Спектральный анализ источник света

Методика качественного спектрального анализа состоит в следующем анализируемое вещество либо вводят в спектрально-аналитический источник. света в качестве твердого электрода, либо, в случае порошкообразных веществ, насыпают в углубление, высверленное на конце специального спектрально-чистого угольного электрода. Спектр анализируемого вещества фотографируют на фотопластинке рядом со спектром железа, для которого имеются подробные атласы спектральных линий П]- Сравнивая положение линий анализируемого вещества с положением линий железа, определяют длины волн и с помощью таблиц спектральных линий [2] устанавливают их принадлежность определенным элементам. Значительно облегчают эту операцию атласы спектра железа с размеченными на них положениями аналитических линий других элементов [3] (см. рис. 1). [c.280]

Применение того или иного источника возбуждения спектра (или, как его часто называют, источника света) определяется конкретными целями работы и возможностями источника образовывать интересующий нас спектр. Источники света в эмиссионном спектральном анализе, как правило, одновременно выполняют две функции переводят вещество пробы в парообразное состояние и возбуждают спектры излучения этих паров. Наибольшее распространение для аналитических целей получили следующие источники света. [c.6]

В спектральном анализе помимо этих основных применяются и другие источники света. К их числу относятся разрядные трубки с полым катодом, плазменные горелки (плазмотроны), представляющие собой генераторы потока плазмы, образующегося при нагревании инертного газа электрической дугой, оптические кван- [c.7]

Выбор способа освещения щели спектрографа в значительной степени определяется целями и особенностями выполняемой работы. Для количественного спектрального анализа требуется равномерное освещение щели. Если проводится изучение пространственной структуры источника света (например, распределения температуры, концентрации электронов по различным зонам облака светящейся плазмы), щель нужно осветить так, чтобы распределение освещенности по ее высоте совпадало с распределением яркости в источнике света. При любом способе освещения щели правильные результаты измерений интенсивностей спектральных линий могут быть получены лишь в том случае, если освещенности в сопряженных точках щели и ее изображения пропорциональны. В частности, равномерной освещенности щели должно отвечать равномерное распределение освещенности по высоте изображения, т. е. вдоль изображения спектральной линии. [c.20]

Основой количественного спектрального анализа является связь между интенсивностью спектральных линий каждого элемента и концентрацией его атомов в парах, образующихся в источнике света. Концентрация атомов в парах, в свою очередь, связана с концентрацией элемента в пробе. Интенсивность спектральной линии, соответствующей переходу атома из возбужденного состояния т в энергетически более низкое состояние п, пропорциональна концентрации возбужденных атомов в состоянии т [c.40]

Для распределения атомов по возбужденным состояниям в большинстве источников света, применяемых в спектральном анализе, справедлив закон Больцмана, согласно которому [c.40]

Оптическая схема спектральной установки показана на рис. И. Для получения спектрограммы используют кварцевый спектрограф ИСП-22, описание которого дано в задаче 2. Ширина щели берется равной 0,025 мм. Освещение щели при количественном анализе должно быть таким, чтобы совершенно исключалось виньетирование щели и источника света и чтобы освещение по высоте щели было строго равномерным. Наиболее полно этим условиям отвечает трехлинзовая ахроматическая система освещения (рис. 12). Порядок работы при установке линз и источника света на оптическом рельсе указан в описании задачи 2. [c.45]

Применение лазеров в спектральном анализе существенно расширило возможности данного метода его чувствительность повысилась на три-четыре порядка по сравнению с использованием обычных источников света. Спектральные методы анализа, основанные на взаимодействии лазерного излучения с исследуемыми газообразными, жидкими или твердыми веществами с последующей обработкой спектров флуоресценции, позволяют производить количественные измерения. [c.178]

Применение лазеров в качестве источника света для структурного анализа материалов позволяет получить световое пятно (световой зонд) малого диаметра, соизмеримого с длиной волны излучения лазера, и тем самым исследовать весьма малые участки и тонкие структуры. Кроме того, большая спектральная плотность лазерного излучения дает возможность существенно увеличить чувствительность приборов и работать на различных длинах волн, в том числе и в средней части ИК диапазона, где обычные источники света не могут быть применимы из-за слабой интенсивности. [c.179]

