Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Отражение селективное

Рис. 9.11. Коэффициент отражения селективной поверхности и спектров излучения Солнца и абсолютно черного тела Рис. 9.11. <a href="/info/783">Коэффициент отражения</a> селективной поверхности и <a href="/info/22667">спектров излучения</a> Солнца и абсолютно черного тела

I — коэффициент отражения селективной поверхности черный хром 2 — спектр излучения Солнца при /л = 2 3 — спектр излучения абсолютно черного тела при температурах 30 (а), 40 (б) и 100 °С (в)  [c.490]

На рис. 9.11 показаны спектры излучения Солнца и абсолютно черного тела в сравнении со спектром отражения селективного покрытия черный хром .  [c.490]

Отравление ускорителей 387. Отражение селективное 697. Отстаивание массы 196.  [c.465]

Принцип применения в стандартах селективных марок материалов. Любые марки черных и цветных металлов и сплавов можно характеризовать их химическим составом и физико-механическими свойствами. При рассмотрении предыдущих принципов стандартизации была показана целесообразность отражения в стандартах на общие узлы и детали нескольких групп материалов. Но в ряде случаев, наоборот, возникает необходимость  [c.53]

В качестве теплоносителя принята селективно излучающая и рассеивающая среда, протекающая в канале произвольной формы. Стенки канала также являются селективно излучающими и обладающими произвольной индикатрисой отражения. При этом считается, что в среде отсутствуют внутренние источники тепла и изменение температуры потока происходит за счет процесса сложного теплообмена между текущей средой и граничной поверхностью канала. Все физические параметры среды в общем случае зависят от температуры и давления, а радиационные параметры зависят еще и от частоты. Спектральные радиационные характеристики граничной поверхности являются функциями температуры и часто-  [c.334]

На рис. 7-7 приведены зависимости интегрального коэффициента отражения от температуры абсолютно черного тела для золоченого, никелевого и стального зеркал по данным А. И. Рудной [Л. 57]. Как видно из представленных графиков, наименьшей селективностью отражения обладает золоченое зеркало.  [c.273]

Наибольшее распространение получили двухслойные селективные покрытия. На поверхность, которой необходимо придать селективные свойства, наносится слой с большим коэффициентом отражения в длинноволновой области спектра, например медь, никель молибден, серебро, алюминий. Поверх этого слоя наносится слой, прозрачный для излучения в длинноволновой области спектра, но имеющий высокий коэффициент поглощения в видимой и ближней ИК-области спектра. Такими свойствами обладают многие оксиды. Простейший пример получения двухслойной селективной поверхности — окисление поверхности металла. Двухслойная селективная поверхность возможна также в обратном варианте. Когда названные выше слои располагаются в обратном порядке, т е. слой, отражающий длинноволновое излучение.  [c.490]


Итак, результаты расчетов показывают, что из-за спектральной селективности многослойная оптика малоэффективна для управления пучками широкополосного излучения, хотя и имеется дополнительная возможность некоторого увеличения интегрального коэффициента отражения, если вместо строго периодических МИС использовать структуры со слегка изменяющимся по глубине периодом [70]. Новые возможности управления широкополосным излучением открывают системы скользящего падения с многократными отражениями, которым посвящена гл. 4.  [c.114]

В основе рентгеновской оптики кристаллов лежит основополагающее явление селективного отражения излучения определенной длины волны падающего под соответствующим уг-  [c.304]

ВСЮ ИЛИ существенно большую часть энергии падающей волны в зеркально отраженную гармонику. Поляризационным инвариантности и селективности обратного отражения посвящено несколько работ, библиография по этим вопросам содержится в [79, 81J. На наш взгляд, существенным дополнением к этим работам является демонстрация возможности осуществления на одной решетке режимов, в которых проявляются поляризационная инвариантность и поляризационная селективность при изменении одного лишь параметра задачи. Проведенные исследования показали, что такая возможность существует, о чем свидетельствует рис. 135. Как следует из  [c.195]

