Метод остаточных лучей

Формулы (2-25) и (2-26) хорошо подтверждаются известными опытами Гагена и Рубенса [Л. 101 ]. Последние исследовали отражение от полированных металлических поверхностей в инфракрасной области спектра методом остаточных лучей. Сущность этого метода сводится к следующему. [c.60]

Метод остаточных лучей [c.59]

Так, флюорит дает максимумы отражения при 24 31,6 и ПО мкм. Можно выделить эти полосы методом остаточных лучей, а затем применить тонкую пластинку из хлористого серебра, которая пропустит только полосу 24 мкм. На практике приготовляют зеркала, раскалывая кристаллы или применяя обычные приемы полировки. Имея дело с редкими или рыхлыми веществами, укладывают рядом маленькие осколки их, затем совместно полируют их или же приготовляют пластинки при помощи сплавления или литья под давлением. Необходимо, впрочем, заметить, что влияние полировки таково, что в длинноволновой инфракрасной области нельзя получить такие же значения коэффициента отражения, которые можно получить при отражении более коротковолновых излучений (например видимых). [c.60]

Чтобы такое вещество было пригодно для использования в методе остаточных лучей, максимумы коэффициента отражения должны быть практически одинаковы для обыкновенного и необыкновенного лучей в случае одноосных кристаллических тел и одинаковы для трех главных направлений в случае двухосных кристаллических тел. Для применения в этом методе рекомендуется хлористое серебро, весьма устойчивое и пригодное для изготовления точных оптических деталей [Л. 118]. [c.60]

Метод остаточных лучей позволяет вести интересные исследования различных минералов и неорганических соединений [Л. 119]. [c.62]

Твердые вещества, главным образом кристаллы, дают, вообще говоря, один или несколько максимумов коэффициента отражения. По мере продвижения все дальше в инфракрасную область спектра мы наблюдаем, как правило, прогрессивное увеличение отражения. После достижения максимума наблюдается уменьшение, сначала резкое, потом более медленное оно приближается затем асимптотически к некоторому предельному значению при длине волны в несколько сотен микрон. В области длинных волн существуют другие максимумы коэффициента отражения, разделенные глубокими минимумами. Часто -максимумы отражения достигают очень больших значений, например порядка 80% это — области металлического отражения, используемые, как мы видели, в методе остаточных лучей. [c.79]

Для примера проследим за поведением различных твердых минералов. Галоидопроизводные, как мы уже упоминали, говоря о методе остаточных лучей, обладают резкими максимумами коэффициента отражения в области больших длин волн. Рис. 52 показывает вид этих максимумов для некоторых галоидных солей. [c.84]

Осуществляется метод остаточных лучей по схеме, представленной на рис. 502, где дан случай многократного отражения от одного и того н е кристалла. Здесь [c.668]

Схема монохроматора методу остаточных лучей. [c.668]

Этот оригинальный метод, открытый в 1897 г. Рубенсом и Николь-сом, основан на свойстве некоторых тел избирательно отражать определенные излучения. Благодаря этому свойству после нескольких последовательных отражений поглощаются все излучения, кроме имеющих вполне определенную длину волн эти последние излучения и принято называть остаточными лучами . [c.59]

BOM методе остаточную загрязненность определяют взвешиванием. После протирания поверхности белой тканью или фильтровальной бумагой оценивают наличие на ней загрязнений также взвешиванием. От степени загрязненности поверхности зависит распределение слоя воды на поверхности детали. Если поверхность чистая, то вода распределяется на ней ровным слоем без разрывов. Люминесцентный метод контроля основан на свойстве масел светиться под действием ультрафиолетовых лучей. По величине и интенсивности светящейся поверхности оценивают степень загрязненности поверхности детали. [c.160]

