Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

[<< Стр.]    [Стр. >>]

так: две линии считаются разрешенными, если сум.марное распределение освещенности отличается от распределения для одиночной линии больше, чем на ошибку измерения. Следовательно, согласно этому критерию при заданных свойствах дифракционной решетки (или другого спектрального аппарата) разрешающая способность тем выше, чем больше точность измерений распределения интенсивности в контуре спектральной линии. В предельном случае абсолютно точных измерений разрешение неограниченно возрастает.

[<< Стр.]    [Стр. >>]

ПОИСК



так: две линии считаются разрешенными, если сум.марное распределение освещенности отличается от распределения для одиночной линии больше, чем на ошибку измерения. Следовательно, согласно этому критерию при заданных свойствах дифракционной решетки (или другого спектрального аппарата) разрешающая способность тем выше, чем больше точность измерений распределения интенсивности в контуре спектральной линии. В предельном случае абсолютно точных измерений разрешение неограниченно возрастает.

[Выходные данные]

© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте