ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Тонкие пленки из "Практика электронной микроскопии " В заключение настоящей главы укажем еще на один тип препаратов, которые могут непосредственно исследоваться в электронном микроскопе. Речь идет о тонких пленках, которые молсет образовывать целый ряд веществ — лаки, резины и пр. Такие объекты наносят непосредственно на сетки объектодержателя, высушивают на воздухе и исследуют в электронном микроскопе. [c.38] Большое развитие получили методы электронномикроскопического исследования тонких пленок различных металлов и сплавов. Эти пленки получают испарением металлов на подложку в вакууме по методу, аналогичному изготовлению пленок-подложек [51]. Такой метод металлографии металлов и сплавов, впервые предложенный академиком С. А. Векшинским [52], в настоящее время широко применяется для непосредственного изучения микроструктуры разного рода металлов и сплавов переменного состава в электронном микроскопе. [c.38] Более надежным решением этого -вопроса является получение та- Фиг. 21. Последовательное электро-ких срезов с помощью постепен- литческое утончение образцов для ного утончения массивного образ- прямого исследования в электронном ца до необходимой толщины, микроскопе. [c.39] Для утончения образца может быть использован следующий метод [53]. Образец, приготовленный в виде тонкого цилиндра диаметром 3 мм, подвергают последовательно электролитическому полированию с обеих сторон (фиг. 21). Полирование производят до тех пор, пока в центральной части образца не появятся отверстия. Некоторая область, расположенная вокруг отверстия, в благоприятном случае может оказаться достаточно тонкой для того, чтобы ее можно было наблюдать в электронном микроскопе на просвет. На фиг. V приведена микрофотография образца, препарированного описанным методом. Однако такой метод при всей своей простоте имеет ряд серьезных недостатков как только в образце образуется отверстие, его края быстро округляются (результат электролитического полирования) и уменьшается и без того малая часть объекта, пригодная для исследования на просвет кроме того, при электрополировании появляется на поверхности образца слой окиси или загрязнений, что может также существенно исказить результаты наблюдений. [c.39] Микрофотография образца, утонченного описанным методом и исследуемого на просвет, приведена на фиг. VI. На фиг. VII для сравнения приведена микрофотография оксидного отпечатка того же образца (об оксидных отпечатках см. стр. 66). [c.40] Существует еще один метод получения тонких пленок, пригодных для прямых исследований в электронном микроскопе просвечивающего типа, заключающийся в том, что на полированную металлическую плиту сбрасывается капля расплавленного металла или сплава, подлежащего исследованию [56]. Однако при этом методе пленки получаются заметно окисленными, поэтому в большинстве случаев эту операцию необходимо производить в защитной атмосфере, что весьма усложняет эксперимент. [c.40] В заключение следует отметить, что прямые методы исследования металлов и сплавов всегда необходимо сопровождать косвенными исследованиями с помощью методов отпечатков, которым посвящена следующая глава. [c.40] Вернуться к основной статье