Разрешающая способность

Однако оптический микроскоп не является аппаратом, который может обнаружить кристаллик любого малого размера. Как известно из оптики, разрешающая способность микроскопа равна [c.38]

В поле напряженностью 50000 В электронам сообщается скорость 124000 км/с, что соответствует длине волны, равной сотым долям ангстрема. Разрешающая способность современного электронного микроскопа порядка [c.38]

В последнее время под электронным микроскопом изучают тонкие пленки исследуемого металла, в той или иной степени прозрачные для электронного луча. В этом случае разрешающая способность электронного микроскопа близка к величине межатомных расстояний. [c.39]

Перемещение луча по экрану дисплея осуществляется как при растровом способе, но изображение формируется из строк простых графических элементов. При таком способе формирования изображений значительно сокращается описание изображения за счет ограничения возможностей получения произвольных изображений и некоторого ухудшения качества изображения. Данный способ имеет много общего с растровым способом формирования символов и обычно используется в недорогих дисплеях с малой разрешающей способностью. [c.61]

Ом При 300 К ПО сравнению с 50 Ом у термометров меньшего размера), что улучшает их разрешающую способность при низких температурах. [c.233]

Работа графопостроителей определяется следующими показателями производительностью, точностью изображения и разрешающей способностью. Производительность характеризуется линейной скоростью перемещения регистрирующего органа и измеряется в мм/с. Точность изображения определяется отклонением координат [c.32]

В заключение этого краткого обзора фотоэлектрических приемников упомянем о возможности преобразования невидимого излучения (инфракрасные и ультрафиолетовые лучи) в видимое, что может быть осуществлено с помощью электронно-оптического преобразователя (ЭОП), который также способен выполнять функции усилителя света. Схема действия этого прибора представлена на рис. 8.24. На фотокатоде происходит преобразование оптического изображения в электронное. Затем электронные пучки от разных частей фотокатода фокусируются и попадают на флуоресцирующий экран, где происходит визуализация изображения. Качество изображения не очень хорошее, так как аберрации электронных пучков, как правило, больше оптических, но все же современные устройства подобного типа имеют в центре картины разрешающую способность порядка нескольких десятков линий на миллиметр, что близко к возможностям обычной фотографической пластинки. [c.443]

Наибольшее число частиц, которое способен зарегистрировать счетчик в единицу времени, называется разрешающей способностью счетчика, определяемой продолжительностью физических процессов, возникающих в счетчике при попадании в него заряженной частицы. Для различных счетчиков разрешающая способность имеет значение от 10 до 10" частиц в секунду. [c.41]

Рис. 8. Зависимость разрешающей способности счетчика Гейгера—Мюллера от приложенного напряжения и.

Разрешающая способность масс спектрографа обычно характеризуется отношением —, где Ат — разность масс атомов двух Ат [c.60]

Разрешающая способность глаза человека при наблюдении на расстоянии 250 мм (так называемое расстояние наилучшего зрения) составляет приблизительно 0,1 мм. Два маленьких предмета, находящиеся на таком расстоянии и освещаемые даже прямым солнечным светом, можно считать практически некогерентными источниками. Тем более это относится к всестороннему освещению. Таким образом, при наблюдении невооруженным глазом в естественных условиях можно не принимать во внимание частичной когерентности волн, попадающих в глаз от различных точек предметов. Напротив, при наблюдении с помощью микроскопа, обладающего разрешением порядка длины волны, учет частичной когерентности освещения объекта, как правило, необходим. [c.107]

Условность критерия разрешения в этой формулировке выступает с еще большей отчетливостью. При суждении о возможности разрешения двух линий с сильно различающимися интенсивностями приходится исходить из ряда факторов, характеризующих каждый конкретный случай. Тем не менее, несмотря на условность критерия Рэлея, он оказывается весьма полезным для сравнения разрешающей способности различных приборов. Так, непосредственно ясно, что способность спектрального аппарата к различению близких длин волн тем больше, чем дальше максимумы, т. е. чем выше порядок гп и чем резче максимумы (круче переход от максимума к минимуму). [c.214]

Мерой разрешающей способности спектрального аппарата принято считать отношение длины волны X, около которой выполняется измерение, к указанному минимальному интервалу бХ, т. е. е- / = Х/бХ. Для определения составим (например, для дифракционной решетки) условия, дающие положения максимумов т-го порядка для волн и [c.214]

