Схемы интерференции в пластинах

СХЕМЫ ИНТЕРФЕРЕНЦИИ В ПЛАСТИНАХ [c.150]

В большинстве схем интерферометров интерференционные явления приводятся к случаям интерференции в пластинах. Поверхности пластин могут быть плоскими, сферическими, цилиндрическими и т. д. Практически отклонения от идеальной формы и качество поверхностей зависят от технологии нх изготовления. Интерференционная картина, наблюдаемая в пластинах, зависит от формы п качества их поверхностей, однородности материала по по- [c.150]

При ПОМОЩИ этого прибора можно наблюдать полосы равной толщины и полосы равного наклона. Входной зрачок I расположен в фокальной плоскости коллиматорного объектива О . Плоскопараллельная полупрозрачная пластина П отражает пучки лучей к зеркалу 3 и пропускает пучки лучей к зеркалу 3 . При наблюдении полос равной толщины (рис. 117, а) зеркало Зз наклоняют. Как видно из схемы, интерференция сводится к случаю интерференции в воздушном клине, плоскостями которого являются зеркало [c.174]

НИТЬ интерференцию взаимодействием различных фотонов (см. 5). В рассматриваемом случае это доказывается уменьшением интенсивности потока фотонов от источника S в интерферометр до столь малых значений, при которых в пределах интерферометра не может находиться в среднем более одного фотона. При этом наблюдаемая интерференционная картина при соответствующем увеличении времени экспозиции не изменяется, являясь доказательством утверждения, что фотон интерферирует сам с собой . При той же малой интенсивности можно убедиться с помощью двух детекторов, включенных в схему совпадений и установленных в соответствующих точках на путях AB D и AB D, что всегда фотон детектируется либо на пути AB D, либо на пути AB D, и никогда на обоих путях одновременно. Общее число фотонов, падающих на пластину А, равно сумме чисел фотонов, детектируемых на пути А В 2D и А В 2D (закон сохранения энергии). Это еще более надежно подтверждает положение, что фотон интерферирует сам с собой . [c.411]

Условием максимума интерференции является зависимость А = тХ. Выражение (И1.44) характеризует распределение яркости (интенсивности) результирующего колебания без учета дифракции в отверстии плоскопараллельной пластины. Однако, как и в любой другой схеме спектрального прибора, в установке с интерферометром Фабри — Перо наблюдаются дифракционные явления. Поэтому [c.451]

Луч света от источника Q, помещенного в фокусе конденсора делится при помощи полупрозрачной пластины 5, на лучи 1 и 2, которые проходят через камеру с исследуемым газом К и компенсационную-камеру К2, соответственно. Лучи / и 2 складываются ка полупрозрачной пластинке и дают картину интерференции. Оптическая схема интерферометра позволяет локализовать полосы в камере К. При помощи объектива Рз, расположенного в фокусе линзы осуществляется фокусировка камеры К и интерференционной картины на плоскость М, в которой осуществляется фотографическая регистрация. Получаемый- [c.105]

Интерферометр с одним преобразователем. Один из наиболее старых ультразвуковых методов измерения скорости и коэффициента затухания звука в жидкостях и газах основан на принципе интерференции двух волн излучаемой преобразователем и отраженной от перемещаемой стеклянной или металлической пластины. Схема его показана на фиг. 76. Впервые предложенный Пирсом [28] и критически рассмотренный Хаббардом [29] этот метод нашел широкое применение. Он сохраняет свое значение до настоящего времени, хотя теперь все большее предпочтение отдается сравнительно новому импульсному методу, особенно при и.змерении потерь. [c.339]

Пусть имеем прозрачное тело ABD , поверхности АВ и D которого (рис. 5.12) образуют малый угол а. Для определения этого угла используем схему, изображенную на приводившемся ранее рис. 5.10, где вместо пластин А В и АВ помещена теперь клинообразная пластинка ABD . При освещении этой пластинки будем наблюдать интерференцию полос равной толщины. Пусть соседние максимумы, расположенные на расстоянш / друг от друга, наблюдаются при толщинах di и do, т. е. [c.105]

Многолучевая интерференция и многолучевой микроинтерферометр МИИ-И. Многолучевая интерференция возникает за счет многократного отражения когерентных пучков света в клинообраз-йой пластине по схеме Фабри и Перо (свет падает под углом <0 = 1-ьЗ ). При этом получение узких контрастных полос обусловливается тем, что при сложении N когерентных пучков образуется не по одному максимуму и минимуму освещенности (Как это имеет место при двухлучевой интерференции), а на М максимумов приходится Л —1 минимумов освещенности. Из макси- [c.97]

Если плёнка идеально одинаковой толщины, то в любом её месте разность хода ДL будет одна и та же, условия интерференции будут одинаковыми по всей плёнке, что приведёт к одинаковому по всей площади плёнки оптич. эффекту — ослаблению либо усилению света, а никакие интерференц, полосы не возникнут. На идеальной плоскопараллельной пластине интерференц. полосы возникают прп др. схеме наблюдения (см. Полосы равного наклона). Если Же толщина плёнки немного меняется от точки к точке, то ивтер-фереяц. полосы будут располагаться вдоль участков плёнки с одинаковыми разностями хода Д , т. е. с одинаковыми значениями толщины плёнки А (что и определило их назв.). [c.31]

