйконала записи соответствующий дифракционный элемент представляет собой решетку с периодом Т с прямолинейными штрихами, параллельными оси т]. Простая дифракционная решетка — наиболее удобная модель в данном случае. [c.194]

Кроме того, важное значение имеет гибкость МИС. Под этим подразумевается практическая возможность в каждом конкретном случае наилучшим образом подбирать тип и свойства многослойного рентгенооптического элемента путем оптимизации большого числа параметров. К таким параметрам относятся элементный состав МИС и толщины ее слоев. Период МИС может быть сделан переменным как вдоль поверхности, так и по глубине МИС может быть нанесена на плоские, сферические и асферические подложки, на дифракционные решетки, на тонкие, прозрачные для рентгеновского излучения пленки. Отсюда ясно, что диапазон изменения оптических свойств МИС и их возможности чрезвычайно широки. [c.116]

Частотная область поляризационной чувствительности состоит из длинноволновой и резонансной частей. Выше упоминалось, что в точках скольжения частотные зависимости амплитуд гармоник дифракционного спектра могут иметь резкие или плавные изменения хода кривой, что связано с перераспределением энергии между распространяющимися волнами. Характер размещения лент на периоде многоэлементной решетки приводит к ослаблению роли одних гармоник и увеличению роли других. Это, в свою очередь, сказывается на поведении коэффициента прохождения (отражения) в соответствующих точках скольжения и, таким образом, на изменении дифракционных свойств решетки в области, которую естественно называть резонансной. [c.54]

ДИФРАКЦИОННЫЕ РЕШЕТКИ С ПЕРЕМЕННЫМ ПЕРИОДОМ [c.507]

РИС. 11.24. а — разделение пучка в диэлектрическом волноводе с постоянным периодом решетки Л б — разделение пучка и демультиплексирование в диэлектрическом волноводе с дифракционной решеткой с переменным периодом Л (г). [c.508]

В простейшем случае, при записи методом бинарных голограмм, фильтр представляет собой дифракционную решетку с переменной шириной и положением штриха. На рис. 7.2, а показан дифференцирующий фильтр, амплитудная прозрачность которого равна 1 h x,y), значения фазы, равные О и я соответственно в верхней и нижней половинах фильтра, записываются так, что ширина полосы на данном участке голограммы пропорциональна соответствующему значению h (х у) , а фазовая информация кодируется путем смещения структуры штрихов в нижней половине фильтра на половину периода решетки, передающей пространственную несущую. [c.142]

Пропуская пучок белого света через сосуд с жидкостью, в которой возбуждена ультраакустнческая волна (рис. 10.4), мы получим на экране спектр с дисперсией, соответствующей периоду дифракционной решетки, вычисленному по частоте колебаний кварца II скорости ультразвуковой волны в жидкости (рис. 10.5). [c.233]

В эксперименте у фильтра, изображенного на рис. 10.34в, менялся период дифракционных решеток с каждым из этих фильтров вычислялось поле направлений от 10 тестовых изображений. На рис. 10.38 изображен график зависимости ошибки вычисления поля направлетш от отношения периода дифракционной решетки пространственного фильтра й к ширине пространственного спектра Т контурного изображения. Под шириной пространственного спектра, в данном случае, понимается минимальный диаметр круга, с центром на оптической оси системы, который полностью покрывает области в частотной плоскости, где интенсивность отлична от нуля. Так как в эксперименте использовалось изображение, квантованное по 256 уровням, то условие отличия интенсивности от нуля заменялось на условие превышения интенсивности 1/256 от максимальной интенсивности в спектре. [c.644]

Совокупность большого числа узких 1араллельных щелей, имеющих одинаковую ширину и расположенных на одинаковом расстоянии друг от друга, называется дифракционной решеткой. Расстояние, равное ишртус одной щели и ширине промежутка между соседними щелями, называется постоянной (или периодом) дифракционной решетки. [c.161]

