Дефект темных линий

Следующий из рассматриваемых механизмов деградации лазеров—дефект темных линий (ДТЛ) — описан в 3 настоящей главы. ДТЛ представляет собой сетку дислокаций, которая мо- [c.316]

ДЕФЕКТЫ ТЕМНЫХ ЛИНИЙ (ДТЛ) [c.328]

Устранение дефектов темных линий [c.342]

При поверхностном замыкании листов активной стали из-за ослабления прессовки, перегрева или оплавления места дефектов устраняют травлением азотной кислотой (ГОСТ 11125 — 84) с помощью ватного тампона. Характерным признаком дефектных мест является налет пыли кирпичного цвета. Протравленный участок осматривают через лупу ЛП1-10 (ГОСТ 25706 — 83). Лаковая пленка между листами активной стали должна просматриваться сплощными темными линиями. Если лаковая пленка просматривается в виде прерывистых линий, то травление дефектного участка повторяют. [c.120]

Наблюдение дислокаций и скоплений точечных дефектов на просвет под электронным микроскопом в тончайших пленках металлов и сплавов, например толщиной около 1000 Л, является убедительным методом опытного доказательства их существования. Хотя плоскости атомно-кристаллической решетки здесь не выявляются, но дислокации и скопления точечных дефектов обнаруживаются в виде темных линий, [c.31]

Метод дифракционного контраста основан на том, что электронные лучи, дифрагированные на дефектах, не попадают в отверстие апертурной диафрагмы, тогда как прямой пучок проходит через него. Это дает изображение в светлом поле. Если же в плоскость изображения попадают только дифрагированные лучи, а прямые лучи ее не достигают (это достигается смещением апертурной диафрагмы), то такое изображение называют темнопольным. В случае метода дифракционного контраста атомные плоскости в отличие от первого метода не разрешаются и наблюдаются результаты смещения атомов, и поэтому дислокации обычно изображаются темными линиями, а дефекты укладки и границы зерен дают интерференционные полосы . Контуры включения избыточных фаз при изучении тонких пленок выявляются достаточно четко из-за изменения условий дифракции, а также из-за интерференционного эффекта и скопления дефектов на границах. [c.77]

Поры имеют на радиографических снимках вид округлых темных пятен размером от десятых долей мм до 2—3 мм. Поры могут быть заполнены газом (собственно поры) или шлаком (шлаковые включения). Поры большой величины обычно относят к раковинам или свищам. Различить по рентгеновским снимкам газовую и заполненную шлаком поры зачастую невозможно. Эти дефекты примерно одинаково влияют на прочность шва. Непровары имеют на рентгеновских снимках вид близких к прямолинейным темных линий различной степени почернения в зависимости от глубины непровара. Расположение непроваров зависит от вида сварного соединения. Наиболее характерным непроваром при односторонней стыковой сварке без скоса кромок, а также при сварке V-об-разных швов с предварительной подготовкой кромок является непровар в корне шва. [c.114]

При помощи просвечивающей электронной микроскопии можно наблюдать характерные дислокационные конфигурации на субграницах аустенита. Изображения дислокации представляют темные линии на фоне более светлой матрицы. Видны также чередующиеся светлые и темные полосы они соответствуют дефектам упаковки в гранецентрированной кубической решетке аустенита (см. также ф. 227/7 и 8). [c.112]

При исследовании поверхности металла под микроскопом непосредственно после полировки можно обнаружить на общем светлом поле отдельные темные или серые точки и линии, которые могут представлять собой как неметаллические включения (оксиды, сульфиды, шлаки, силикаты, фа-фит, нитриды), так и неустраненные полировкой дефекты поверхности образца (раковины, микротрещины, следы обработки). [c.311]

Дефект упаковки при просвечивании фольги электронным пуч-)м дает характерную систему светлых и темных полос (рис. 50). асстояние между полосами и их число зависят от толщины фольги, ориентировки п наклона плоскости дефекта упаковки. Изображе-ie полосы дефекта упаковки ограничено с двух сторон темными 1И светлыми линиями частичных дислокаций и еще с двух сторон шиями пересечения плоскости дефекта с поверхностями фольги. [c.97]

