ПРЕДМЕТНЫЙ длины

Даны перспектива и вторичная проекция одной из диагоналей прямоугольного параллелепипеда, основание которого расположено па предметной плоскости, а передняя грань параллельна плоскости картины. Построить перспективу параллелепипеда и определить истинные длины его ребер и диагонали. [c.179]

Таким образом, можно получить увеличенное голографическое изображение, подобное объекту в это.м случае длина просвечивающей волны должна быть больше, чем предметной и опорной. [c.251]

Рабочая длина волны, мм. . . 1,8—2,2 Шаг сканирования, мм. ... 0,5 Рабочая площадь предметного [c.242]

Предметный столик инструментального микроскопа установлен на салазках, передвигающихся относительно основания прибора на шариковых опорах в двух взаимно перпендикулярных направлениях. Передвижение стола до 25 мм. производится с помощью двух микрометрических винтов 4 и 20. Помимо этого, столик-микроскопа в продольном направлении можно передвинуть вместе с микрометрическим винтом еще на 50 мм. Для этого стол отодвигают влево за рукоятку 5 и между упорами основания прибора и стола укладывают концевую меру длины. [c.234]

В последнем выражении можно выделить хроматическую часть, прямо пропорциональную АЯ, и часть, не зависящую явно от АЯ (надо учитывать, что отрезок s зависит от АЯ), которая называется монохроматической волновой аберрацией и при АЯ = О представляет собой волновую аберрацию на основной длине волны. В монохроматической аберрации также выделим две части, одна из которых зависит только от координат в плоскости ДЛ — Т1, а вторая — от комбинаций этих переменных и координат точек предмета и изображения — у, у, связанных вторым из соотношений (1.15). Первая часть, называемая сферической аберрацией, не зависит от перемещения предметного [c.23]

Отметим, что выражение (1.20) можно трактовать как монохроматические аберрации ДЛ в любом порядке дифракции, а не только в минус первом, но тогда s, Ьз, и т. д. следует понимать как отрезок и коэффициенты сферической аберрации линзы при работе в этом порядке (отрезок в предметном пространстве S не зависит от порядка дифракции и длины волны), что самым непосредственным образом сказывается при расчете структуры и дифракционной эффективности линзы. Эйконал записи такой ДЛ можно найти, если сравнить выражения (1.20), понимаемое как волновая аберрация линзы в т-м порядке дифракции, и [c.26]

Дифференцируя выражение (6.1) по длине волны К и умножая на квадрат высоты первого (предметного) нулевого луча на поверхности элемента h j (см. п. 2.2), получим [c.182]

Для проведения эксперимента образец исследуемой краски тонким слоем наносился на предметное стекло и помещался в держатель. В качестве источника излучения использовался импульсный ультрафиолетовый лазер с длиной волны Я = 337 нм. [c.253]

Наряду с предметно-технологической специализацией типовые АС должны специализироваться с учетом диапазонов размеров обрабатываемых изделий так, чтобы обеспечить условие конструктивного единства оборудования, предназначенного для определенных технологических операций (токарные, фрезерные, сверлильные, шлифовальные, расточные и т. п.). В настоящее время принята специализация АСВ по диаметру и длине (мм) обрабатываемых деталей соответственно АСВ-1 — для 16—160 и до 500, АСВ-2 — для 25—250 и до 750, АСВ-3 — для 100—500 и до 1000. [c.555]

Предполагаем, что амплитудное пропускание голограммы t пропорционально /. Вследствие пространственной модуляции разности фаз Дф = ф1—фо при освещении голограммы возникает дифракция света. Разность фаз Лф в произвольной точке Q голограммы может быть выражена через разность хода световых лучей SQ и PQ, распространяющихся между 5 и Q по прямому пути (опорная волна—когерентный фон) и рассеянных точечным объектом (предметная волна). Допустим, что источник непрерывно излучает световую волну длиной X. Тогда разность фаз между этими двумя лучами [c.19]