Рис. 135. Поляризационная инвариантность (/) и селективность (2, 5) при обратном отражении на минус первой гармонике пространственного спектра (сплошная линия — штриховая — Рис. 135. Поляризационная инвариантность (/) и селективность (2, 5) при обратном отражении на минус первой <a href="/info/420102">гармонике пространственного</a> спектра (<a href="/info/232485">сплошная линия</a> — штриховая —
Посмотрим теперь, что произойдет, если добавить еще диафрагмы того же размера. Из рис. 2.15 и его последующего анализа видно, что расстояние между экранами (диафрагмами) L сказывается на углах наклона лишь трансформированных волн п Ф G). Что же касается отраженной волны, то для нее фазовые условия выполняются автоматически независимо от величины L. Отсюда следует, что размещение таких дополнительных диафрагм на любых участках длины резонатора всегда увеличивают, вместе с числом рассеянных ими волн, коэффициент дифракционного отражения, понижая селективность резонатора.  [c.139]

В качестве примера рассмотрим изображенные на рис. 4.9 схемы спектрально-селективных резонаторов с призмами и дифракционными решетками. Оговорим сразу одно обстоятельство, касающееся последних. Как известно, при прохождении сквозь решетку или отражении от нее плоская волна разбивается на несколько плоских же волн, которые следуют в существенно различающихся направлениях и соответствуют разным порядкам дифракции (см. также начало 2.4). Изготавливая решетку, обычно принимают меры к тому, чтобы основная доля мощности приходилась на одну из дифрагированных волн, которая и используется в цепи обратной связи генератора. Только эти волны изображены на рисунке и будут приниматься во внимание.  [c.226]

Дальнейшее повышение к. п. д. при прочих равных условиях достигается применением селективных покрытий на застекленной поверхности опреснителя, благодаря чему она становится изоляцией. Стеклянная пластина, покрытая тонким слоем определенного материала, например двуокисью олова, несколько хуже пропускает солнечное излучение в области спектра 0,3—2,5 мкм, но зато почти полностью отражает длинноволновое излучение (область спектра 4—20 мкм) [204]. На рис. 8-37 приведены спектральные характеристики пропускания и отражения системы стекло-Ьпленка SnOa—F .  [c.225]

Для перестройки и сужения спектра генерации в лазерах на красителях используются дисперсионные светофильтры и призмы, интерферометры Фабри — Перо, дифракционные решетки, а также селективные элементы, работающие на принципе распределенной обратной связи. В РОС-лазерах обратная связь осуществляется за счет брэгговского отражения излучения от периодической структуры, возникающей в акгизной среде в результате модуляции ее показателя преломления. Введение одного селектирующего элемента сужает спектр генерации примерно до 1 нм без существенного снижения выходной мощности. Получение более узких линий достигается за счет комбинации нескольких селекторов и сопряжено со значительными потерями выходной мощности.  [c.957]


Предстоит еще решить немало научных и технических проблем. Качество селективных поглощаюнхих покрытий будет постепенно ухудшаться (точно неизвестно, как быстро) в результате диффузии металлов и воздействия ультрафиолетовых лучей. Необходимо досконально ксслсдовать процессы теплопередачи в теплоносителе. Должны быть тщательно проанализированы стоимостные показатели. Нужно будет произвести более точные сравнения между системой с рассредоточенными индивидуальными коллекторами ( солнечной фермой ) и системой с отражением солнечной радиации на центральный приемник (электростанцией башенного типа) на основании достоверных данных, прежде чем делать далеко идущие выводы. Однако в первую очередь имело бы смысл отнестись внимательнее к еще одной гелиосистеме, в которой улавливание солнечной энергии ничего не стоит.  [c.148]

