Разрешающая способность спектральная

Мерой разрешающей способности спектрального аппарата принято считать отношение длины волны X, около которой выполняется измерение, к указанному минимальному интервалу бХ, т. е. е- / = Х/бХ. Для определения составим (например, для дифракционной решетки) условия, дающие положения максимумов т-го порядка для волн и [c.214]

Формула (50.4) показывает, что разрешающая способность спектрального аппарата равна произведению порядка спектра т на число световых пучков, интерферирующих в приборе. Число это для дифракционной решетки равно числу штрихов для пластинки Люм-мера—Герке или Фабри—Перо можно условно считать число N равным числу отраженных световых пучков значительной интенсивности (число эффективных лучей), которое тем больше, чем больше коэффициент отражения Я (см. 30). Для интерферометра Майкельсона Л/ = 2 для эшелона Майкельсона N равно числу пластин и т. д. [c.216]

Открытием магнитного вращения плоскости поляризации Фарадей установил связь между магнитными и оптическими явлениями. В дальнейшем Фарадей предпринимал неоднократные попытки обнаружить воздействие магнитного поля и иа излучение атомов. Однако успеха он не добился, как стало потом известно, по чисто техническим причинам (малая разрешающая способность спектрального прибора н слабые магнитные поля). [c.102]

Линейная дисперсия и разрешающая способность спектральных приборов [64] [c.33]

Теоретическая разрешающая способность спектральных приборов [c.33]

Реальная разрешающая способность спектрального прибора [c.40]

Если падающий поток больше порога чувствительности, то возникающий в приемнике сигнал больше уровня шумов, но из-за наличия последних измеряемый сигнал будет иметь случайную ошибку. Относительная ее величина, очевидно, тем меньше, чем больше абсолютная величипа сигнала, т. е. чем больше отношение сигнал/шум. Таким образом, уровень регистрируемых шумов определяет не только порог чувствительности, но и точность измерения, и в том числе практическую разрешающую способность спектрального прибора (см. 1.3), [c.310]

Что называется разрешающей способностью спектрального прибора [c.175]

Разрешающая способность спектрального аппарата по определению равна [c.175]

Разрешающую способность спектрального прибора условно [c.91]

Вопрос о ширине входной щели спектрального прибора очень важен в спектроскопии. От ширины щели и условий ее освещения зависит как интенсивность спектральной линии, так и практическая разрешающая способность спектрального прибора. Ранее [c.100]

При определении разрешающей способности спектральных приборов ее величина является отношением длины волны X, определяемой как среднее значение длин волн А,1 и Кг, находящихся на пределе разрешения (в соответствии с критерием Рэ- [c.356]

Чтобы получить как можно более узкие линии в спектре, необходимо уменьшать ширину входной щели, однако нецелесообразно делать ее меньше нормальной ширины вследствие существенных потерь энергии. При нормальной ширине щели максимально реализуются разрешающая способность спектрального прибора и светосила. [c.424]

Разрешающая способность спектрального прибора. Она характеризует способность давать раздельно две близкие спектральные линии. Количественно она определяется как отношение [c.424]

Согласно формуле (7.1.5), разрешающая способность спектрального прибора определяется действующим отверстием О и угловой дисперсией Де диспергирующей системы. Обе эти величины по-разному влияют на разрешающую способность. При увеличении угловой дисперсии Де растет угловое расстояние между линиями А-1 и Яг. Это значит, что при той же ширине контура линии в спектре окажутся на большем расстоянии (рис. 7.1.4,а). При увеличении действующего отверстия В уменьшается ширина главного дифракционного максимума, т. е. изображения линий Я1 и Яг сужаются и они становятся разрешимы (рис. 7.1.4,б). [c.425]

Реальная разрешающая способность спектрального прибора всегда меньше ее теоретического значения. Поэтому соответственно и реально разрешимый спектральный интервал АЯр окажется большим, чем теоретически разрешимый б Я. Реальное значение АЯр будет определяться не только явлением дифракции на действующем отверстии прибора, но будут иметь место и другие уширяющие факторы, а именно конечная ширина входной щели, дефекты фокусирующей оптики и фокусировки прибора, размытие изображения вследствие зернистого строения эмульсии и др. Это приведет к тому, что результирующий контур спектральной линии будет представлять собой свертку функций, каждая из которых описывает контур, определяемый одним из факторов уширения. Результирующая ширина наблюдаемого аппаратного контура линии приближенно может быть определена следующим выражением [c.483]

