Приборы светового сечения

Приборы светового сечения ПСС-2 (МИС-11) 2, / n,ax 5. S, 40—0,8 мкм 2,5-0,002 мм 2,5 0,8 0,25 0,08 0,03 0,01 [c.200]

Считается, что приборы (двойные микроскопы, приборы светового сечения), в которых реализуется метод светового сечения, позволяют измерять неровности поверхности высотой от 0,8 до 63 мм с допустимыми погрешностями показаний по норме порядка 24 и 7,5% соответственно при наличии четырех пар сменных объективов ОС-39, ОС-40, ОС-41 и ОС-42. Следует заметить, что при этом неровности поверхности кромок шторок, прикрывающих диафрагмированную щель (иначе говоря, щелевую диафрагму), должны [c.106]

Прилагаемые к различным экземплярам приборов светового сечения объективы не вполне идентичны. Поэтому для каждого экземпляра приборов потребителю приходится определять цену деления круговой шкалы /б, причем для каждой пары сменных объективов самостоятельно. [c.109]

В приводимой ниже табл. 7 для справок даны интервалы, в которых обычно лежат цены делений барабанов окулярных микрометров МОВ-1-15 встречающихся на практике приборов светового сечения (двойных микроскопов МИС-11). [c.109]

Двойной микроскоп (прибор светового сечения) ПСС-2, Этот микроскоп отличается от двойного микроскопа МИС-И тем, что 1) объективы проектирующего и наблюдательного микроскопов закреплены в одной съемной обойме / (рис. 30, а) 2) использованы [c.110]

Рис. 30. Прибор светового сечения (двойной микроскоп) ПСС-2 а — общий вид б — поле зрения окулярного микрометра МОВ-4-15

Измерение толщины покрытий при этом производится двойным микроскопом МИС-11 серийного производства (рис. 81), который предполагается заменить моделью ПСС-2 (прибор светового сечения — рис. 82) поэтому ниже приводятся данные для последнего. [c.89]

Рис. 55. Прибор светового сечения ПСС-2

Из приборов светового сечения в СССР выпускаются приборы ПСС-2, вместо ранней модели МИС-П. Новая конструкция микроскопа имеет примерно те же технические данные, что и модель МИС-11, но обладает лучшими оптическими характеристиками, позволяющими значительно увеличить точность измерения. Прибор снабжен сменными объективами. Общее увеличение микроскопа 75 , 266 , 337 и 750 . Поле зрения прибора соответственно 3,6 1,2 0,8 0,36 мм (при измерении шероховатости поверхности с помощью оптических приборов длина участка измерения ограничивается полем зрения прибора). [c.121]

Бесконтактные (оптические) приборы делятся на приборы светового сечения и интерференционные. [c.115]

Принципиальная схема прибора светового сечения приведена на рис. 45. Освещенная узкая щель [c.115]

Принцип действия приборов теневого сечения аналогичен принципу действия приборов светового сечения. В приборах теневого сечения рассматривается тень, искривленная неровностями поверхности. Тень создается ножом, прикладываемым к поверяемой поверхности. [c.352]

Принцип действия приборов светового сечения заключается в получении увеличенного изображения профиля измеряемой поверхности с помощью лучей, направленных наклонно к этой поверхности, и измерении высоты неровностей в получаемом изображении. Наиболее распространенным является двойной микроскоп типа МИС-П и ПСС-2. [c.137]

Шероховатость поверхности контролируется двумя основными методами качественным и количественным. Качественный метод основан на сравнении проверяемой поверхности с образцом (эталоном). Эталон изготавливается из тех же материалов, что и проверяемая деталь. Количественный метод заключается в том, что неровность поверхности измеряют специальными приборами (профилометрами, профилографами, двойными микроскопами, микроинтерферометрами, приборами светового сечения и др.). [c.93]

Прибор светового сечения ПСС-2 Rz 0,8...40 0,25 0,8 2,5 8 [c.520]

Прибор светового сечения модели ПСС-2 (взамен микроскопа МИС-11) [c.690]