Анализ уравнений сложного теплообмена применительно к теплотехническим и теплоэнергетическим задачам проводился рядом aBTOipoB [Л. 3, (160—172, 197]. Однако процесс радиационного теплоо бмена был рассмотрен ими в предположении, что среда и граничная поверхность являются серыми и обладают сферическими индикатрисами рассеяния и отражения. В связи с этими допущениями факторы селективности излучения и аии-зотропии объемного и поверхностного рассеяния не были учтены 1при анализе процессов сложного теплообмена. Уравнения сложного теплообмена для газодинамических задач рассматриваются в [Л. 11, 17].  [c.334]

Если какая-либо поверхность обладает способностью селективно отражать падающее на нее излучение, то после многократных отражений от такой поверхности отраженное излучение будет практически полностью монохрома-тизировано в узкой спектральной полосе отвечающей области максимальной отражательной способности данной поверхности. Например, после многократных отражений от кристалла каменной соли в отраженном излучении будут содержаться лишь лучи с длинами волн К от 47 до 54 мк. При отражении от КВг —лишь лучи с длинами волн =74- 86 мк.  [c.61]

Геликоидальная структура холестерич. к. может быть раскручена электрич. гюлем так что все её сиецифич, свойства (оптич. активность, круговой дихроизм, селективное отражение спета) исчезают. При ныключепия поля эти свойства восстанавливаются, что дает целую гамму важных электрооптич. эффектов.  [c.35]

ИК-спектры селективного отражения применяются гл. обр. при исследоиании спектров монокристаллов, неор-ганич. твёрдых веществ, минералов и т. п.  [c.179]

Отражат. способность для И. и. у большинства металлов значительно больше, чем для видимой области, и возрастает с увеличением Л, И. п. (см. Металлооп-тика). Напр., коэф. отражения А1, Ан, Ag, Си в области Я, = 10 мкм достигает 98%. Кидкие и твёрдые неметаллич. вещества обладают в ИК-области селективным отражением, причём положение максимумов отражения зависит от хим. состава вещества. У нек-рых  [c.183]

В отличие от селективного отражения металлов, к-рое может быть весьма высоким (но всегда коаф. отражения R < 1), при П. в. о. для прозрачных сред Д = 1 для всех Я и не зависит практически от числа отражений. Следует, однако, отметить, что отражение от механически полированной поверхности из-за рассеяния в поверхностном слое чуть меньше единицы на величину 2-10-. Потери на рассеяние при П. в. о. от более совершенных границ раздела, наир, в волоконных световодах, ещё на неск. порядков меньше. Высокая отражат. способность границы в условиях П. в. о. широко используется в интегральной оптике, оптич. линиях связи, световодах и оптич, призмах. Высокая крутязна коэф. отражения вблизи ф р лежит в основе измерит, устройств, предназначенных для определенна показателя преломления (см. Рефрактометр). Особенности конфигурации эл.-магн. поля в условиях П. в. о., а также свойства латеральной волны используются в физике твёрдого тела для исследования поверхностных возбуждённых колебаний (плазмонов, поляритовов), находят широкое применение в спектроскопич. методах контроля поверхности на основе нарушенного П. в. о., комбинационного рассеяния света, люминесценции и для обнаружения весьма низких значений концентраций молекул и величин поглощения, вплоть до значений безразмерного показателя поглощения к 10".  [c.27]

Коллиматор формирует рабочий пучок первичного излучения — квазипараллельный или с заданной расходимостью. С коллиматором может быть совмещён кристалл-монохроматор, выделяющий излучение нужного спектрального состава. В Р, к., использующих синхрот-ронвое излучение, для подавления гармоник служат зеркала полного отражения. В конструкциях коллиматора предусмотрены, устранение излучения, рассеянного от краёв формирующих пучок деталей, а также возможность установки Селективно поглощающих фильтров.  [c.343]

Впервые ЖКК были созданы на базе холестерических кристаллов в 70-е годы для целей термографии, В водный раствор поливинилового спирта (ПВС) при перемешивании добавляли раствор холестерика для образовании эмульсии. Испарение воды приводило к затвердеванию пленки ПВС, в порах которой формировалась планарная текстура холестерика, Зачерненная с одной стороны пленка ЖКК обладала свойством вьфаженного селективного отражения, которое зависело от температуры, На этой основе в дальнейшем были разработаны термоиндикаторы, В 80-е годы были разработаны композиты с нематиками для применения в электрооптике, ЖКК с нематиками nojiy4eHbi на основе полимерной матрицы, в свободных полостях которой находится нематик,  [c.151]