Рентгеновские методы исследования остаточных напряжений основаны на определении расстояния между кристаллографическими плоскостями, т. е. деформации кристаллографической решетки, с помощью измерения угла отражения луча. Остаточные напряжения этим методом можно определить с невысокой точностью и только в тонком поверхностном слое. Для рентгеновских методов исследования остаточных напряжений характерны большая трудоемкость и высокая стоимость проведения эксперимента. [c.424]

Помимо тер.мообработки существуют в нашей стране методы снятия остаточных, сварочных напряжений при гидравлических испытаниях повышенным давлением и послесварочной взрывной обработкой. 100% сварных соединений установок подготовки газа подвергаются контролю просвечиванием рентгеновскими или гамма-лучами для обнаружения дефектов до обработки и снятия остаточных сварочных напряжений и 20%—с выборочным дублированием после обработки (в этом случае контроль допускается любыми физическими методами). [c.177]

На индукционном методе измерения остаточной индукции основана установка типа ТАМ-6. Движущаяся в трубе контролируемая деталь пересекает луч света, падающий на фотоэлемент, который включает соленоид, намагничивающий деталь. После выключения соленоида деталь продолжает падение и проходит через измерительные катушки, ЭДС которых пропорциональна остаточной индукции. Установка настраивается на уровень срабатывания по образцовым изделиям так, что исполнительный механизм сортирует контролируемые детали по твердости. [c.74]

Величина остаточных напряжений ограничена релаксацией скольжения в матрице. Методом дифракции рентгеновских лучей [c.63]

Известно большое разнообразие высокоэффективных технологических методов поверхностного упрочнения деталей машин, повышающих пределы выносливости в два-три раза и усталостную долговечность - в десятки и сотни раз. К ним относятся методы поверхностного пластического деформирования (ПГЩ), химико-термические (азотирование, цементация, цианирование), поверхностная закалка с нагрева токами высокой частоты или лучом лазера, комбинированные и др. Причинами столь высокого повышения сопротивления усталости являются остаточные сжимающие напряжения в поверхностном слое и повышение механических свойств слоя в результате обработки. Суммарный эффект упрочнения зависит от взаимного расположения эпюр остаточных и рабочих напряжений и сопротивления усталости материала по сечению детали [4, 12]. [c.140]

Поэтому лучшим решением является комбинация двух методов хлорирования, с расчетом на поддержание некоторого небольшого постоянного количества остаточного хлопа и облучения циркуляционной воды бассейна ультрафиолетовыми лучами. В некоторых бассейнах применяется только облучение. [c.36]

Методы теории аберраций оптических систем в лучшем случае позволяют найти систему, у которой полностью или частично компенсированы аберрации низших порядков — третьего и пятого, причем всегда существуют остаточные аберрации, определяющие максимально возможные апертуру и полезное поле изображения системы. Более, того, в большинстве случаев решение, найденное из аберрационного расчета, — всего лишь исходный пункт последующей численной оптимизации параметров системы, осуществляемой методом прослеживания хода лучей. В процессе оптимизации, как правило, нарушается достигнутая коррекция аберраций низших порядков, и остаточная аберрация системы представляет собой сложный комплекс членов различных порядков, сбалансированных таким образом, чтобы их совместное влияние на качество изображения было минимальным. Поэтому разработка оптической системы обязательно включает оценку ее реального качества — оценку, при которой [c.80]

Параллельно с использованием метода дифракции рентгеновских лучей в исследованных материалах измерялись остаточные напряжения Результаты этого исследования приведены в [c.140]

Очевидно, чТо при такой форме зависимости излучения от длины волны цветовая температура пламени несколько выше его истинной температуры. Введение поправки на уменьшение коэфициента черноты пламени с ростом длины волны непосредственно к цветовой температуре невозможно, так как с увеличением плотности и толщины пламени коэфициент черноты приближается к единице и цветовая температура приближается к истинной Температуре. Осуществить введение поправки на изменение возможно при измерении не цветовой температуры непосредственно, а двух яркостных температур в лучах двух длин волн, что позволяет рассчитать температуру пламени при условии отдельного определения (приближенного) константы а в уравнении для степени черноты. Однако внесение поправок методом измерения двух яркостных температур не представляется надежным и может дать существенную остаточную погрешность, не говоря о зна чительном усложнении измерения. [c.368]

