Электронографический анализ

Процессы изменения состава поверхностного слоя сплава имеют также место в процессе специальной термической обработки сплавов. Результаты электронографического анализа [c.166]

Таблица 5. Результаты послойного электронографического анализа окалины сплава

Таблица 14. сплава Ni- r- Результаты послойного электронографического анализа окалины -Si(Zr) [c.50]

Данные электронографического анализа подтверждают, что закономерность изменения фазового состава по толщине окалины при циклическом окислении такая же, как и при непрерывном (табл. 16). Необходимо отметить, что при каждом охлаждении плоских образцов отслаивание охватывает не всю поверхность, а только часть ее. При этом-микродобавки заметно снижают интенсивность отслаивания, что согласуется с результатами многих исследований [ 36 - 38]. [c.55]

Таким образом, данные послойного электронографического анализа дают важную информацию о механизме окисления сплавов. [c.64]

Если пленка-подкладка бесструктурна, т. е. не дает собственной отчетливой дифракционной картины на электронограмме или очень тонка и поэтому в очень малой степени рассеивает электроны, то можно легко проводить прямой фазовый электронографический анализ карбидных, интерметаллидных и других частиц, помещенных на такой подкладке. Для успеха анализа необходимо лишь получить определенное, минимальное количество частиц. [c.32]

Приготовление препарата. Образец кратковременно протравливают по режиму, применяемому для количественного разделения фаз данного сплава. Кристаллическая решетка и химический состав получаемого при этом разделении осадка должны предварительно проверяться методами рентгеновского или электронографического анализа. При этом частицы второй фазы, не растворимые в данных условиях травления, образуют выступы на поверхности шлифа (частицы, которые за время травления успели потерять связь с металлом, смываются при последующей промывке образца). [c.35]

Межплоскостные расстояния а и интенсивности дифракционных линий У по данным электронографического анализа поверхности образца титана после коррозии [c.162]

Фазовый состав окислов на поверхности стали, образующихся при нагреве в течение 10 мин (электронографический анализ) [c.326]

Металлографические и электронномикроскопические, а также оптические методы с поляризованным светом (Эллипсометрия) используют для изучения структурных изменений поверхности металла в коррозионном процессе. Рентгеновский и электронографический анализы дают важные сведения о более тонком атомном строении [c.5]

В гл. 6 и 16 рассматривается кинематическое рассеяние в (совершенных) кристаллах. Выделим здесь некоторые моменты, касающиеся рентгеноструктурного и электронографического анализов. Автор, возможно, недостаточно четко отметил, что в связи с изучением сложных и сверхсложных структур в рентгеновском анализе приходится решать трудную экспериментально-техническую задачу — достаточно точно (с ошибкой 1—2%) измерить интенсивности огромного числа отражений, исчисляемых тысячами и десятками тысяч [3]. Помимо этого фундаментальной проблемой, которая сейчас интенсивно разрабатывается, является математическая теория методов прямого определения знаков и фаз указанного огромного массива структурных амплитуд (см. [4—6], там же ссылки на предшествующую литературу). [c.6]

Применение рентгенографического и электронографического анализа к изучению внутреннего строения аморфных веществ показывает, что ряд из них имеет высокодисперсное кристаллическое строение. [c.96]

Электронографический анализ поверхностных слоев образцов [c.91]

Таким образом, с помощью электронографического анализа установлены основные физико-химические изменения в поверхностных слоях образцов, происходящие за время приработки их на маслах с присадкой серы. В нервом приближении можно считать, что эти изменения в трущихся поверхностных слоях соответствуют данным табл. 7. [c.96]

В результате коррозионного процесса при температуре 360° С на поверхности металла образуется хорошо сцепленная с ним пленка продуктов коррозии. По данным электронографического анализа, после испытаний в воде, насыщенной азотом и водородом, продукты коррозии состоят из у-ЕсгОз, после испытаний в воде,, насыщенной воздухом и кислородом,— из а-ЕеаОз. [c.114]

Эти данные получены на плоских образцах 3X10X15 мм методом послойного электронографического анализа, предложенного Д.В.Игнатовым. Состав окалины после окисления в течение 5 - 100 ч в интервале 1000 - 1200°С представлен в табл. 5-8. Эти данные получены тем же методом при окислении образцов сплавов промышленной чистоты (табл. 9). [c.38]

Рис. 25. Характер изменения концентрации окиснмх фаз по глубине окалины (данные послойного электронографического анализа)

Электронографический анализ показал, что после нагрева на поверхности никеля, покрытого пленкой окиси алюминия, образуется слой, состоящий из АЬОз и шпинели NiAl204. Торможение диффузионных процессов в шлифованном никеле при наличии на его поверхности такой окисной пленки связано по-видимому, со структурными особенностями этой пленки. В AI2O3, как известно, имеются только мел<узельные пустоты, [c.135]