Обязательным следствием селективного растворения является формирование в поверхностном слое сплава химически измененной зоны с ярко выраженной неравновесностью по отношению к объему. Можно, по-видимому, полагать, что появление обогащенного (обедненного) по какому-либо компоненту поверхностного слоя есть общая закономерность, присущая всем многокомпонентным интерметаллическим системам при их взаимодействии с раствором электролита. В то же время термодинамические и кинетические аспекты такого взаимодействия изучены недостаточно глубоко. Это находит свое отражение в jMHoroo6pa3Hn развитых к настоящему времени модельных представлений, относящихся, по сути, лишь к разным сторонам единого механизма селективного растворения. В частности, наиболее распространенный подход опирается на континуальную модель, в которой атомно-кристаллическая картина строения сплава заменяется одномерным концентрационным профилем.  [c.193]


Таким образом, формулы (3.28)—(3.29) для коэффициента отражения обладают свойством селективности — важнейшей характеристикой отражательной способности многослойных периодических структур. Напомним, что они получены путем упрощения точных рекуррентных соотношений (3.9), справедливых для среды с кусочно-постоянным распределением диэлектрической проницаемости 8 г). Прежде чем переходить к подробному анализу угловых и дйсперсионных свойств многослойных зеркал, мы приведем более простой и физически наглядный вывод выражений для коэффициентов отражения и прохождения (3.28)—(3.29), который с самого начала учитывает специфику МР-диапазона [5, 10, 97].  [c.86]

Спектральная селективность многослойных зеркал позволяет использовать их в рентгеновских спектроскопических исследованиях и для монохроматизации МР-излучения. Как отмечалось (см. п. 3.3), разрешающая способность МИС даже теоретически не слишком велика порядка 10 при % 10 нм и (2— 5) 10 при % 2-4-5 нм. С учетом невозможности нанесения бесконечно тонких слоев вещества требования конечного коэффициента отражения и наличия случайного разброса в толщинах слоев значения реально достижимой разрещающей способности в коротковолновой области следует уменьшить еще по крайней мере в несколько раз. До настоящего времени не проводились эксперименты с целью получить МИС с максимальным разрешением (до сих пор первоочередное внимание уделялось получению больших ко.эффициентов отражения). Разрешающая способность синтезированных к настоящему времени структур не превосходит 100. Итак, разрещение МИС существенно уступает разрешению дифракционных решеток скользящего падения, у которых значения превышают 10 [78] (см. также гл. 7).  [c.109]

Развитие технологии синтеза многослойных рентгеновских зеркал, основные оптические свойства которых были рассмотрены в гл. 3, позволило поднять рентгеновскую оптику на качественно новый уровень, прежде всего — благодар.ч открывшейся возможности перехода к рентгенооптическим элементам нормального падения.Вместе с тем наличие многослойных зеркал с высокими коэффициентами отражения не позволяет все же решить всех проблем управления пучками МР-излучения. Это связано с тем обстоятельством, что неотъемлемым свойством интерференционных структур является высокая спектральная селективность. Для целого ряда задач эта особенность многослойных зеркал является достоинством, но в тех случаях, когда речь идет об управлении пучками широкополосного излучения, многослойная оптика становится неэффективной.  [c.126]

Описанные явления незеркального отражения плоских волн от периодических структур представляют собой основу для довольно широкого спектра практических приложений. Одннм из применений являются ОР с частотно селективными зеркалами [8]. Применение нового типа зеркал в виде решеток, работающих в резонансном автоколлимационном режиме, позволит существенно разредить спектр такого резонатора.  [c.191]

