Брэгговские пики

В него дает вклад любое отклонение от идеальной Брэгговские ПИКИ периодичности, в том чис- [c.186]

Для практических целей в первую очередь представляет интерес резонансный случай взаимодействия падающей волны с МИС, т. е. окрестность брэгговских пиков, где коэффициент отражения велик. При этом выражения (3.25) можно еще более упростить. [c.84]

Тогда, оставляя в (3.25) главные члены разложения по малым параметрам В и получим более простые выражения для коэффициентов отражения и прохождения, справедливые в окрестности брэгговских пиков, т. е. как раз там, где отражение МР-волны от МИС велико [c.85]

Исследование оптических свойств рентгеновских МИС начнем с рассмотрения коэффициента отражения. Для простоты ограничимся случаем первого брэгговского пика [п = 1 в формулах (3,28) — (3.29)], который, как правило, в основном и интересен для практики. [c.90]

Я(,/А1 — разрешающая способность МИС (%о резонансная длина волны, АЯ — ширина брэгговского пика на половине его высоты) [c.90]

Перейдем к рассмотрению коэффициента отражения [см. формулу (3.29)] от полубесконечной МИС в окрестности первого брэгговского пика (я = 1). Как уже отмечалось выше, отражение МР-волны от МИС носит выраженный резонансный характер. [c.91]

Под разрешающей способностью МИС будем понимать отношение А,о/АЯ, где Яд — резонансная длина волны, а ДЯ, — ширина брэгговского пика (на половине высоты). Ясно, что по порядку величины для полубесконечной МИС справедливо соотношение Я.(,/АЯ [см. формулу (3.42)]. Чтобы получить более точное выражение для разрешающей способности, следует определить ширину брэгговского пика из уравнения [c.96]

Взаимодиффузия соседних слоев МИС накладывает определенные ограничения на выбор пар материалов, составляющих структуру. В то же время, как показано в работе [92], небольшое размытие границ между слоями (до тех пор, пока не начнет уменьшаться амплитуда скачка диэлектрической проницаемости) мало сказывается на коэффициенте отражения в первом брэгговском пике. [c.108]

Установление 5 (минус упругие брэгговские пики) с экспериментально наблюдаемой равномерной плотностью состояний для колебаний решетки предполагает, что фононная скорость достижения равновесия будет много больше, чем скорость электрон-фононного рассеяния. Мы должны присоединить условия, уточняющие равновесия [c.117]

Резкие брэгговские пики соответствуют дифракции на усредненной структуре, для которой, согласно (12.7), [c.264]

Большинство реальных кристаллов, за исключением очень тщательно приготовленных, состоит из многих слегка разориентированных зерен, разделенных малоугловыми границами. Разориентировка достаточно мала, так что при дифракции рентгеновских лучей брэгговские пики остаются резко выраженными, однако наличие зерен оказывает существенное влияние на интенсивность этих пиков. [c.255]

Типичное эксперим. проявление Н, м. с.— наличие на маги, нейтронограмме пары (или неск. пар) равноотстоящих слабых пиков-сателлитов, обрамляющих структурный брэгговский пик (см. Магнитная нейтронография). Расстояние же до сателлитов на нейтронограмме непосредственно связано с величиной магн. периода. В общем случае волновой вектор Н. м, с. можно представить в виде к = кй + бк, где [ко] = 2л/па (п — целое число, а — постоянная решётки). Величина ко определяет центр группы сателлитов, а бк зависит от темп-ры и является мерой удалённости сателлитов от центра. [c.334]

