Измерения на тонких слоях и пленках

Схема одной из установок [309] для электрохимических измерений в тонких слоях электролита приведена на рис. 133. Она позволяет работать с пленками толщиной от 100 лк и выше и представляет собой термостат 1, в который помещена герметически закрытая камера 2 с крышкой 3. На крышке имеются штуцеры 4, с навинчивающимися на них гайками 5 для крепления электролитических ключей 6. Аналогично крепятся и [c.196]

Приняв это положение, мы должны были бы сделать вывод, что если кислород переносится через тонкие слои электролитов лишь диффузионным путем и наблюдающиеся эффекты увеличения скорости кислородной деполяризации вызваны изменением толщины пленки, то, определив среднюю толщину последней за время опыта при Я = 66% (эта толщина по данным измерений оказалась равной 130 мк) и проведя опыт с пленкой данной толщины при Я=98%, мы должны получить кривую заряжения, точно совпадающую с аналогичной для влажности Я = 66%. Однако опыт показал, что кривые заряжения, снятые при толщине пленки 130 мк в атмосфере воздуха при Я=98% (кривая 8) и при толщине 160 мк в атмосфере воздуха при Я=66% (кривая 10), не совпадают. Кривая заряжения при малой влажности сдвинута на 100—200 мв в область более положительных значений потенциалов. Таким образом, опыт убедительно показал, что увеличение скорости катодного процесса с уменьшением влажности воздуха является следствием действия ряда факторов, а не единственно результатом уменьшения толщины пленки (см. ниже). [c.117]

При этом важно отметить, что чем больше при прочих равных условиях (одинаковая продолжительность и интенсивность сдувания и другие условия опыта) крутизна пленки, тем меньше градиент скорости О, а следовательно, согласно формуле Ньютона, тем больше ц. Таким образом, по крутизне пленки, определяемой расстоянием соседних полос интерференции, можно судить о пропорциональной ей вязкости слоев жидкости. Однако существует возможность во много раз повысить точность измерения толщины пленки на разных участках, если применить более тонкие методы исследования отраженного от пленки света. [c.199]

Ввиду того что атомы на поверхности наночастиц имеют соседей только с одной стороны, их равновесие нарушается и происходит структурная релаксация, которая приводит к смешению межатомного расстояния в слое толщиной 2...3 нм. Поэтому поверхностные слои частиц оказываются растянутыми, а внутренние — сжатыми. В наночастицах реализуются условия, при которых межатомное расстояние закономерно изменяется при переходе от центра частицы к ее поверхности. Ультрадисперсные частицы имеют существенно искаженную кристаллическую решетку, что влияет на энергию активации большинства процессов, в которых они участвуют, меняя их привычный ход и последовательность. Ультрадисперсные системы состоят из фрагментов, размеры которых (в трех или двух измерениях) сравнимы с длиной свободного пробега каких-либо коллективных возбуждений либо с характерной корреляционной длиной того или иного явления [Г . Под это определение, согласно [2], подпадают нанопорошки, аэрозоли, тонкие пленки, кристаллические усы и высокопористые материалы. Важнейшей их особенностью является развитая поверхность, вблизи которой находится значительная доля атомов (молекул). Малые кристаллические или аморфные частицы, из которых состоят нанопорошки, занимают промежуточную позицию между кластерами и однородными материалами. Для частиц та- [c.254]

В заключение назовем ряд экспериментальных работ, в которых методом полного внешнего отражения исследовались состояние и параметры приповерхностного слоя зеркала. Так, в работе [45] о помощью измерения Ка-линии Си было обнаружено окисление поверхности напыленного в вакууме алюминия. В работе [64] исследованы пленки меди, никеля, германия и селена в процессе окисления на воздухе и последующего отжига в вакууме. Наличие поверхностного слоя на стекле и алюминии обнаружено авторами работы [49]. В работе [48] исследованы пленки германия и теллура различной толщины, в работе [56] — германия, золота и стекла. Результаты определения плотности пленок германия даны в работе [57]. Отметим также, что отражение рентгеновского излучения широко используется для исследования процесса диффузии в тонких пленках (см., например, работу [36]). [c.40]

Тонкие монокристаллические пленки представляют большой интерес для исследования поверхностных явлений, поскольку они характеризуются большим отношением поверхности к объему и сравнительно высокой чистотой поверхности [1]. Степень совершенства поверхности пленки определяется уровнем техники выращивания, причем такая поверхность допускает дальнейшее наращивание слоя. Несмотря на то что была показана целесообразность применения таких пленок при исследовании поверхности, почти все ранние работы были выполнены на поликристаллических пленках, в которых интерпретация результатов измерения сильно затруднена маскирующими эффектами. [c.317]

В процессе измерений по все.м методикам необходимо иметь в виду следующие особенности. Образующаяся на колпачке пленка раствора кислоты улавливает из потока газов частицы золы и вступает с ними в химическую реакцию. Если после нагрева колпачок не вытереть, на нем останется тонкий слой солей и окислов. Обладая отрицательным температурным коэффициентом, эти соединения при охлаждении дадут неожиданный на первый взгляд рост сопротивления (рис. 8-14). Кривая R=f t) для загрязиенного колпачка сдвинется вправо и потеряет свою однозначность (рис. 8-15). Из сказанного очевидно, что для получения воспроизводимых результатов колпачок необходимо каждый раз тщательно вытирать или промывать. [c.228]