Сначала рассмотрим наиболее общую схему записи голограммы объекта и восстановления изображений. Так как амплитуда предметной волны остается линейной вне зависимости от характера опорной волны, то достаточно рассмотреть объект в виде точечного источника с координатами хо, уо, zq). При этом подразумевается, что угол наклона опорной волны 0 к оси Z достаточен, чтобы можно было разделить действительное и мнимое изображения. Предположим также, что опорная волна излучается точечным источником с координатами Хт, уг, 2г). При восстановлении голограмма освещается сферической волной с центром в точке Хр, ур, Zp). Для простоты будем полагать, что при записи и восстановлении используется длина волны X. Тогда координата восстановленных изображений точечного предмета (х-,, у, z ) будет определяться [19 [c.120]

Реконструкция в области коротких длин волн, наоборот, всегда возможна. При очень коротких волнах угол, образованный реконструирующей и предметной волнами, близок 0° и волны параллельны. [c.66]

Наглядная схема голографической записи в трехмерной среде рассмотрена Габором [44]. Запись сводится к тому, что объемная голограмма регистрирует набор стоячих волн, создаваемых предметным и опорным пучками. При восстановлении такая голограмма работает как объемная дифракционная решетка, т. е. резонансная структура, дающая дифракционную картину для определенных длин волн и углов падения. Другими словами, восстановление происходит только тогда, когда восстанавливающий пучок аналогичен записывающему по углу и длине волны. [c.316]

Я = 6330 А, зеркала устанавливают на таком расстоянии друг от друга, чтобы получить стабильные моды с частотным интервалом между ними в 155 Мгц. Приемник настраивают на частоту 155 Мгц, которая обнаруживается по биениям на звуковых частотах между этим сигналом и сигналом гетеродина. Сначала сигнал звуковой частоты снижают до нуля введением в луч предметного стекла (вместо образца) и перемещением призмы вдоль оптической скамьи. Фильтры перед фотоумножителем подбираются так, чтобы оба луча с X = 6330 А достигали приемника, но с соответствующим ослаблением (чтобы амплитуды обоих лучей стали одинаковыми, так как в противном случае нельзя получить полный нуль сигнала). При этом удобно пользоваться поляризатором для ослабления одного из лучей. Затем предметное стекло заменяют люминесцентным образцом и ставят перед фотоприемником фильтр, задерживающий излучение с длиной волны 6330 А, но пропускающий излучение люминесценции. Теперь положение призмы, отвечающее нулевому значению сигнала, будет изменяться из-за задержки по фазе, связанной с временем жизни люминесценции. [c.294]

Для того чтобы записать не только амплитуду, но и фазу предметной волны, добавим опорную волну, излучаемую точечным источником Q, причем эта волна имеет такую же длину и когерентна с первой (когерентность означает способность волн интерферировать). [c.42]

Здесь рассмотрим два случая восстановления, аналогичные тем идеальным случаям, которые описаны в п. 3.1.2. Во-первых, если положение и длина волны источника мало отличаются от положения и длины волны опорного источника Q, то волновое поле главного изображения формирует мнимое изображение Р очень близко к предметному точечному источнику Р. Во-вто-рых, если й мало отличается от сопряженного то действительное изображение Р, создаваемое волновым полем сопряженного изображения, снова близко к Р. Очевидно, нет смысла рассматривать эти два случая в отдельности, поскольку без всякого риска ошибиться можно изменить знаки с, к, д, р во втором случае и получить при этом уравнения для первого случая. Таким образом, оба случая можно представить так, как это изображено на рис. 3.7. [c.58]

После этого устанавливают, какой величине в действительности соответствует полученное перемещение перекрестия. Для этого вместо образца на предметный столик прибора помещают объективный микрометр в виде линейки длиной 1 мм, деленной на 100 частей. [c.293]

Детали цилиндрической формы, не имеющие центровых отверстий, могут быть установлены на V-образных призмах или в специальном приспособлении. Плоские детали устанавливают непосредственно на столике 17 со стеклянной плитой и при необходимости их закрепляют зажимами. На приборе можно измерять (в нормальных центрах) детали длиной до 750 мм и диаметром до 100 мм. Наибольшая высота плоских деталей, устанавливаемых на предметный столик, составляет 160 жж. [c.345]