ИЗМЕРЕНИЕ ЛИНЕЙНОЙ ДИСПЕРСИИ И РЕАЛЬНОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ СПЕКТРАЛЬНОГО ПРИБОРА [c.521]

Разрешающая способность оптических систем определяется тем минимальным угЛовым или линейным расстоянием, которое рассматриваемая система может разделить или, как говорят, разрешить. Минимальный теоретически разрешимый интервал в оптическом приборе определяется дифракционным кружком рассеяния. В этом случае оптика прибора считается безаберрационной. Реально разрешимый спектральный интервал всегда будет иметь большее значение, так как кроме дифракции в действующем отверстии будут играть роль уширяющие факторы даже для строго монохроматического излучения, связанные с аберрациями оптической системы, дефектами юстировки и др. Для рассмотрения вопроса о теоретической разрешающей способности системы введем понятие обобщенного критерия Рэлея. Как известно, разрешающая способность спектрального устройства равна [c.289]

Разрешающая способность спектрального прибора определяется отношением наблюдаемой длины волны к наименьшей разности двух длин волн одинаковой интенсивности, которые еще могут быть разрешены [c.358]

Дифракция пучка лучей, проходящего сквозь призму, ограничивает разрешающую способность спектрального прибора. [c.358]

Следовательно, разрешающая способность спектрального прибора прямо пропорциональна основанию призмы и дисперсии ее материала. [c.360]

Спектроскопами высокой разрешающей силы называют приборы, разрешающая способность которых значительно превосходит разрешающую способность спектральных приборов с призмами и дифракционными решетками. Наиболее важными областями применения данных спектроскопов являются исследование изотопических [c.447]

ПРЕДЕЛ РАЗРЕШЕНИЯ И РАЗРЕШАЮЩАЯ СПОСОБНОСТЬ СПЕКТРАЛЬНОГО ПРИБОРА. КРИТЕРИИ РАЗРЕШЕНИЯ [c.336]

Как было указано в 4, разрешающая способность спектрального прибора с безаберрационной оптикой определяется шириной диспергированного пучка а и угловой дисперсией йц>/й к [c.354]

Условность критерия разрешения в этой формулировке выступает с еще большей отчетливостью. При суждении о возможности разрешения двух линий с сильно различающимися интенсивностями приходится исходить из ряда факторов, характеризующих каждый конкретный случай. Тем не менее, несмотря на условность критерия Рэлея, он оказывается весьма полезным для сравнения разрешающей способности различных приборов. Так, непосредственно ясно, что способность спектрального аппарата к различению близких длин волн тем больше, чем дальше максимумы, т. е. чем выше порядок гп и чем резче максимумы (круче переход от максимума к минимуму). [c.214]

Подобный эффект может существенно уменьшить разрешающую способность спектрального анализа. Появле1ше дополнительных спектраль- [c.83]

Разрешающая способность спектральной оптической интерферометрии определяется ошибкой в измерении сдвига частоты генерации 5 и параметрами, определяющими наклон прямой (7.1). Современная погрешность измерения 5/составляет Д5/ 10 Гц [13], что в типичных экспериментальных условиях, описанных выше, определяет ALmin 1.5 10 X. Дальнейшее увеличение точности метода может быть достигнуто, согласно [c.218]

Кроме того, каждый спектральный прибор, как з же отмечалось, обладает предельной теоретической разрешающей способностью, т. е. минимальным разрешае1н.ш спектральным интервалом бЛ (или Sv), величина которого также зависит от ряда геометрических и спектроскопических параметров прибора и типа используемого приемника излучения. Количественно разрешающая способность спектрального прибора определяется величиной Л =. л бл. [c.10]

Рассмотрим требования, предъявляемые к фокусирующей оптике спектральных приборов. Линзовая фокусирующая оптика в принципе мо кет использоваться в области спектра 1100, — 54 мк.м, для которой в настоящее в])емя имеются различные прозрачные и достаточно однородные оптические мате1)иа.1ы для изготовления объективов. Практически ке линзовая оптика используется лишь в области 200 , — 3 мкм. так как для длин волн длиннее 3 мкм н короче 2000 Л трудно изготовлять сложные объективы из-за ограниченного числа имеющихся оптических материалов и их гигроскопичности. В настоящее время в качестве фокусирующей оптики обычно используют не простые линзы, а специально рассчитанные, достаточно сло жные объективы, у которых исправлен ,I те или пиые аберрации и, в первую очередь, аберрации в нап])авлении дисперсии, влияющие на разрешающую способность спектрального прибора. Mi.i лишь кратко остановимся на этом вопросе (подробности см. в [1.11]). [c.118]