С появлением лазеров существенно расширились возможности оптики, использующей их не только в качестве источников интенсивного света, но и в качестве генератора электромагнитных волн оптического диапазона, позволившего значительно улучшить характеристики многих существующих спектральных приборов и создать принципиально новые. Применение лазеров в спектроскопии позволило существенно расширить ее возможности, так же как и вычислительная техника расширила возможности современного метода анализа. В спектроскопии используются такие положительные характеристики лазеров, как их большая выходная мощность, малая угловая расходимость и высокая спектральная плотность потока, которая может быть приблизительно на 15 порядков выше, чем для обычного источника света. [c.216]

Высокая спектральная плотность лазерного излучения характеризуется не только большим количеством энергии, передаваемой посредством пространственно узкого луча, но также очень узкой полосой частот, в пределах которой концентрируется излучение. В спектроскопии, основанной на анализе спектров флуоресценции, интенсивность последней зависит от спектральной плотности поглощенного излучения. В табл. 30 приведены характеристики излучения некоторых типов лазеров и обычных источников света. Маломощный Не—Ме-лазер имеет спектральную плотность излучения почти на четыре порядка выше, чем наиболее интенсивные некогерентные источники света. [c.217]

В разд. 4.6 обсуждается нечто совершенно иное, а именно роль преобразования Фурье в соотношении длины волнового цуга света с его спектральным составом. Это становится важным, когда в гл. 6 мы обращаемся к анализу источников излучения с помощью интерферометрии. [c.62]

В работе [42] показано, что ширину спектральной линии источника можно найти путем частотного анализа избыточного фотонного шума монохроматического источника света. Если монохроматический источник излучает в полном частотном интервале Av (т. е. с шириной линии Av), то в интервале частот от О до Av будут частоты биений, обусловленные взаимодействием волн. Теория избыточного шума фотонов была применена для измерения ширины линии гелий-неоновых лазеров с низкими шумами. [c.401]

Эмиссионная спектрофотометрия. Как метод диагностики состояния двигателей внутреннего сгорания, она используется с 50-х годов. Интенсивность изнашивания трущихся сопряжений косвенно характеризуется концентрацией в масле металлов Fe, Си, РЬ и др., которые входят в состав материалов трущихся деталей. Эмиссионный спектральный анализ проводится по спектрам испускания атомов и ионов, возбужденных электромагнитным излучением (обычно электрическим источником света—электрической дугой, искрой). [c.184]

Атомно-абсорбционная спектрометрия. По данному методу спектрального анализа пробу испаряют в атомизаторе (в пламени, плазме), затем измеряют интенсивность света от источника дискретного излучения, проходящего через пар исследуемой пробы. По степени ослабления интенсивностей линий определяемого элемента судят о концентрации его в пробе. Анализ эффективности определения содержания продуктов изнашивания в масле методом атомно-абсорбционной спектрометрии показал, что метод обеспечивает учет преимущественно мелких частиц, взвешенных в пробе масла, и не реагирует на крупные частицы размером свыше 10 мкм. [c.186]

Для получения молекулярных спектров в угольных электродах делаются отверстия, которые наполняются исследуемым веществом. Следует отметить, что линейчатый (атомный) спектр от железных электродов используется как эталонный спектр, по которому измеряются все остальные спектры. Дуга также широко используется как источник света для эмиссионного спектрального анализа по атомным спектрам. [c.134]

Проводится спектральный количественный анализ на стилоскопе по методу переноса следующим образом. На подставной электрод при определенном времени переноса отбирается проба. Далее этот электрод и ему подобный включаются в качестве электродов в аналитический промежуток. Источник света включается с одновременным включением секундомера. В момент исчезновения спектральной линии перенесенного вещества или в момент, когда интенсивность ее снизится до линии сравнения, секундомер выключается. Продолжительность существования спектральной линии определенного компонента будет при прочих постоянных условиях пропорциональна количеству перенесенного вещества и, следовательно, начальной концентрации этого компонента в пробе. В основе всех количественных приемов анализа по методу переноса пробы лежит, конечно, как и при обычных количественных методах спектрального анализа, использование соответствующих эталонов для получения концентрационных градуировочных кривых. [c.627]