Итак, максимальная разрешающая способность решетки не зависит от того, образована ли она большим числом штрихов Му) малого периода (ёу) или малым числом штрихов (М2) большого периода ( а), если только Л с1у = Однако мелко нарезанная [c.215]

Формула (50.4) показывает, что разрешающая способность спектрального аппарата равна произведению порядка спектра т на число световых пучков, интерферирующих в приборе. Число это для дифракционной решетки равно числу штрихов для пластинки Люм-мера—Герке или Фабри—Перо можно условно считать число N равным числу отраженных световых пучков значительной интенсивности (число эффективных лучей), которое тем больше, чем больше коэффициент отражения Я (см. 30). Для интерферометра Майкельсона Л/ = 2 для эшелона Майкельсона N равно числу пластин и т. д. [c.216]

Легко видеть, что большая разрешающая способность хорошей дифракционной решетки достигается за счет огромных значений N (общего числа штрихов решетки) при незначительном т (2 или 3), тогда как в интерференционных спектроскопах N невелико (не более 20—30), но ш очень велико (десятки тысяч). Произведение тЫ есть число длин волн, представляющее разность хода между крайними световыми пучками, выходящими из прибора. Оно-то и определяет разрешающую способность любого прибора. [c.216]

В основу рассмотренного выше понятия разрешающей способности положен критерий Рэлея. Наиболее важная черта этого критерия состоит в требовании, чтобы в суммарном распределении интенсивности, создаваемой двумя спектральными линиями, был минимум, составляющий определенную долю (например, 80% от соседних максимумов, см. рис. 9.28). Таким образом, согласно критерию Рэлея должно быть качественное различие между распределениями освещенности в случае одиночной и двойной линии (соответственно максимум и минимум в центре), т. е. такое различие, которое заметно без детальных количественных измерений. Иными словами, критерий Рэлея по существу предполагает только визуальные наблюдения. [c.216]

Комбинируя действие различных спектральных аппаратов, иногда удается повысить область дисперсии аппаратуры, не снижая разрешающей способности. На этих специальных случаях мы останавливаться не будем. [c.219]

При помощи спектрального аппарата мы разлагаем сложный волновой импульс в спектр, т. е. устанавливаем распределение энергии, сосредоточенной в этом импульсе, по различным частотам. Однако, как явствует из предыдущего параграфа, характер распределения энергии но частотам для спектральных приборов различной разрешающей силы оказывается различны.м. Таким образом, результат изучения импульса спектральным прибором зависит и от свойств импульса (от закона его изменения во времени, т. е. от формы и продолжительности импульса) и от свойств спектрального аппарата (его разрешающей способности). [c.219]

Чем больше апертурное число А (A=h sin p), тем меньше разрешающая способность. В современных микроскопах отверстный угол объектива близок к 90°, показатель преломления воздуха равен 1. Отсюда [c.38]

Главным достоинством растровых дисплеев, обеспечившим их распространение в последнее время, является возможность вывода больших объемов информации и универсальность (они позволяют выводить на экран как текстовую, так и графическую информацию как, например, дисплей Электроника МС7401 ), Современные графические растровые дисплеи дают возможность получать сложные многоцветные изображения, формируемые в памяти дисплея с помощью специального программного обеспечения. Поэтому в ИРС считается почти обязательным наличие цветного растрового дисплея с высокой разрешающей способностью. [c.60]

Основные трудности при создании растровых дисплеев с высокой разрешающей способностью связаны с использованием быстродействующего буферного ЗУ большой емкости. Эта проблема в той или иной степени решается при использовании современных БИС и СБИС. Иногда для снижения требований к быстродействию элементной базы применяют ЭЛТ с большим временем послесвечения (запоминающие ЭЛТ), как, например, в графическом дисплее 15ИГ-160Х210-001 [6]. Однако работать с таким дисплеем менее удобно из-за его низкого быстродействия. [c.60]

Развитие средств оперативного общения и женера с ЭВМ идет в направлении использования интеллектуальных цветных графических дисплеев с высокой разрешающей способностью, снабженных алфавитно-цифровой клавиатурой с большим набором функциональных клавиш и устройствами управления курсором. [c.63]

