Паразитное излучение ТПВ

Мощность паразитных излучений Чувствительность приемника в нормальных условиях при частоте модуляции 1000 гц и глубине модуляции 30% [c.270]

НИИ одинаковых типоразмеров активных элементов проявляются эффекты суперлюминесценции (усиленной люминесценции) и генерации (паразитных мод. Паразитное излучение генерируется в активном элементе по замкнутым траекториям при конечном значении отражения от боковых поверхностей активного элемента. Коэффициент отражения боковой поверхности активного элемента зависит от степени шероховатости поверхности [74]. [c.110]

Мощность паразитных излучений [c.389]

Кроме характеристического излучения материала анода, рентгеновские лучи, выходящие из трубки, часто содержат загрязнения (паразитное излучение), связанные с примесями в материале анода и распылением отдельных частей трубки. [c.62]

В кювете , изображенной в верхнем правом углу. Частоту излучения лазера можно менять по усмотрению экспериментатора. Когда она становится равной частоте перехода между основным состоянием и возбужденным состоянием атома, значительная часть атомов газа переходит в это состояние. Число возбуждаемых атомов тем больше, чем больше мощность лазера. Переходя в основное состояние, атомы испускают флуоресцентное излучение во всех направлениях. С помощью линзы небольшая доля (менее одной десятой) этого излучения собирается и направляется на фотоприемник. Сигнал фотоприемника усиливается и подается на вход вертикального отклонения осциллографа (ось ординат), тогда как по оси абсцисс регистрируется частота лазера. Таким образом, измеряя частоту лазера, при которой максимален сигнал, можно с большой точностью определить возбужденный атомный уровень. Фотоприемник регистрирует также паразитное излучение, идущее от лазера и обусловленное многократным рассеянием, что приводит к фоновому шуму, ограничивающему чувствительность установки. В некоторых [c.91]

На рис. 69,а показана антенная решетка, состоящая из 16 щелей, предназначенная для работы на частотах 9,375 5% ГГц, а на рис. 69,6 — центральный проводник полоскового делителя мощности Йля ее питания, выполненный на симметричной полосковой линии. Светлыми точками показаны металлические штыри, замыкающие заземленные пластины для предотвращения бокового паразитного излучения. [c.105]

Паразитное излучение практически отсутствует при существенном упрощении измерительной схемы. [c.123]

Так как у рупорного вида апертур всегда отсутствует гальванический контакт между верхней и нижней частями, то кроме излучения в раскрыве происходят паразитные излучения через щель по периметру апертуры вне раскрыва. Размеры этой щели должны быть соизмеримы с толщиной слоя. Этот случай требует применения синфазной апертуры с круговой диаграммой направленности по азимуту и более мощных генераторов СВЧ (с мощностью более 10 Вт), что исключает также необходимость перемещения апертуры и приемного вибратора, поддерживая его направление по максимуму ДН апертуры при сканировании диэлектрического покрытия на металле. [c.86]

К другой группе относятся экспериментальные поправки Атц и АЯо, объединяющие в себе целый ряд трудно рассчитываемых первичных поправок на неоднородность температурных датчиков, тепловое сопротивление прилегающих к слою участков ядра и блока (в схемах с термопарами), на паразитные тепловые мостики в слое и сквозное излучение через исследуемое вещество. Точная аналитическая оценка такого рода факторов практически невозможна, поэтому для учета их приходится предусматривать серию градуировочных опытов. Конкретные приемы градуировки зависят от схемы и назначения калориметра. На выбор их, в частности, влияют диапазон рабочих температур и давлений, природа и структурное состояние исследуемых веществ, особенности используемых температурных датчиков и требуемая точность измерений. Перечисленные факторы чаще всего оказываются взаимосвязанными. Так, от диапазона рабочих температур во многом зависят выбор и метрологические возможности температурных датчиков. В свою очередь, на форму замкнутого слоя и общее конструктивное оформление калориметра существенно влияют рабочие давления и структурное состояние исследуемых веществ. [c.131]

