Решетка дифракционная разрешающая способность

Согласно (10.3.19), акустооптический фильтр по существу действует как решетка с разрешающей способностью (Х/ДХ,/2), пропорциональной полному числу периодов (акустических длин волн). Угловая апертура фу2 коллинеарного акустооптического фильтра, описанного выше, намного превосходит апертуру дифракционной ре- [c.426]

У спектрального прибора дифракционная решетка имеет разрешающую способность в первом порядке 7 i=60 000. Как изменится се разрешающая способность при работе в III порядке [c.178]

Мерой разрешающей способности спектрального аппарата принято считать отношение длины волны X, около которой выполняется измерение, к указанному минимальному интервалу бХ, т. е. е- / = Х/бХ. Для определения составим (например, для дифракционной решетки) условия, дающие положения максимумов т-го порядка для волн и [c.214]

Формула (50.4) показывает, что разрешающая способность спектрального аппарата равна произведению порядка спектра т на число световых пучков, интерферирующих в приборе. Число это для дифракционной решетки равно числу штрихов для пластинки Люм-мера—Герке или Фабри—Перо можно условно считать число N равным числу отраженных световых пучков значительной интенсивности (число эффективных лучей), которое тем больше, чем больше коэффициент отражения Я (см. 30). Для интерферометра Майкельсона Л/ = 2 для эшелона Майкельсона N равно числу пластин и т. д. [c.216]

Легко видеть, что большая разрешающая способность хорошей дифракционной решетки достигается за счет огромных значений N (общего числа штрихов решетки) при незначительном т (2 или 3), тогда как в интерференционных спектроскопах N невелико (не более 20—30), но ш очень велико (десятки тысяч). Произведение тЫ есть число длин волн, представляющее разность хода между крайними световыми пучками, выходящими из прибора. Оно-то и определяет разрешающую способность любого прибора. [c.216]

Небольшая спектральная ширина насыщенной области линии обусловливает применение спектральной аппаратуры с большой разрешающей способностью, например спектрографов с дифракционной решеткой. Весьма перспективным представляется применение эталона Фабри — Перо. Подобрав соответствующим образом параметры эталона , можно получить от данной спектральной линии достаточно большое центральное пятно интерференционной картины. Круглая диафрагма позволяет вырезать из этого пятна центральную область, соответствующую насыщенному излучению центра линии. Интенсивность выделенного таким образом насыщенного излучения линии измеряется с помощью какого-либо фотоэлектрического фотометра. [c.419]

Л/ — разрешающая способность фотоэмульсии в линиях на 1 мм, полное число штрихов дифракционной решетки [c.357]

Отсюда следует, что пятно должно перемещаться в пределах 1% от своего собственного размера. Следовательно, дифракционную решетку следует выбирать так, чтобы ее разрешающая способность приблизительно равнялась [c.518]

Разрешающая способность прибора с дифракционной решеткой [c.42]

Предел разрешения микроскопа определяется дифракционными явлениями, возникающими в плоскости предметов, микроструктура которых действует на световые волны подобно дифракционной решетке. Разрешающая способность микроскопа вычисляется по формуле [c.134]

Производительность измерений 16 Радиационная термометрия 12, 13, 199 Разность хода пучков 26 Разнотолщинность 29 Разрешающая способность 103 Резонансы Фабри-Перо 26, 37, 132 Решетка дифракционная 93 Свободные носители заряда 13, 81, 84, 165 [c.221]

Разрешающая способность дифракционной решетки равна [c.127]

Разрешающая способность. Для дифракционной решетки она определяется так же, как и в случае интерферометра Фабри — Перо (см. 28), однако в качестве условия разрешения линий принимается условие Рэлея линии считаются разрешенным-и, если максимум интенсивности одной попадает на минимум интенсивности другой. [c.226]

Высокая разрешающая способность может быть получена также с помощью датчика обратной связи с дифракционными решетками. Дифракционная решетка 1 (рис. П1.62) представляет собой прозрачную линейку, на которой нанесены черные штрихи, чередующиеся с просветом (растры), либо У-образные углубления. На одном миллиметре решетки, предназначенной для датчиков обратной связи станков, размещается 100— 200 штрихов. Штрихи располагаются перпендикулярно направлению движения. Впереди подвижной решетки располагается небольшой отрезок неподвижной решетки 2, штрихи которой расположены под небольшим [c.528]

Элементарная теория спектральных приборов связана с теорией призмы и дифракционной решетки как диспергирующих систем, от которых зависят основные параметры спектральных устройств — их линейная дисперсия и разрешающая способность. Для призмы последние легко определяются, когда она установлена в параллельных пучках вблизи угла наименьшего отклонения. [c.69]

Таким образом, с точки зрения теоретической разрешающей способности желательно работать в спектре высокого порядка с Дифракционными решетками, которые имеют достаточно большое [c.92]

