Разрешающая способность хроматическая

Таким образом, хроматическая разрешающая способность призмы равна произведению ее основания на относительную дисперсию показателя преломления. [c.369]

Привлечение данных физической оптики к объяснению некоторых вопросов теории оптических систем было вызвано практической необходимостью и в первую очередь стремлением оптиков увеличить разрешающую способность микроскопов. Главное препятствие для дальнейшего совершенствования микроскопов оптики XIX в. видели в чисто технических трудностях, а именно в устранении сферической и хроматической аберраций. Вероятно, считалось, что увеличение микроскопа можно повышать беспредельно. [c.368]

Органические вещества значительно слабее рассеивают электроны, вследствие чего заметный контраст получается при сравнительно больших толщинах. Однако при таких толщинах хроматическая аберрация электромагнитных линз микроскопа понижает разрешающую способность. [c.124]

Разрешающая способность, рассчитанная по спектрам масс, хорошо согласуется с теоретическими значениями. Разрешающая способность, рассчитанная по основаниям пиков, меньше теоретической примерно вдвое. Это связано с наличием сферических и хроматических аберраций. Разрешающая способность, рассчитанная по полувысоте пиков, в некоторых случаях превышает теоретическое значение. Это объясняется особенностью формы пиков. [c.166]

Человеческий глаз обладает неодинаковой чувствительностью к разным цветам спектра наибольшей чувствительностью он обладает к желто-зеленым цветам. Поэтому применение желто-зеленого светофильтра, отфильтровывающего другие составляющие белого света, позволяет более четко наблюдать особенности структуры. Желто-зеленые светофильтры уменьшают хроматическую аберрацию и, кроме того, выделяя лучи с меньшей длиной волны, повышают разрешающую способность объектива. [c.63]

В электронном микроскопе удается достигнуть разрешающей способности системы в 100 ООО раз больше. Однако в действительности вследствие ряда явлений, сопутствующих прохождению потока электронов, — сферической и хроматической аберрации и т. д. максимальная разрешающая способность электронного микроскопа оказывается лишь в 100—200 раз больше оптического. Таким образом, максимальное увеличение электронного микроскопа достигает 100 000—200 000 раз. [c.72]

Наиболее распространен просвечивающий микроскоп, так как в отражательных электронных микроскопах при отражении электронных лучей от поверхности непрозрачного объекта, например металла, возникает значительная хроматическая аберрация и другие явления, приводящие к резкому снижению разрешающей способности микроскопа и, следовательно, к потере этого основного преимущества электронного микроскопа. [c.75]

У длиннофокусных объективов особое внимание приходится уделять исправлению хроматической аберрации, так как вторичный спектр, т. е. остаток этой аберрации после обычной коррекции хроматизма, может быть значительным, поскольку он пропорционален фокусному расстоянию. Успешное исправление хроматизма становится возможным благодаря использованию в некоторых линзах прозрачных кристаллов, а именно флюорита (плавикового шпата). В объективах с флюоритовой оптикой достигается совершенная апохроматическая коррекция. Например, фотографическая разрешающая способность отечественного объектива-апохромата Апо-Таир-1 1 4,5/300 мм примерно вдвое выше, чем у ахромата Таир-3 , имеющего такие же значения относительного отверстия и фокусного расстояния. В последнее время удалось разработать марки стекла с такими же оптическими характеристиками, как у кристаллов флюорита, но с лучшими механическими свойствами и большей устойчивостью к изменениям температуры. [c.45]

Разработка теории аберраций не являлась самоцелью, а была вызвана практической необходимостью. Вторая половина XIX в. ознаменовалась бурным развитием фотографической оптики. На повестке дня стояла задача расчета фотографических объективов с высокой светосилой и большой разрешающей способностью. Чтобы фотографические объективы давали изображения высокого качества, к ним предъявляли повышенные требования аберрационной коррекции. До этого времени (до середины XIX в.) объективы фотоаппаратов строили в основном из комбинации двух линз. Аберрации таких объективов удавалось исправлять эмпирическим путем, последовательно изменяя радиусы кривизны линз и подбирая показатели преломления стекол, из которых эти линзы были изготовлены. Двухлинзовые объективы Шевалье значительно недоисправляли сферическую аберрацию. Хроматические аберрации в этих объективах удавалось исправлять подбором соответствующих сортов стекол. [c.366]