Для регистрации изменений показателя преломления предложена оригинальная схема интерферометра сдвига [3] с использованием интерферометра Жамена (рис. 4.10). Геометрические размеры образца 2 и пластин интерферометра 1 подбираются таким образом, чтобы соответственные световые пучки (изображены на рисунке сплошными и пунктирными линиями) проходили бы через различные участки образца симметрично относительно его оси. При этом на выходе интерферометра в зоне интерференции 3 происходит наложение пучков света, прошедших через исследуемый образец по разные стороны от центрального отверстия. [c.188]

Принципиальная схема многолучевого интерферометра для исследования неровностей поверхности приведена на рис. 132 [281. Основной частью интерференционной схемы являются пластина 4, Покрытая с нижней стороны полупрозрачным отражающим слоем, и испытуемая поверхность 5. Коэффициенты отражения пластины и испытуемой поверхности обычно подбирают близкими по значению. Между зеркальной пластиной и образцом возникает интерференция многократно отраженных лучей. Интерференционная картина, локализованная на поверхности пластины, рассматривается через микроскоп 1, 2, 3 с увеличением 100><. С помощью принципиальной схемы, изображенной на рис. 132, можно наблюдать интерференцию как в клинообразной, так и плоскоггараллельиой пластине в первом случае эго будут полосы равной толщины. Наряду с полосами равной толщины используются полосы равного наклона, которые позволяют исследовать не только форму плоской поверхности, но и контролировать плоскопараллельность, определяя при этом не только угол клина, но и знак изменения толщины. [c.221]

Сущность этих способов ясна из рис. 96 и 97. На рис. 96 изображена схема интерферометра Майкельсона, с помощью которого осуществляется интерференция делением амплитуды волны. Волна, исходящая из источника Sq, падает на полупрозрачную пластину О, расположенную под углом 45° к направлению распространения луЧа. На плаЬтинке волна разделяется на две части отраженная волна идет в направлении к Az, а прощедшая через пластину — в направлении At. После отражения от зеркал At и Az они снова частично отражаются, а частично проходят через пластинку О. Волны, распространяющиеся в направлении Д мог) между собой интерферировать. Ясно, что на пластинке О происходит деление амплитуды, поскольку фронты волн на ней сохраняются, меняя лишь направление своего движения. [c.149]

Интерферометр Маха — Цендера. Схема этого интерферометра показана на рис. 108. Полупрозрачной пластиной Ui луч Beia Sq разделяется на два После отражения от зеркал Ai и Аг лучи света снова соединяются полупрозрачной пластиной Пг в результате частичного отражения и прохождения через нее. Интерференция этих лучей приводит, к возникновению картины, аналогичной наблюдаемой в интерферометре Майкельсона. Если на пути одного из лучей помещена ячейкаQ с газом или веществом, показатель преломления которого отличен от единицы, то интерференционная картина изменится. По изменению интерференционной картины и длине пути светового луча в ячейке можно с большой точностью определить относительный показатель преломления, что позволяет изучать физические процессы, которые приводят к изменению показателя преломления. [c.159]

Интерференция лучей при взаимно перпендикулярных направле ПИЯХ л шейной поляризации. Лучи с взаимно перпендикулярными направлениями пол изации могут быть получены по схеме рис. 235, если на пути луча до входа в кристаллическую пластин-10 поставить призму Николя N (рис. 244), которая создает линейно поляризованный свет, причем направление колебаний электрического вектора может меняться поворотом николя. Линейно поляризованный свег падает на кристаллическую пластинку, где распадается на обыкновенный и необыкновенный лучи. Для амплитуд этих лучей на основании закона Ма-люса имеем (рис, 24 [c.276]

Оптическая схема интерферометра последовательного типа (ИПТ) дана на рис. 3.5.11. Источник света 1 с помощью конденсора 2 изображается на входном зрачке прибора 4. Входной зрачок, как правило, представляет собой круглое отверстие небольшого диаметра(2—4 мм). Далее объектив 5 формирует параллельный пучок лучей, падающий на систему пластин — зеркал 6, 7, 8. Объектив 9 дает изображение входной диафрагмы в фокальной плоскости, где диафрагма 10 выделяет рабочую группу лучей. Перед входной диафрагмой 4 помещается фильтр 3, необходимый для монохроматизации излучения. Интерференци- [c.155]

Рис. 19. Схема экспериментов по атомной интерферометрии а — после прохождения конденсатора с полем Е образуется смесь 28- и 2Р-амплитуд, и атомы в состоянии 2Р распадаются, а соответствующая интенсивность /гр монотонно убывает с расстоянием L от щели б — вторая щель с полем Ег приводит к картине интерференции штриховая линия — при слабом поле Е2, сшюшная линия — при сильном поле 2 в — слабая интерференция появляется даже тогда, когда вместо второго конденсатора располагается металлическая пластина М г — еще более слабая интерференция заметна, когда оба конденсатора заменены на металлические пластины М,

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...