Качественный анализ но инфракрасным спектрам поглощения затруднен отсутствием пока надежных спектральных таблиц и атласов спектров. Объясняется это техническими трудностями измерения абсолютных значений коэффициентов поглощения в инфракрасной области. В известной мере объяснение можно найти, в особенности для ранних работ, и в недостаточном внимании к учету влияния ширин щелей спектральных аппаратов и рассеянного света на результаты измерений. Литературные данные инфракрасных измерений поглощения тел представляют собой чаще всего записи ослабления спектров испускания использованных источников света, полученных с помощью регистрирующих систем (метод прямого отклонения см., например, рис. 313 и 320, II). Правда, авторы обычно указывают толщину поглощающего слоя, давление, температуру и ширину щели для каждой длины волны. [c.664]

Стилоскоп СЛП-2 (рис. 254) является переносным и предназначен главным образом для проведения спектрального анализа на месте нахождения анализируемых образцов. Свет от источника 1, [c.392]

С помощью плазменной струи можно получить прямолинейный градуировочный график для определения содержания (до 80%) свинца в свинцовых концентратах. Определение таких высоких содержаний элементов несвойственно спектральному анализу в открытой дуге из-за само поглощения излучения в источнике света. [c.143]

Рис. 11. Оптическая схема экспериментальной установки для спектрального анализа / — источник света н электроды дуги 2 — защитная кварцевая пластинка 3, 4, 5, 6 — трехлинзовый конденсор 7 — гартмановская диафрагма или ступенчатый ослабитель 8 — щель спектрографа 9 — зеркало коллиматор,а 10—призма II — камерный объектив 12 — фотопластинка 13 — дуговой генератор 14 — кнопка включения

Однако в случае больших аберраций имеет смысл, главным образом в целях контроля, применить прием, описанный выше для случая больших аберраций в монохроматическом свете только нужно добавить расчет ряда пучков для различных спектральных областей (не меиее 5—8) с учетом коэффициентов удельной спектральной светности источника света, пропускания оптических сред и спектральной чувствительности приемника. Имея картину обш,ей освещеиности от всех элементарных спектральных областей в виде точек разных весов, заполняющих плоскость изображения, отсчитывают количество взвешенных точек по полосам, делящим изображение, и производят гармонический анализ кривой зависимости потока от положения полосы. [c.657]

В работе изложены результаты исследования методом локального спектрального анализа перераспределения компонентов стали ЭИ696М, подвергнутой вакуумному алитированию с целью повышения длительной жаростойкости. В основе примененной нами методики определения взаимодиффузии компонентов стали лежит метод локального спектрального анализа с помощью линейного источника света, предложенный И. Г. Исаевым [11 и использованный для исследования диффузии в работах [2—5 ]. [c.187]

Для спектрального анализа шума применяется сцептрон или волоконный анализатор. Он представляет собой набор волоконных световодов — стерженьков 2 (рис. 65) диаметром 0,1 мм и меньше, каждый из которых настроен изменением длины вылета из корпуса на определенную резонансную частоту. Корпус присоединяется к электромеханическому преобразователю 5, в качестве которого используется биморфная пьезоэлектрическая пластинка, а также якорь, приводимый в движение подвижной катушкой электродинамической системы возбуждения. Таким образом, сигнал, полученный со звукоприемника (микрофон) н усиленный усилителем 6, поступает на электромеханический преобразователь 5 и колеблет основание корпуса, где крепятся волокна. С другой стороны, источник света / посылает параллельный пучок на входные концы световодов. На выходе световодов в плоскости изображения возникает матрица из светящихся [c.174]

Возрастание времени релаксации около критической точки отражает замедленность рассасывания в системе флуктуаций экстенсивных параметров (энтропии, плотности, концентрации). Усиливаются не только пространственные, но и временные корреляции распределения молекул. В опытах [333] наблюдалось сужение линии рассеяния света в SF с приближением к критической точке но изохоре (рк — р)/рк 0,02. Для анализа флуктуаций фототока при регистрации рассеянного пучка использовалась специальная аппаратура с шириной полосы спектрального анализатора 10 гц (разрешающая сила — S-IO ). Источником света служил Не — Ne-лазер, ширина линии около 2 гц. Если амплитуда G временной корреляционной функции для рассеяния спадает экспоненциально, G ехр [— Fi], то интенсивность флуктуационного сигнала имеет вид [c.301]