Такую же независимость угловой дисперсии и разрешающей способности легко проиллюстрировать и для дифракционных решеток. В самом деле, возьмем две решетки и рассмотрим их угловую дисперсию и разрешающую способность в одном и том же порядке спектра. Оказывается, сообразно с ранее приведенными соотношениями, чтобы увеличить угловую дисперсию, например, решетки в 2 раза, достаточно уменьшить ее постоянную также в 2 раза, сохранив прежнее общее число штрихов N решетки. Разрешающая способность при этом не изменится. Наоборот, чтобы, не меняя угловую дисперсию решетки, увеличить ее разрешающую способность, следует увеличить общее количество штрихов решетки, не меняя ее постоянной. Угловая дисперсия при этом не изменится. [c.94]

Предел разрешения микроскопа определяется дифрахщюнными явлениями, возникающими в плоскости предмета,, микроструктура которого действует на световые волны подобно дифракционной решетке. >5аксимальная разрешающая способность микроскопа при еосогл осве-щепин определяется по формуле [iOO [c.89]

Стеклянная призма с основанием а = 10 см изготовлена из тяжелого флинта, дисперсия которого в окрестности К = 600 нм равна dn/dK = 1000 м . Какую максимальную разрешающую способносп> может иметь дифракционная решетка, ширина за штрихованной части которой равна длине основания этой призмы Сравнить разрешающую способность такой решетки с разрешающей способностью призмы. [c.325]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль [c.153]

Разрешающую способность призменного спектрографа можно увеличить, применяя разные наборы призм, один из которых показан на фиг. 6.3. Это дает возможность увеличить эффективную ширину основания призмы и обойти трудности, связанные с изготовлением больших стеклянных блоков с достаточно высокой оптической однородностью. При / > 50 000 из-за высокой стоимости призм приходится обращаться к приборам с дифракционными решетками. (Разнообразные многопризменные устройства описаны в литературе.) [c.337]

С отражательных дифракционных решеток [41—43] с такими приборами можно работать в диапазоне длин волн от 0,120 до 40 мк. В противоположность призменным приборам ди пep иv дифракционного монохроматора не зависит от Я. Самые важные параметры дифракционных приборов — разрешающая способность, дисперсия, область дисперсии, угол блеска и эффективность решетки. Теоретически разрешаюш.ая сила дифракционной решетки определяется выражением [c.338]

Разрешающая способность дифракционной решетки, Как известно, зависит от числа штрихов или, для случая дифракции на ультразвуке, от числа длин волн звука, укладываюш ихся на ширине светового пучка. При ширине светового пучка в несколько длин волн разрешение дифракционных линий еще достаточно хорошее. Дальнейшее уменьшение ширины светового пучка до размеров [c.149]

G точки зрения повышения дисперсии прибора выгодно работать в высшем порядке спектра. Так как интенсивность спектральных линий быстро падает с увеличением порядка спектра, то обычно не пользуются порядком выше четвертого. Исключение представляют ступенчатые отражательные решетки Эшелле, у которых А доходит до 100 для инфракрасной области спектра. Поэтому, чтобы иметь прибор с хорошей дисперсией и разрешающей способностью в спектрах низкого порядка, применяют дифракционную решетку с малым значением ее постоянной d и с достаточно общим числом штрихов. Решетки отличаются друг от друга частотой штрихов, размерами нарезанной площади, формой поверхности и другими характеристиками. В табл. 6 даны приближенная классификация решеток и спектральная область их применения. [c.44]

Поэтому прпл1енепие в монохроматорах диспергирующих систем с большой угловой дисперсией позволяет, прп прочих равных условиях, получить большую светоси.лу по потоку. В этом отно-шспни монохроматоры с дифракционными решетками обладают преимуществом по сравнению с призменными монохроматорами при равной разрешающей способности. [c.77]

Как изменяется дисперсия и разрешающая способность автоколлимациоипого инфракрасного спектрофотометра, если уменьшить диаметр светового пучка, проходящего через призму или дифракционную решетку [c.177]

Фазовые решетки. Если во все щели дифракционнш решетки поставить призмы, как это только что было рассмотрено, то максимум дифракции сместится на дифракционный угол (п — 1)а. Направление на главные максимумы не изменяется, посколы они обусловлены интерференцией между волнами от различных щелей, а условия этой интерференции не меняются (разность хода между лучами от соседних щелей по-преж-ne ty dsm ф). Поэтому общий характер интерференционной картины постоянен, изменяется лишь распределение интенсивностей максимальной йнтенсивностью обладает не главный максимум на угле ф=0, а тот главный максимум, который попадает на угол ф = (w — 1)а или находится вблизи этого угла. Это позволяет работать с более высокими порядками т интерференции, что улучшает разрешающую способность, и в то же время избегать потерь в интенсивности. [c.228]