Мы можем и не ограничиться измерениями распределения почернений на фотопластинке, но с ее помощью вновь воспроизвести интерферировавшие волны. В самомделе, поместим фотопластинку в то же место и в той же ориентации, в каких она экспонировалась, и направим на нее просвечивающую волну, идентичную опорной О, прикрыв волну 1 диафрагмой Р (см. рис. 11.3, б). Поскольку почернение пластинки изменяется периодически, она представляет собой дифракционную решетку с периодом Справа от пластинки мы обнаружим набор плоских дифрагировавших волн направления их распространения (углы дифракции) определяются соотношением (см. 47) [c.238]

Для объяснения описанного, очень эффектного эксперимента можно рассуждать следующим образом. На первом этапе голографирования фотопластинка воспринимает более или менее сложное поле, фазовые свойства которого зависят от геометрических особенностей объекта и опорной волны, поскольку использованное лазерное излучение пространственно когерентно. Каково бы ни было это поле, его можно представить в виде набора плоских волн (теорема Фурье). Каждая нз них в результате интерференции с опорной волной создает периодическую систему интерференционных полос с характерными для нее ориентацией и периодом. Каждая элементарная интерференционная картина приводит к образованию на голограмме некоторой дифракционной решетки. В соответствии с изложенным в 58 каждая из этих решеток на втором этапе голографирования восстановит исходную плоскую волну. Более детальный анализ показывает, что восстановленные элементарные волны находятся в таких же амплитудных и фазовых отношениях, как и набор исходных плоских волн. Поэтому совокупность восстановленных элементарных плоских волн воссоздаст согласно теореме Фурье полное рассеянное объектами поле, которое мы и наблюдаем визуально или регистрируем фотографически. [c.244]

Только в том случае, когда дифракционная картина является результатом суммирования отражений для разных ОКР — разных участков, не однородных по составу кристаллита (дендритная ликвация, диффузионный слой), при достаточной амплитуде изменений состава твердого раствора и достаточно резкой зависимости периода его решетки от состава возможен дифракционный эффект — размытие ( 2 Ав) линий, возрастающее с увеличением угла в по закону тангенса АС1Ся Аа1а = [c.129]

Это последнее выражение содержит член, который мы называли sin -функцией, и она снова показана на рис. 4.1, о. Кроме того, если/(х) представляет апертурную функцию всей дифракционной решетки с периодом D, то мы отождествляем ее с амплитудой света от каждой щели только в направлении ( 6) максимумов решетки (порядка и). Это дифракционная картина на одиночной щели (sm пиа)/ пиа), причем и ограничено характерными значениями, задаваемыми выражением [c.63]

При разработке ОР для высокостабильных по частоте квантовых генераторов и создании современных спектральных приборов главным образом используются отражательные дифракционные решетки — эшелетты, работающие в автоколлимационном режиме. Добротность подобного резонатора будет тем больше, чем больше коэффициент отражения поля от эше-летта на автоколлимируюш,ей гармонике. Поскольку решетки часто применяются на длинах волн, сравнимых с периодом структуры, коэффициент отражения зависит от поляризации падаюш,его излучения. В настояш,ем параграфе приводятся результаты исследования спектрального распределения интенсивности поляризованного излучения при дифракции плоских волн на идеально проводящем эшелетте с углом при вершине зубцов 90°. Энергетические характеристики эшелеттов рассчитаны на основе математически строго обоснованного решения данной задачи [25, 58]. Наличие высокоэффективного численного алгоритма позволило поставить и решить задачу детального изучения зависимостей энергетических величин первых четырех автоколлимирующих гармоник от длины волны и угла наклона граней зубцов эшелетта [24, 82, 83, 28П. [c.182]

Видно, что форма импульса совпадает с исходной, но отраженный импульс обладает поперечной групповой задержкой At k qxi, угол между амплитудным и волновым фронтами ijj=ar tg( o <7) (рис. 1.16). Угол ф зависит от несущей частоты соо, угла дифракции 0о и периода решетки d. Поперечный пространственный размер импульса изменяется в 1/1/ I раз. Такова структура отраженного импульса непосредственно вблизи дифракционной решетки, по мере его удаления она меняется из-за дифракционного расплывания. В [6И проведены расчеты дифрагированного импульса, в которых принято во внимание отличие дифракционных длин для различных спектральных компонент. Без учета этого обстоятельства структуру импульса на некотором расстоянии от решетки можно определить исходя из уравнения [c.54]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...