Различия, и существенные, возникают в методике эксперимента, так как вследствие низкой теплопроводности паров и газов происходит значительное перераспределение роли поправок в расчетных формулах (4-60), (4-61). Так, рост допустимых перепадов температуры в рабочем слое влечет за собой некоторое снижение роли поправок Д д о, Дто на паразитные сигналы в термопарах, но зато ощутимо возрастают поправки на нелинейность и Ао , особенно последняя из них. Низкая теплопроводность и высокая прозрачность газов и паров влекут за собой увеличение роли поправки на излучение и на паразитные тепловые мостики в слое. Благодаря низкой объемной теплоемкости газов и паров резко, практически до пренебрежимых значений, снижаются поправки на теплоемкость и кривизну АОф слоя. [c.138]

В тех случаях, когда когерентность освещения диктуется функциональным назначением системы (например, в фурье-ана-лизаторах), для увеличения отношения сигнал/шум принимают чисто конструктивные меры уменьшают число поверхностей, применяют иммерсию, где это возможно, внеосевое построение схемы (как в п. 4.5). Если же когерентность освещения является лишь следствием монохроматичности излучения и как таковая не нужна, ее желательно искусственно разрушить. Наиболее известный способ решения этой задачи — установка перед предметной плоскостью вращающегося матового рассеивателя. В этом случае паразитная интерференционная картина в плоскости изображения меняется во времени, что позволяет усреднить ее при регистрации изображения на фотоматериале и тем [c.189]

Фильтры сами по себе или в сочетании с предыдущими методами весьма удобны для выделения излучений. Будучи применены в научных исследованиях, фильтры повышают тщательность измерений, так как поглощают паразитные лучи или мешающие спектральные полосы. При промышленных применениях фильтры позволяют выделять более или менее широкие полосы в полезной спектральной зоне или освобождаться от мешающих частей спектра. [c.62]

Как мы уже отмечали, основные переходы иона Nd + —это переходы, совершаемые тремя электронами, принадлежащими оболочке 4/. Эти электроны экранируются восемью внешними 5s-и 5р-электронами, Соответственно уровни энергии в стекле с неодимом в основном располагаются так же, как и в кристалле Nd YAG. Поэтому и наиболее интенсивный лазерный переход имеет длину волны % ж 1,06 мкм, Однако в стекле из-за неоднородного уширения, обусловленного локальными неоднородностями кристаллического поля стеклянной матрицы, линии лазерных переходов намного шире. В частности, основной лазерный переход с Х=1,06 мкм примерно в 30 раз шире, поэтому максимальное сечение перехода приблизительно в 30 раз меньше, чем в кристалле Nd YAG. Разумеется, более широкая линия благоприятна для работы в режиме синхронизации мод, в то время как меньшее сечение необходимо для импульсных высокоэнергетических систем, поскольку пороговая инверсия для паразитного процесса УСИ (усиление спонтанного излучения) [см. (2.153)] соответственно увеличивается. Таким образом, по сравнению с Nd YAG в стекле с неодимом до включения УСИ может быть запасено в единичном объеме больше энергии. Наконец, поскольку полосы поглощения в стекле с неодимом также много шире, чем в кристалле Nd YAG, а концентрации ионов Nd + обычно вдвое больше, эффективность накачки стержня из стекла с неодимом приблизительно в 1,6 раза больше, чем в стержне из Nd YAG тех же размеров (см. табл. 3.1). Однако наравне с этими преимуществами стекла с неодимом по сравнению с кристаллом Nd YAG стекло обладает весьма серьезным ограничением, связанным с его низкой теплопроводностью, которая приблизительно в десять раз меньше, чем в Nd YAG. Это существенно ограничивает применения лазеров на стекле с неодимом импульсными системами при небольшой частоте повторения импульсов (с 5 Гц), чтобы избежать проблем, связанных с нагревом стержня. [c.338]