Размер кружка рассеяния увеличивает также хроматическая аберрация, возникающая вследствие разброса электронов по энергиям. Он неизбежен, т. к. все электронные и ионные источники эмитируют электроны и ионы с разной начальной кинетич. энергией. Источники питания ускорит, систем увеличивают этот разброс. В результате часть электронов, обладающая меньшей энергией, фокусируется перед плоскостью изображения, а др. часть, с большей энергией,— за ней. В плоскости изображения образуется кружок рассеяния—отверстная хроматическая аберрация. Кроме неё существуют ещё две хроматические аберрации — увеличения и поворота (последняя — только в магн. линзах). Первая вызвана различием увеличений изображения, а вторая—различием углов поворота изображения, формируемого электронами разных энергий. Обе аберрации малы в приосевой области и исчезают на оси, поэтому на разрешающую способность влияет только отверстная хроматическая аберрация. [c.547]

Разрешающая способность ЭОП с электростатич. фокусировкой и плоскими катодом и экраном ограничивается аберрациями электронных линз двумя геометрическими — астигматизмом и искривлением поверхности изображения—и хроматической, вызываемой разбросом скоростей и углов вылета электронов, испускаемых фотокатодом. Уменьшение аберраций диафрагмированием в ЭОП принципиально невозможно, т. к. перенос изображения осуществляется широким электроннЬш пучком, выходящим со всей поверхности катода и воспринимаемы.м всей поверхностью экрана. Аберрации наиб, заметно снижают предел разрешения на периферийной части экрана, по мере удаления от оси разрешение уменьшается в J0—15 раз. При использовании широких пучков проявляется также Оисторсия. [c.563]

ПЭМ с высокой разрешающей способностью 0,15— 0,3 нм)—универеа.тьные приборы многоцелевого назначения. Используются для наблюдения изображения объектов в светлом и тёмном поле, изучения их структуры электро-нографич. методом (см. Электроиографи.ч), проведения локального количеств, спектрального анализа при помощи спектрометра энергетич. потерь электронов и рентгеновских кристаллич. и полупроводникового спектрометров и получения спектроскопич. изображения объектов с помощью фильтра, отсеивающего электроны с энергиями вне заданного энергетич. окна. Потери энергии электронов, пропущенных фильтром и формирующих изображение, вызываются присутствием в объекте какого-то одного хим. элемента. Поэтому контраст участков, в к-рых присутствует этот элемент, возрастает. Перемещением окна по энергетич. спектру получают распределения разл. элементов, содержащихся в объекте. Фильтр используется также в качестве монохроматора для повышения разрешающей способности Э. м. при исследовании объектов большой толщины, увеличивающих разброс электронов по энергиям и (как следствие) хроматическую аберрацию. [c.574]

Контраст изображения, т. е. соотно-а ение между яркостью экрана в темных и светлых участках, определяется интенсивностью электронного пучка, прошедшего соответствующие места отпечатка, и в конечном счете, степенью рассеяния электронов. Вследствие того, что органические вещества, в частности коллодий, обладают низкой рассеивающей способностью по отношению к электронам, контраст будет удовлетворительным лишь для участков отпечатка, а следовательно, и образца с достаточно глубоким рельефом. Поэтому необходимо, чтобы толщина безрельефных участков отпечатка была по возможности меньшей,— тогда в большей степени будет выражена разность толщин в тех участках отпечатка, которые соответствуют различным структурным составляющим, а следовательно, тем выше будет контраст. Однако совершенно очевидно, что толщина бесструктурных участков пленки-отпечатка не может быть меньше глубины общего рельефа образца. Так как обычно средняя глубина травленой поверхности металлографического шлифа составляет величину порядка 500 А, то того же порядка должна быть и толщина отпечатка. Хроматическая аберрация при этих толщинах и ограничивает в основном контраст и разрешающую способность отпечатка. Минимальный контраст достигается при различии в рассеянии соседних участков отпечатка не менее чем на 10%. Поэтому отдельные элементы поверхности с высотой, значительно меньшей указанной величины, будут представляться бесструктурными хотя мелкие детали имеются на отпечатке, рассмотреть их вследствие малого контраста невозможно. [c.47]

Одной из основных причин, ограничивающих разрешающую способность, получаемую на конечном изображении в электроннол микроскопе, является хроматическая аберрация [70]. [c.59]