Использование рентгеновского метода [2] для определения остаточных напряжений основано на рассеянии монохроматических рентгеновских лучей при прохождении их через кристаллическую решетку. Интерференция отраженных лучей, происходящая при этом рассеянии, усиливает интенсивность лучей в одном направлении и ослабляет их в другом. Наибольшей интенсивностью обладают лучи, отраженные под каким-то определенным углом )). Усиление интенсивности лучей происходит в том случае, если разность длин волн отраженных лучей равна целому числу волн. Это условие выражается зависимостью [c.67]

Для многих поглощающих тел отражательная способность имеет резко выраженный максимум в некоторой, иногда весьма узкой, области спектра. Путем многократных отражений от таких тел можно получить лучи с довольно высокой степенью монохроматичности. Такие лучи называются остаточными. Этот метод применяли Рубенс (1865—1922) и его сотрудники для получения монохроматических инфракрасных лучей. [c.451]

Как указывалось, результаты тригонометрического контроля хода лучей через оптическую систему с конечными толщинами обычно не удовлетворяют всем поставленным условиям величины аберраций получаются не те, которые задавались. Это вызывается приближенностью методов решения аберрационных уравнений, влиянием толщин и пренебрежением аберрациями высших порядков. В каждом отдельном случае можно определить долю каждой из этих причин в полученном расхождении однако ради экономии времени и труда целесообразно исправить все остаточные аберрации независимо от причин, вызвавших нх появление. Условимся понимать под исправлением аберрации ие полное их уничтожение, чего достигнуть нельзя, а уменьшение до некоторых заданных величин, вполне определенных для каждого типа системы всякие стремления к дальнейшему уменьшению приводят к бесполезной потере времени. Такие предельные значения для тех или нных аберраций были отчасти указаны в предыдущем параграфе более подробные сведения может дать только продолжительный опыт. Исправление аберраций достигается небольшими изменениями конструктивных элементов системы. Можно указать на [c.375]

Горелка Ауэра является превосходным источником для исследования инфракрасных лучей, начиная с 9 мкм. Благодаря своему слабому излучению в области ближних инфракрасных лучей, она дает при измерениях методом остаточных лучей весьма надежные результаты (табл. 4). [c.32]

Исследования, проведенные в инфракрасной области с помощью метода остаточных лучей, показали, что аквадаг, иногда употребля- [c.114]

Для изоляции узких спектральных участков И. л. применяются следующие методы 1) Разложение в спектр призмами и дифракционными решетками., 2) Метод остаточных лучей, в основе к-рого лежит факт избирательного отражения для лучей, очень сильно поглощающихся в данном веществе (псевдоме-таллич. отражение). Если сложный пучок И. л. отражается, напр, от кристалла KJ, то преимущественно отражаются лучи с Я = = 96,5 ц. Повторяя такое отражение несколько раз, можно получить весьма однородные оста- [c.132]

ОСТАТОЧНЫХ ЛУЧЕЙ МЕТОД — метод выделения узких спектральных участков излучения, осионаппый на явлопии селективного отражения в области полос иоглощеиия вещества. [c.539]

Рентгенографические методы анализа широко используются для изучения структуры, состава и свойств различных материалов. Широкому распространению рентгенофафического анализа способствовали его объективность, универсальность, быстрота многих его методов, точность и возможность решения разнообразных задач, часто недоступных другим методам исследований. Вследствие высокой проникающей способности рентгеновских лучей для осуществления анализа не требуется создание вакуума. С помощью рентгенографического анализа исследуют качественный и количественный состав материалов (рентгенофазовый анализ), тонкую структуру кристаллических веществ - форму, размер и тип элементарной ячейки, симметрию кристалла, координаты атомов в пространстве, степень совершенства кристаллов и наличие в них микронапряжений, наличие и величину остаточных макронапряжений в материале, размер мозаичных блоков, тип твердых растворов, текстуру веп ес1в, плотность, коэффициент термического расширения, толидину покрытий и т.д. [c.158]