Оптические методы — одни из самых распространенных. Наиболее известные среди них реализованы на лазерных профилографах, приборах светового сечения и интерферометрах разных типов. Несмотря на высокое разрешение некоторых из этих методов по высоте (до 0,1 нм), их практическое использование сталкивается с трудностями, связанными с тем, что разрешение в плоскости исследования ограничено длиной волны используемого излучения (около 2000 нм). Несопоставимость горизонтального и вертикального размещений и необходимость хорошей отражающей способности у изучаемых объектов приводит к тому, что данные методы находят ограниченное применение — при исследовании оптических поверхностей, измерении дефектов типа ступенек и т. д. [c.175]

Принципиальная схема прибора светового сечения приведена на рис. 112. Освеш,енная узкая щель проецируется микроскопом на ступенчатую поверхность Р Рг-Направление падения-света показано стрелками. При таком падении света изображение светящейся щели на [c.203]

Приборы светового сечения ПСС-2 К Ктах 40-0,8 2,5 0,01 [c.474]

Прибор светового сечения модели ПСС-2 (взамен микроскопа МИС-П) Пределы измерения шероховатости поверхности от 80 до 0,8 мкм. Увеличение 75— 750. Поле зрения 0,3 — 3,5 мкм [c.211]

Приборы светового сечения предназначены для контроля высококачественных поверхностей и измерения толщины тонких прозрачных пленок в диапазоне 16. .. 320 мкм. Схема измерения методом светового сечения показана на рис. 13. На поверхность изделия проектируется изображение узкой светящейся щели и затем оценивается в отраженных лучах, обычно под углом 45° к нормали (рис. 13, а). При наличии неровностей на поверхности изделия в поле зрения прибора наблюдается деформация изображения щели, пропорциональная их высоте А (рис. 13, б). [c.500]

Приборы светового сечения ПСС-2 Кг Ктах 40...0,8 2,5...0,01 [c.113]

Все параметры шероховатости могут быть определены по профилограмме, полученной на профилометре типа мод. 201. Высотные параметры в пределах 0,06 — 400 мкм (/ а, Нг, Нтах), шаговые Параметры (5 и 5т) н опорная поверхность tp во всем числовом диапазоне. На оптических приборах светового сечения (МИС-11 и ПСС) и растровых измерительных микроскопах [c.138]

Способ действия приборов светового сечения заключается в том, что пучок световых лучей от источника света через узкую щель 1 (рис. 15.3 а) и объектив 2 направляется под углом а на контролируемую [c.240]

Все оптические приборы предназначены для измерения величины щероховатости поверхности по параметру Rz. Приборы теневого сечения (ПТС-1) применяют для контроля грубо обработанных поверхностей с 1-го по 3-й классы. Приборы светового сечения (ПСС-2) применяют для контроля поверхностей с 4-го по 9-й классы. Приборы, основанные на принципе интерференции света — интерферометры, применяют для контроля тонко обработанных поверхностей с 10-го по 14-й классы шероховатости. [c.242]

Приборы светового сечения МИС-11 [c.540]

Наибольшее распространение для бесконтактных измерений шероховатостей получили оптические приборы светового сечения, теневой проекции и интерференции света. [c.46]

На заводах широко известен двойной микроскоп мод. МИС-П, а в последнее время усовершенствованная модель ПСС-2 (прибор светового сечения мод. 2). Последний имеет объективы с полем зрения, соответствующим стандартным базовым длинам, и снабжен фотокамерой для фотографирования контролируемой поверхности. [c.75]

Приборы, приведенные в табл. 8,. предназначены для контроля высококачественных поверхностей и измерения толщины тонких прозрачных пленок в диапазоне 160—320 мкм. Схема измерения методом светового сечения [c.71]

Создан прибор, которым можно определить не только размер, но и глубину дефектов методом светового сечения с помощью специальной насадки (точность 0,02 мм). [c.84]

Теневая проекция и прибор теневого сечения ПТС-1. Теневая проекция является видоизменением светового сечения, удобным для измерения неровностей сравнительно грубых поверхностей профильным методом. [c.113]

Действие, приборов ПСС (рис. 55) основано на принципе светового сечения, действие ПТС (рис. 56) — на принципе теневого сечения, действие МИИ (рис. 57) — на принципе интерференции света. [c.120]

Исследования В. А. Егорова показали, что погрешности измерения методом оптического фотографирования при определении критерия Яск для классов чистоты, охватываемых интерференционными приборами, т. е. с 10 по 14-й класс, составляют + (7—15) %, а для классов чистоты, охватываемых приборами, построенными на принципе светового сечения, т. е. с 3-го по 9-й класс, составляют + (4—11) % [3]. [c.239]

Методика упрощенной обработки профилограмм и фотографий оптических изображений профиля. Объектом обработки воспроизведения профиля на бумаге могут быть профилограммы, полученные на щуповом профилографе, или фотографии профиля, полученные на двойном микроскопе (приборе светового сечения), микроинтерферометре или растровом микроскопе. [c.162]

К классу III с допускаемой амплитудой виброскорости Уа= = 0,315 мм/с отнесены оптикаторы, оптические длиномеры, ультраоптимеры, измерительные машины длиной до 1 м, катетометры, контактные интерферометры, приборы для контроля линейных размеров с электронным индикатором контакта и ценой деления 0,1. .. 0,5 мкм, растровые измерительные микроскопы, микроинтерферометры, приборы светового сечения, приборы для контроля цилиндрических и конических зубчатых колес, спектрографы, спектрометры, спектрофотометры, масс-спектрометры, микрофотометры, фотоэлектрические усилители, прецизионные металлорежущие станки средних размеров (внутришли-фовальные, круглошлифовальные с направляющими скольжения, плоскошлифовальные, координатно-расточные и т. п.). [c.121]

Приборами, основанными на оценке поверхностных неровностей при увеличении их с помощью оптической системы, являются приборы светового сечения . Приборами, основанными на отражательной способности, являются микроинтеферометры. [c.137]

Количественный контроль параметров шероховатости осуществляют бесконтактными методами с помощью приборов светового сечения и контактными методами с помощью щуповых приборов — профилометров и профилографов. [c.378]

На методе светового сечения, разработанном русским ученым В. П. Линнйком, основано несколько конструкций микроскопов, выпускаемых ло группе ПСС (приборы светового сечения). Одной из таких конструкций является двойной микроскоп модели МИС-11. В приборе узкий пучок света направляется на контролируемую поверхность под определенным углом (рис. 48, а), и на поверхности образуется узкая освещенная полоска, которая представляет собой след пересечения проверяемой поверхности с плоскостью светового потока. Так как поверхность не является идеально гладкой, а имеет поверхностные неровности, то линия пересечения плоскости светового пучка и проверяемой поверхности является кривой. [c.110]

В настоящее время выпускается также прибор светового сечения модели ПСС-2. Эта конструкция микроскопа имеет примерно те же технические данные, что и модель МИС-П, но обладает лучшими оптическими характеристиками, обеспечивающими более высокую точность измерения. Сменные объективы дают увеличение 75 , 266 , 337 и 750 . Поле зрения прибора соответственно 3,6 1,2 0,8 и 0,36 мм (при измерени шероховатости поверхности с помощью оптических приборов длина участков измерения ограничивается полем зрения прибора). [c.111]

На оптических приборах светового сечения (МИС-11 и ПСС) и растровых измерительных микроскопах (ОРИМ-1) можно измерять высотные параметры в пре делах от 0,5 до 80 мкм, а шаговые параметры от 0,002 до 8 мм. [c.146]

Особое место в бесконтактных измерениях шероховатости занимают оптические приборы приборы светового сечения приборы теневого сечения микроскоп измерительный интерференционный микроскоп однообъективный муаровый. [c.86]

Приборы светового сечения (ПСС) называют двойными микроскопами (МИС-11 системы В.П. Линника). Они позволяют измерять шероховатость поверхности до 2 0,8 мкм.Для измерения более чистых поверхностей с Л2 0,8...0,03 мкм применяют микроинтерферометры (МПИ-4 МИИ-5 МИИ-10 МИИ-12), работающие на принципе интерференции света. Поверхность образца (детали) рассматривается в микроскоп и при этом на ее изображение накладываются интерференционные полосы, по искривленшо которых судят о распределении неровностей. Если бы контролируемая поверхность была идеально плоской, то на ней возникли бы прямые параллельные интерференционные полосы. Микронеровности на поверхности изменяют ход лучей и вызыва- [c.46]

Обеспечение единства измерений микронеровностей поверхности является весьма важным и актуальным. Известно, что оптические и щуповые приборы существенно отличаются друг от друга. Основой процесса ощупывания является наличие механического контакта между измеряемой поверхностью и чувствительным элементом прибора, в то время как в оптическом приборе используется явление интерференции или способ светового сечения. Это отличие и сказывается на показаниях щуповых и оптических приборов. [c.235]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...