Масс-спектрографы — это чаще всего уникальные, сложные приборы с фокусировкой ионных пучков по энергиям в электрическом поле и по направлению в магнитном поле, обладающие разрешающей способностью MJts.ni от 10 000 до 500 000. Высокая разрешающая способность у этих приборов достигается с помощью ионнооптических систем с двойной фокусировкой, позволяющих получить минимальные хроматические и сферические аберрации, а также благодаря применению высокостабильных электронных схем, питающих ионный источник, отклоняющие электростатические системы и катушки диспергирующего электромагнита. Точность определения относительных атомных масс методом измерения дефекта массы изотопных дублетов на лучших [c.6]

Наиболее распространен просвечивающийся микроскоп, так как до последнего времени еще е удалось использовать элек тронный микроскоп для работы с отраженными электронными лучами. Это объясняется тем, что при отражении электронных лучей от поверхности непрозрачного объекта, например металла, возникает значительная хроматическая аберрация и другие явления, приводящие к резкому снижению разрешающей способности микроскопа и, следовательно, к потере этого основного преимущества электронного микроскопа. [c.101]

Приготовление объектов исследования. Приготовление предмета исследования в электронном микроскопе представляет более сложную задачу, чем изготовление микрошлифа. Предмет исследования должен быть прозрачным и весьма тонким, так как до последнего времени еще не удалось использовать электронный микроскоп для работы с отраженными электронными лучами, и современный электронный микроскоп работает по схеме проходящих лучей. Это объясняется тем, что при отражении электронных лучей от поверхности непрозрачного объекта, например, металла, возникают значительная хроматическая аберрация и другиё явления, приводящие к резкому снижению разрешающей способности микроскопа и, следовательно, к потере этого основного преимущества электронного микрос]юпа. [c.100]

Существует некий конечный предел в отчетливости деталей, который может быть достигнут с любой оптической системой. Этот предел, как будет показано в п. 8.6.2, в конечном счеге обусловлен волновой природой света. Большой интерес для конструкторов-оптиков представляет величина нижнего предела разрешения глазом двух соседних точечных объектов, или острота зрения, поскольку от этой величины зависят все допуски (как оптические, так и механические), приемлемые при создании приборов для визуальных наблюдений. Для нормального глаза предельное угловое разрешение составляет около Г, что при фокусном расстоянии 15 мм соответствует 0,0045 мм на сетчатке. При дггаметре зрачка, большем 5 мм, хроматическая и сферическая аберрации ухудшают разрешающую способность глаза. Поэтому обычно при конструировании приборов для визуальных наблюдений предполагается, что диаметр светового пучка, попадающего в глаз, не превышает 4—5 мм. При расчете таких приборов почти никогда не учитываются недостатки глаза, так как они меняются от человека к человеку. [c.224]

Как показано в работах [3, 4], при идеальной плоской монохроматической накачке общее число разрешимых элементов в обеих схемах одинаково. Однако схема с удаленным объектом очень чувствительна к искажению волновых фронтов. Эти искажения в первую очередь обусловлены расходимостью накачки, они появляются также за счет иемонохроматичности накачки и неоднородностей кристалла. И действительно, в первых работах Мидвинтера [46] и Уорнера [47] именно расходимость накачки ограничивала разрешающую способность. Только в последние годы получено разрешение, близкое к дифракционному, однако для получения такого результата применялись специальные меры по уменьшению расходимости накачки [42]. Схема же с близким объектом в гораздо меньшей степени подвержена влиянию указанных факторов и позволяет экспериментально получать предельную разрешающую способность [3, 7]. Более того, при определенном выборе плоскости расположения объекта схема с близким объектом позволяет полностью устранить влияние расходимости накачки и хроматические аберрации преобразователя частоты [8]. Вид функции разброса и разрешающая способность при устранении хроматических аберраций найдена в работе [8]. Знание этих результатов необходимо для визуализации широкополосных тепловых изображений, представляющих в настоящее время большой интерес. [c.246]

При электронной бомбардировке невозможно получить большие увеличения, так как интенсивность эммитируемого пучка вторичных электронов относительно низка. Этот недостаток усугубляется тем, что хроматические аберрации, которые значительно больше, чем в случае ионной бомбардировки, ограничивают разрешающую способность. В то же время эффект оттенения, особенно при очень малых углах бомбардировки, при электронной бомбардировке выражен значительно больше, чем при ионной, поэтому контраст изображения, обеспечиваемый электронной бомбардировкой, значительно выше. [c.20]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...