При определении еоставляющей напряжения, действующей в определенном направлении, применяют следующий метод. Делают два рентгеновских снимка первый — при перпендикулярном падении рентгеновского луча на поверхность детали и второй — при падении луча иод некоторым углом, но в плоекости нормали и измеряемой составляющей напряжения. По этим снимкам рассчитывают соответствующие межплоскостные расстояния й, и (1 , которые при наличии на исследуемой поверхности детали остаточных напряжений первого рода не равны друг другу. Полученные значения (I и с/ подставляют в формулу для определения напряжения [c.217]

Возможности рентгеноструктурного анализа машиностроительных материалов не исчерпываются методами, рассмотренными в справочнике. В настоящее время разработаны методы измерения остаточных напряжений и де-формвций, числа и распределения дислокаций, размеров, формы и преимущественной ориентировки кристаллов [I, 2, 8, 9]. Некоторые данные для их применения приведены в справочнике [3], Примеры применения рентгеноструктурного анализа для контроля существующих методов упрочнения машиностроительных материалов и разработки новых методов упрочнения термомеханической обработки, обработки лучами лазера и ударными волнами) приведены в работах [5, 7]. [c.4]

Смещение интерференционных линий на рентгенограмме связано с рядом особенностей структурного состояния материала. В первую очередь оно обусловлено закономерностями отражения рентгеновских лучей от атомных плоскостей в линейно напряженном поликристаллическом агрегате. Измеряя относительное изменение межплоскостного расстояния MId, можно определить сумму главных напряжений Ti + в направлении нормали к плоскости главных напряжений Adid = (0i + о )1Е, где Е — модуль упругости — коэффициент Пуассона. Стандартный метод определения суммы ofi + 2 — метод обратной съемки с эталоном, период решетки которого известен. Метод определения остаточных упругих напряжений с помощью нескольких снимков, выполненных под углом к поверхности (метод sin ip), позволяет определять, кроме того, упругие постоянные Е и р,. Определение межплоскостного расстояния при четырех различных положениях рентгеновского луча по отношению к поверхности исследуемого образца позволяет раздельно оценить главные напряжения. [c.74]

Поляризационно-оптический метод используют также для определения остаточных напряжений в оптических деталях, Б изделиях из бесцветного или слабо окрашенного стекла (оптического, химико-лабораторного и электровакуумного). Качественная оценка разности хода лучей из-за двулучепреломления в этих средах производится по интерференционной окраске наблюдаемой картины. Количественная оценка производится измерением разности хода с помощью метода Сенармона, изложенного на сс. 296—298. [c.314]

И Эспи ), которые улучшили этот метод расчета Хейна для осесимметричных случаев. Другой метод, также основанный на принципе удаления материала, был предложен Розенталем и Нортоном ), которые использовали электрические датчики деформации. Эти авторы применили также для измерения остаточных напряжений на поверхностях дифракцию рентгеновских лучей, что не требует рассечения испытуемых образцов ). [c.526]

В случае исследования высокопрочных сплавов и крупнозернистого металла возникают трудности с расшифровкой дифракционной картины, т.к. дифрагированные лучи широкие и слабые. Для определения эпюры распределения остаточных напряжений по глубине необходимо послойное травление и снятие рентгенограмм (дифрактограмм). Таким образом, в качестве неразрушающего рентгеновский метод можно использовать только для определения остаточных напряжений в тонком ПС, которые не всегда могут характеризовать напряжения всего ПС. Его целесообразно применять для оценки напряжений в деталях малых размеров или сложной формы. Максимальная точность определения напряжений рентгеновским методом 20 МПа (на отожженной мягкой стали). [c.71]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...