Чисто колебательных спектров многоатомных молекул не существует. Из-за большой заселенности нижних вращательных состояний всегда наблюдаются колебательно-вращательные спектры. Как и в двухатомных молекулах, каждое колебательное состояние имеет свой собственный (и довольно сложный в случае асимметричного волчка) набор вращательных состояний. Поэтому колебательно-вращательные спектры многоатомных молекул имеют весьма сложную структуфу. При недостаточно высокой разрешающей способности спектральных приборов вращательную структуру [c.89]

Разрешающая способность. Реальная разрешающая способность спектрального прибора характеризует ту наи.меньшую разность в длинах волн АЛ или волновых числах Ду двух очень близких спектральных линий равной интенсивцости, которая позволяет и.х различать, а не считать за одну линию. Для количественной оценки разрешающей способности используется следующее соотношение [c.126]

Т а б л и ца 1.4. Линейная дисперсия и разрешающая способность спектральных ггрибороз 83] [c.16]

Следует заметить, что вопрос об аппаратной функции связан и с вопросом об обобщении критерия разрешающей способности спектральных приборов. Критерий разрешения Рэлея связан с аппаратной функцией дифракционного типа при бесконечно узкой щели. Оп сводится к тому, что две спектральные лпнпп одинаковой интенсивности считаются разрешенными, если расстоя- [c.108]

Призменные спектрографы большой дисперсии строят иногда при постоянной угловой и переменной линейной дисперсии, С этой целью они снабжаются сменнькми камерами с объективами различного фокусного расстояния. Увеличение линейной дисперсии таким способом хотя и не сопровождается увеличением теоретической разрешающей способности спектрального прибора, од- [c.140]

Как показывает формула (6.55), разрешающая способность спектрального прибора равна произведению порядка интерференции т на число N интерферирующих световых пучков. Высокая разрешающая сила хороших дифракционных решеток достигается за счет бЬльших значений общего числа штрихов N при низких порядках интерференции (т=, 2, 3). В интерференционных спектральных приборах, наоборот, число пучков сравнительно невелико (Ы 30 для интерферометра Фабри — Перо, N = 2 для интерферометра Майкельсона), а большое разрешение достигается за счет высоких порядков интерференции т. [c.325]

Например, при исследовании спектра излучения двумерных изображений в качестве третьего измерения г можно выбрать частоту излучения. В этом случае проекциями будут слчмить спектрограммы, полученные в спектрографах с различной угловой дисперсией а. Восстанавливая сечения пространственно-частотного объекта для выделенной частоты, можно не только повысить разрешающую способность спектральных приборов, но и получить спектрограммы двумерных объектов. [c.206]

На практике обычно пользуются отражательными эшелонами, предложенными в 1933 г. Вильямсом (рнс. 6.33) и называемыми обыч1ю эшелонами Майкельсона — Вильямса. Эшелон Майкельсона — Вильямса состоит из ряда пластин из плавленого кварца. Специальная обработка пластин позволяет добиться оптического контакта. В результате все устройство как бы вырезано из одного куска плавленого кварца. Спектральные характеристики, в том числе и разрешающая способность эшелона Майкельсона — Вильямса, выше разрешающей способности эи1елоиа Майкельсона. Отражательный эшелон ввиду большой трудности его изготовления почти не применяется в видимой области спектра. Он обычно используется в миллиметровой, микроволновой и инфракрасных областях спектра. В этих областях не требуется столь высокой точности изготовления пластин. В принципе эшелон Майкельсона — В1 пзямса можно было бы использовать также в ультрафиолетовой области. Однако это связано с очень высокой, практически неосуществимой точностью изготовления. В ультрафиолетовой и длинноволновой рентгеновской областях применяются вогнутые дифракционные решетки. Связано это еще и с тем, что вогнутые решетки, как известно, одновременно выполняют роль [c.153]

Эффект Зеемана. Фарадей после обнаружения магнитного вращения плоскости поляризации ирсдпршшл попытки во действо-вать магнитным полем на спектральные линии, однако малая разрешающая способность используемого им спектрального аппарата и слабое магнитное иоле не позволили ему обнаружить какой-либо эффект. В 1896 г. Зееману удалось обнаружить расщепление спектральных линий под действием внешнего магнитного поля. Это явле- [c.292]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...