Характерными признаками магнитного фазового перехода в состояние С. с. в пост. внеш. магн. иоле Н являются возникновение при T>Tf и малых Я намагниченности m и её рост при понижении темп-ры вплоть до Г/ наличие при Г = Tf резкого излома (быстро сглаживающегося с ростом Н) статнч. магн. восприимчивости X = дМ)дН (рис.), линейный ход магн. составляющей теплоёмкости С при низких Т и отсутствие особенности С при Т = Tf отсутствие брэгговских пиков в магнитном рассеянии нейтронов, критич. аамедлепие спиновой диффузии и др. При наблюдении перехода в фазу С. с. в переменном внеш. магн. поле с частотой со обнаруживается ряд необычных для др. магн. фаз явлений частотная зависимость (дисперсия) темп-ры замерзания Т , появление мнимой части динамич. вос-цриимчивости наличие долговременной (лога- [c.634]

Если бы кристалл был идеальной дифракционной решеткой, его дифрактограмма содержала бы только брэгговские пики. Но из-за нарушений периодичности интенсивность рассеянного образцом излучения оказывается отличной от нуля и при небрэгговских углах (рис. 109). Это так называемое диффузное рассеяние. [c.186]

Кстати, внешне аморфный металл ничем не отличается от кристаллического. Но из-за беспорядочного расположения атомов стекло не является дифракционной решеткой для излучения, и на дифрактограмме отсутствуют резкие брэгговские пики (рис. 137). Облучая закаленные из жидко-сти образцы сплавов рентгеновскими лучами, электронами или нейтронами, можно определить, успешно ли прошла аморфизация. [c.234]

Предполагается, что дисперсия оптических постояннвх компонентов МИС мала I Ai, J 1, где ЛХ <— ширина брэгговского пика. [c.91]

X < 124 А), наблюдаемые значения коэффициентов отражения меньше ожидаемых. Из-за недостатка информации об оптических константах теоретические расчеты в более длинноволновом диапазоне, скорее, наводящие соображения для подбора веществ, а нс данные для сопоставления с экспериментом. Во-вторых, почти всегда наблюдаемая ширина или разрешение брэгговских пиков соответствует расчетной. Это означает, но-видимому, что исследуемые МИС обладают высокой периодичностью, а наблюдаемое уменьшение коэффициента отражения по сравнению с расчетным связано с разирисим иериидоа вокруг среднего значения. < акос утверждение все же недостаточно аргументировано, и для того чтобы стать больше, чем гипотезой, должно быть подтверждено экспериментально. В-третьих, коэффициенты отражения з рентгеновском. диапазоне лучше согласованы с экспериментом, чем в мягком рентгеновском и вакуумном ультрафиолетовом диапазонах. В настояш.ее время принято считать, что это связано со структурны у5 несовершенством осаждаемых слоев, что более сильно сказывается в длинноволновой области. В рентгеновском диапазоне коэффициенты отражения МИС, состоящие из хорошо известных пар металлов, составляют 85—90 % от расчетных, а в мягком рентгенинском — 50 —60 %. [c.442]

Недавние исследования молибденкремниевых МИС в вакуумном ультрафиолетовом диапазоне [74] привели к наблюдаемым коэффициентам отражения выше расчетных. На рис. 12 сравниваются экспериментальные и теоретические кривые отражения на длине волны 170, 4 А, Ф — угол падения, отсчитанный от нормали). Отметим, что форма и положение брэгговского пика согласуются с теорией, однако экспериментально полученная отражающая способность в 1,5 раза больше расчетной. Эго может быть, в частности, объяснено использованием завышенных примерно на 35 % значений коэффициентов поглощения, что вполне соответствует разбросу данных по оптическим константам. Кроме того, измерялся коэффициент отражения при энергии 8 кэВ, который в первом порядке составил 85%. Всего наблюдались пики отражения вплоть до 16-го порядка. В этом образце толщина слоя молибдена в 17,1 раза превышала межплоскостное расстояние объемноцентрированной кубической решетки кристалла Мо. Кроме того, эффективный период, определенный по 16-му порядку, оказался равным 6 А, что указывает на однородность границы, по крайней мере, на этом уровне. [c.443]