Гамма-дефектоскопия может быть, использована для контроля металла толщиной до 300 мм. С одной стороны помещают источник излучения (обычно кобальт-60), с другой стороны — сверхчувствительную пленку, которая засвечивается гамма-излучением, прошедшим через металл. На заснятых пленках газовые раковины в отливках выглядят в виде затемнений благодаря меньшей толщине слоя металла с четким очертанием контура, усадочные раковины — со слабо выраженным очертанием, трещины выглядят как интенсивные темные ломаные линии и т. д. Путем просвечивания проникающим излучением может быть выявлена ликвация металла. Ценным свойством гамма-дефектоскопии является возможность установления наличия дефектов в сварных швах и выявление их характера, непровар, трещина, газовая или шлаковая раковина. [c.214]

Полосы-линии скольжения. Дефекты в виде темных полосок и разветвленных линий на поверхности холоднокатаного листа или ленты, образовавшихся вследствие местных напряжений, превышающих предел текучести металла, вызванных нарушением технологии [c.108]

Появившиеся на экране дефекты различных видов характеризуются присущими только им особенностями. Газовые поры и шлаковые включения появляются в виде темных пятен разнообразной формы. Непровар по кромке изображается черной линией, смещенной от оси шва, а непровар в корне шва — линией посередине. Подрезы дают изображение в виде широких черных линий по края.м шва. При наличии трещин на экране появляются прямые или зигзагообразные линии с неровными краями. [c.91]

Перед осмотром сварной шов и прилегающую к нему поверхность основного металла по обе стороны на 15—20 мм от шва очищают от металлических брызг, окалины, шлака и других загрязнений. Осматривают невооруженным глазом или лупой с 5—10-кратным увеличением. При внешнем осмотре для выявления дефектов швы замеряют различными измерительными инструментами и шаблонами. Замерами устанавливают правильность выполнения сварных швов и их соответствие ГОСТам, чертежам и техническим условиям. У стыковых швов проверяют ширину и высоту усиления, в угловых и тавровых швах — величину катетов. На рис. 125 представлен универсальный шаблон конструкции А. И. Красовского и примеры его использования. Границы выявленных трещин засверливают. При нагреве металла до вишнево-красного цвета трещины обнаруживаются в виде темных зигзагообразных линий. [c.272]

Осмотр производят невооруженным глазом или 5— 10-кратной лупой. Для выявления дефектов швы замеряют различными измерительными инструментами и шаблонами. Замерами устанавливают правильность выполнения сварных швов и их соответствие ГОСТам, чертежам и техническим условиям. В стыковых швах проверяют ширину и высоту усиления, в угловых и тавровых швах — величину катетов. Границы обнаруженных трещин засверливают. При нагреве металла до вишнево-красного цвета трещины выявляются в виде темных зигзагообразных линий. [c.200]

На пленке сварной шов изображается в виде светлой полосы на темном фоне более тонкого основного металла. Дефекты сварки имеют вид темных пятен различной степени почернения. Трещины сварного шва изображаются в виде резких черных зигзагообразных линий, непровары — в виде правильных черных линий, газовые поры — в виде темных точек, шлаковые включения — в виде темных точек или полос. [c.79]

Рельсы-близнецы, имеющие в сумме длину Выщербины (дефекты 11.1-2) или темные пятна с наплывом металла (для линий с грузонапряженностью более 10 млн. ткм/км брутто в год)......... [c.53]

Если теперь деталь осветить в темном помещении ультрафиолетовыми лучами, то будет наблюдаться свечение за счет флуоресценции жидкости в местах дефектов, которые становятся видимыми в виде светящихся пятен или линий. [c.207]