Дисперсные стрз туры двухфазных и более сложных сплавов, практически наиболее важных, лучше исследовать с помощью полупрямого метода. Надежное решение ряда металловедческих вопросов возможно лишь при использовании полупрямого метода в сочетании с электронографическим анализом исходных образцов и препаратов с частицами второй фазы. Применение полупрямого метода во многих случаях делает излишним изучение формы и размеров частиц осадка, выделенного при электролитическом растворении образца и требующего диспергирования довольно сложными приемами, часто не дающими должного эффекта. [c.36]

Электронографическим анализом образцов титана после коррозии в 40-, 58- и 78%-ных растворах серной кислоты установлено наличие на их поверхности гидрида титана Т1Н,. Результаты электронографического анализа для образцов титана после коррозии в 58%-НОЙ Н2504 приведены в табл. 2. [c.159]

Электронографическим анализом поверхности образца титана после коррозии его в 92%-ной Н2504 обнаружен крупнокристаллический (размеры кристаллов 800—1000 А) окисел Т1д05 (табл. 4). Гидрид титана в этом случае не обнаружен. Наводороживание титана при коррозии в концентрированной серной кислоте, видимо, незначительное, так как известно [13], что окисные пленки в значительной степени препятствуют проникновению водорода в титан. [c.161]

В работе [1] эта система вновь исследована в интервале концентраций О— 50% (ат.) Sb методом электронографического анализа тонких пленок. Обнаружены 5- и е-фазы. Установлено [2], что 8-фаза (AggSb) имеет ромбическую структуру, аналогичную структуре usTi а = 5,99 А, Ь = 5,24 А, с = 4,85 А. Сверхструктура, указанная М. Хансеном и К. Андерко (см. т. I, рис. 30), не обнаружена. По данным работы [1], периоды решетки е-фазы имеют следующие значения а = 4,813 0,005 А, Ь = 2,979 0,003 А, с = 5,215 0,005 А однако сравнение данных электронографического метода [1] для -фазы с окончательными результатами рентгеновского исследования [3] позволяет считать данные работы [1] для 8-фазы ненадежными. [c.40]

Подтверждено, что у РЬТе г. ц. к. решетка типа Na l с периодом 6,50 0,02 [8] и 6,45 А [9]. Результаты электронографического анализа пленок, полученных при испарении РЬТе [8, 10, 11], неправильно интерпретированы. [c.319]

Такая детализация была совершенно необходима, поскольку процесс образования скрытого изображения значительно более сложен, чем это казалось в период появления указанной теории. Основные работы в этом направлении были проведены в последние годы. В этот период ясно обнаружилась необходимость детального изучения реальных кристаллов галоидного серебра. Сильно возросло значение физических методов исследования измерение фотопроводимости, теплоемкости, термического расширения, электропроводности, изотопного обмена, спектров поглощения и структуры решетки (методами рентгеноструктурного и электронографического анализов). Кроме того, возросла роль физико-химических методов — изучение кинетики и термодинамики процессов созревания, фотолиза и проявления. Наконец, в самое последнее время, в связи с выявлением глубокой аналогии между серебряногалоидными и щелочногалоидными кристаллами, последние стали широко использоваться в качестве моделей кристаллов галоидного серебра, ибо они являются более благоприятными объектами для оптических исследований. [c.4]

Для такого рода объектов можно строить функцию межатомных расстояний, которую в модифицированной, наиболее часто употребляемой форме называют функцией радиального распределения. Исторически именно для этого случая (конкретно — для жидкостей) впервые была предложена в 1927 г. Цернпке и Принсом эта функция [9], которая потом анализировалась Дебаем и Менке [10] и далее была применена также и для газов (особенно в электронографическом анализе строения молекул в парах и газах см. [11 1,5]), и для аморфных твердых тел [12—14,1] (см.также [15 1,1 1, 2]). Позже, в 1935г., появилась работа Паттерсона [1,18], в которой было введено преобразование Фурье интенсивностей рассеяния от кристалла и тем самым было положено начало самому плодотворному применению функции межатомных расстояний. [c.174]

Некоторые данные о механизме процесса позволяют получить металлографические исследования состояния поверхности С1 лааа, рентгеноструктурный и электронографический анализы, а таки<е анализ состава раствора на ионы металла. [c.61]

Процесс азотирования титана в струе чистого азота при 700— 1050° С продолжительностью до 10 ч исследовали в работе [169]. При этом определяли увеличение массы и твердости образцов и изучали поверхностный слой методами микроструктурного и электронографического анализов. Установлено, что заметное приращение массы начиналось при 800° С и следовало параболическому закону до 1000 С. Электронографически было обнаружено, что после азотирования при 800° С и более высоких температурах в поверхностном слое образуется нитрид титана TiN. Повышение твердости мало заметно при 800° С, однако выше 900° С толщина и твердость слоя прогрессивно возрастали со временем. Например, после азотирования в течение 1, 5 и 10 ч при 900° С твердость HV поверхности составляет соответственно 325, 425 и 475 кПмм , а толщина слоя возрастает от 45 до 80 мкм. [c.155]

Но даже если внести поправку на приведенную выше величину с для РегОз в оптические результаты, все же приведенные позднее Дэвисом, Эвансом и Агаром [416] данные (табл. 22) для толщины окисных пленок на железе, соответствующей различным интерференционным цветам, следует признать зани женными. Эту толщину они вычислили по привесу после опре-деления состава пленки несколькими методами (рентгеновским, электронографическим, анализом снятых пленок на двухвалентные и трехвалентные ионы железа, изучением свойств в процессе электрометрического восстановления) на основе предположения. что удельные веса а-РегОз и Рез04 соответственно равны 5,25 и 5,20. Поверхность этих образцов перед окислением восстанавливали водородом, тогда как раньше исследователи обычно обрабатывали ее абразивом. [c.262]

В течение многих лет с использованием тонких пленок и на основе кинематического приближения было одределено более 100 атомных структур, для чего были разработаны теория и методы электронографического анализа [2, 8]. Полученные структурные данные во многих случаях были подтверждены другими методами и, по-видимому, являются вполне надежными. В последние годы была усовершенствована техника измерений интенсивностей отражений и при сопоставлении с (кинематической) теорией для сильных отражений учитываются экстинкция и второе приближение Бете (гл. 8 и 9). Так называемый -фактор [см. формулу (6.25)] для всей совокупности отражений составляет в ряде последних работ для простых структур менее 10% и для более сложных 15 — 17%. Другим важным количественным критерием точности структурного определения является различие экспериментальных значений максимумов потенциала на проекциях и сечениях структурной модели с теоретическими величинами, вычисленными по формуле Вайнштейна ([2], формула (41) на стр. 192). В большинстве случаев это различие составляет 1 — 3%. С другой стороны, такое различие открывает возможность исследования дефектных структур, в которых некоторые положения заполнены атомами лишь статистически (оксиды Та, N5, В , нитриды АУ) [c.7]

Данные о качественных, а иногда и количественных соотноще-ниях между составом, структурой и свойствами металлов и сплавов можно получить, применяя различные методы металловедческого исследования. К их числу относятся исследование макро- и микроструктуры, рентгено- и электронографический анализы и исследования физико-механических и химических свойств (механические испытания, термический, дилатометрический, магнитный анализы, измерение электросопротивления, тепловых свойств, внутреннего трения, метод меченых атомов, химический анализ, карбидный и ин> терметаллидный анализы и др.). [c.92]

Свойства резины не могут быть описаны параметрами только твердого, жидкого или газообразного материалов. При деформациях с изменением объема резина проявляет очень большую жесткость. При деформациях и перемещениях, связанных с изменением формы, резине свойственна весьма малая жесткость и высокая эластичность. Аналогично -твердым телам резина способна восстанавливать свою первоначальную форму после снятия нагрузки, при этом пределы обратимой деформации технических резин значительно шире, чем у металла. В то же время рентгеноструктурнын и электронографический анализы показывают, что резина имеет аморфную структуру, характерную для жидкости [2, 3]. Однако упругость резины и ее способность восстанавливать форму после снятия нагрузки имеют, как и давление газов при объемном сжатии, энтропийную природу. [c.8]

Обычно металлографические методы изучения структур деформированных металлов (за исключением рентге-но- и электронографического анализа) позволяют наблюдать в общей картине деформации лишь такие детали, размеры которых пе мепее 2Л0 см. Таким образом, даже наиболее совершенные металломикроскопы не могут разрешить отдельные элементарные акты соскальзывания — сдвигов по плоскостям скольжения, развивающихся в процессе деформации металлов и приводящих к образованию пачек скольжения толщиною нескольких десятков атомных слоев. Кроме того, некоторые структурные изменения, сопутствующие пластической деформации, [c.37]

Для оценки влияния температуры а взаимодействие присадок и металла широко используют термографический анализ [85]. Методом радиоактивных изотопов ( 5) показано, что глубина хемосорбционной фазы сульфидов железа может достигать 10- м, а сульфидов меди — б-Ю- м. С возрастанием нагрузки толщина сульфидной пленки на рабочих поверхностях увеличивается. Электронографический анализ поверхностей железа и меди после их контакта с серосодержащими присадками показывает наличие на поверхности металлов окислов РеО, РегОз, Рез04, СиО, СигО и сульфидов РеЗ, РеЗг, СиЗ, СиЗг. [c.106]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...