Для определения двух пптсресных режимов работы решетки при авто-коллимационном отражении введем дги) те )мина под поляризационной инвариантностью обратного отрпжеппя будем понимать способность данной структуры при одних и тех же условиях возбуждения проявлять эффект ОАО для обеих поляризаций под поляризационной селективностью — способность решетки проявлять эффект ПАО для одной поляризации, а в случае другой поляризации при равных прочих условиях направлять  [c.194]

Интерес к совместному анализу фазовых и энергетических характеристик комплексных амплитуд пространственных гармоник дифракционного спектра периодических решеток нашел отражение в работах [107, 283], появившихся в последнее время и посвященных ОР с селективными зеркалами. Целью этих работ является поиск путей создания существенно одномодовых резонансных систем. Известно, что в ОР, в котором одно из зеркал выполнено в виде дифракционной решетки, существует возможность управлять добротностью, изменяя величину модуля комплексной амплитуды той гармоники дифракционного спектра решетки, на которой работает резонатор, при этом фаза данной амплитуды должна быть постоянной (сохраняется рабочая длина волны, рис. 136, а). Не меньший интерес вызывает режим, когда модуль амплитуды гармоники поддерживается на уровне, близком к единице, а фаза существенно изменяется, что позволяет управлять резонансной частотой ОР (рис. 136, б).  [c.196]

Если рассеивающие или отражающие поверхности выполняют функции апертурных диафрагм, располагаясь вдоль каустик пучков, они ухудшают не только энергетические, но и пространственные характеристики генерируемого излучения, снижая селективные способности резонатора. Особо тяжелые последствия вызываются наличием зеркальных боковых поверхностей с высоким коэффициентЬм отражения здесь могут возбуждаться пучки, претерпевающие на пути между зеркалами резонатора одно или  [c.141]

В малоапертурных лазерах используются либо волноводные, либо открытые устойчивые резонаторы (у других их типов дифракционные потери оказываются чрезмерно большими так, у низшей моды плоского резонатора из круглых зеркал при N= I они составляют 20 % на проход, см. рис. 2.12). Волноводными именуют резонаторы, у которых удержание излучения в зоне малого сечения осуществляется за счет отражения от боковых стенок кюветы. Ввиду большой специфичности мы эти резонаторы рассматривать не будем отметим только, что поскольку и число отражений от боковых стенок на длине резонатора, и потери при каждом отражении растут с углом наклона лучей, волноводные резонаторы по своим селективным способностям похожи на открытые плоские.  [c.204]

На рис. 3.36 представлена схема эксперимента [79], в котором осуществлялась оптическая регистрация распространения и затухания гармонических гигагерцевых акустических волн 25 ГГц). Широкополосные акустические импульсы возбуждались при поглощении лазерных импульсов накачки Я 0,2 пс hv =2 эВ, Vn = 110 МГц) в пленках алюминия либо а—Ge Н и распространялись в оптическом стекле. В [80] для регистрации акустических волн, также как и в [791, использовался эффект изменения коэффициента отражения зондирующего излучения от поверхности при выходе на нее звуковой волны (эффект пьезоотражения), но на этот раз в металлах (Ni, Zr, Ti, Pt). Так же как и в [77—79], использование дополнительной низкочастотной акусто-оптической модуляции возбуждающих импульсов и селективного усиления при обработке отраженных сигналов позволяет существенно повысить чувствительность приема, В данном случае при Vf, =250 МГц и частоте модуляции 10 МГц [83] уверенно регистрируются относительные изменения коэффициента отражения на уровне 10 (предельные чувствительности— 10 ). Профили сигналов, представленные в [83], имеют характерные длительности порядка 10 пс.  [c.164]


Смотреть страницы где упоминается термин Отражение селективное : [c.135]    [c.103]    [c.103]    [c.99]    [c.92]    [c.183]    [c.415]    [c.509]    [c.62]    [c.254]    [c.153]    [c.490]    [c.127]    [c.334]    [c.454]    [c.174]   
Техническая энциклопедия Том19 (1934) -- [ c.0 ]



ПОИСК



Отражение

Селективность



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте