ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Полупрямой метод, сочетающий в себе элементы косвенного, т. е. снятия реплик, и прямого микродифракционного изучения второй фазы, частицы которой извлекаются из материала в реплику, мон{ет быть использован для анализа основного металла. Для оценки структуры покрытия метод распространения не получил. [Выходные данные]