Автоматизация управления тепловым режимом мартеновских печей, индукционных печей для плавки синтетического и литейного чугуна, медеплавильных отражательных печей, алюминиевых электролизеров, воздухонагревателей горячего дутья в настоящее время выполняется с помощью высокотемпературных металлических термопар, которые должны быть защищены от действия агрессивных жидких и газовых сред, а также от влияния электромагнитного излучения. Для этой цели используются защитные чехлы термопар в виде труб с закрытым концом. Во многих случаях для указанных условий систему автоматического управления практически невозможно разработать с использованием защитных чехлов термопар из окисной керамики, выпускаемых промышленностью, из-за их недостаточной стойкости в агрессивных средах и больших наводок паразитной э. д. с. в электродах термопары под воздействием электромагнитных полей. [c.177]

Вынужденное комбинационное рассеяние (ВКР)-нелинейный процесс, который позволяет использовать световоды в качестве широкополосных ВКР-усилителей и перестраиваемых ВКР-лазеров. Но, с другой стороны, этот же процесс может резко ограничить характеристики многоканальных оптических линий связи из-за переноса энергии из одного канала в соседние каналы. В этой главе рассматриваются как применения ВКР, так и паразитные эффекты, связанные с ним. В разд. 8.1 представлены основы теории комбинационного рассеяния, причем подробно обсуждается понятие порога ВКР. В разд. 8.2 рассмотрено ВКР непрерывного или квазинепрерывного излучения. Там же обсуждаются характеристики волоконных ВКР-лазеров и усилителей и рассматриваются перекрестные помехи в многоканальных оптических линиях связи, обусловленные ВКР. ВКР сверхкоротких импульсов (СКИ), возникающее при импульсах накачки длительностью менее 100 пс, рассмотрено в разд. 8.3 и 8.4. В разд. 8.3 рассматривается случай положительной дисперсии групповых скоростей, а разд. 8.4 посвящен изучению солитонных эффектов при ВКР, возникающем в области отрицательной дисперсии групповых скоростей волоконного световода. Особое внимание уделено совместному действию дисперсионного уширения импульса с фазовой самомодуляцией (ФСМ) и фазовой кросс-модуляцией (ФКМ). [c.216]

Самостоятельные и наведенные паразитные колебания. Продолжим рассмотрение всевозможных источников возмущений со стороны тех самых боковых границ резонатора, которые в теории предполагаются открытыми. Часто к этим границам прилегают вполне реальные объекты, способные возвращать назад в резонатор значительную часть того излучения, которое пересекает условные боковые границы изнутри и в рамках модели открытого резонатора считалось бы безвозвратно его покидающим. Имеются в виду боковые поверхности активных элементов твердотельных лазеров, стенки кюветы с газовой средой, электроды системы возбуждения электроразрядных лазеров и т.д. [c.141]

Следует еще иметь в виду, что при наложении когерентных полей часто находятся направления (волны), для которых выполняются соответствующие фазовые условия и происходит сложение амплитуд. Поскольку линейный рост амплитуды вызывает квадратичный рост интенсивности, мощность рассеянного света в указанных направлениях резко растет с числом проходов, на которых осуществляется накопление амплитуды. По этим причинам выгодно удалять рассеянное излучение из резонатора как можно быстрее, пока амплитуда паразитных колебаний не успела достичь значительной величины. [c.142]

Паразитное излучение. Для уменьшении помех, создаваемых др. Р. у., антенна передающей радиостанции не должна излучать никаких частот, кроме несущей и соотв. боковых частот. Несинусоидальная форма анодного тока обусловливает наличие в цепях ламп высших гармоник, мощность излучения к-рых должна быть 25 Мет, а на Я, < 100 л1 менее 1% от мощности основной волны. Чем мощнее Р. у., тем сложнее фильтрации высших гармоник (см. Фильтры мектричсские). Для ослабления высших гармоник в Р. у. длинных и средних волн применяется емкостная связь с анодом лампы и между контурами, а также двухтактная схема, в к-рой ослабляются четные гармоники. Если этого недостаточно, применяют дополнит, фильтры, настроенные на соответствующую гармонику. В коротковолновых Р. у. фильтры устанавливают на входе антенного фидера, В Р. у. с широким диапазоном рабочих частот применяются фильтры нижних частот или полосовой фильтр. [c.300]