Высокая разрешающая способность достигается как в интерферометрах Фабри—Перо и Майкельсона (порядка 10 ), так и в дифракционных решетках (порядка 10 ) й в других интерферометрах. Однако такая высокая разрешающая способность в них достигается за счет различных факторор. В интерферометре Фабри—Перо и Майкельсона она достигается за счет высоких порядков интерференции (порядка 10 ) при сравнительно небольшом числе интерферирующих лучей (несколько десятков в интерферометре Фабри—Перо и два луча в интерферометре Майкельсона), а в дифракционной решетке — за счет большого числа интерферирующих лучей (порядка 10 ) при малом порядке интерференции (несколько единиц). Благодаря этому дисперсионная область очень мала у интерферометра Фабри —Перо (порядка 10" нм) и интерферометра Майкельсона (порядка 10 нм) и очень велика у дифракционной решетки (порядка 10 нм). Поэтому если исследуемое излучение имеет большую дисперсионную область, а его необходимо исследовать с помощью приборов высокого разрешения с малой дисперсионной областью, то приходится комбинировать Между qoбoй различные спектральные аппараты. При этом пб лучаются одновременно и широкая дисперсионная область и большое разрешение. [c.231]

Спектральные аппарать должны обеспечивать возможность работы со слабыми интенсивностями исследуемого излучения. В этом отношении интерферометр Фабри—Перо существенно превосходит дифракционную решетку, особенно если пользоваться фотоэлектрической регистрацией в схеме сканирующего интерферометра Фабри—Перо. Разрешающая способность в Фурье-спектроскопии определяется максимальной разностью хода, которая может быть обеспечена механизмом подвижного зеркал , и достигает больших значений. [c.231]

В одном из таких решений подвижная дифракционная решетка наклонена к неподвижной под небольшим углом так, чтобы проекции каждого из штрихов подвижной решетки пересекали не более трех штрихов неподвижной. Вследствие этого в плоскости штрихов появляются темные муаровые полосы (рис. 161,6). По мере перемещения салазок вместе с одной дифракционной решеткой темные муаровые полосы постепенно перемещаются по высоте и интенсивность света, проходящего через обе решетки, а значит и освещенность фотоэлементов, меняется примерно синусоидально (рис. 161, в). При этом разрешающая способность увеличивается во столько раз, сколька муаровых полос появляется на подвижной решетке. [c.329]

Недавно в Stavely Resear h Department завершена разработка измерительной системы с высокой разрешающей способностью, в которой используются масштабные дифракционные решетки всего с четырьмя штрихами на 1 мм, выгравированными на линейке из нержавеющей стали, и нониусная решетка с тем же шагом, выполненная на прозрачной основе. Последняя состои г из четырех секций, каждая из которых смещена на Д шага. Луч света из осветителя 1 (рис. 161, г), проходя через линзу 2 и нониусную решетку 4, отражается от металлической дифракционной решетки 3 и, снова проходя через нониусную решетку и линзу 5, попадает на четыре расположенных рядом фотоэлемента 6. Токи этих фотоэлементов соответствуют отдельным секциям нониусной решетки. Это с помощью соответствующей схемы дает возможность определять величину и направление взаимного перемещения двух решеток с погрешностью 0,005 мм. [c.329]

Создан макетный образец инфракрасного лазерного спектрометра ИКЛС на основе полупроводниковых диодных лазеров (ПДЛ) с перестраиваемой длиной волны [6]. Оптическая схема ИКЛС показана на рис. 13. Прибор построен на базе многоцелевого спектрометра ИСМ-1 и имеет в своем комплекте дополнительные блоки приставки отражения (пропускания) с переменными углами падения и многоходовую газовую кювету. Монохроматор осуществляет разделение мод ПДЛ, а также измерение длин волн с погрешностью 0,05 % от номинала. При этом точное измерение длин волн с погрешностью, близкой к разрешающей способности спектрометра (определяемой ПДЛ), осуществляется с помощью эталонов Фабри—Перо и спектров известных объектов. В одномодовом режиме ПДЛ можно исключить монохроматор из схемы прибора, заменив дифракционную решетку плоским зеркалом или состыковав блок осветителя непосредственно с блоком приемной камеры. [c.215]

Из расслютрения вопроса об разрешающей способности дифракционной решетки и призмы следует, что имеет место связь между разрешающей способностью и угловой дисперсией спектральных приборов. Однако эта связь носит сложный характер. Действительно, в некоторых случаях увеличение угловой дисперсии сопровождается увеличением в такой же мере и разрешающей способности. В других случаях этого может и не быть. Наоборот, возможно увеличение разрешающей способности прибора без увеличения его угловой дисперсии. Следовательно, в последних случаях эти две важнейшие характеристики приборов оказываются как бы независимыми. [c.93]

Теперь можно указать и на примеры, когда разрешающая способность растет пропорционально угловой дисперсии. Эти примеры имеют наибольшее практическое значение. Дело в том, что в случае призменных спектральных приборов увеличение угловой дисперсии и разрешающе " способности достигается одновременно увеличением числа призм или увеличением числа прохождений через призмы действующих пучков в автоколлимационных схемах. В случае дифракционных спектральных приборов увеличение угловой дисперсии и разрешающей способности достигается обычно заменой одной решетки другой с такой же поверхностью заштрихованной части (линейная анертура остается прежней), но с увеличенным числом штрихов на миллиметр (т. е. другой постоянной решетки). Общее число штрихов нри этом также увеличится. [c.95]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...