Аналогичное, однако не в такой степени количественное, заключение было сделано в работе [291 на основании анализа дисперсионных сдвигов положений брэгговских пиков ванадийугле-родного зеркала в диапазоне энергий 108 эВ—13 кэВ. Сравнение проводилось с оптическими константами Хенке и других [471. Экспериментальные значения константы S в пределах 10—15 % совпадали с теоретическими, за исключением области вблизи края поглощения углерода (277 эВ). Принимая во внимание простоту метода, такое согласие следует считать удовлетворительным. [c.444]

Впервые различие динамических свойств поверхностных атомов и атомов, расположенных в глубине кристалла, продемонстрировали эксперименты Калашникова и Замши [392]. В этой работе методом ДМЭ исследовалась температурная зависимость интенсивности нескольких брэгговских пиков при дифракщ1и электронов с энергией от 40 до 240 эВ от поверхности (001) серебра. Анализ полученных экспериментальных данных и интерпретащ1Я их с помощью фактора Дебая—Валера позволил авторам [392] дать количественную оценку средних квадратов компонент амплитуд колебаний, перпендикулярных ((7 )и параллельных свободной поверхности (t y). Они нашли, что для поверхностных атомов как так и больше среднего квадрата амплитуды атомов в глубине кристалла [c.124]

Таким образом, по крайней мере вплоть до приближения второго порядка, действие атомных смещений на брэгговские пики приводит к умножению структурных амплитуд на экспоненциальный множитель, имеющий форму фактора Дебая—Валлера для теплового движения. Тот факт, что этот псевдофактор Дебая—Валлера одинаков для обоих сортов атомов, является результатом допущения, что поля смещений действуют одинаково на все атомы. [c.265]

Такие решения, предполагающие асимптотическую форму поля напряжений, которые следуют из теории упругости для непрерывной среды, дают разумные результаты для рассеяния, весьма близкого к брэгговским пикам, но меньше подходят для описания смещений атомов вблизи дефектов и для рассмотрения диффузного рассеяния. Расчеты смещений ближайших соседей точечного дефекта в твердом аргоне, проведенные Канзаки [246], и моделирование на ЭВМ окружения точечных дефектов в меди, проведенное Тевордтом [372 ], дали результаты, сильно отличающиеся от рассмотренных. Вдоль некоторых направлений, таких, как оси куба для аргона, смещения могут действительно менять знак с увеличением расстояния от дефекта. Флокен и Харди [143] установили, что асимптотическое решение справедливо только для расстояний от дефекта, более чем в несколько раз превышающих размеры элементарной ячейки. [c.268]

В случае дифракции рентгеновских лучей и электронов, когда значительная часть теплового диффузного рассеяния может оказаться включенной в измерения интенсквностей брэгговских отра- жений, никакого эффекта поглош,ения не обнаруживается. Однако если эксперимент проводится таким образом, что резкие брэгговские пики можно отделить от ожидаемого теплового диффузного максимума, то при расчетах интенсивности брэгговских отражений следует использовать функцию поглощения. [c.279]

Хотя уравнения (12.38) —(12.41), может быть, не совсем приемлемы для квантовых процессов, тем не менее они дают представление о форме коэффициентов поглощения, которой следует ожидать в важных случаях. При возбуждениях плазмонов отклонения от среднего потенциала имеют длину волны порядка сотен ангстрем с незначительной или нулевой модуляцией периодом решетки. Соответственно вклад в Ai(u) ограничен брэгговским пиком при и =0. Такая модель, как и более строгие теории, дает равномерное поглощение цР (= AfP(O)), обратно пропорциональное средней длине свободного пробега для возбуждения плазмона она дается Ферреллом [134] в виде [c.284]

Чаще всего образцы представляют собой тонкие пластинки жидкого металла размером порядка 2,5 X 2,5 см и толщиной, выбираемой из условия, чтобы Потери в образце составляли примерно 10%. Для придания жидкому металлу нужной формы были разработаны различные конструкции ячеек. Как правило, они представляют собой окошки из тонкого металла, жестко закрепленные в квадратные или круг-чые металлические рамки. Выбор металла для окошек и рамки определяется химическими и тепловыми условиями, а также условием отсутствия брэгговских пиков в интересующей нас области значений к. При высоких температурах, когда становится существенным давление паров, использовались цилиндри-чёСкие образцы. Они заключались в тонкостенные тубы из плавленого кварца или тантала. [c.86]