В первом из них i) проведено два ряда измерений. Тонкий слой UgOg (0,085 мг/см ) обогащенного нанесенный на платиновый диск, покрывался алюминиевой фольгой различной толщины. Поверх фольги помещалась толстая пленка целлулоида. Эта система облучалась определенное время известным потоком нейтронов, после чего измерялась -активность осколков деления, собравшихся на целлулоиде. Если бы все осколки деления имели одинаковые пробеги, то зависимость прохождения от толщины AI (выраженная в мг/см ) была бы прямой линией. Это имеет место для а-частиц полония, использованных для сравнения. Однако, как было указано в разделе б гл. И, осколки деления значительно различаются по массе и энергии. Поэтому прохождение изменяется по закону, графически изображенному на фиг. 87. С тем же (Слоем UjOs было измерено поглощение в коллодии, А1, Си, Ag и Ли в ионизационной камере, наполненной водородом, присоединенной к линейному усилителю с постоянным усилением. После введения поправки на наименьший измеренный пробег экспериментальные данные, изображенные на фиг. 88, дают значения, приведенные в табл. 13. [c.250]

Наиболее широко эллипсометрия используется для определения толщин изотропных тонких пленок на поверхностях металлов и полупроводников. Это могут быть слои адсорбированных молекул, оксидные плещ и, пленки Лэнгмюра-Блоджетт и т.д. Возможности эллипсометрии существенно расширяются при проведении измерений в широком диапазоне длин волн X (спектральная эллипсометрия) разрешающая способность в этом случае достаточна для обнаружения неоднородности по нормали к поверхности на атомном [c.130]

Если увеличение температуры поверхности раздела металл — окись (или средней температуры окисного слоя) приводит к увеличению скорости коррозии, тогда существует потенциал для ускоренной коррозии в условиях теплопередачи по сравнению с условиями без теплопередачи для одинаковой температуры на поверхности раздела окисел — вода. Рассмотрения такого рода предпринимались Вэлдманом и Коэном [21], чтобы изучить это явление аналитически в то время, когда имеющаяся экспериментальная техника не позволяла провести непосредственные измерения. Была принята модель для худшего случая, а именно, что после перелома окисная пленка состоит из тонкого непроницаемого внутреннего слоя при температуре поверхности раздела окисел — металл и толстого наружного слоя, содержащего прожилки, в которых поддерживался рассчитанный температурный градиент. Скорость коррозии после перелома в условиях теплопередачи предполагалось такой же, как и наблюдаемая при изотермических условиях испытаний при рассчитанной температуре поверхности раздела окисел — металл (см. рис. 8.7). Скорость роста слоя окиси, как предположено, равна R (см. рис. 8.6) при температуре Тт. Как следует из рис. 8.6, [c.240]

Угольные сопротивления. Угольные сопротивления применяются для целей термометрии при температурах ниже 80° К. Джиок с сотр. [41] еще в 1936 г. описали изготовление и использование графитовых стержней, в частности стержней из коллоидального углерода, в качестве комбинированного термометра-нагревателя при температурах жидкого гелия и ниже 1° К. Наиболее удачные термометры, многие из которых были впоследствии использованы для измерения теплоемкостей, были изготовлены из угольной сажи, нанесенной на бумагу, которая прикреплялась непосредственно к держателю образца. Слой сажи защищался еще одним слоем бумаги и коллодия. В качестве электрических вводов с плохой теплопроводностью использовались тонкие пленки платины, нанесенные на стекло, которые работали удовлетворительно, несмотря на их высокое сопротивление. Такие термометры оказались очень чувствительными, имели малую теплоемкость и тепловую инерцию и могли быть приведены в хороший тепловой контакт с исследуемым веществом даже при температурах ниже 1° К. Эти термометры наиболее пригодны для измерения температур ниже 4° К они могут применяться и для точных измерений до температур жидкого водорода и для грубых измерений вплоть до температур жидкого воздуха. Ван-Дейк, Кеезом и Стеллер [42] изготовили сопротивления с подобными характеристиками из взвесей углерода в виде китайской туши и туши для писания по стеклу. [c.173]

Образец (2— 5 мг) хорошо перемешивают с эмульгатором (1 капля), или в шаровой мельнице, или просто лествко. 1 в ступке (достаточно растирать 1—2 мин.). При помощи шпателя суспензию наносят на солевую пластинку прижимают второй пластинкой, что заставляет ее растекаться в тонкую пленку. После этого пластинки, чаще всего укрепленные в специальном держателе кювет (рис. 6), помещают в основной пучок инфракрасного спектрофотометра. Материалом для пластинок могут служить фтористый литий, флюорит (СаРг) и бромистый калий. Размер пластинок меняется в зависимости от прибора, причем их толщина обычно 0,5 см, а диаметр 1—3 см поверхности всегда отполированы. Поскольку инфракрасное излучение падает на пластинки в виде узкого пучка, то нет необходимости делать размеры пленки образца больше, чем 0,5X1 2 см самя пластинки имеют несколько большие размеры и круглую, форму, что обусловлено лишь удобством изготовления. Точное измерение интенсивности в спектрах суспензий обычно не представляется возможным, так как нет простых способов определения толщины поглощающего слоя образца или концентрации. [c.38]

Рис, 15.1. Увеличение угла раскрытия искателя в контроле с цилиндрически нскривлеиной поверхностью средние значения по измерениям иа стали и алюминии с искателем на частоте 2 МГц, акустически подсоединенным через тонкую пластмассовую пленку и топкий слой жидкотекучего масла. Увеличение угла отнесено к углу раскрытия в свободном поле при плоской поверхности. Для характеристики чувствительности в ухо-нмпульсном режиме коэффициент увеличения нужио удвоить. Измерение проводили в дальнем иоле в воде [c.329]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...