По габаритным размерам станины, предметного стола и форме щупа прибор пригоден для контроля некруглости деталей с наружным диаметром до 300 мм, внутренним диаметром от 3 до 300 м и длиной до 350 мм. [c.485]

Задача 1. Определить истинную длину отрезка прямой, лежащей в предметной плоскости, если дана его перспектива А В (рис. 393). [c.280]

Чтобы определить длину отрезка, вращаем предметную плоскость Т вокруг основания картины до совмещения с картиной. [c.280]

Рассмотрение голограммы как некоторого подобия дифракционной решетки поаволяет уяснить особенности оригинального метода восстановления волнового фронта, предложенного Ю. Н, Денисюком. В этом методе используют толстослойные (несколько десятков микрометров) фотографические пластинки. При встречных пучках (опорной и предметной волн) в толще эмульсии возникает стоячая волна. В результате фотохимических процессов в фотоэмульсии под действием монохроматического света и последующей ее обработки получается своеобразная трехмерная дифракционная решетка. Следовательно, можно восстанавливать изображение, используя источник сплошного спектра, так как трехмерная решетка пропустит излучение только той длины волны монохроматического света, под воздействием которого она образовалась (см. 6.8). Если исходное излучение (опорное и предметное) содержало несколько длин волн, то в толш,е эмульсии возникнет несколько пространственных решеток. При освеш,ении такой голограммы источником сплошного спектра можно получить объемное цветное изображение. [c.359]

Остановимся подробнее на описании этого интересного метода получения и восстановления голограммы. Для получения голограмм при облучении лазерным светом толсто( лойных фотографических пластинок используются встречные световые потоки опорной и предметной волны. После обработки фотопластинки в толще эмульсии возникает слоистая структура с расстоянием между слоями d = /./2, где /. — длина волны излучения лазера, используемого для освещения объекта и в качестве опорной волны. Если угол встречи опорной и предметной волны меньше [c.359]

Органы управления прибором показаны на рис. 42. Переключатель I отсечки шага рассчитан на четыре положения соответственно указанным выше четырем базовым длинам из стандартного ряда. Потенциометры 2 используются для установки пера записывающего прибора (аналогичен записывающему прибору профилографа-профилометра 201, рассмотренному выше) в поле записи профилографной ленты и установки стрелки индикатора 3 рабочей зоны в пределах шкалы во время измерений. Стрелку индикатора 5 вводят в рабочую зону еще наклоном предметного стола. Кнопка 4 служит для пуска прибора. Кнопочный переключатель 5 (из трех кнопок) служит для установки длины участка (трассы) измерения (ощупывания). Тумблером 6 включают питание от сети, причем загорается лампа питания. Тумблером 7 осуществляют реверсирование, т. е. возвращение ющупывающей головки в исходное положение. Кнопка 8 служит для остановки движения головки если включено тумблером 7 реверсирование, то головка вернется в исходное положение, а в противном случае она будет двигаться до конца трассы. Переключателем 9 задают вид работ в трех положениях ПП — цифровой отсчет измеряемого пара- [c.149]

При фотографировании на микроинтерферометре или двойном микроскопе используют высокочувствительную пленку и нужную длину профиля получают, снимая соседние участки поверхности образца, перемещаемого микрометром предметного стола. На двойном микроскопе для определения масштаба предварительно фотографируют щкалу объект-микрометра. Полученные фотографии интерференционной картины или светового сечения устанавливают на проекторе с увеличением 10 или 20 и вычерчивают профилограмму на миллиметровой кальке. Для определения масштаба профилограммы, полученной на микроинтерферометре, на одном из участков вычерчивают контур двух соседних полос. Вычерченные профилограммы обрабатывают теми же способами, что и профилограммы, записанные на щуповом профилографе. [c.162]