Образец СО-1 (рис. 4.10) предназначен для определения условной чувствительности дефектоскопа с преобразователем (преобразователь в положении А), а также для определения погрешности глубиномера (преобразователь в положении Б) и проверки разрешающей способности при работе прямым или наклонным преобразователем. Условная чувствительность Ку дефектоскопа с преобразователем, измеренная по образцу СО-1, выражается максимальной глубиной расположения (в миллиметрах) цилиндрического отражателя, уверено фиксируемого индикаторами дефектоскопа. Глубина расположения отражателя показана цифрами на обргоце. Согласно ГОСТ 14782 исходный и выпускаемые государственные стандартные образцы изготавливают из органического стекла с единым значением коэффициента затухания продольной волны при частоте 2,5 МГц 10%, лежащим в пределах 0,26...0,34 мм . [c.205]

Для снятия оттиска с микрошлифа применяются полистирол марки Д (ГОСТ 944), рентгеновская пленка на колок-силиновой основе, лента для магнитной звукозаписи, целлулоид или полимерные сжиженные материалы. Наибольшую разрешающую способность и наиболее высокую контрастность изображения обеспечивают полистироловые реплики. О ггиски на рентгеновской пленке имеют худшее изображение, а оттиски на ленте дают четкое изображение микроструктуры при визуальном рассмотрении в микроскопе, но недостаточно контрастны при фотографировании. Поэтому рекомендуется применять полистирол, а в качестве раствори-теля-бензол или толуол. [c.325]

В настоящем разделе рассма фивается методика оценки работоспособности, определения срока службы для оборудования по параметрам испытаний и эксплуатации аппарата. В качестве параметра, обеспечивающего заданный ресурс оборудования, принято отношение испытательного Р к рабочему Рр давлению Ри/Рр- В основу расчета положен следующий консервативный подход, обеспечивающий определенный запас прочности. Полагается, что в элементах оборудования имеются трещины, размеры которых изменяются в широком диапазоне от размеров, соответствующих разрешающей способности средств диагностики, до критических, зависящих от параметров испытаний и эксплуатации. При этом за расчетные параметры при оценке ресурса взяты критические размеры трещин, в частности, критическая глубина продольной не- [c.330]

На первом этапе производится расчет на прочность по существующим нормативным материалам (ГОСТы, СНИ-Пы, РД и др.) с использованием фактических механических свойств, найденных в результате испытаний образцов, вырезанных из элементов оборудования, или косвенными методами (например, по изменению твердости или химическому составу и др.). Далее производится оценка остаточного ресурса по фактическим или априорным (если недостаточно диагностической информации) данным о дефектности, например, по разрешающей способности методов и средств неразрушающего контроля с учетом предыстории нагружения, а также характеристикам допускаемых технологических и конструктивных концентраторов напряжений. При такой оценке ресурса необходимо более полно учитывать реальные условия эксплуатации и использовать наиболее жесткие критерии разрушения, дающие консерватив- [c.362]

УЗД типа икгазсап обнаруживает любые дефекты диаметром более 10 мм и глубиной более 1,5 мм и обеспечивает точность измерений 0,5 мм (по глубине) для дефектов диаметром более 20 мм и глубиной более 1 мм. При этом в случае внутреннего дефекта подразумевается глубина его залегания. Разрешающая способность приборов зависит от характера дефектов. Например, УЗД определяет все размеры дефектов металла трубы, а магнитный дефектоскоп — только их глубину. Таким образом, УЗД соединительных трубопроводов, транспортирующих сероводородсодержащие среды, имеет преимущество перед магнитной дефектоскопией, поскольку наряду с поверхностной коррозией позволяет выявлять дефекты металла труб. [c.96]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль [c.153]

Эффект Зеемана. Фарадей после обнаружения магнитного вращения плоскости поляризации ирсдпршшл попытки во действо-вать магнитным полем на спектральные линии, однако малая разрешающая способность используемого им спектрального аппарата и слабое магнитное иоле не позволили ему обнаружить какой-либо эффект. В 1896 г. Зееману удалось обнаружить расщепление спектральных линий под действием внешнего магнитного поля. Это явле- [c.292]