В трубках типа БСВ1 интенсивность линий паразитного излучения может достигать 10% от интенсивности основного излучения трубки. Основные примеси для Си-анода — Ре и У, для Ре-, Со-, Мо-, N1- и Сг-анодов — Си и и. Для проверки чистоты излучения проводится съемка рентгенограммы эталонного вещества, дающего небольшое число линий (Ре, N1, Си), затем методами, описанными ниже, индицируют линии, выясняют наличие лишних линий и методом подбора определяют, какому излучению соответствуют лишние линии. [c.62]

Побочные излучения могут быть различного происхождения гармоники, частоты которых являются целыми кратными частот основного излучения субгармоники, частоты которых в целое число раз меньше основных комбинационные излучения, возникающие вследствие взаимодействия частот различных генераторов передатчика и их гармоник паразитные излучения, возникающие на частотах, не зависящих от частот основного излучения и не связанные с получением основного сигиала (например,., паразитное самовозбуждение одного из каскадов). . . [c.92]

К внутренним апертурным излучателям относятся излучатели, В1слючающие в апертуру металлическую основу, на которую наносится исследуемый слой материала. В зависимости от мощности излучения генератора сигналов (ГС) возможно применение маломощных стандартных ГС, генераторов фиксированных (дискретно-пере страиваемых) частот на мини1слистронах (типа К-70), диодных задающих ГС и т.д. В этом случае необходимы апертуры с большой величиной КПД (достаточно остронаправленные). Так как измерения производятся по максимуму ДН, то должна быть предусмотрена возможность перемещения апертуры при сканировании совместно с блоком приемных вибраторов. Мощность в непрерывном режиме в этом случае не должна превышать величину 10 Вт. Так как у рупорного вида апертур всегда отсутствует гальванический контакт между верхней и нижней частями, то кроме излучения в раскрыве происходят паразитные излучения через щель по периметру апертуры вне раскрыва. Размеры этой щели должны быть больше величины толщины слоя Избавиться от этого возможно применением синфазной специальной апертуры с круговой ДН по азимуту. В этом слу чае [c.155]

В тех ситуациях, когда необходимо получить полную спектральную кривую или когда интерес представляют сразу несколько длин волн, некоторые преимущества можно достичь, если использовать дифракционный монохроматор. Из многочисленных систем монохроматоров наиболее часто используется схема Черни — Тёрнера, которая обеспечивает коэффициент подавления паразитного излучения 10- . В тех приложениях, где значение этого параметра является критическим (как в случае сигналов обратного комбинационного рассеяния), часто применяются двойные монохроматоры. Коэффициенты подавления 10" (одинарный) и 10- 2 (двойной) ) могут достигаться для значений смещений от возбуждающей линии 60 см-. Недавние разработки голографических решеток привели к созданию компактного, простого и недорогого прибора, обладающего еще больщим коэффициентом подавления [c.251]

Имеются специальные программы для анализа электромагнитной совместимости компонентов в конструктивах радиоэлектронной аппаратуры. Например, программы семейства Omega PLUS служат для определения формы сигналов в конструкциях с печатными платами, кабельными соединениями, микрополосковыми линиями и для расчета задержек с учетом паразитных емкостей и индуктивностей. Программа Em S an этого семейства предназначена для моделирования электромагнитного излучения печатных [c.146]

Для устранения влияния излучения лазера, не претерпевшего дифракции, на работу прибора и обеспечения возможности привязки процесса измерения к одному и тому же дифракционному порядку в широком диапазоне измерений размера в приборе используется ограничивающий экран, установленный на сканирующем зеркале. Такое конструктивное расположение экрана позволяет также максимально приблизить его к входной щели ФЭУ, устранить влияние паразитной дифракции на его краях и уменьшить влияние фоновых засветок на работу ФЭУ. Уменьшению фоновой засЕетки способствует и светофильтр 9, расположенный перед щелью ФЭУ. Телескопическая система служит для увеличения поперечного сечения пучка лазера и этим способствует увеличению допустимого поперечного смещения изделия. [c.265]

В К. с. к. р. регистрируют рассеянный сигнал в специально выбранном спектральном диапазоне, свободном от засветок возбуждающего излучения и паразитных некогерентных эффектов типа люминесценции (обычно используется антистоксова спектральная область). Высокая коллимировапность пучка когерентно рассеянного излучения позволяет эффективно выделять полезный сигнал на фоне некогерентных засветок и помех при использовании в качестве источников зондирующего излучения узкополосных стабилизироваи-ных лазеров достигается высокое спектральное разрешение полос КР, определяемое свёрткой спектров источников. Благодаря интерференц. характеру формы спектральной линии с помощью К. с. к. р. удаётся наблюдать интерференцию нелинейных резонансов разной природы (в частности, электронных и колебат. резонансов в молекулярных средах). Исключительно высокая разрешающая способность отд. модификаций К. с. к. р. путём подбора условий интерференции даёт возможность выявлять скрытую внутр. структуру неоднородно уширенных полос рассеяния, образованных наложившимися друг па друга линиями разной симметрии. Многомерность спектров К. с. к. р. обеспечивает значительно более полное, чем в спектроскопия спонтанного КР, изучение оптич. резонансов вещества. В К. с. к. р. разработаны методы получения полных комбинац. снектров за время от 10 с до 10 с. [c.391]

Имеются специальные программы для анализа электромагнитной совместимости компонентов в конструктивах РЭА. К ним, например, относятся программы семейства Omega PLUS, с помощью которых определяется форма сигналов в конструкциях с печатными платами, кабельными соединениями, микрополосковыми линиями анализируются статические электрические и магнитные поля в геометрических плоских и объемных конструкциях выполняется расчет полосковых и микрополосковых устройств, взаимных индуктивностей и емкостей многопроводных линий передачи моделируются электромагнитные излучения в печатных платах рассчитываются задержки с учетом паразитных емкостей и индуктивностей. При моделировании компоненты схемы представляются в виде линейных эквивалентных схем входных и выходных цепей, проводится частотный анализ, фиксируются максимальные амплитуды напряженностей электрического и магнитного полей, электрических токов и напряжений, результаты используются для принятия необходимых конструктивных решений. [c.234]

Ультразвуковые расходомеры могут иметь внутренние и внешние (накладные) источники и приемники излучения, что обеспечивает ненару-шаемую целостность трубопровода. Повышенный уровень помех и паразитных сигналов из-за влияния стенок трубопровода снижает точность расходомеров. [c.362]

Вернемся к дифракционным объективам, для нормальной работы которых необходимо лазерное освеш ение. Лазеры являются высококогерентными источниками, поэтому при их использовании в осветителях возникает ряд проблем. Первая заключается в том, что когерентность излучения приводит к возникновению когерентного шума [58], о котором упоминали при обсуждении требований к фурье-объективам (см. п. 4.5). Природа его состоит в том, что рассеянный на поверхностях и оправе объектива свет попадает в плоскость изображения и интерферирует со светом, несуш им полезную информацию. Если система включает ДОЭ, то в плоскость изображения попадает также свет, дифрагированный в нерабочие порядки ДЛ. В результате возникает паразитная интерференционная картина, которая накладывается на изображение и искажает его. Простой расчет показывает, что даже такая ничтожная доля паразитного света, как 1 %, приводит к контрасту интерференционной картины, равному 20%, в дифракционных же системах доля паразитного света может достигать 60—70 %. [c.189]

Однако ненасыщенный коэффициент усиления Go = exp(ag/) нельзя делать слишком большим, поскольку иначе в усилителе могут возникнуть два таких нежелательных эффекта, как паразитная генерация и усиленное спонтанное излучение (УСИ). Паразитная генерация возникает, когда усилитель начинает генерировать вследствие обратной связи, которая до некоторой степени всегда существует (например, благодаря наличию отражения на торцах усилителя). Явление УСИ уже рассматривалось нами в разд. 2.7.3. Оба этих явления имеют тенденцию снимать имеющурося инверсию и вследствие этого уменьшать усиление лазера. Чтобы свести к минимуму паразитную генерацию, не [c.488]