В книге описана экспериментальная техника, спектральные приборы, оптические материалы и источники света, применяемые при исследованиях, связанных с использованием вакуумной ультрафиолетовой области спектра. Изложены также основные результаты по применению этой области к изучению плазмы, атомных спектров, атомных столкновений, флуоресцентного и эмиссионного спектрального анализа. Книга написана по тому же плану, что и написанная десять лет назад книга этих же авторов Спектроскопия вакуумного ультрафиолета и отражает большие достижения вакуумной спектро-скошии за последнее десятилетие. [c.4]

Из сказанного должно быть ясно, что вопрос об источниках возбуждения в спектроэмиссионном анализе играет исключительно важную роль. В гл. 4 был дан общий обзор источников света, в частности и тех, которые применяются в качестве источников воз-бужденпя в спектральном анализе. Здесь же уместно отметить, что источники, предназначенные для целей спектрального анализа, все время совершенствуются, что в свою очередь ведет к усовершенствованию отдельных методик анализа и расширению области пх применения. Усовершенствование электрических дуг и искр связано прежде всего с их стабильностью работы, обеспечивающей воспроизводимость условий возбуждения спектров. По мере совершенствования условий регистрации спектров и методов фотометрирования интенсивностей спектральных линий, ошибки анализа, обусловленные источником возбуждения, должны также уменьшаться. При визуальных и фотографических методах анализа, где ошибки фотометрирования сравнительно высоки, достигая 3—4%, допустилш ошибки, обусловленные источником, в 2—3%. При фотоэлектрических методах регистрации спектров, где ошибки фотометрии относительных интенсивностей спектральных линий, вообще говоря, могли бы не превышать 0,5%, ошибки, вносимые источником возбуждения спектров, не должны уже превышать 0,3—0,4%. [c.587]

Сравнение интенсивности спектральных линий анализируемых элементов выполняется здесь, в отличие от ранее описанного спектрального аппарата, как д. обычно, с одной из линий 3 основания анализируемой X пробы. Таким образом, 5 шесть каналов позволяют выбрать только три анали тические пары линий следовательно, вести од новременно анализ на три элемента. Использование аналитических нар в общем случае делает анализ более уверенным, в особенности, если применять обычные источники света с искровым активизатором электрических дуг. Возможно, что применение электронного стабилизатора типа ГЭУ-1 и неразложенного пучка сравнения но схеме рис. 463 позволит вести и с по- мощью ФЭСА анализ на шесть элементов. [c.621]

Среди оптических анализаторов заметное место занимают поляриметрические приборы, позволяющие измерять угол вращения плоскости поляризации оптически активных растворов и однородных жидкостей. Наиболее совершенным прибором этой группы можно считать поляриметр модели 241-МС фирмы Перкин—Элмэр (США). Прибор позволяет определять угол поляризации 0 в Диапазоне 80° с точностью 0,002% для веществ с 0 < Г и 0,2% для веществ с 0 > Г. Результаты анализа выдаются на пятизначное цифровое табло и на цифропечать. В приборе обеспечиваются автоматическая регулировка усиления и автоматическая установка нуля. Решетчатый монохроматор позволяет проводить исследования в спектральном диапазоне 250—700 нм. Источником света в приборе служит ртутная, натриевая, дейтериевая или кварц-иодистая лампа. [c.253]

Раскаленные газы испускают лишь волны определенной длины, характерные для их химического состава. При этом получаются линейчатые или полосатые спектры (химический спектральный анализ 2). Если между источником света и спектроскопом находится газ, лучеиспускаю-щий слабее, чем источник (например, солнце и окружающая его корона), то газ поглощает те самые линии, которые он испускал бы, будучи раскаленным в спектре в соответственных местах получаются узкие темные линии, называемые линиями Фраунгофера (1814 г.), чем дается основание для астрономического спектрального анализа. Фраунгофер обозначил наиболее сильные линии (идя от красного к фиолетовому) последовательными буквами алфавита от А до Н, что позволило распределить спектр и ввести однозначные обозначения. Эти обозначения часто употребляются вместо указания длины волны (см. ниже Призмы", 528). [c.524]

Процедура С. а. состоит из след, операций 1. Отбор и подготовка пробы к анализу. Решающим обстоятельством, обеспечивающим надежность анализа, особенно при определении малых примесей, является правильный отбор т. и. средней пробы, соответствук -щой по составу анализируемому веществу. 2. Возбуждение спектра пробы при сжигании в к.-л. источнике света (газовом пламени, электрич. дуге или искре, газоразрядной трубке и т. п.). 3, Регистрация спектра с помощью спектрального прибора. 4. Измерение интенсивности I аналитич. линий и определо-нпе количеств, содержания определяемых элементов в об])азце. Количеств, оценка производится с помощью эмпирич. соотношения Ломакина — Шейбе I = аС , [c.16]

Абсолютная величина интенсивности спектральных линий зависит не только от концентрации элемента, но также от условий проведения анализа. Поэтому концентрация элемента в сплаве определяется не по абсолютной интенсивности аналитических линий, а по отношению этой интенсивности к интенсивности, какой-либо другой линии в том же спектре — линии сравнения , которая не зависит от концентрации искомого элемента и одинаково с аналитической линией реагирует на изменение условий анализа. Такими линиями сравнения могут служить линии основного элемента сплава, линии второго электрода, атмосферы или специально вводимого для этой цели в источник света элемен та сравнения . Аналиг тические линии вместе с линиями сравнения составляют аналитические пары . [c.184]

У нас нет возможности останавливаться на многих других аналитических свойствах лазерного луча. Следует только заметить, что уже давно для анализа строения молекул и состава органических соединений очень эффективно используется метод комбинационного рассеяния. Он был открыт еще в 1926 г. советскими учеными Л. И. Мандельштамом и Г. С. Ландсбергом и индийским ученым Ч. Раманом. Возможности метода несколько ограничивались малой интенсивностью источников света, что приводило к очень большим экспозициям и затрудняло регистрацию слабых линий. Лазерные источники света сразу же решили эту проблему. Начался новый этап в развитии молекулярного спектрального анализа. [c.80]

См. также ст. Атомные спектры. Здесь тв. и жидкие пробы испаря- создаваемого магнетронными генера-СПЕКТРАльный АНАЛИЗ, физич. ются, соединение диссоциирует и сво- торами, ВЧ факельного разряда. С помет оды качеств, и количеств, опре- бодные атомы (ионы) переходят в мощью разл. приёмов введения ана-деления состава в-ва, основанные на возбуждённое состояние. Испускаемое лизируемых в-в в плазму этих раз-получении и исследовании его спект- ими излучение раскладывается в рядов (продувка порошков, распыле-ров. Основа С. а.— спектроскопия спектр и регистрируется (или на-атомов и молекул, его классифициру- блюдается визуально) с помощью ют по целям анализа и типам спект- спектрального прибора. ров. Атомный С. а. (АСА) оп- Для возбуждения спектра в АСА ределяет элементный состав образца используют разл. источники света и ляет десятки %. В нек-рых важных по атомным (ионным) спектрам испу- соответственно разл. способы введения случаях анализа чистых в-в приме-скапия и поглощения молеку- в них образцов. Выбор источника за- нение этих типов разряда снижает л я р н ы й С. а. (M A)—мол. состав висит от конкретных условий анализа пределы определения примесей на в-ва по мол. спектрам поглощения, объекта. Тип источника и способ 1—2 порядка (до 10 —10 %). люминесценции и комбинационного рас- введения в него пробы составляют гл. Для анализа чистых в-в, радиоак- [c.708]

АНАЛИЗ [активационный — метод определения химического состава вещества с помощью регистрации излучения радиоактивных изотопов, образующихся при облучении вещества ядерными частицами люминесцентный — химический анализ вещества по характеру его люминесценции рентгенорадиометрический— анализ химического состава, основанный на регистрации рентгеновского излучения, возникающего при взаимодействии излучения радиоизотопного источника с атомами вещества рентгеноснектральный — метод определения химического состава примесей вещества по характеристическому рентгеновскому спектру его атомов рентгеноструктурный— метод исследования структуры вещества, основанный на изучении дифракции рентгеновского излучения в этом веществе спектральный — физический метод качественного и количественного анализа веществ, основанный на изучении их спектров — испускания, поглощения, комбинационного рассеяния света, люминесценции АНТИФЕРРОМАГНЕТИЗМ— магнитоупорядоченное состояние кристаллического вещества с антипараллельной ориентацией спиновых магнитных моментов соседних атомов в кристаллической решетке АЭРОДИНАМИКА—раздел аэромеханики, изучающий законы движения газообразной среды и ее взаимодействие с движущимися в ней твердыми телами АЭРОМЕХАНИКА— раздел механики, изучающий равновесие и движение газообразных сред и механическое воздействие этих сред на погруженные в них твердые тела [c.225]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...