Интерференция — Схема

Фиг. 24-42. Контроль ошибок формы цилиндрического отверстия методом интерференции а — схема оптические пути одинаковы, если контролируемая деталь имеет точную цилиндрическую форму б — интерференционная картина, наблюдаемая при контроле отверстия с большими ошибками формы в — интерференционная картина при контроле отверстия без ошибок формы.

Луч света от источника Q, помещенного в фокусе конденсора делится при помощи полупрозрачной пластины 5, на лучи 1 и 2, которые проходят через камеру с исследуемым газом К и компенсационную-камеру К2, соответственно. Лучи / и 2 складываются ка полупрозрачной пластинке и дают картину интерференции. Оптическая схема интерферометра позволяет локализовать полосы в камере К. При помощи объектива Рз, расположенного в фокусе линзы осуществляется фокусировка камеры К и интерференционной картины на плоскость М, в которой осуществляется фотографическая регистрация. Получаемый- [c.105]

Опыт первого типа был произведен группой, возглавляемой Раби, другой опыт был произведен Л. Маршалл и автором. Оба эти опыта в существенном основываются па идее наблюдения вышеупомянутой интерференции, по схема опытов различна. Мы опишем подробно паши опыты, так как они нам лучше знакомы. [c.66]

Рис. 4-1. Интерференция в схеме фрактальности циклов.

Метод интерференционного контраста состоит в том, что каждый луч, входящий в М., раздваивается один проходит сквозь наблюдаемую ч-цу, а второй — мимо неё. В окулярной части М- оба луча вновь соединяются и интерферируют между собой. Результат интерференции определяется разностью хода лучей б, к-рая выражается ф-лой б=Л А,= (по—п )й, где о, — показатели преломления соответственно ч-цы и окружающей среды, (I — толщина ч-цы, N — порядок интерференции. Принципиальная схема одного из способов осуществления интерференц. контраста показана на рис. 4. [c.420]

Метод Юнга. Свет, исходящий от протяженного источника S, направлен па экран с двумя симметрично расположенными относительно S отверстиями (рис. 4.9). На экране Эз наблюдаются полосы. Юнг доказал, что интерференционные полосы наблюдаются только при достаточно малых размерах источника б". Усовершенствовав схему опыта, он получил весьма четкую интерференционную картину. По этой причине первое наблюдение явления интерференции приписывается именно Юнгу. Сущность его метода заключается [c.81]

Метод Линника. Перед точечным источником 5 (рис. 4.15) расположен полупрозрачный экран с небольшим отверстием в центре экрана. Полупрозрачная пластинка пропускает фронт падающей на нее волны, несколько ослабляя ее, без искажения. Отверстие 5 , согласно принципу Гюйгенса, играет роль вторичного излучения с центром в нем. Оба фронта волны от источников S и 5i, встречаясь, дают картину интерференции. В отличие от всех предыдущих случаев в последней схеме, предложенной в 1935 г. советским ученым В. П, Линником, когерентные источники не лежат на пря- [c.84]

Линза, иногда устанавливаемая в демонстрационных опытах, служит лишь для улучшения условий наблюдения картины интерференции, существующей независимо от введения в схему линзы. [c.195]

Для неполяризованного света, распространяющегося в изотропной среде, условие (5.35) соблюдается и при наблюдении интерференции могут быть использованы различные оптические схемы. [c.205]

Принципиальная схема установки для изучения интерференции поляризованного света [c.205]

Обычно с помощью интерферометров решают вполне определенные физические и технические задачи (например, измерение длин или углов, определение показателя преломления и т.д.). Наблюдение интерференционной картины становится не целью исследования, а средством проведения того или иного измерения. Поэтому оптическая схема интерферометра должна удовлетворять ряду дополнительных требований. Для повышения точности часто вводят значительную разность хода между интерферирующими пучками и работают в высоких порядках интерференции. В таких случаях используют относительно высокую степень монохроматичности излучения резко повышаются и требования к юстировке оптической системы. В дальнейшем рассказано также об исследованиях, в которых интерферометры применяют для изучения основных характеристик излучения (степени монохроматичности, длины волнового цуга и др.). [c.221]

Величина апертуры интерференции 2ш тесно связана с допустимыми размерами источника. Теория и опыт (см. 17) показывают, что с увеличением апертуры интерференции уменьшаются допустимые размеры ширины источника, при которых еще имеет место отчетливая интерференционная картина. Поскольку освещенность пропорциональна ширине источника, увеличение апертуры интерференции приводит к уменьшению освещенности интерференционной картины. Вместе с тем, величина интерферирующих световых потоков, связанная с размерами интерференционного поля, определяется, согласно 7, выражением Ф = ВаО. (принимаем, что источник излучает по направлению, нормальному к своей поверхности). При заданной яркости источника В величина потока зависит от произведения ай, причем о согласно сказанному тем больше, чем меньше апертура интерференции, а й тем больше, чем больше апертура перекрывающихся пучков. При обсуждении вопроса, может ли данная интерференционная схема обеспечить большие размеры и хорошую освещенность интерференционной картины, надо учитывать, возможно ли осуществить одновременно большую апертуру перекрывающихся пучков (2ф) и малую апертуру интерференции (2(о). [c.73]

Влияние размеров источника на резкость интерференционной картины можно выразить количественно, исходя из общей интерференционной схемы, показанной рис. 4.11, и используя соотношения между шириной источника 2Ь и апертурой интерференции 2(о. [c.81]

Опыт показывает, что при использовании в качестве источника света свечения разреженного газа длина когерентности для отдельных спектральных линий этого газа не превышает нескольких десятков сантиметров. Лазерные источники света (см. гл. ХЬ) позволяют наблюдать интерференцию при разности хода в несколько километров. Однако практический предел разности хода, при которой возможно наблюдение интерференции, ограничивается уже не длиной когерентности лазерных источников света, но трудностями создания стабильной интерференционной схемы подобных размеров и неоднородностью земной атмосферы. [c.93]

Возможно ли получение в белом свете интерференционной картины по схеме рис. 26.22 при любой толщине исландского шпата Вычислить разность хода для пластинки исландского шпата, вырезанной параллельно оси, при толщине 5 мм. При каких толщинах возможно наблюдение интерференции с ртутной линией, для которой к/АХ = 400 000 [c.893]

Луч когерентного света от лазерного источника излучения / направляется на коллиматор 2, на выходе которого формируется плоская световая волна. Полупрозрачное зеркало 3 разделяет. эту волну на две, отражая часть излучения под углом 45 к оптической оси на зеркало 0 и далее на. экран 7. Прошедшая через зеркало 3 волна попадает на линзу 4, в фокусе которой установлена точечная диафрагма 6. Зеркало 5 и полупрозрачное зеркало 9 служат для совмещения первой и второй волн вдоль одной оптической оси. На. экране 7 наблюдают интерференцию обеих волн. Такая оптическая схема интерферометра представляет собой модернизированный интерферометр Маха-Цендера. [c.100]

Рис. 18.4. Схема опыта для исследования роли поляризации в интерференции

Рис. 11.18. Схема для определения аэродинамической интерференции

Рис. 2.1.5. Схема влияния пограничного слоя на интерференцию

Для оперения, расположенного на большом удалении от носовой части комбинации ( 1> 15ч-20), коэффициент 1, т. е. практически коэффициенты интерференции не изменяются. Однако для оперения, выполненного по схеме утка , такое изменение может оказаться существенным, так как расстояния li будут относительно небольшими. [c.140]

Рис. 2.1.9. Схема к определению положения центра давления корпуса и оперения с учетом влияния интерференции (площадь, на которую переносится подъемная сила от консолей, заштрихована)

Рис. 2.3.7. Схема интерференции между корпусом и оперением

Интерферометры. Устройства, в которых для измерений использовано явление интерференции света, относятся к наиболее точным. Их применяют для аттестации концевых мер, калибров и образцовых деталей, В сочетании с лазерными источниками света они позволяют регистрировать изменение длины до 10" м. Промышленные интерферометры имеют окулярное, экранное или цифровое отсчетное устройство. Интерферометры выпускают в виде двух модификаций — для вертикальных (мод, 264) и горизонтальных (мод. 273) измерешиг Контактные иитер41ерометры имеют переменную цену деления (от 0,05 до 0,2 мкм) и основаны на схеме Майкельсона (рис. 5.11). В таких интерферометрах свет от источника 2 через конденсор 3 и свето-124 [c.124]