Помимо колебаний типа изображенных на рис. 3.4, не связанных с модами основного резонатора, к паразитным могут быть причислены также колебания с нежелательной структурой или поляризащ1ей, на поддержание которых затрачивается часть излучения основного пучка, отщепляемая от него благодаря наличию светорассеяния, двулучепреломления и т.п. Такие колебания оказываются особенно интенсивными в тех случаях, когда рассеянное излучение имеет возможность, отражаясь от зеркал резонатора, долго блуждать по нему, так что происходит наложение полей излучения, рожденного за счет рассеяния на целом ряде последовательных обходов резонатора основным пучком. [c.142]

Механизм, приводящий к ухудшению направленности излучения в подобных случаях, был изучен в [50,43]. Оказалось, что при введении в телескопический резонатор частично отражающей плоской пластинки появляются паразитные моды, которым соответствуют замкнутые траектории лучей, причем на одно отражение от этой пластинки приходится много проходов по активной среде. Поэтому паразитные моды даже при совсем мало отражающей пластинке имеют более низкие пороги возбуждения, чем основная мода двухзеркального резонатора. Поскольку этим модам, кроме того, присуща высокая неравномерность распределения поля, возбуждаются сразу несколько из них со всеми вытекающими отсюда печальными последствиями. И неудивительно в 2.5 мы сталкивались с тем, что наличие даже ничтожно слабой сходящей волны, порожденной краевой дифракцией, приводит к вырождению мод по потерям. Поэтому предпринимаемые иногда попытки повлиять на режим генерации (в частности, понизить его порог) путем установки в резонатор элементов, иници- [c.211]

Остановимся подробнее на усилении фемтосекундных импульсов в эксимерах. Основные особенности здесь связаны с широкой полосой усиления и большим сечением индуцированного перехода (ст = 10 см2). Поэтому в экснмерных усилителях велика вероятность возникновения паразитной генерации, что приводит к необходимости использования затравочных импульсов с высоким контрастом и осуществления пространственной фильтрации излучения в промежутках между каскадами. Большая часть запасенной в среде энергии может быть снята коротким импульсом излучения при условии, что затравочный импульс [c.274]

Отметим, что все результаты измерения аараиетров модуляции света в структурах с питанием постоянным напряжением получены при малом уровне считывающего излучения, поскольку последнее из-за наличия примесных центров в ФП вызывает паразитный оптический Отклик. Чувствительность структур данного типа на длине волны модулируемого сигнала оказалась около 3-10 Дж -с>1 или приблизительно в 10 раз меньшей, чем к управляющему. Для струкгур с отражением света динамический диапазон усиления яркости повышался до 10 и даже до 10 при использовании светопоглощаюших слоев. [c.152]

Для преобразования широкополосного инфракрасного излучения схема касательного синхронизма предпочтительнее, пока ширина спектра не превосходит частотную ширину касательного синхронизма 6 oir, поскольку в такой ситуации при формировании ИК-изображения в середине нелинейного кристалла преобразованное изображение вообще не искажается (см. гл. 3, 4). Все сказанное относится и к влиянию некоторых паразитных факто- [c.114]

Длительность импульсов излучения лазеров в режиме свободной генерации обычно составляет от сотен микросекунд до нескольких миллисекунд, что суш ественно больше периода релаксационных колебаний лазера (около 10 мкс). Поэтому все источники технических шумов излучения непрерывных лазеров, описанные в 3.3, проявляются и здесь, они могут также при вести к Бичковому режиму генерации [41, 42, 73, 74]. При этом существенное значение в импульсных лазерах приобретает механизм модуляции потерь резонатора, связанный с тепловым нагревом активного элемента. Дело в том, что за время действия импульса накачки тепловое равновесие между активным элементом и окружающей средой не успевает установиться и в течение всего периода импульса накачки температура элемента монотонно повышается. Поэтому во время действия импульса генерации оптическая длина активного элемента монотонно увеличивается, что может привести к возникновению паразитной модуляции потерь резонатора (см. 3.3). [c.131]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...