Процессы в объеме материала можно разделить на локальные и однородно распределенные по активной области. Первые известны как дефекты темных линий, которые появляются в областях с интенсивной безызлучательной рекомбинацией, обусловленной дислокациями. Они могут происходить от единичного де кта в дноде. Дефекты темных линий увеличивают порог и уменьшают выходную мощность, что приводит к быстрому выходу прибора из строя. Для устранения дефектов темных линий следует использовать высококачественные, свободные от дислокаций материалы подложки ( 10 дислокаций на квадратный миллиметр), а также по возможности считать механические напряжения в приборе. Необходимо аккуратно устанавливать прибор в головке, контакты припаивать специальным припоем с низкой температурой плавления (например, индием) и свести к минимуму механическое давление держателя. Кроме соблюдения этих предосторожностей приборы должны быть отобраны по видимым дефектам и подвергнуты достаточно длительному отжигу , выявляющему скрытые дефекты темных линий. [c.305]

Пороговый ток растет, а лазерная мощность при постоянном токе падает в течение работы и независимо от образования дефектов темных линий. Это наблюдается как в лазерном режиме, так н в светодиодном, причем скорость процесса зависит от плотности тока и температуры в соответствии с юрмулами (9.3.2) и (9.3.3). Можно предположить, что энергия, высвобождающаяся при безызлучательной рекомбинации носителей, увеличивает число точечных дефектов в кристалле, которые действуют как ловушечные уровни. В результате увеличивается скорость безызлучательной рекомбинации (уменьшение Тб) и, как следствие, снижается внутренняя эффективность. Скорость создания таких ловушек зависит от энергии активации бд и температуры [c.305]

Установлены некоторые механизмы катастрофической и постепенной деградации. При плотности выходной мощности свыше 10 кВт/мм происходит разрушение выходных граней. Дефекты темных линий могут быть исключены, если не допускать дефектов или механических напряжений в лазерном образце. Механизм постепенной деградации в лазерах так же, как и в светодиодах, связан с уменьшением времени безызлучательной рекомбинации Xg. Безызлучательная рекомбинация может приводить к появлению точечных дефектов. Срок службы связан с энергией активации е , которая возрастает при переходе к длинноволновому излучению и ехр (— nJkT). [c.308]

Для исследования степени однородности активной области полосковых ДГС-лазеров Делош и др. [16] использовали приборы, у которых, как показано на рис. 8.3.1, в контакте к -области было сделано окно, располагающееся прямо над полоской. Таким образом, при работе лазера в непрерывном режиме можно было через подложку наблюдать и фотографировать спонтанное излучение активной области. За промежуток времени от нескольких минут до часов преобладающим образом развивается характерная структура в виде узких темных линий, которые берут начало с края или изнутри полоски и, постепенно утолщаясь, пересекают ее в направлении <100>. На рис. 8,3.2 показано, как эти темные области развиваются за время работы лазера. По мере образования и уширения темных линий /пор растет, а внешняя дифференциальная квантовая эффективность падает. В соответствии с этими наблюдениями, такой дефект стал обычно называться дефектом темных линий (ДТЛ). [c.328]

Рис, 8,3,2, Развитие дефекта темных линнй в процессе непрерывной генерации полоскового ДГС-лазера при комнатной температуре [16]. Картины электролюминесценции через окно в контакте к +-подложке. [c.329]

Вполне возможно взять за основу по существу те же самые экспериментальные факты и построить другую модель переползания ДТЛ. Вакансионное переползание в модели Петроффа и Кимерлинга [35] обусловлено поглощением междоузельных точечных дефектов, реакция которых усиливается рекомбинацией. О Хара и др. [43] высказали предположение, что вакансионное переползание происходит вследствие испускания пар вакансий на дислокации, что в свою очередь вызвано реакцией, которую усиливает безызлучательная рекомбинация. Как показывают эти две модели, существуют значительные расхождения в описании дефектов темных линий. [c.335]

Характер дефектов определяют по видеоиндикатору. Форма изображения на экране соответствует форме дефекта, а степень почернения характеризует его глубину. Трещины характеризуются наличием извилистых темных линий с большой контрастностью, непровары — прямых линий, шлаковые включения — темных пятен и т. д. [c.756]

Кинематическая теория контраста на дефектах дает объяснение большинству особенностей получаемых изображений например, изменение контраста в зависимости от угла наклона дислокации к поверхности образца обратный контраст при переходе от светлопольного к темнопольному освещению тот факт, что дислокации видны на светлопольных изображениях в виде темных линий положение и ширина изображений дислокаций наличие пунктирных изображений дислокаций и наконец, то, что некоторые дислокации остаются невидимыми. Основной идеей в этой теории является то, что контраст по существу является фазовым, при этом фазовые изменения вызываются перемещениями атомов около дислокаций. [c.54]