Металлографическое изучение деформации биметаллов целесообразно проводить с использованием комплексной методики экспериментирования, основанной на применении автоматических телевизионных анализаторов изображения. Это позволяет осуществлять количественную оценку накопления пластической деформации по числу полос скольжения в анализируемых участках материала, измерять длину трещин и площадь пластической деформации в их вершинах. Наряду с анализом деформационной структуры методика предусматривает проведение микрорентгеноспектраль-ного анализа и фрактографическое изучение изломов с помощью растровой электронной микроскопии. Ниже приведены примеры исследования процесса накопления пластической деформации в переходных зонах образцов биметалла Ст. 3+Х18Н10Т, подвергнутых циклическому нагружению на установке ИМАШ-10-68. Подсчет числа полос скольжения производится с помощью телевизионного анализатора изображения на площади, заключенной в рамку сканирования (рис. 1). Образец, размещенный на предметном столике автоматического количественного микроскопа РМС , перемещался по заданной программе вдоль выбранной базы измерения, ширина которой была равна высоте, а длина соответствовала ширине рамки сканирования, умноженной на число перемещений столика. [c.90]

Феррограф-анализатор состоит из насоса, который подает масляную пробу со скоростью 25 см /мин, магнита, дающего у своих полюсов магнитное поле с высоким градиентом, и предметного стекла, установленного под небольшим углом к горизонтали. Масляная проба разбавляется специальным растворителем, чтобы увеличить подвижность взвешенных в ней частиц, накачивается на приподнятый конец стекла и стекает по нему вниз. Магнитные частицы износа осаждаются по длине стекла в соответствии со своими размерами, а все частицы посторонних примесей удаляются вместе с маслом или в результате промывки стекла с осажденными на нем частицами. Комбинация сил, действующ их на частицы, такова, что первыми осаждаются более крупные частицы, а по мере стекания пробы на стекле остаются все более мелкие частицы. Для анализа достаточно 2 см пробы, время ее прокачки — 5 мин и 3 мин требуется на промывку и фиксирование осажденных частиц. [c.81]

Предметная форма специализации цехов и участков в значительной мере устраняет эти недостатки. Такая форма предполагает специализацию производственных подразделений на обработке (или обработке и сборке) комплектов деталей для одного или нескольких однородных изделий, сборочных единиц. При этом внутри цехов создаются условия для изготовления отдельного изделия или комплекта деталей, сокращения длины пути прохождения деталей в пределах одного производственного подразделения, уменьшается объем транспортных и складских работ и время межоперационного пролеживания. Одновременно расширяются оперативные возможности руководителей в деле выполнения плана, усиливается ответственность за качество выпускаемых изделий (деталей), упрощается оперативный учет. Меньше становится номенклатура деталей предметных цехов и участков и сужается специализация рабочих мест, следовательно, увеличиваются возможности совершенствования технологии, повышения производительности труда. [c.229]

Микроскоп Коломийцева и Финкельштейна обладает еще одним важным достоинством. Несмотря на небольшое поле зрения, всего 3—4 миллиметра, неизбежное при значительных увеличениях, этот микроскоп дает возможность контролировать большие детали, лишь бы хватило длины рабочего хода предметных столиков. Дело в том, что столики движутся синхронно, как одно целое, и изображения остаются наложенными друг на друга. Поэтому достаточно последовательно провести все точки контура через поле зрения, чтобы убедиться, что радужной каемки нигде нет. [c.66]

Для определения степени дисперсности и плотности факела замеры проводились на разных расстояниях по длине струи. Ближайшее расстояние точки замера от форсунки равнялось 75 мм. Попытки проведения опытов на более близком расстоянии не увенчались успехом, так как невозможно было получить распределение топлива по сечению у корня факела, а большая скорость струи не давала возможности произвести отсечку для улавливания капель. Предметные стекла, покрытые сажей, на которых улавливались капли, устанавливались на тринадцати участках по диаметру струи, соответственно геометрическому положению мензурок. Полученные дискретные диаметры капель каждого участка характеризовали распыленную массу, которая определялась плотностью орошения и площадью соответствующего лолукольцевого участка. [c.10]