Пусть имеем прозрачное тело ABD , поверхности АВ и D которого (рис. 5.12) образуют малый угол а. Для определения этого угла используем схему, изображенную на приводившемся ранее рис. 5.10, где вместо пластин А В и АВ помещена теперь клинообразная пластинка ABD . При освещении этой пластинки будем наблюдать интерференцию полос равной толщины. Пусть соседние максимумы, расположенные на расстоянш / друг от друга, наблюдаются при толщинах di и do, т. е. [c.105]

Для понимания интерференции и дифракции электромагнитной волны вводятся квааимонохроматические волны ("хаотически модулированные колебания" ). При введении этих понятий законы возникновения и распространения электромагнитных волн дополняют условиями обрыва колебаний оптических электронов в атоме и другими причинами, onpeдeляюn ими время когерентности. В рамках этой схемы обосновывается когерентность колебаний для точечных источников свети в пределах одного цуга волн, а затем выявляются условия пространственной когерентности, при которых может наблюдаться стационарная интерференционная картина от реальных источников. [c.7]

Следует заметить, что приведенные оценки (сТког = 3+30 см) хорошо согласуются с результатами эксперимента при использовании обычных источников света (например, газоразрядной плазмой низкого давления), но не лазеров. Эффект генерации в лазере связан с выкужденкым излучением, а не со случайными (спонтанными) переходами, которые рассматрипа.т1ись при построении тех или иных статистических схем. Для лазера T or значительно больше, чем для обычных источников света. Это демонстрируется опытом с неон-гелиевым лазером, в котором интерференция наблюдается при разности хода в несколько десятков метров (см. 5.6). [c.189]

Для управления делительной машиной, контроля и исправления ошибок в процессе нарезки решетки используют явление интерференции. Один из вариантов этого метода основан на том, что перемещение дифракционной решетки в процессе ее изготовления непрерывно измеряется автоматическим устройством, в котором датчиком линейного перемещения служит специальный интерферометр, состоящий из нарезаемой и эталонной ре-uieTOK, Далее действует сложная схема обратной связи, позволяющая регулировать перемещение нарезаемой решетки, на которую алмазным резцом наносят штрихи вполне определенного профиля (рис. 6.43). Применение интерференционного метода позволило практически исключить различные ошибки, служащие причиной возникновения ложных линий (духов) в спектре дифракционных решеток. [c.301]

Сформулируйте принципиальную схему наблюдения интерференции при использовании точечного источника света. Как обьяснить возможность наблюдения интерференции в неполяри юванном свете [c.457]

Интерференция наблюдается в области, где перекрываются оба световых потока, идущих от и Точка Л4 интерференционного поля имеет освещенность, зависящую от разности хода двух интерферирующих лучей. На этой схеме ясно видно, что интерферирующие световые потоки задаются размерами телесных углов й, величина которых зависит от угла 2<р = Z.QlSli l = между лучами, определяющими перекрывающиеся части пучков. [c.72]

Точки и — изображения излучающего центра 5, получаемые с помощью оптической системы интерферометра, не показанной на чертеже ). Эти точки могут быть как действительными, так и мнимыми изображениями точки 5. В частности, 5 может совпадать с одной из этих точек (схема Ллойда, см. ниже рие. 4.8). Апертура интерференции 2 и связанный с нею угол 2йу определякя допустимый размер источника света, ширина которого обозначена через 2Ь (см. рис, 4.5). Для расчета интерференционной картины в любом интерферометре достаточно знать взаимное расположение 5 и 5а и их положение относительно экрана ЕЕ. Если экран ЕЕ расположен перпендикулярно к линии 515а, то, как явствует из 13, интерференционные полосы будут представлять собой концент- [c.73]