Каждый тип жидкого кристалла образует свои характерные текстуры. Для нематиков - это шлрфен-текстлра (рис. 12.2,д). Такой вид у нее в пOJ яpизoвaннoм свете. Темные полосы движутся при вращении препарата и указывают участки, где директор совпадает с направлением поляризатора или анализатора. В светлых участках директор ориентирован произвольно, но однородно. Места же, где сходятся черные полосы, являются линейными дефектами - дисклинациями, расположенны-,ми перпендикулярно плоскости препарата. На этих линиях поле директора имеет особенности, показанные на рис. 12.2,в. [c.149]

Оператор регистрирует обнаруженные дефекты, устанавливая их вид и размеры. Изображения дефектов сварки на рентгенограммах имеют следующий вид трещины— зигзагообразные извилистые линии или ломаные прямые линии с острыми концами, в ряде случаев разветвляющиеся и выходящие на основной металл непровары в корне шва — темные прямые линии различной толщины и степени почернения, проходящие вдоль П1ва по его середине шлаковые включения — темные пятна неправильной формы газовые поры — темные округлые пятна подрезы — темные пятна или полосы, расположенные вдоль границы выпуклости шва и основного металла прожоги — круглые черные пятна незаваренные кратеры— темные пятна, подобные шлаковым, но более правильной формы. [c.25]

В 50-х годах благодаря широкому развитию электронной микроскопии стало возможным изучение отдельных дефектов в тонких кристаллических пленках. Двумерные дефекты дают на снимках полосы. Дислокации выявляются как линии с темным или светлотемным контрастом. В основу интерпретации таких картин была положена по существу динамическая теория дифракции электронов быстро накапливался опыт изучения конфигураций дефектов и интерпретации их изображений (см. [195]). Несколькими годами позже появились аналогичные данные по наблюдениям дефектов в почти совершенных кристаллах с помощью дифракции рентгеновских лучей в условиях динамического рассеяния [249, 277, 278], а соответствующая теория дифракции рентгеновских лучей была развита на основе работы Като [250, 251] . Позже был развит более точный метод для дифракции электронов, основанный на п-волновой динамической теории, и была решена трудная задача получения адекватной динамической теории для несовершенных кристаллов для всех видов излучения (см., например, работы Като [253 ] и Куриямы [270 ] Мы будем следовать этим методам лишь в общих чертах. [c.393]

Описанная методика измерений при всем внешнем изяществе обладает тем существенным дефектом, что опирается на сомнительное предположение о невозмущенной поверхности ртути. Действительно, как следует из представленной на рис. 1 оптической схемы прямого и отраженного лучей, в данном случае определяется по существу протяженность темного пространства по отношению к уровню удаленных от катодного пятна участков ртути. В районе самого пятна на ртути обычно имеется углубление, окруженное неправильным валом. Сделанное автором предположение, что при заданной в опытах скорости движения пятна порядка 70 м1сек указанные искажения совершенно отсутствовали, кажется неправдоподобным ввиду незначительности самой измерявшейся величины, а также исчезновения изображения двойной линии, наблюдавшегося автором при углах наклона оптики более 4—5°. Все это приводит к выводу, что измеренные значения 4 и dg далеко не соответствуют действительности. По-видимому, эти величины настолько незначительны, что трудно вообще обеспечить такие условия опыта, при которых бы можно было пренебречь неровностями поверхности катода. Вследствие этого путь непосредственного измерения протяженности катодных частей разряда не внушает больших надежд. [c.14]

Рассматривая шлиф невооруженным глазом, изучают макроструктуру металла. Изучая нетравленый шлиф, определяют наличие дефектов (пор, трещин) и неметаллических включений. Подвергнув шлиф действию специального реактива (травителя), можно выявить форму и расположение отдельных кристаллов-зерен. Травителями служат водные или спиртовые растворы кислот, щелочей, солей. Кристаллы, выходящие па поверхность шлифа различными плоскостями, в различной степени взаимодействуют с травителем, поэтому после травления они по-разному отражают свет. В результате одни зериа иа поверхности шлифа кажутся светлыми, другие — темными. Иногда трави-тель действует только на границы между зернами. В этом случае границы между зернами выглядят тонкими тем 1ыми линиями. [c.48]

