Разрешающая способность прибора с дифракционной решеткой

Разрешающая способность прибора с дифракционной решеткой [c.42]

Элементарная теория спектральных приборов связана с теорией призмы и дифракционной решетки как диспергирующих систем, от которых зависят основные параметры спектральных устройств — их линейная дисперсия и разрешающая способность. Для призмы последние легко определяются, когда она установлена в параллельных пучках вблизи угла наименьшего отклонения. [c.69]

В последние годы во многих спектральных приборах вместо дифракционных решеток (эшелеттов) применяют реплики (копии) решеток. Реплика представляет собой желатиновый отпечаток, полученный с оригинала (решетки). На поверхность отпечатка испарением в вакууме наносится отражающий слой алюминия. По разрешающей способности реплики хуже оригиналов, хотя некоторые экземпляры могут иметь разрешающую способность, близкую к разрешающей способности оригинала. Считают, что реплики можно с успехом применять для приборов малой и средней дисперсии с фокусными расстояниями объективов до 1,5 м. Стоимость реплик в несколько раз ниже стоимости дифракционных решеток. [c.378]

Спектроскопами высокой разрешающей силы называют приборы, разрешающая способность которых значительно превосходит разрешающую способность спектральных приборов с призмами и дифракционными решетками. Наиболее важными областями применения данных спектроскопов являются исследование изотопических [c.447]

В интерференционных спектральных приборах число интерференционных пучков N относительно невелико (несколько десятков, в интерферометре Майкельсона N = 2), тогда как порядки спектров т очень высоки (около 10 ООО и больше). Поэтому интерференционные спектральные приборы имеют малые дисперсионные области. Они могут применяться для исследования только очень узких участков спектра, например для изучения структуры отдельных спектральных линий, выделенных каким-либо другим спектральным аппаратом с большей дисперсионной областью, но с недостаточной разрешающей способностью. Однако эти приборы более просты в обращении и имеют большую светосилу, чем дифракционные решетки. [c.315]

Разрешающую способность призменного спектрографа можно увеличить, применяя разные наборы призм, один из которых показан на фиг. 6.3. Это дает возможность увеличить эффективную ширину основания призмы и обойти трудности, связанные с изготовлением больших стеклянных блоков с достаточно высокой оптической однородностью. При / > 50 000 из-за высокой стоимости призм приходится обращаться к приборам с дифракционными решетками. (Разнообразные многопризменные устройства описаны в литературе.) [c.337]

Создан макетный образец инфракрасного лазерного спектрометра ИКЛС на основе полупроводниковых диодных лазеров (ПДЛ) с перестраиваемой длиной волны [6]. Оптическая схема ИКЛС показана на рис. 13. Прибор построен на базе многоцелевого спектрометра ИСМ-1 и имеет в своем комплекте дополнительные блоки приставки отражения (пропускания) с переменными углами падения и многоходовую газовую кювету. Монохроматор осуществляет разделение мод ПДЛ, а также измерение длин волн с погрешностью 0,05 % от номинала. При этом точное измерение длин волн с погрешностью, близкой к разрешающей способности спектрометра (определяемой ПДЛ), осуществляется с помощью эталонов Фабри—Перо и спектров известных объектов. В одномодовом режиме ПДЛ можно исключить монохроматор из схемы прибора, заменив дифракционную решетку плоским зеркалом или состыковав блок осветителя непосредственно с блоком приемной камеры. [c.215]

С отражательных дифракционных решеток [41—43] с такими приборами можно работать в диапазоне длин волн от 0,120 до 40 мк. В противоположность призменным приборам ди пep иv дифракционного монохроматора не зависит от Я. Самые важные параметры дифракционных приборов — разрешающая способность, дисперсия, область дисперсии, угол блеска и эффективность решетки. Теоретически разрешаюш.ая сила дифракционной решетки определяется выражением [c.338]

G точки зрения повышения дисперсии прибора выгодно работать в высшем порядке спектра. Так как интенсивность спектральных линий быстро падает с увеличением порядка спектра, то обычно не пользуются порядком выше четвертого. Исключение представляют ступенчатые отражательные решетки Эшелле, у которых А доходит до 100 для инфракрасной области спектра. Поэтому, чтобы иметь прибор с хорошей дисперсией и разрешающей способностью в спектрах низкого порядка, применяют дифракционную решетку с малым значением ее постоянной d и с достаточно общим числом штрихов. Решетки отличаются друг от друга частотой штрихов, размерами нарезанной площади, формой поверхности и другими характеристиками. В табл. 6 даны приближенная классификация решеток и спектральная область их применения. [c.44]

Высокая разрешающая способность достигается как в интерферометрах Фабри—Перо и Майкельсона (порядка 10 ), так и в дифракционных решетках (порядка 10 ) й в других интерферометрах. Однако такая высокая разрешающая способность в них достигается за счет различных факторор. В интерферометре Фабри—Перо и Майкельсона она достигается за счет высоких порядков интерференции (порядка 10 ) при сравнительно небольшом числе интерферирующих лучей (несколько десятков в интерферометре Фабри—Перо и два луча в интерферометре Майкельсона), а в дифракционной решетке — за счет большого числа интерферирующих лучей (порядка 10 ) при малом порядке интерференции (несколько единиц). Благодаря этому дисперсионная область очень мала у интерферометра Фабри —Перо (порядка 10" нм) и интерферометра Майкельсона (порядка 10 нм) и очень велика у дифракционной решетки (порядка 10 нм). Поэтому если исследуемое излучение имеет большую дисперсионную область, а его необходимо исследовать с помощью приборов высокого разрешения с малой дисперсионной областью, то приходится комбинировать Между qoбoй различные спектральные аппараты. При этом пб лучаются одновременно и широкая дисперсионная область и большое разрешение. [c.231]

Теперь можно указать и на примеры, когда разрешающая способность растет пропорционально угловой дисперсии. Эти примеры имеют наибольшее практическое значение. Дело в том, что в случае призменных спектральных приборов увеличение угловой дисперсии и разрешающе " способности достигается одновременно увеличением числа призм или увеличением числа прохождений через призмы действующих пучков в автоколлимационных схемах. В случае дифракционных спектральных приборов увеличение угловой дисперсии и разрешающей способности достигается обычно заменой одной решетки другой с такой же поверхностью заштрихованной части (линейная анертура остается прежней), но с увеличенным числом штрихов на миллиметр (т. е. другой постоянной решетки). Общее число штрихов нри этом также увеличится. [c.95]

В приборе использованы параболические зеркальные объективы с фокусным расстоянием 800 мм и относительным отверстием 1 5,3. Дифракционные решетки имеют 600 штрих/мм, размеры заштрихованной части 150x140 и предназначены для работы во втором порядке. Теоретическая разрешающая способность 180 ООО линейная дисперсия на выходной щели 5,2 А1мм, а на средней щели 9,5 к мм. [c.453]

Для швышеиия разрешающей способности можно либо увеличивать число штрихов N, либо повышать порядок интерференции т. Первый путь используется в дифракционных решетках, второй — в интерференционных спектральных приборах. В Советском Союзе изготовляются плоские и вогнутые дифракционные решетки различных размеров и с различным числом штрихов на миллиметр. Для ультрафиолетовой и видимой областей изготовляются дифракционные решетки, имеющие 1200 и 600 штрихов на миллиметр при размерах 100 X 100 мм и 150 X 15O мм, а для инфракрасной области — от 300 ТЮ 1 [c.315]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...