Точно такое же выражение должно получаться при брэгговском отражении нейтронов, поскольку рассеяние упругое и переданный импульс равен вектору обратной решетки, умноженному на Й. Брэгговское рассеяние представляет собой когерентный процесс. Это находит свое отражение в том, что сечение рассеяния пропорционально сечению рассеяния для отдельного центра, умноженному на ]У , а не просто на N. Следовательно, амплитуды рассеяния (в отличие от сечений) оказываются аддитивными. Влияние тепловых колебаний ионов относительно равновесных положений полностью учитывается множителем который называется фактором Дебая — Валлера. Поскольку средний квадрат смещений иона из положения равновесия <[и (0) ) растет с температурой, мы видим, что тепловые колебания ионов, улгеньшая интенсивность брэгговских пиков, не устраняют их полностью ) (как опасались первые исследователи рассеяния рентгеновских лучей). [c.384]

Такая структура позволяет выделить однофононные процессы среди всех остальных членов в многофононном разложении 8 или в сечении рассеяния, поскольку можно показать, что все члены, кроме однофононных, представляют собой относительно медленно меняющиеся функции конечной энергии нейтронов. Отметим, что интенсивность однофононных пиков модулируется тем же фактором Дебая — Валлера, который уменьшает интенсивность брэгговских пиков. Отметим также наличие множителя [д-вд (q)] , который позволяет получить информацию о векторах поляризации фононов. И наконец, множители, зависящие от температуры, п (д) и 1 -Ь ng (д) обусловлены соответственно процессами, в которых испускаются или поглощаются фононы. Эти множители, типичные для процессов, отвечающих испусканию или поглощению бозе-эйнштейнов-ских частиц, указывают на то (представляющееся довольно разумным) обстоятельство, что при очень низких температурах процессы с испусканием фононов должны быть доминирующими (когда они допускаются законами сохранения). [c.385]

Если разложить (0.26) в ряд по числу фононов, то интегралы по частотам в отдельных членах этого ряда будут такими же, как в многофононном разложении для нейтронов. Бесфононные члены в данном случае описывают брэггов-екие пики, интенсивность которых уменьшена за счет фактора Дебая — Валлера (в нашем рассмотрении в гл. 6 мы не касались вопроса об интенсивности брэгговских пиков). Однофононный член приводит к сечению рассеяния, пропорциональному величине [c.386]

К тому же результату приводит и прямой анализ интерференции отраженных лучей. Первый пик базовой дифрактограммы отвечает брэгговскому углу 0i, при котором разность хода лучей, отраженных плоскостями Ai и Лг, равна X. Но при том же угле 0i разность хода лучей, идущих от плоскостей Ai и аи равна Я/2 (рис. 36), т. е. они находятся в противофазе [c.79]

Таким образом, приходим к общему результату полное распределение рассеивающей способности является суммой определенных раздельно распределения рассеивающей способности для усредненной решетки и распределения отклонений от усредненной решетки. Поскольку (р(г)) — периодическая функция, то будет состоять только из острых пиков в узлах обратной решетки, а на дифракционной картине будут получаться резкле брэгговские отражения. Поскольку Ар — непериодическая функция, то Ар < Ар— также непериодическая функция и будет быстро убывать с увеличением расстояния от начала координат. Следовательно, будет представлять собой непрерывное распределение рассеивающей способности между узлами обратной решетки и, таким образом, будет давать на дифракционной картине диффузное рассеяние. Можно отметить, что для не зависящих от времени возмущений усредненной периодической структуры первые члены в выражениях (7.9) и (7.10) отвечают рассеянию от усредненной по времени структуры, а следовательно, чисто упругому рассеянию, в то время как второй член отвечает неупругому рассеянию. [c.153]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...