Металлографическое исследование сварного соединения при.меняется для контроля качества сварки. Поверхностный слой в области усиления обычно носит следы перегрева и даже пережога, который следует удалять, по крайней мере, на глубину 1,5—2 мм. Металлографическим путем может быть установлен такгке дефект, называемый неполной сваркой, связанный с наличием цепочки окислов по линии шва. Причинами неполной сварки могут быть перерывы в нагреве при сварке, применение окислительного пламени, сварка при температуре ниже порога свариваемостн или с недостаточным удельным дав-лениелМ. Такой дефект, возникший при сварке горелкой с частью заглупгенных сопел, показан на фиг. 17. Строение сварного соедипения в разрезе в этом случае следующее темная окисленность поверхности края излома говорит о наличии непровара. Это [c.317]

Окраска получаемых изображений дефекта зависит от вида используемой индикаторной жидкости. При использовании флуоресцирующей жидкости дефекты проступают в виде светящихся желто-зеленых или зеленоголубых точек или линий на темном фоне, получаемых при облучении ультрафиолетовым светом. При работе с подкрашенными индикаторными жидкостями наличие дефектов устанавливают по появлению красных точек на белом фоне. [c.178]

Процесс просвечивания рентгеновыми лучами заключается в следующем. Под сварной шов плотно укладывают фотопленку в специальной кассете. Затем через шов пропускают лучи. Если шов толще основного металла, то интенсивность лучей, прошедших через шов, меньше интенсивности лучей, прошедших через основной металл. Поэтому шов на рентгеновском снимке выглядит светлой полосой на фоне более темного поля основного металла. Шлако- вые включения, поры, трещины, непровары и другие дефектные места в меньшей степени задерживают рентгеновы лучи, чем плотный металл, поэтому такие дефекты на светлом фоне снимка шва выделяются в виде темных точек, полос, линий. [c.269]

Макродефекты в неразъемных соединениях имеют, как правило, характер пустот (раковин, трещин, непроваров, непропаев и т. д.). На рентгеновских снимках эти дефекты выявляются в виде темных пятен (раковина, пора), искривленных линий (трещины) или полос (непровары) и т. д. Для пустотных дефектов можно записать [c.103]

Резкостью или четкостью снимка называется его качество, дающее возможность различать линии и контуры элементов и дефектов контролируемых объектов на полученном снимке. Эта величина характеризуется шириной границы перехода от потемнения к посветлению. Чем шире переход от светлых участков к темным, тем размытость контуров больше, тем труднее различить границы областей, тем выше нерезкость. Кроме того, рентгеновские пленки обладают собственной внутренней нерезкостью. Собственная нерезкость пленок, металлических и флуоресцирующих усиливающих экранов увеличивается с ростом энергии излучения. Так, при просвечивании рентгеновским излучением, генерируемым при напряжении на трубке около 80 кВ, величина собственной нерезкости пленок и металлических экранов достигает 0,05—0,1 мм, для 7-излучения равняется 0,2 мм, для излучения Со— 0,4. [c.104]

Фотографирование дефектов в ультрафиолетовом свете представляет некоторые трудности. Во-первых, фотоснимки, как правило, получаются вуалированными вследствие частичного прохождения рассеянного ультрафиолетового излучения через оптику фотоаппарата. Для устранения этого требуется применение специальных фильтров. Светло-желтый фильтр задерживает синие и ультрафиолетовые лучи и обеспечивает получение изображения дефектов на деталях в виде светльгх линий на темном фоне. Для лучшей контрастности изображения на фотоснимке под мелкую деталь можно подкладывать флуоресцирующий цинк-кадмиевый экран или экран из вольфрамата кальция. В этом случае флуоресцирующий экран дает светящийся фон, на котором ста- [c.72]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...