Источником света служит ярко освещенная щель 5, от которой световая волна падает на две узкие щели 51 и 8о , освещаемые, таким образом, различными. участками одного и того же волнового фронта. Световые пучки, проходящие через малые отверстия 5х и 52, расширяются в результате дифракции и частично перекрываются, создавая интерференцию, как и в других интерференционных схемах. При расположении Юнга апертура интерференции 2м = = Д 5x552 определяется отношением расстояния между щелями 5х и 5з к расстоянию от 5 до 515з. [c.79]

Рассмотрим картину в плоскости голограммы Я, возникающую в результате интерференции опорной волны и волны от какой-либо точки 5 объекта. Интерференционные картины такого рода, подробно обсужденные Б гл. IV, имеют вид последовательности периодических полос ширина (период) полос равна отношению длины волны к углу, под которым виден участок 05 из точки голограммы Я, для которой вычисляется период. Таким образом, в схеме рис. 11.10 каждой точке объекта соответствует гармоническое распределение интенсивности в плоскости Я ). Амплитуда ее изменения пропорциональна коэффициенту пропускания объекта в точ1се 5, а период тем меньше, чем дальше точка 5 от источника опорной волны О. [c.254]

Типы голограмм. Рассмотренная вып е схема получения голограммы является частным случаем. Вообще же схема получения голограммы -зависит от метода ее регистрации. В настоящее время лгих методов неско 1Ько. Для иллюстрации некоторых и-з них вернемся к рассмотрению рис. 1, на котором представлена интерференция сферических волн, исходящих из точечно1 о источника 0 и точечного пред-20 [c.20]

Голографический способ получения согласованного пространственного фильтра позволяет сохранить фазовую информацию об объекте, с которым он со1ласован (по которому он изготовлен), и резко снизить уровень паразитных световых сигналов. Схема получения голографического согласованного фильтра пространственных частот представлена на рис. 16. В частотной плоскости 2 по-прежнему образуется Фурье-образ транспаранта, помещенного в плоскость /, но в результате интерференции с когерентным фоном, создаваемым с помощью оптического клина К, в частотной плоскости 2 образуется голограмма, которая, как уже отмечалось, называется голограммой Фурье. [c.52]

Зонную пластинку с косинусоидальным распреде ле-нием почернения можно получить в виде голограммы, на которой записан результат интерференции плоской и сферической волн (по схеме Габора), если процесс регистрации будет линейным. При выполнении. этих условий образуются только гЬ1-е дифракционные порядки, а значит и только два фокуса. Если же использовать схему Лейта. то оба изображения пространственно разделяются между собой и от пучка нулево1 о дифракционного порядка. [c.57]

Одним из методов получения голограммы эталонной поверхности является голографическая регистрация световой волны, отраженной или прошедшей через эталонный элемент, например линзу. Схема регистрации голограммы аналогична оптической схеме, приведенной на рис. 40, а. На место линзы 4 в оптическую схему помещают. эталонную линзу, профиль которой измерен другими методами. Волна, прошедшая через линзу и представляющая собой предметную волну, посредством зеркал 5 9 освещает фотопластинку 8. Вторая волна, отраженная зеркалами 3 и /о, является опорной волной и также падает на фотопластинку, на которой рег истрируется результат интерференции объектной и опорной волн. Проявленная фотопластинка — голограмма устанавливается с помощью специальных кинематических держателей на прежнее место в оптической схеме. Если ее осветить одной лишь опорной волной, то за голограммой будут распространяться две волны — опорная и восстановленная объектная волна, несущая информацию о профиле. эталонной поверхности. [c.101]

Микрообъект в интерферометре. Начнем с хорошо известного опыта по интерференции света. На рис. 4.3 показана схема простейшего интерферометра 1 — источник монохроматического света, 2 — экран с щелями Л и Б, 3 — экран-детектор, регистрирующий распределение интенсивности падающего на него света. Это распределение описывается на рисунке кривой I (х), имеющей интерференционный характер, что хорошо объясняет классическая волновая теория света. Напомним, что интерференцию света наблюдали еще в XVII в. (Гримальди), а ее объяснение на основе волновых представлений было дано в начале [c.95]

В случае плюс- или иксобразной схемы летательного аппарата значение (2.4.43) следует удвоить и, кроме того, ввести в него поправочный коэффициент, учитывающий интерференцию между консолями. [c.189]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...