В целом можно сказать, что комбинированный симметричный объектив с дифракционной асферикой довольно ограничен по своим возможностям. Силовым элементом в нем будет мениск с равными радиусами, который при небольшой толщине ввиду значительной кривизны поверхностен (требуемой для получения заданной оптической силы) не способен обеспечить значительного апертурного угла, т. е. высокого разрешения. При аномальном увеличении толщины мениска (di > г), добиваются высокого разрешения на оси системы, однако в этом случае входной зрачок объектива расположен вблизи предметной плоскости, в результате чего при отходе от оси резко возрастает угол между главным лучом и нормалью к поверхности мениска. Это приводит к росту аберраций высших порядков и уменьшению рабочего поля. Так, при габаритном размере системы L = 810 мм, что совпадает с габаритным размером симметричного двухлинзового дифракционного объектива при фокусном расстоянии каждой ДЛ f = 270 мм, и разрешении б = = 3 мкм на длине волны = 441,6 нм удается получить рабочее поле диаметром всего лишь 16 мм (ср. с данными табл. 4.6). Если не предъявлять высоких требований к разрешению и рабочему полю, комбинированный, триплет с дифракционной асферикой не лишен положительных качеств его светопропускание может быть обеспечено на уровне обычного рефракционного объектива, а хроматизм позволяет использовать излучение газоразрядных приборов, например типа ртутной лампы высокого давления (см. гл. 6). [c.168]

На чистое предметное стекло от оптического микроскопа помещают кусочек тщательно очищенной целлулоидной пластинки размером 25x15 Л1Ж. Сверху на него накладывают ленту лейкопластыря шириной 20 мм и длиной 45 мм. Приглаживая лейкопластырь каким-либо гладким предметом к целлулоиду, последний надежно [c.94]

Если при изменении длины восстанавливающей волны на аргумент функции sine станет равным А ф = я, то предметная волна не восстанавливается. На основе векторной диаграммы (рис. 41) можно получить кривую зависимости А А. от угла падения референтного пучка. Такая зависимость представлена на рис. 42. Исходные данные для этого графика аналогичны тем, которые использовались при построении графика, представленного на рис. 39. [c.67]

Количественно угловая полуширина восстановленного при предметного пучка определяется углом А0, в пределах которого рассогласование между пересекающ,имися поверхностями волновых векторов кристалла, соответствующ,ими длинам волн и -2. не достигнет величины неопределенности волнового вектора решетки, приблизительно равной njd (рис. 5.14, а). При не слишком больших значениях брэгговских углов (б , 02 <С 1)> когда 02 л угло- [c.100]

Как было показано в [5.17], в двупреломляющих фоторефрак-тивных кристаллах при использовании анизотропной дифракции максимально возможная широкополосность объемной голограммы (5.33) при считывании на измененной длине волны может быть достигнута также и в существенно отличной геометрии (рис. 5.14, б). В отличие от соосной схемы Габора волновые векторы предметной и опорной световых волн здесь оказываются неколлинеарными, в результате чего нулевой порядок дифракции и восстановленное изображение оказываются пространственно разделенными. Отметим, что в данной схеме благодаря ортогональной поляризации считывающей и восстановленной световых волн может быть достиг- [c.100]

Рассмотрим сначала решение этой задачи на рис. 377, где дано наглядное изображение отрезка АВ и его горизонтальной проекции аЬ в системе плоскостей линейной перспективы. Для определения искомой длины совместим отрезок АВ с картиной, приняв за ось вращения прямую I—1 . Эта ось должна принадлел<ать картинной плоскости и проходить через точку N1 (начало прямой Лв), в которой продолжение отрезка пересекает/С. При вертикальном положении оси концы отрезка АВ будут перемещаться по дугам горизонтальных окружностей. Дуги окружностей на предметной плоскости опишут и горизонтальные проекции концов отрезка. [c.265]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...