Я перенес главу, посвященную основным фотометрическим понятиям, во введение, желая использовать правильную терминологию уже при описании явлений интерференции и оставив в отделе лучевой оптики лишь вопросы, связанные с ролью оптических инструментов при преобразовании светового потока. Заново написаны многие страницы, посвященные интерференции, в изложении которой и во втором переработанном издании осталось много неудовлетворительного. Я постарался сгруппировать вопросы кристаллооптики в отделе VIII, хотя и не счел возможным полностью отказаться от изложения некоторых вопросов поляризации при двойном лучепреломлении в отделе VI, ибо основные фактические сведения по поляризации мне были необходимы при изложении вопросов прохождения света через границу двух сред, с которых мне казалось естественным начать ту часть курса, где проблема взаимодействия света и вещества начинает выдвигаться на первый план. Я переработал изложение астрономических методов определения скорости света и добавил некоторые новые сведения о последних лабораторных определениях этой величины. Гораздо больше внимания уделено аберрации света. Рассмотрены рефлекторы и менисковые системы Д. Д. Максутова. Значительным изменениям подверглось изложение вопроса о разрешающей способности микроскопа я постарался отчетливее представить проблему о самосветя-щихся и освещенных объектах. Точно так же значительно подробнее разъяснен вопрос о фазовой микроскопии, приобретший значительную актуальность за последние годы. [c.11]

Таким образом, разрешающая способность решетки при заданном числе штрихов увеличивается при переходе к спектрам высших порядков. Максимальное значениесоответствует максимальному т, определяемому из условия, согласно которому синус угла дифракции не может превышать 1. Таким образом, из основной формулы решетки d sin ср = тХ находим, что imax = dlX и, следовательно, максимальная разрешающая способность решетки есть [c.215]

Но произведение Мё. есть общая ширина решетки. Следовательно, максимальная разрешающая способность решетки определяется ее общей шириной или, точнее, максимальной разностью хода, выраженной в длинах волн, МсИХ, между световыми пучками, распространяющимися от первого и последнего штриха решетки. [c.215]

Из сопоставления видно, что хорошая дис)зракционная решетка имеет разрешающую способность, близкую к разрешающей способности хороших интерференционных спектроскопов, но обладает преимуществом несравненно большей области применения (области дисперсии). Ее недостаток — большая сложность в обращении, [c.218]

Чем выше разрешающая способность прибора, тем меньше искажений он вносит в картину спектрального разложения энергии наоборот, при малой разрешающей силе картина может в сильной степени определяться свойствами прибора и не передавать особен-гсстей наблюдаемого импульса. [c.219]

С этой точки зрения утверждение, что немонохроматический, в частности, белый свет, представляемый волновыми импульсами, состоит из совокупности монохроматических световых волн, имеет не больше смысла, чем утверждение, что шум есть совокупность правильных музыкальных тонов. Как из светового, так и из звукового импульса можно при помощи подходящего анализирующего инструмента выделить тот или иной простой тон (монохроматический свет). Однако степень монохроматизации тех составляющих, в которые наш прибор преобразует изучаемый импульс, зависит от свойств прибора и от его разрешающей силы. Поэтому-то анализ с помощью спектрального прибора может быть более или менее совершенным в зависимости от того, какой инструмент был использован для преобразования импульса. Механизм такого преобразования особенно ясно выступает при рассмотрении действия решетки на импульс. Этот пример в то же время ясно показывает, насколько сильно вид спектра зависит от разрешающей способности спе1 т-рального аппарата. [c.220]

Если наша решетка бесконечна по протялсению (т. е. имеет бесконечно большую разрешающую способность), то это синусоидальное возбуждение не ограничено во времени и представляет строго монохроматический свет периода Т или длины волны к = — сТ = a sin p. [c.223]

Оптика (1976) -- [ c.212 , c.219 , c.223 ]

Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий том 1 (1986) -- [ c.311 ]

Микроскопы, принадлежности к ним и лупы (1961) -- [ c.5 , c.168 ]

Изобразительная голография и голографический кинематограф (1987) -- [ c.8 ]

Лазерная термометрия твердых тел (2001) -- [ c.103 ]

Оптика (1985) -- [ c.173 , c.175 , c.226 , c.243 , c.255 ]

Электронная и ионная оптика (1990) -- [ c.334 ]

Дифракция и волноводное распространение оптического излучения (1989) -- [ c.312 ]

Металловедение Издание 4 1963 (1963) -- [ c.21 ]

Металловедение Издание 4 1966 (1966) -- [ c.25 ]

Задачи по оптике (1976) -- [ c.186 ]

Общий курс физики Оптика Т 4 (0) -- [ c.138 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...